电控板质检项目多选的方法与流程

文档序号:31053229发布日期:2022-08-06 08:55阅读:122来源:国知局
电控板质检项目多选的方法与流程

1.本发明涉及电控板质检技术领域,具体为电控板质检项目多选的方法。


背景技术:

2.电路板在应用于产品上前,通常需要对电路板进行质检,传统的质检设备只能对电控板进行一个项目的质检或恒定进行多个项目的质检。
3.采用前一种质检设备时,当遇到需要进行多项质检时,需要在质检完一个项目后更换至另一台质检设备,以继续进行下一质检项目,如通过测试vdd电压的质检设备检测电控板的vdd电压合格后,再通过测试负载输出电压的质检设备检测电控板的负载输出端所输出的电压是否合格,等等,适用于流水线作业,虽然质检项目选择的灵活性好,但重复多次的电控板取下及电控板装上,可能会导致电控板受到刮损,且在频繁更换电控板至开始质检时所需的响应、等待时间,是导致质检效率低下的重要因素之一;采用第二种质检设备,虽然能够通过一台质检设备完成所有质检项目,减少频繁更换电控板至开始质检时所需的响应、等待时间,但其质检项目是恒定的,其只能针对于某一款电控板进行质检,适用性较差。因此,有必要发明一种检测项目可选、能提升质检效率的方法。


技术实现要素:

