近红外光谱仪的制作方法
【技术领域】
[0001 ]本实用新型属于检测仪器技术领域，尤其涉及一种近红外光谱仪。
【背景技术】
[0002]近红外光是介于可见光(VIS)和中红外光(MIR)之间的电磁波，ASTM定义的近红外光谱区的波长范围为780-2526nm(12820-3959cml)，习惯上又将近红外区划分为近红外短波(780-1100nm)和近红外长波(1100-2526nm)两个区域。
[0003]近红外光谱主要是由于分子振动的非谐振性使分子振动从基态向高能级跃迀时产生的，记录的主要是含氢基团X_H(X = C、N、0)振动的倍频和合频吸收。不同团(如甲基、亚甲基，苯环等)或同一基团在不同化学环境中的近红外吸收波长与强度都有明显差别，NIR光谱具有丰富的结构和组成信息，非常适合用于碳氢有机物质的组成与性质测量。但在NIR区域，吸收强度弱，灵敏度相对较低，吸收带较宽且重叠严重。因此，依靠传统的建立工作曲线方法进行定量分析是十分困难的，化学计量学的发展为这一问题的解决奠定了数学基础。
[0004]目前实际使用的光谱仪，电路板均是固定设置，电路板之间的距离是不可调整的，实施效果不佳。
【发明内容】
[0005]本实用新型提供一种近红外光谱仪，以解决上述【背景技术】中提出的电路板之间距离不可调的问题。
[0006]本实用新型所解决的技术问题采用以下技术方案来实现:
[0007]—种近红外光谱仪，其特征在于:包括外壳，所述外壳内设有隔断，所述隔断水平设置，所述隔断下方设有样品仓，所述隔断上方设有检测仓，所述样品仓底部设有样品支座，所述样品支座上设有样品支架，所述检测仓内壁一侧设有左凸台，另一侧设有右凸台，所述左凸台、右凸台对称设置，所述检测仓内设有第一电路板、第二电路板，所述第一电路板一端位于左凸台，另一端位于右凸台内，所述第二电路板位于第一电路板的上方，所述第一电路板、第二电路板之间设有第一限位柱、第二限位柱，所述第一电路板上设有第一下限位槽、第二下限位槽，所述第二电路板上设有第一上限位槽，第二上限位槽，所述第一限位柱一端穿过第一上限位槽，另一端穿过第一下限位槽，所述第二限位柱一端穿过第二上限位槽，另一端穿过第二下限位槽，所述第一限位柱外面套有第一限位弹簧，所述第二限位柱外面套有第二限位弹簧，所述第一限位弹簧、第二限位弹簧均位于第一电路板、第二电路板之间，所述第一限位柱一端设有第一上紧固螺栓，另一端设有第一下紧固螺栓，所述第二限位柱一端设有第二上紧固螺栓，另一端设有第二下紧固螺栓。
[0008]所述第一上紧固螺栓、第二上紧固螺栓均位于第二电路板上方。
[0009]所述第一下紧固螺栓、第二下紧固螺栓均位于第一电路板下方。
[0010]本实用新型的有益效果为:
[0011]本技术方案先将下层电路板通过凸台固定，然后在两层电路板之间设置限位柱与限位弹簧，通过限位弹簧来调整电路板之间的距离，然后通过紧固螺栓固定，整体结构简单，安全可靠，操作方便，另外将样品仓位于检测仓的下方，虽然取样有些不便，但是可以增强电路板的散热，延长电路板的寿命。
【附图说明】
[0012]图1为本实用新型的结构示意图。
[0013]图中:1-外壳，2-样品支座，3-样品支架，4-隔断，5-左凸台，6-右凸台，7_第一电路板，8-第一限位柱，9-第二限位柱，10-第二电路板，11-第一限位弹簧，12-第二限位弹簧，13-第一上限位槽，14-第二上限位槽，15-第一下限位槽，16-第二下限位槽，17-第一上紧固螺栓，18-第一下紧固螺栓，19-第二上紧固螺栓，20-第二下紧固螺栓，21-样品仓，22-检测仓。
【具体实施方式】
