集束公头连接器测试用转接器的制造方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种测试工装，特别是涉及一种用于测试四芯、五芯集束连接器公头组件的电性能及天线电性能的转接器。
【背景技术】
[0002]现有的用于测试四芯、五芯集束连接器公头组件的电性能及天线电性能的转接器，由四芯、五芯集束公头连接器、N型公头连接器和一段SM141组件构成，由于工作时其相位误差大、驻波较大，从而导致四芯、五芯集束连接器公头组件的电性能测试及天线的电性能测试误差较大，并且该转接器的重量较重，体积大，操作也很不方便。
【发明内容】
[0003]本实用新型要解决的技术问题是克服现有技术的不足，提供一种不仅结构简单、加工简便、重量轻和体积小，而且测试精度高的集束公头连接器测试用转接器。
[0004]为解决上述技术问题，本实用新型采用这样一种集束公头连接器测试用转接器，包括若干个SMA公头连接器，该测试用转接器还包括一个轴状外导体和一个圆板状压板；在所述外导体上沿其轴向设有若干个用于插装所述SMA公头连接器的通孔和一个用于导向的导向销，所述压板通过螺钉与外导体固定连接，且该压板将所述SMA公头连接器压紧在所述外导体的各通孔内。
[0005]作为本实用新型的一种优选实施方式，所述外导体上的通孔有五个，所述SMA公头连接器有五个，在外导体的轴端上还设有五条分别与各通孔相贯通的矩形凹槽，SMA公头连接器轴身上的轴肩防转平面卡入所述外导体的矩形凹槽内。
[0006]在本实用新型中，所述外导体上的导向销的横截面呈等腰三角形。
[0007]采用上述结构后，本实用新型具有以下有益效果:
[0008]本实用新型的SMA公头连接器便于装卸，在发现某个通道SMA公头连接器与校准通道的专用SMA公头连接器相位差较大时，只需松开压板就可方便地进行替换，因此测试精度高，并且可方便地配出九个一组的专用SMA公头连接器相位差异非常小的集束连接器测试用转接器。
[0009]本实用新型的转接器采用的零部件较少，结构简单，加工简便，重量轻，体积小。
[0010]本实用新型的SMA公头连接器采用非线缆组件结构，电压驻波比和差损都较小，从而使转接器测试被测件的测试精度更高。
【附图说明】
[0011]以下结合附图对本实用新型的【具体实施方式】作进一步的详细说明。
[0012]图1为本实用新型集束公头连接器测试用转接器的一种结构示意图。
[0013]图2为本实用新型中外导体的结构示意图。
[0014]图3为本实用新型中外导体的右视示意图。
[0015]图4为本实用新型中外导体的左视示意图。
[0016]图5为本实用新型中压板的结构示意图。
[0017]图6为本实用新型中压板的半剖示意图。
[0018]图7为本实用新型中SMA公头连接器的结构示意图。
【具体实施方式】
[0019]参见图1至图7所示的一种集束公头连接器测试用转接器，包括若干个SMA公头连接器1，每个SMA公头连接器I包括公头外导体I 一 2、绝缘子I 一 3和公头内导体I 一4，在公头外导体I 一 2的轴身上设有轴肩防转平面I 一 I，在公头外导体I 一 2的前端设有弹性接触头la，该测试用转接器还包括一个轴状外导体2和一个圆板状压板3 ;在所述外导体2上沿其轴向设有若干个用于插装所述SMA公头连接器I的通孔2 -1和一个用于导向的导向销2 - 2，所述压板3通过螺钉4与外导体2固定连接，且该压板3将所述SMA公头连接器I压紧在所述外导体2的各通孔2 — I内。
[0020]作为本实用新型的一种优选实施例，如图2?4所示，所述外导体2上的通孔2 -1有五个，所述SMA公头连接器I有五个，在外导体2的轴端上还设有五条分别与各通孔2 -1相贯通的矩形凹槽2 — 3，SMA公头连接器I轴身上的轴肩防转平面I 一 I卡入所述外导体2的矩形凹槽2 — 3内。采用这样的结构，能防止SMA公头连接器I在通孔2 — I内转动。
[0021]在本实用新型中，所述外导体2上的通孔2 — I也可采用四个，相应地，所述SMA公头连接器I有四个，图中未示。
[0022]在本实用新型中，如图4所示，所述外导体2上的导向销2 - 2的横截面优选呈等腰三角形。采用这样的结构，能有效防止发生误插。
[0023]参见图1，SMA公头连接器I从外导体2右端装入，SMA公头连接器I中间轴身上的轴肩防转平面I 一 I卡入外导体2轴端的矩形凹槽2 — 3内，压板3采用螺钉4锁死后压紧SMA公头连接器1，通过该结构将SMA公头连接器I固定在外导体2上，方便装卸以便相位配组。
[0024]经过试用，本实用新型测试精度高，体积小，重量轻，加工方便，相位一致性好，电性能优良，测试拆卸方便，取得了良好的实用效果。
【主权项】
1.一种集束公头连接器测试用转接器，包括若干个SMA公头连接器(I)，其特征在于:该测试用转接器还包括一个轴状外导体(2)和一个圆板状压板(3);在所述外导体(2)上沿其轴向设有若干个用于插装所述SMA公头连接器(I)的通孔(2 -1)和一个用于导向的导向销(2 — 2 )，所述压板(3 )通过螺钉(4 )与外导体(2 )固定连接，且该压板(3 )将所述SMA公头连接器(I)压紧在所述外导体(2)的各通孔(2 — I)内。2.根据权利要求1所述的集束公头连接器测试用转接器，其特征在于:所述外导体(2)上的通孔(2 -1)有五个，所述SMA公头连接器(I)有五个，在外导体(2)的轴端上还设有五条分别与各通孔(2 -1)相贯通的矩形凹槽(2 - 3)，SMA公头连接器(I)轴身上的轴肩防转平面(1-1)卡入所述外导体(2)的矩形凹槽(2 - 3)内。3.根据权利要求1或2所述的集束公头连接器测试用转接器，其特征在于:所述外导体(2)上的导向销(2 — 2)的横截面呈等腰三角形。
【专利摘要】本实用新型公开了一种集束公头连接器测试用转接器，包括若干个SMA公头连接器（1），该测试用转接器还包括一个轴状外导体（2）和一个圆板状压板（3）；在所述外导体（2）上沿其轴向设有若干个用于插装所述SMA公头连接器（1）的通孔（2－1）和一个用于导向的导向销（2－2），所述压板（3）通过螺钉（4）与外导体（2）固定连接，且该压板（3）将所述SMA公头连接器（1）压紧在所述外导体（2）的各通孔（2－1）内。本实用新型测试精度高，体积小，重量轻，结构简单，加工方便，相位一致性好，电性能优良，测试拆卸方便。
【IPC分类】G01R1/04
【公开号】CN204882619
【申请号】CN201520492259
【发明人】谈振新
【申请人】常州市新盛电器有限公司
【公开日】2015年12月16日
【申请日】2015年7月9日