测试装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及测试装置，尤其涉及电子产品的测试装置，具体是对其电极互换进行改进。
【背景技术】
[0002]现有电子类产品在生产过程中均会涉及在通电情况下进行相关参数性能的检测的工序。现有的一种测试装置(如应用在COB (chip on board)光源检测)是将LED驱动电源输出的电流传送到测试探针，测试探针与LED驱动电源的正负是由两条导线直接连接。进行测试实验时，遇到驱动电源所输出的极性和待测灯具的极性相反时，则要调整待测灯具的位置，让其极性与电源极性一致后再进行测试实验。但是因灯具的大小、形状限制而无法调整灯具极性和电源的一致使得测试实验没法进行。为解决这个问题，现有的另外一种测试装置是将接于驱动电源上的两条导线的末端分别连接金属夹，利用金属夹夹在探针上实现电连接。当需要变换电极极性时，将两个金属夹对换，来实现电极极性的转变。虽然这样可以解决，但是操作上麻烦，且通过金属夹来连接的可靠性不高。
[0003]另外，现有的测试装置的探针结构是如图6所示，其是采用通过金属杆I’上连接设有一金属套2’，该金属套2’的开口和底部的金属杆I’形成的腔体内设置一探针头4’和弹簧3’，通过金属杆I’与弹簧3’、弹簧3’与探针头4’的接触的接触的方式来将加载于金属杆I’的测试电流传送到探针头4’。但经过多次使用后，由于弹簧3’的变形造成探针头4’、弹簧3’和金属杆I’三者接触不良；并且加之由于金属杆I’较宽(需至少大于该金属套2’的最外径)，会遮挡光源，从而导致测试数据的不准确，甚至测试实验失败。一专利公开号CN1700020的提出一种测试探针，对于探针的强度和行程提出了改进，但是其整体结构与上述的现有测试探针结构主体类似，也存在上述的技术问题。
【实用新型内容】
[0004]因此，本实用新型提出一种测试装置进行解决，技术方案如下:
[0005]一种测试装置，包括:一基台，该基台上设有一夹持件，该夹持件上设置有两个测试探针，以及一驱动电源。此外，还包括二个双掷开关，为第一双掷开关和第二双掷开关，该第一双掷开关和第二双掷开关的公共端分别连接至该两个测试探针，该第一双掷开关的第一触点和该第二双掷开关的第二触点连接至该驱动电源的第一输出极，该第一双掷开关的第二触点和该第二双掷开关的第一触点连接至该驱动电源的第二输出极。
[0006]本实用新型的测试装置采用上述技术方案，可以快速方便地切换加载于两个测试探针的电极极性，此外还针对测试探针进行了改进，大大提高可靠性。
【附图说明】
[0007]图1是本实用新型一实施例的结构示意图；
[0008]图2是该实施例的局部示意图；
[0009]图3是该实施例的套体的结构示意图；
[0010]图4是该实施例的开关处于第一状态的示意图；
[0011]图5是该实施例的开关处于第二状态的示意图；
[0012]图6是现有技术的测试探针的剖视图；
[0013]图7是该实施例的测试探针的剖视图。
【具体实施方式】
[0014]为进一步说明各实施例，本实用新型提供有附图。这些附图为本实用新型揭露内容的一部分，其主要用以说明实施例，并可配合说明书的相关描述来解释实施例的运作原理。配合参考这些内容，本领域普通技术人员应能理解其他可能的实施方式以及本实用新型的优点。图中的组件并未按比例绘制，而类似的组件符号通常用来表示类似的组件。
[0015]现结合附图和【具体实施方式】对本实用新型进一步说明。
[0016]参阅图1至图5所示，作为本实用新型一实施例的测试装置，包括:一基台80，该基台80上设有一夹持件70，该夹持件70上设置有两个测试探针60，以及一驱动电源100 ；此外，还包括二个双掷开关90，为第一双掷开关901和第二双掷开关902，该第一双掷开关901和第二双掷开关902的公共端e、f分别连接至该两个测试探针60，该第一双掷开关901的第一触点a和该第二双掷开关902的第二触点d连接至该驱动电源100的第一输出极(如输出正极)，该第一双掷开关901的第二触点b和该第二双掷开关902的第一触点c连接至该驱动电源100的第二输出极(如输出负极)。
[0017]该实施例的测试装置的测试过程是，将被测试对象(如COB光源)放置，然后利用夹持件70使两个测试探针60可以分别抵触在被测试对象的两个测试电流加载点，然后导通该驱动电源100。如图4所示，驱动电源100的第一输出极(如输出正极)经过该第一双掷开关901的第一触点a、公共端e后连接至左边的测试探针60，驱动电源100的第二输出极(如输出负极)经过该第二双掷开关902的第一触点C、公共端f后连接至右边的测试探针60，如果被测试对象的左边是输入正极，右边是输入负极，则可以正常测试。如果被测试对象的左边是输入负极，左边是输入正极，则只要对该第一双掷开关901和第二双掷开关902进行切换，使第一双掷开关901的公共端e与第二触点b导通，使第二双掷开关902的共同端f与第二触点d导通，即可互换加载于两个测试探针60上的电极，以进行测试。
[0018]于该实施例优选的，为了更便于操作，第一双掷开关901和第二双掷开关902是并排的设置在该基台80上。为了可以直接同步操作，还包括一个套体903，该套体903具有两个并排设置的插孔，该套体903的两个插孔分别套于该第一双掷开关901和第二双掷开关902的开关手柄上。