[0014]一种近红外光谱仪，包括外壳I，外壳I内设有隔断4，隔断4水平设置，隔断4下方设有样品仓21，隔断4上方设有检测仓22，样品仓21底部设有样品支座2，样品支座2上设有样品支架3，检测仓22内壁一侧设有左凸台5，另一侧设有右凸台6，左凸台5、右凸台6对称设置，检测仓22内设有第一电路板7、第二电路板10，第一电路板7—端位于左凸台5，另一端位于右凸台6内，第二电路板10位于第一电路板7的上方，第一电路板7、第二电路板10之间设有第一限位柱8、第二限位柱9，第一电路板7上设有第一下限位槽15，第二下限位槽16，第二电路板10上设有第一上限位槽13、第二上限位槽14，第一限位柱8—端穿过第一上限位槽13，另一端穿过第一下限位槽15，第二限位柱9一端穿过第二上限位槽14，另一端穿过第二下限位槽16，第一限位柱8外面套有第一限位弹簧11，第二限位柱9外面套有第二限位弹簧12，第一限位弹簧11、第二限位弹簧12均位于第一电路板7、第二电路板10之间，第一限位柱8—端设有第一上紧固螺栓17，另一端设有第一下紧固螺栓18，第二限位柱9一端设有第二上紧固螺栓19，另一端设有第二下紧固螺栓20。
[0015]第一上紧固螺栓17、第二上紧固螺栓19均位于第二电路板10上方。
[0016]第一下紧固螺栓18、第二下紧固螺栓20均位于第一电路板7下方。
[0017]以上对本实用新型的实施例进行了详细说明，但所述内容仅为本实用新型的较佳实施例，不能被认为用于限定本实用新型的实施范围，凡依本实用新型申请范围所作的均等变化与改进等，均应仍归属于本实用新型的专利涵盖范围之内。
【主权项】
1.一种近红外光谱仪，其特征在于:包括外壳，所述外壳内设有隔断，所述隔断水平设置，所述隔断下方设有样品仓，所述隔断上方设有检测仓，所述样品仓底部设有样品支座，所述样品支座上设有样品支架，所述检测仓内壁一侧设有左凸台，另一侧设有右凸台，所述左凸台、右凸台对称设置，所述检测仓内设有第一电路板、第二电路板，所述第一电路板一端位于左凸台，另一端位于右凸台内，所述第二电路板位于第一电路板的上方，所述第一电路板、第二电路板之间设有第一限位柱、第二限位柱，所述第一电路板上设有第一下限位槽、第二下限位槽，所述第二电路板上设有第一上限位槽，第二上限位槽，所述第一限位柱一端穿过第一上限位槽，另一端穿过第一下限位槽，所述第二限位柱一端穿过第二上限位槽，另一端穿过第二下限位槽，所述第一限位柱外面套有第一限位弹簧，所述第二限位柱外面套有第二限位弹簧，所述第一限位弹簧、第二限位弹簧均位于第一电路板、第二电路板之间，所述第一限位柱一端设有第一上紧固螺栓，另一端设有第一下紧固螺栓，所述第二限位柱一端设有第二上紧固螺栓，另一端设有第二下紧固螺栓。2.根据权利要求1所述的一种近红外光谱仪，其特征在于:所述第一上紧固螺栓、第二上紧固螺栓均位于第二电路板上方。3.根据权利要求1所述的一种近红外光谱仪，其特征在于:所述第一下紧固螺栓、第二下紧固螺栓均位于第一电路板下方。
【专利摘要】本实用新型属于检测仪器技术领域，尤其涉及一种近红外光谱仪，所述第一电路板、第二电路板之间设有第一限位柱、第二限位柱，所述第一电路板上设有第一下限位槽、第二下限位槽，所述第二电路板上设有第一上限位槽，第二上限位槽，所述第一限位柱一端穿过第一上限位槽，另一端穿过第一下限位槽，所述第二限位柱一端穿过第二上限位槽，另一端穿过第二下限位槽，所述第一限位柱外面套有第一限位弹簧，所述第二限位柱外面套有第二限位弹簧，所述第一限位弹簧、第二限位弹簧均位于第一电路板、第二电路板之间，所述第一限位柱一端设有第一上紧固螺栓，另一端设有第一下紧固螺栓，所述第二限位柱一端设有第二上紧固螺栓，另一端设有第二下紧固螺栓。
【IPC分类】G01J3/42, G01N21/359
【公开号】CN205374297
【申请号】CN201521125215
【发明人】万成富, 赵朋辉, 刘大鹏
【申请人】天津中世沃克科技发展有限公司
【公开日】2016年7月6日
【申请日】2015年12月29日