一种应用于键盘测试装置的按键敲击头的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及键盘测试装置技术领域，尤其涉及一种应用于键盘测试装置的按键敲击头。
【背景技术】
[0002]作为主要的输入结构，按键被广泛地应用于计算机键盘、手机以及计算器等电子产品中；对于上述计算机键盘、手机以及计算器等电子产品而言，工作时必须敲打按键以使得按键触点导通断开，从而将字母、数字、标点符号等输入到相应的计算机、手机或者计算器中。
[0003]在键盘(包括有计算机键盘、手机键盘以及计算器键盘等)生产过程中，出产前必须对键盘成品进行质量检测时，即需要对每一个按键进行击打，以测试其回弹和触点的通断。现有技术中存在形式各样的键盘测试装置；其中，对于键盘测试装置而言，其主要通过按键敲击头来完成待测试键盘的按键击打动作。
[0004]然而，对于现有的按键敲击头而言，其普遍存在回位速度慢的缺陷，这会严重地影响键盘测试装置的工作效率。
【发明内容】
[0005]本实用新型的目的在于针对现有技术的不足而提供一种应用于键盘测试装置的按键敲击头，该应用于键盘测试装置的按键敲击头结构设计新颖、回位速度快且可有效地提高键盘测试装置的工作效率。
[0006]为达到上述目的，本实用新型通过以下技术方案来实现。
[0007]一种应用于键盘测试装置的按键敲击头，包括有内部安装线圈绕组且呈圆柱体状的敲击头外壳，敲击头外壳的芯部开设有沿着敲击头外壳的轴线方向上下完全贯穿的活动轴孔，敲击头外壳的活动轴孔内可相对上下活动地嵌装有活动轴，活动轴的上端部延伸至敲击头外壳的上端侧，活动轴的下端部延伸至敲击头外壳的下端侧；
[0008]活动轴包括有同轴布置的上磁性段以及位于上磁性段下端侧的下非磁性段，下非磁性段的上端部与上磁性段的下端部连接，活动轴的下非磁性段下端部于敲击头外壳的下端侧装设有敲击触头，活动轴的上磁性段上端部于敲击头外壳的上端侧套卡有胶头，活动轴的上磁性段上端部于胶头、敲击头外壳之间套装有复位弹簧，复位弹簧的上端部、下端部分别与相应侧的胶头、敲击头外壳上端部抵接。
[0009]其中，所述敲击头外壳的活动轴孔上端部对应所述活动轴的上磁性段嵌卡有上导向套筒，活动轴的上磁性段可相对上下活动地嵌装于上导向套管的中心孔内。
[0010]其中，所述敲击头外壳的活动轴孔下端部对应所述活动轴的下非磁性段嵌卡有下导向套筒，活动轴的下非磁性段可相对上下活动地嵌装于下导向套管的中心孔内。
[0011]其中，所述敲击头外壳的外径值为10mm-18mm。
[0012]本实用新型的有益效果为:本实用新型所述的一种应用于键盘测试装置的按键敲击头，其包括内部安装线圈绕组的敲击头外壳，敲击头外壳芯部开设活动轴孔，活动轴孔内嵌装活动轴，活动轴上端部延伸至敲击头外壳上端侧，活动轴下端部延伸至敲击头外壳下端侧；活动轴包括同轴布置的上磁性段、下非磁性段，下非磁性段下端部于敲击头外壳下端侧装设敲击触头，上磁性段上端部于敲击头外壳上端侧套卡胶头，上磁性段上端部于胶头、敲击头外壳之间套装复位弹簧，复位弹簧的上端部、下端部分别与相应侧的胶头、敲击头外壳上端部抵接。通过上述结构设计，本实用新型具有结构设计新颖、回位速度快且可有效地提高键盘测试装置的工作效率的优点。
【附图说明】
[0013]下面利用附图来对本实用新型进行进一步的说明，但是附图中的实施例不构成对本实用新型的任何限制。
