串列式试块的制作方法
【专利说明】
[0001]技术领域:
[0002]本实用新型涉及无损检测技术领域，具体的说是一种串列式试块。
[0003]【背景技术】:
[0004]无损检测技术广泛应用于航空航天、核电、特种设备、石油等行业，由于
[0005]国家经济的飞速发展，也带动了无损检测行业的发展。Φ6平底孔作为基准反射体用于超声检测串列式扫查没有得到很好的推广，因为没有有规范的标准试块用来设定检测灵敏度。因此急需设计一种既符合现行标准要求又能满足各行业使用特点的Φ6平底孔串列式试块来满足市场使用需求。
[0006]
【发明内容】
:
[0007]为解决上述问题，本实用新型提供一种既满足现行标准要求又符合各行业使用特点的标准试块。
[0008]本实用新型所述的串列式试块，由母材、平底孔、检查面组成，其特征是所述母材为组织均匀、声学各向同性、晶粒度为7?8级的20号优质碳素结构钢长方体，所述检查面为高度方向与平底孔轴线相平行的上下两平面，所述检查面上设置有3?5个深度为20mm的平底孔，平底孔与检查面平行，孔底面粗糙度Ra=3.2 μ m，平底孔的分布覆盖试块检查面上中下三部分，检查面粗糙度Ra=3.2 μ m。
[0009]本实用新型所述的平底孔，其特征在于所述平底孔的直径为6mm。
[0010]本实用新型所述的母材,其特征在于所述母材的高度为30mm?120mm。
[0011]本实用新型的有益效果是在满足现行标准的前提下，试块结构简单，操作方便，适用范围广。实现了焊缝由薄到厚全面扫查，能更快、更好、更直观地实现仪器的标定和对仪器设备的检出能力的验证。
[0012]【附图说明】:
[0013]附图1是本实用新型的结构示意图，附图中:
[0014]1.母材，2.平底孔，3.检查面。
[0015]【具体实施方式】:
[0016]结合附图1，本实用新型的具体实施方案是:
[0017]本实用新型所述的串列式试块，由母材1、平底孔2、检查面3组成，其特征是所述母材I为组织均匀、声学各向同性、晶粒度为7?8级的20号优质碳素结构钢长方体，所述检查面3为高度方向与平底孔2轴线相平行的上下两平面，所述检查面3上设置有3?5个深度为20mm的平底孔2，平底孔2与检查面3平行，孔底面粗糙度Ra=3.2 μ m,平底孔2的分布覆盖试块检查面3上中下三部分，检查面粗糙度Ra=3.2 μ m。
[0018]本实用新型所述的平底孔2，其特征在于所述平底孔2的直径为6mm。
[0019]本实用新型所述的母材1，其特征在于所述母材I的高度为30_?120_。
[0020]将串列式扫查的探头组至于检查面，使第一只探头的声束覆盖与所要检查深度相同深度的平底孔2，移动另一只探头找到最高反射，固定此时的探头间距，并将回波调整至满屏的80%波高，灵敏度设置完成。
[0021]本实用新型的有益效果是在满足现行标准的前提下，试块结构简单，操作方便，适用范围广，实现了焊缝由薄到厚全面扫查，能更快、更好、更直观地实现仪器的标定和对仪器设备的检出能力的验证。
【主权项】
1.串列式试块，由母材(I)、平底孔(2)、检查面(3)组成，其特征是所述母材(I)为组织均匀、声学各向同性、晶粒度为7?8级的20号优质碳素结构钢长方体，所述检查面(3)为高度方向与平底孔(2)轴线相平行的上下两平面，所述检查面(3)上设置有3?5个深度为20mm的平底孔(2 )，平底孔(2 )与检查面(3 )平行，孔底面粗糙度Ra=3.2 μ m,平底孔(2 )的分布覆盖试块检查面(3)上中下三部分，检查面粗糙度Ra=3.2μπι。2.根据权利要求1所述的串列式试块，其特征是所述平底孔(2)的直径为6mm。3.根据权利要求1所述的串列式试块，其特征是所述母材(I)的高度为30mm?120mm。
【专利摘要】串列式试块，由母材、平底孔、检查面组成，其特征是所述母材为组织均匀、声学各向同性、晶粒度为7～８级的20号优质碳素结构钢长方体，所述检查面为高度方向与平底孔轴线相平行的上下两平面，所述检查面上设置有3～５个深度为20mm的平底孔，平底孔与检查面平行，孔底面粗糙度Ra=3.2μm，平底孔的分布覆盖试块检查面上中下三部分，检查面粗糙度Ra=3.2μm，本实用新型的有益效果是在满足现行标准的前提下，试块结构简单，操作方便，适用范围广。实现了焊缝由薄到厚全面扫查，能更快、更好、更直观地实现仪器的标定和对仪器设备的检出能力的验证。
【IPC分类】G01N29/30
【公开号】CN204679459
【申请号】CN201520407023
【发明人】孟凡宝, 孟倩倩, 范兴钊, 田忠
【申请人】山东瑞祥模具有限公司
【公开日】2015年9月30日
【申请日】2015年6月15日