4.本发明为克服上述情况不足,旨在提供一种能解决上述问题的技术方案。
5.为实现上述目的,本发明提供如下技术方案:电控板质检项目多选的方法,方法包括:
6.s1、设置一测试架面板和可相对测试架面板进行打开的盖板,盖板在合上时用于将待测电控板固定在测试架面板上,并使测试架面板上的测试端子与待测电控板上的端子一一对应;
7.s2、在测试架面板上布置一个功能选择电路板,功能选择电路板上焊接若干个项目选择光电开关,项目选择光电开关与检测项目一一对应,盖板上设置有与项目选择光电开关一一对应的安装位,安装位用于可拆卸安装项目选择挡光片,且盖板在合上时,盖板上的项目选择挡光片遮挡对应的项目选择光电开关的感光部,项目选择光电开关的感光部被项目选择挡光片挡住后,对应向功能选择电路板的单片机u18发生低电平信号;
8.s3、根据检测项目的需求在对应的安装位装上项目选择挡光片;
9.s4、合上盖板使待测电控板被固定在测试架面板上,盖板上的项目选择挡光片联动,控制对应的项目选择光电开关向功能选择电路板的单片机u18发生低电平信号,通过项目选择挡光片控制项目选择光电开关来选择待测电控板的检测项目;
10.s5、在盖板合上后,功能选择电路板上的单片机u18接收每个项目选择光电开关的低电平信号,低电平信号接收完毕后利用双线通信协议将数据发送至质检设备的主控单片机u11,并由主控单片机u11进入下一步数据处理;
11.其中,双线通信协议由时钟线sck和数据线sda组成,功能选择电路板的单片机u18
通过确认所接收到的上述低电平信号的排布方式,即通过确定功能选择电路板的单片机u18上哪些与项目选择光电开关连接的输入端获得低电平信号,从而整理确定已被选择的检测项目,并向主控单片机u11发送一串与该被选择的检测项目对应的时钟信号和数据信号。
12.作为本发明进一步方案:在进行步骤s3前,在测试架面板上布置一块线路板,线路板上焊接合盖信号光电开关,盖板上固定有与合盖信号光电开关对应的合盖挡光片,且盖板在合上时,盖板上的合盖挡光片遮挡合盖信号光电开关的感光部,合盖信号光电开关在合盖挡光片遮挡其感光部后向功能选择电路板的单片机u18及主控单片机u11发生低电平信号;在进行步骤s4时,合上盖板后,功能选择电路板的单片机u18在接收到合盖信号光电开关的低电平信号后再开启接收项目选择光电开关发生的低电平信号;在进行步骤s5时,合上盖板后,主控单片机u11在接收到合盖信号光电开关的低电平信号后再开启接收功能选择电路板所发送的时钟信号和数据信号。
13.作为本发明进一步方案:功能选择电路板接收项目选择光电开关的低电平信号的过程包括:首先,读取各项目选择光电开关的信号,在读取到对应的低电平信号后整理确定出已被选择的检测项目,并向主控单片机u11发送一串与该被选择的检测项目对应的时钟信号和数据信号;未读取到低电平信号的部分持续进行读取,至检测超时或主控单片机u11接收到时钟信号和数据信号后停止读取,在此期间读取到新的低电平信号时由功能选择电路板将新读取到的部分增加至信号列表中,并整理确认出新的被选择的检测项目后向主控单片机u11发送一串与新的被选择的检测项目对应的时钟信号和数据信号;主控单片机u11启用在规定时间内最后接收到的时钟信号和数据信号,得出最终的被选择的检测项目,从而进行下一步数据处理;其中,主控单片机u11接收到的时钟信号和数据信号与信号对比表上的数据不对应时,反馈功能选择电路板重新发送时钟信号和数据信号。
14.作为本发明进一步方案:功能选择电路板发送的时钟信号和数据信号通过光耦隔离后传至主控单片机u11。
15.作为本发明进一步方案:功能选择电路板的单片机u18的时钟信号输出端sck连接有n型场效应管q3,其中,n型场效应管q3的栅极通过电阻r1与单片机u18的时钟信号输出端sck连接,n型场效应管q3的栅极还通过电阻r6与接地端gnd连接;n型场效应管q3的源极与接地端gnd连接;n型场效应管q3的漏极至少连接有1个光耦u2,其中,每个光耦u2的发光部的正极均通过一下拉电阻r9与电源电压端vcc连接,每个光耦u2的发光部的负极均连接在n型场效应管q3的漏极上,不同光耦u2的受光部用于向不同的主控单片机u11的时钟信号接收端sck1发生信号;功能选择电路板的单片机u18的数据信号输出端sda连接有n型场效应管q2,其中,n型场效应管q2的栅极通过电阻r74与单片机u18的数据信号输出端sda连接,n型场效应管q2的栅极还通过电阻r54与接地端gnd连接;n型场效应管q2的源极与接地端gnd连接;n型场效应管q2的漏极至少连接有一个光耦u23,其中,每个光耦u23的发光部的正极均通过一下拉电阻r33与电源电压端vcc连接,每个光耦u2的发光部的负极均连接在n型场效应管q2的漏极上,不同光耦u23的受光部用于向不同的主控单片机u11的数据信号接收端sda1发生信号。
16.作为本发明进一步方案:项目选择光电开关采用对射型光电传感器;合盖信号光电开关采用对射型光电传感器。