[0014]图1为本实用新型的结构示意图。
[0015]图2为本实用新型的分解示意图。
[0016]图3为本实用新型的剖面示意图。
[0017]在图1至图3中包括有:
[0018]1--敲击头外壳11--活动轴孔
[0019]2--活动轴21--上磁性段
[0020]22——下非磁性段3——敲击触头
[0021]4——胶头5——复位弹簧
[0022]6一一上导向套筒7—一下导向套筒。
【具体实施方式】
[0023]下面结合具体的实施方式来对本实用新型进行说明。
[0024]如图1至图3所示，一种应用于键盘测试装置的按键敲击头，包括有内部安装线圈绕组且呈圆柱体状的敲击头外壳I，敲击头外壳I的芯部开设有沿着敲击头外壳I的轴线方向上下完全贯穿的活动轴孔11，敲击头外壳I的活动轴孔11内可相对上下活动地嵌装有活动轴2，活动轴2的上纟而部延伸至敲击头外壳I的上纟而侧，活动轴2的下?而部延伸至敲击头外壳I的下端侧。
[0025]进一步的，活动轴2包括有同轴布置的上磁性段21以及位于上磁性段21下端侧的下非磁性段22，下非磁性段22的上端部与上磁性段21的下端部连接，活动轴2的下非磁性段22下端部于敲击头外壳I的下端侧装设有敲击触头3，活动轴2的上磁性段21上端部于敲击头外壳I的上端侧套卡有胶头4，活动轴2的上磁性段21上端部于胶头4、敲击头外壳I之间套装有复位弹簧5，复位弹簧5的上端部、下端部分别与相应侧的胶头4、敲击头外壳I上纟而部抵接。
[0026]需进一步指出，本实用新型的敲击头外壳I的外径值为10mm-18mm。
[0027]在本实用新型工作过程中，安装于敲击头外壳I内部的线圈绕组通电并产生磁场，磁场磁力作用于活动轴孔11内的活动轴2并驱动活动轴2朝下移动，朝下移动的活动轴2通过下端部的敲击触动击打按键，此时，复位弹簧5被压缩；当线圈绕组断电后，磁场消失，在复位弹簧5的复位弹力作用，复位弹簧5驱动活动轴2朝上移动并使得活动轴2复位。
[0028]需进一步解释，本实用新型可通过控制接入至线圈绕组的电压电流大小来线圈绕组所产生的磁场磁力大小，进而控制活动轴2击打按键的力度。其中，本实用新型的活动轴2击打按键的力度为30g-150g，精度为±2g ;需进一步指出，在实际的键盘测试过程中，本实用新型的活动轴2击打按键的力度也可根据实际情况来进行调节。
[0029]需进一步指出，本实用新型的活动轴2采用分段式结构设计，即本实用新型的活动轴2由上磁性段21与下非磁性段22组合而成，上磁性段21具有磁性，而下非磁性段22不具有磁性，在线圈绕组所产生的磁场作用于活动轴2的过程中，该磁场主要作用于活动轴2的上磁性段21。由于下非磁性段22不有磁性，在线圈绕组断电且活动轴2复位的过程中，该活动轴2能够减少本身磁性作用而造成回位速度变慢的问题，即该分段式结构设计能够有效地提高活动轴2的回位速度。
[0030]综合上述情况可知，通过上述结构设计，本实用新型具有结构设计新颖、回位速度快且可有效地提高键盘测试装置的工作效率的优点。
[0031]作为优选的实施方式，如图3所示，敲击头外壳I的活动轴孔11上端部对应活动轴2的上磁性段21嵌卡有上导向套筒6，活动轴2的上磁性段21可相对上下活动地嵌装于上导向套管的中心孔内；进一步的，敲击头外壳I的活动轴孔11下端部对应活动轴2的下非磁性段22嵌卡有下导向套筒7，活动轴2的下非磁性段22可相对上下活动地嵌装于下导向套管的中心孔内。
