一种速度检测系统的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种速度检测系统。
【背景技术】
[0002]机械工程中经常要求测量位移以及设备运动速度。从测量参数特性的角度可分为静态位移测量和动态位移测量。许多动态参数，如力、扭矩、速度、加速度等都是以位移测量为基础的。随着社会机械工业发展的趋势，对速度检测要求的精度越来越高，现有工业中常需要用的速度检测仪一般使用磁电式传感器进行速度测量，安装困难，精确度差。现在图像处理技术的迅猛发展，非接触测量手段变得越来越多。并且因为图像处理芯片越来越集成化的投入批量生产使得其应用更加方便、实惠，因此，有必要设计一种速度检测系统，来满足人们的需求。
【实用新型内容】
[0003]本实用新型提出一种速度检测系统，能够快速测量速度，同时提高速度测量的精确度。
[0004]本实用新型的技术方案是这样实现的:一种速度检测系统，包括PLC计数器、光电传感器、光学透镜、CMOS传感器及发光二极管，所述PLC计数器、光电传感器和发光二极管电性连接，所述光学传感器下方设置一光学透镜；所述发光二极管倾斜设置，且靠近发光端的位置设有一光学透镜，所述两个光学透镜下方设置CMOS传感器，且所述光学传感器、发光二极管、CMOS传感器及光学透镜的位置相对固定。
[0005]进一步的，所述光学透镜分为圆形透镜和棱光镜，且圆形透镜设于光学传感器下方，而棱光镜设于发光二极管的发光端。
[0006]进一步的，所述PLC计数器与光电传感器通过PS2接口相连。
[0007]进一步的，还包括显示器，所述显示器与PLC计数器电性连接。
[0008]本实用新型的有益效果为:本实用新型的一种速度检测系统，发光二极管通过光学透镜照亮CMOS传感器，同时通过另一块光学透镜将CMOS传感器被照亮时经过位置的影像传输至光学传感器，通过设定固定时间传输一次，然后通过光学传感器比较相邻两张影像中的某一特征像素的变化，可以得出CMOS传感器在拍摄这两张影像的间隔时间内的位移，进而得出该时间段的平均速度。本实用新型结构简单、使用安全方面，适于推广。
【附图说明】
[0009]为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0010]图1为本实用新型实施例的结构示意图。
[0011]图中:1、PLC计数器；2、光电传感器；3、光学透镜；4、CM0S传感器；5、发光二极管；6、显不器。
【具体实施方式】
[0012]下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
[0013]实施例1:如图1所示的一种速度检测系统，包括PLC计数器1、光电传感器2、光学透镜3、CMOS传感器4及发光二极管5，所述PLC计数器1、光电传感器2和发光二极管5电性连接，所述光学传感器下方设置一光学透镜3 ;所述发光二极管5倾斜设置，且靠近发光端的位置设有一光学透镜3，所述两个光学透镜3下方设置CMOS传感器4，且所述光学传感器、发光二极管5、CMOS传感器4及光学透镜3的位置相对固定。
[0014]所述光学透镜3分为圆形透镜和棱光镜，且圆形透镜设于光学传感器下方，而棱光镜设于发光二极管5的发光端。
[0015]所述PLC计数器I与光电传感器2通过PS2接口相连。
[0016]还包括显示器6，所述显示器6与PLC计数器I电性连接，显示器6便于直接观察测量数据。
[0017]发光二极管5通过棱光镜照亮CMOS传感器4，同时通过圆形透镜将CMOS传感器4被照亮时经过位置的影像传输至光学传感器，通过设定固定时间传输一次，然后通过光学传感器比较相邻两张影像中的某一特征像素的变化，可以得出CMOS传感器4在拍摄这两张影像的间隔时间内的位移，然后将数据传输至PLC计数器1，然后通过PLC计数器I得出该时间段的平均速度。
[0018]在实际使用中光学传感器可以采用ADNS-2051光电传感器2，该传感器支持支持800cpi的分辨率和最高2300帧/秒的扫描速度，这样可以测量最小1/800英寸大小的移动距离，可以每秒进行最高2300次采样。其性能指标为0.03175mm位移精度和365.125mm/s的极限测量速度，采样次数越高，使得最终的测量结果更加精确。
[0019]将CMOS传感器4、发光二极管5、光学传感器和光学透镜3固定在同一个框架内，保持相互位置固定，避免产生误差。
[0020]以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
【主权项】
1.一种速度检测系统，其特征在于:包括PLC计数器(1)、光电传感器(2)、光学透镜(3)、CMOS传感器(4)及发光二极管(5)，所述PLC计数器(I)、光电传感器(2)和发光二极管(5)电性连接，所述光学传感器下方设置一光学透镜(3);所述发光二极管(5)倾斜设置，且靠近发光端的位置设有一光学透镜(3)，所述两个光学透镜(3)下方设置CMOS传感器(4)，且所述光学传感器、发光二极管(5)、CMOS传感器(4)及光学透镜(3)的位置相对固定。
2.根据权利要求1所述的一种速度检测系统，其特征在于:所述光学透镜(3)分为圆形透镜和棱光镜，且圆形透镜设于光学传感器下方，而棱光镜设于发光二极管(5)的发光端。
3.根据权利要求2所述的一种速度检测系统，其特征在于:所述PLC计数器(I)与光电传感器⑵通过PS2接口相连。
4.根据权利要求3所述的一种速度检测系统，其特征在于:还包括显示器(6)，所述显示器(6)与PLC计数器⑴电性连接。
【专利摘要】本实用新型公开了一种速度检测系统，包括PLC计数器、光电传感器、光学透镜、CMOS传感器及发光二极管，所述PLC计数器、光电传感器和发光二极管电性连接，所述光学传感器下方设置一光学透镜；发光二极管倾斜设置，且靠近发光端的位置设有一光学透镜，两个光学透镜下方设置CMOS传感器，且所述光学传感器、发光二极管、CMOS传感器及光学透镜的位置相对固定。发光二极管通过光学透镜照亮CMOS传感器，同时通过另一块光学透镜将CMOS传感器被照亮时经过位置的影像传输至光学传感器，通过设定固定时间传输一次，通过光学传感器比较相邻两张影像中的某一特征像素的变化，得出CMOS传感器在拍摄这两张影像的间隔时间内的位移，得出该时间段的平均速度。
【IPC分类】G01P3-68
【公开号】CN204330803
【申请号】CN201420819018
【发明人】赵连刚, 张波, 熊天精
【申请人】北汽银翔汽车有限公司
【公开日】2015年5月13日
【申请日】2014年12月20日