一种光纤色散系数测量装置的制造方法
【专利摘要】本实用新型属于光纤参数测量领域，具体涉及一种光纤色散系数测量装置，包括波长可调DFB窄线宽激光器，电光调制器，待测光纤，高速光电探测器，矢量网络分析仪和直流电源；所述波长可调DFB窄线宽激光器、电光调制器、高速光电探测器构成一条微波光子链路；波长可调DFB窄线宽激光器发出的单色偏振光入射到电光调制器；矢量网络分析仪的第一端口输出一扫频的射频信号进入电光调制器；电光调制器将该射频信号加载到光波上而输出一光载射频信号，该光载射频信号经过待测光纤后入射到高速光电探测器上，高速光电探测器将光信号转换成射频信号并接入到矢量网络分析仪进行采集和分析；相比现有的光学测量方法，该方法具备测量速度快，测量精度高，并且不受环境因素的影响等优点。
【专利说明】
一种光纤色散系数测量装置
技术领域
[0001]本实用新型属于光纤参数测量领域，具体涉及一种光纤色散系数测量装置。
【背景技术】
[0002]光纤色散系数的测量是光纤参数测量技术的重要研究方向，传统测量手段都是通过脉冲延迟法、相移法、模场直径法和白光干涉等方法来实现，但这些光学测量方法的抗环境干扰性能较差，且需要复杂的时频分析算法来计算和分析测量结果。
【实用新型内容】
[0003]本实用新型的目的是提供一种测量速度快、测量精度高的光纤色散系数测量装置。
[0004]为实现上述目的，本实用新型提供了以下技术方案:一种光纤色散系数测量装置，包括波长可调DFB窄线宽激光器，电光调制器，待测光纤，高速光电探测器，矢量网络分析仪和直流电源;所述波长可调DFB窄线宽激光器、电光调制器、高速光电探测器构成一条微波光子链路;波长可调DFB窄线宽激光器发出的单色偏振光入射到电光调制器;矢量网络分析仪的第一端口输出一扫频的射频信号进入电光调制器;电光调制器将该射频信号加载到光波上而输出一光载射频信号，该光载射频信号经过待测光纤后入射到高速光电探测器上，高速光电探测器将光信号转换成射频信号并接入到矢量网络分析仪进行采集和分析；
[0005]优选的，所述波长可调DFB窄线宽激光器的调谐精度高于0.4nm;
[0006]优选的，所述电光调制器调制信号由矢量网络分析仪提供；
[0007]优选的，电光调制器的直流偏置信号通过直流电源来提供；
[0008]优选的，电光调制器的输入输出端为光纤；
[0009]优选的，所述电光调制器、高速光电探测器和矢量网络分析仪的频率响应大于30GHz ο
[0010]本实用新型的技术效果在于:相比现有的光学测量方法，该方法具备测量速度快，测量精度高，并且不受环境因素的影响等优点;采用高频率响应的调制器、探测器和矢量网络分析仪可以提高测量的准确性。
【附图说明】
[0011]图1为本实用新型提供的一种基于微波光子技术的光纤色散系数测量装置原理图；
[0012]图中101为波长可调DFB窄线宽激光器，102为电光调制器，103为待测光纤，104为高速光电探测器，105为矢量网络分析仪，106为直流电源。
【具体实施方式】
[0013]为清楚地说明本发明提供的一种基于微波光子技术的光纤色散系数的测量装置，结合实施例和附图对发明做进一步说明，但不应以此限制本发明的保护范围。
[0014]实施例1
[0015]采用基于微波光子技术的光纤色散系数的测量装置如图1所示，主要光电器件参数选择如下:
[0016]波长可调DFB激光器101的输出功率应大于5mW，波长调节精度优于0.4nm，消光比大于20dB。
[0017]光器件的工作波长应当与待测光纤工作波长相吻合。
[0018]测量装置的工作过程如下:
[0019]波长可调DFB激光器101输出的偏振光经过强度型电光调制器102。网络矢量分析仪105的第一端口 I输出一扫频射频信号进入电光调制器102的射频输入端。电光调制器102的工作点通过直流电源106来调节，改变直流电源106的输出电压可以改变电光调制器的偏置工作点，进而改变电光调制器102的输出光强。电光调制器102将入射的射频信号调制到光波上而输出一光载射频信号，该光载射频信号经过待测光纤103后入射到高速光电探测器104上，高速光电探测器104将光信号转换成射频信号并接入到矢量网络分析仪105进行采集和分析。
[0020]当待测光纤小于10米时，测量装置中的电光调制器102，高速光电探测器104和矢量网络分析仪105的频率响应应大于30GHz。
[0021]本实用新型相比于现有的光学测量装置，具备测量速度快，测量精度高，并且不受环境因素的影响等优点；采用高频率响应的调制器、探测器和矢量网络分析仪可以提高测量的准确性。
【主权项】
1.一种光纤色散系数测量装置，其特征在于:包括波长可调DFB窄线宽激光器(101)，电光调制器(102 )，待测光纤(103 )，高速光电探测器(104 )，矢量网络分析仪(105)和直流电源(106);所述波长可调DFB窄线宽激光器(101)、电光调制器(102)、高速光电探测器(104)构成一条微波光子链路;波长可调DFB窄线宽激光器(1I)发出的单色偏振光入射到电光调制器(102);矢量网络分析仪(105)的第一端口(I)输出一扫频的射频信号进入电光调制器(102);电光调制器(102)将该射频信号加载到光波上而输出一光载射频信号，该光载射频信号经过待测光纤(103)后入射到高速光电探测器(104)上，高速光电探测器(104)将光信号转换成射频信号并接入到矢量网络分析仪(105)进行采集和分析。2.根据权利要求1所述的光纤色散系数测量装置，其特征在于:所述波长可调DFB窄线宽激光器(101)的调谐精度高于0.4nm。3.根据权利要求1所述的光纤色散系数测量装置，其特征在于:所述电光调制器(102)调制信号由矢量网络分析仪(105)提供。4.根据权利要求1所述的光纤色散系数测量装置，其特征在于:电光调制器(102)的直流偏置信号通过直流电源(106)来提供。5.根据权利要求1所述的光纤色散系数测量装置，其特征在于:电光调制器(102)的输入输出端为光纤。6.根据权利要求1所述的光纤色散系数测量装置，其特征在于:所述电光调制器(102)、高速光电探测器(104)和矢量网络分析仪(105)的频率响应大于30GHz。
【文档编号】G01M11/02GK205538163SQ201620295535
【公开日】2016年8月31日
【申请日】2016年4月8日
【发明人】陈信伟, 吴彭生, 李琳, 武帅
【申请人】中国电子科技集团公司第三十八研究所