[0032]在活动轴2相对敲击头外壳I上下活动的过程中，通过上导向套管与活动轴2的上磁性段21配合以及下导向套管与活动轴2的下非磁性段22配合，本实用新型能够保证活动轴2准确平稳地上下移动，进而能够有效地提高案件击打精度。
[0033]以上内容仅为本实用新型的较佳实施例，对于本领域的普通技术人员，依据本实用新型的思想，在【具体实施方式】及应用范围上均会有改变之处，本说明书内容不应理解为对本实用新型的限制。
【主权项】
1.一种应用于键盘测试装置的按键敲击头，其特征在于:包括有内部安装线圈绕组且呈圆柱体状的敲击头外壳(I )，敲击头外壳(I)的芯部开设有沿着敲击头外壳(I)的轴线方向上下完全贯穿的活动轴孔(11)，敲击头外壳(I)的活动轴孔(11)内可相对上下活动地嵌装有活动轴(2)，活动轴(2)的上端部延伸至敲击头外壳(I)的上端侧，活动轴(2)的下端部延伸至敲击头外壳(I)的下端侧； 活动轴(2)包括有同轴布置的上磁性段(21)以及位于上磁性段(21)下端侧的下非磁性段(22)，下非磁性段(22)的上端部与上磁性段(21)的下端部连接，活动轴(2)的下非磁性段(22)下端部于敲击头外壳(I)的下端侧装设有敲击触头(3)，活动轴(2)的上磁性段(21)上端部于敲击头外壳(I)的上端侧套卡有胶头(4)，活动轴(2)的上磁性段(21)上端部于胶头(4)、敲击头外壳(I)之间套装有复位弹簧(5)，复位弹簧(5)的上端部、下端部分别与相应侧的胶头(4)、敲击头外壳(I)上端部抵接。
2.根据权利要求1所述的一种应用于键盘测试装置的按键敲击头，其特征在于:所述敲击头外壳(I)的活动轴孔(11)上端部对应所述活动轴(2)的上磁性段(21)嵌卡有上导向套筒(6)，活动轴(2)的上磁性段(21)可相对上下活动地嵌装于上导向套管的中心孔内。
3.根据权利要求2所述的一种应用于键盘测试装置的按键敲击头，其特征在于:所述敲击头外壳(I)的活动轴孔(11)下端部对应所述活动轴(2)的下非磁性段(22)嵌卡有下导向套筒(7)，活动轴(2)的下非磁性段(22)可相对上下活动地嵌装于下导向套管的中心孔内。
4.根据权利要求3所述的一种应用于键盘测试装置的按键敲击头，其特征在于:所述敲击头外壳(I)的外径值为10mm-18mm。
【专利摘要】本实用新型公开了一种应用于键盘测试装置的按键敲击头，其包括内部安装线圈绕组的敲击头外壳，敲击头外壳芯部开设活动轴孔，活动轴孔内嵌装活动轴，活动轴上端部延伸至敲击头外壳上端侧，活动轴下端部延伸至敲击头外壳下端侧；活动轴包括同轴布置的上磁性段、下非磁性段，下非磁性段下端部于敲击头外壳下端侧装设敲击触头，上磁性段上端部于敲击头外壳上端侧套卡胶头，上磁性段上端部于胶头、敲击头外壳之间套装复位弹簧，复位弹簧的上端部、下端部分别与相应侧的胶头、敲击头外壳上端部抵接。通过上述结构设计，本实用新型具有结构设计新颖、回位速度快且可有效地提高键盘测试装置的工作效率的优点。
【IPC分类】G01R1-00, G01R31-327
【公开号】CN204556788
【申请号】CN201520174887
【发明人】陈晏
【申请人】东莞鸿耀电子科技有限公司
【公开日】2015年8月12日
【申请日】2015年3月26日