[0019]参阅图7所示，于该实施例优选的，为了使测试探针60更可靠，以避免因弹簧的形变而导致测试探针测试不良，实施例的测试探针，包括:一导体的杆体1，该杆体I的一端连接于一套体2 ;—导体的套体2，该套体2包括一围合的壁面21和一底面22，该壁面21远离该底面22的一端形成一开口 211，且该底面22上开设有一通孔221，该壁面21与该杆体I的一端固定连接；一导体的探针头3，该探针头3包括一支杆部32和与之连接的一接触部31，在该接触部31与该支杆部32连接处，该接触部31的外径大于该支杆部32的外径，即二者连接处形成一个阶面，该探针头3设置在该套体2内，且该支杆部32穿设于该套体2的底面22上的该通孔221，该接触部31至少有部分外露出该套体2的该开口 211 ; —导体的弹簧4，该弹簧4套设在该探针头3的支杆部32，其两端受限于该探针头3的接触部31和该套体2的底面22，从而压缩弹簧4进行蓄能；一导线5，该导线5的一端连接于该支杆部32，该导线5的另一端连接于该杆体I。
[0020]该导体的杆体1、导体的套体2、导体的探针头3和导体的弹簧4均可以采用金属材质实现，具有良好导电性能和物理强度。
[0021]更优选的，该探针头3的支杆部32还形成一限制结构，用于限制该支杆部32从该套体2的底面22的通孔221脱出。该实施例具体的，该支杆部32的限制结构是由该支杆部32以“7”字型弯折形成。当然的，本领域技术人员还可以采用其他方式实现，例如在探针头3的支杆部32位于该套体2的底面22的通孔221外露部分连接一个外径大于通孔221孔径的部件，以进行限制，避免脱出。但是该实施例的支杆部32的“7”字形的设计也是用于与导线5的弧形设计相配合的，起到更加良好的其他技术效果，将在下面详细说明。该导线5的两端是通过焊接而分别连接设置在该支杆部32和该杆体I。为了避免导线老化而影响导电性，该导线5上还包覆一层绝缘层。且该导线5是弯成具有一个弧形结构后进行连接的。该导线5采用导电性能优良的材质实现，如采用硅橡胶电线(一种铜芯软线)。迎合该实施例的支杆部32的“7”字形的设计，将导线5弯成具有一个弧形结构，再分别与支杆部32和杆体I焊接在一起。这样既可让探针头3比较灵活的活动。该导线5的弧形设计能有效的保证在探针头3在大幅度活动情况下，导线5整体摆动幅度小，进而减少导线5因金属疲劳而导致导线5损坏的问题。
[0022]该测试探针60克服了原先的测试探针因弹簧形变造成金属杆与探针头接触不良影响测试的缺陷，具有使用寿命长，减少了接触电阻的优点；且该测试探针60的杆体I可以采用圆柱形的细金属杆，对于如COB光源的测试中，能减少对测试灯具所发出的光的遮挡，从而减少测试误差的优点。
[0023]尽管结合优选实施方案具体展示和介绍了本实用新型，但所属领域的技术人员应该明白，在不脱离所附权利要求书所限定的本实用新型的精神和范围内，在形式上和细节上可以对本实用新型做出各种变化，均为本实用新型的保护范围。
【主权项】
1.一种测试装置，包括:一基台，该基台上设有一夹持件，该夹持件上设置有两个测试探针，以及一驱动电源，其特征在于:还包括二个双掷开关，为第一双掷开关和第二双掷开关，该第一双掷开关和第二双掷开关的公共端分别连接至该两个测试探针，该第一双掷开关的第一触点和该第二双掷开关的第二触点连接至该驱动电源的第一输出极，该第一双掷开关的第二触点和该第二双掷开关的第一触点连接至该驱动电源的第二输出极。2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于:该第一双掷开关和第二双掷开关是并排的设置在该基台上。3.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于:还包括一个套体，该套体具有两个并排设置的插孔，该套体的两个插孔分别套于该第一双掷开关和第二双掷开关的开关手柄上。4.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于:该测试探针，包括:一导体的杆体，该杆体的一端连接于一套体；一导体的套体，该套体包括一围合的壁面和一底面，该壁面远离该底面的一端形成一开口，且该底面上开设有一通孔，该壁面与该杆体的一端固定连接；一导体的探针头，该探针头包括一支杆部和与之连接的一接触部，该探针头设置在该套体内，且该支杆部穿设于该套体的底面上的该通孔，该接触部至少有部分外露出该套体的该开口 ；一导体的弹簧，该弹簧套设在该探针头的支杆部，其两端受限于该探针头的接触部和该套体的底面；一导线，该导线的一端连接于该支杆部，该导线的另一端连接于该杆体。
【专利摘要】本实用新型提出一种测试装置，包括：一基台，该基台上设有一夹持件，该夹持件上设置有两个测试探针，以及一驱动电源。此外，还包括二个双掷开关，为第一双掷开关和第二双掷开关，该第一双掷开关和第二双掷开关的公共端分别连接至该两个测试探针，该第一双掷开关的第一触点和该第二双掷开关的第二触点连接至该驱动电源的第一输出极，该第一双掷开关的第二触点和该第二双掷开关的第一触点连接至该驱动电源的第二输出极。本实用新型用于对电子类产品进行测试，可以快速方便地切换加载于两个测试探针的电极极性。
【IPC分类】G01R1/04, G01R1/067
【公开号】CN204631071
【申请号】CN201520305313
【发明人】高春瑞
【申请人】厦门多彩光电子科技有限公司
【公开日】2015年9月9日
【申请日】2015年5月12日