17.作为本发明进一步方案:功能选择电路板的单片机u18的型号为tm52fe8296;主控单片机u11的型号为tm52fe8276。
18.与现有技术相比,本发明的有益效果如下:可根据所需的检测项目在对应的安装位装上项目选择挡光片,在合盖对待测电路板进行固定时,功能选择电路板能向主控单片机自动输出所需的检测项目所对应的信号,主控单片机可根据该信号从而进入下一步数据处理,如通过其上的vdd电压检测电路对电控板vdd电压进行检测、通过其上的负载输出电压检测电路对电控板的负载输出端所输出的电压进行检测等,可适用于多款电控板的不同检测项目的项目选择、以及同一款电控板的不同检测项目的项目选择;在减少频繁更换电控板至开始质检时所需的响应、等待时间的前提下,质检项目选择的灵活性好,且项目选择光电开关发生低电平信号由合盖决定,操作及相应时间上更节省时间,极大地提升质检效率。
附图说明
19.图1是本发明的流程图;
20.图2是本发明中功能选择电路板的单片机u18的电路原理图;
21.图3是本发明中项目选择光电开关和合盖信号光电开关的电路原理图;
22.图4是本发明中数据信号和时钟信号传输时的电路原理图;
23.图5是本发明中主控单片机u11的电路原理图;
24.图6是本发明中合盖时项目选择光电开关与项目选择挡光片的位置关系示意图;
25.图7是本发明中合盖时合盖信号光电开关与合盖挡光片的位置关系示意图;
26.图中的附图标记及名称如下:
27.测试架面板-100,盖板-200,测试端子-300,功能选择电路板-400,项目选择光电开关-500,项目选择挡光片-600,线路板-700,合盖信号光电开关-800,合盖挡光片-900。
具体实施方式
28.下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
29.请参阅图1-7,电控板质检项目多选的方法,方法包括:
30.s1、设置一测试架面板100和可相对测试架面板100进行打开的盖板200,盖板200在合上时用于将待测电控板固定在测试架面板100上,并使测试架面板100上的测试端子300与待测电控板上的端子一一对应;
31.s2、在测试架面板100上布置一个功能选择电路板400,功能选择电路板400上焊接若干个项目选择光电开关500,项目选择光电开关500与检测项目一一对应,盖板200上设置有与项目选择光电开关500一一对应的安装位,安装位用于可拆卸安装项目选择挡光片600,且盖板200在合上时,盖板200上的项目选择挡光片600遮挡对应的项目选择光电开关500的感光部,项目选择光电开关500的感光部被项目选择挡光片600挡住后,对应向功能选择电路板400的单片机u18发生低电平信号;
32.s3、根据检测项目的需求在对应的安装位装上项目选择挡光片600;
33.s4、合上盖板200使待测电控板被固定在测试架面板100上,盖板200上的项目选择挡光片600联动,控制对应的项目选择光电开关500向功能选择电路板400的单片机u18发生低电平信号,通过项目选择挡光片600控制项目选择光电开关500来选择待测电控板的检测项目;
34.s5、在盖板200合上后,功能选择电路板400上的单片机u18接收每个项目选择光电开关500的低电平信号,低电平信号接收完毕后利用双线通信协议将数据发送至质检设备的主控单片机u11,并由主控单片机u11进入下一步数据处理;
35.其中,双线通信协议由时钟线sck和数据线sda组成,功能选择电路板400的单片机u18通过确认所接收到的上述低电平信号的排布方式,即通过确定功能选择电路板400的单片机u18上哪些与项目选择光电开关连接的输入端获得低电平信号,从而整理确定已被选择的检测项目,并向主控单片机u11发送一串与该被选择的检测项目对应的时钟信号和数据信号。
36.盖板200相对测试架面板100进行合盖的方式可如图6和图7所示的翻转合盖。
37.可根据所需的检测项目在对应的安装位装上项目选择挡光片600,在合盖对待测电路板进行固定时,功能选择电路板400能向主控单片机u11自动输出所需的检测项目所对应的信号,主控单片机u11可根据该信号从而进入下一步数据处理:如通过其上的vdd电压检测电路对电控板vdd电压进行检测、通过其上的负载输出电压检测电路对电控板的负载输出端所输出的电压进行检测、通过向信号采集板发送信号再由信号采集板进行相应的检测项目,等等;可适用于多款电控板的不同检测项目的项目选择、以及同一款电控板的不同检测项目的项目选择;在减少频繁更换电控板至开始质检时所需的响应、等待时间的前提下,质检项目选择的灵活性好,且项目选择光电开关发生低电平信号由合盖决定,操作及相应时间上更节省时间,极大地提升质检效率。
38.优选地,功能选择电路板400接收项目选择光电开关的低电平信号的过程包括:
39.首先,读取各项目选择光电开关500的信号,在读取到对应的低电平信号后整理确定出已被选择的检测项目,并向主控单片机u11发送一串与该被选择的检测项目对应的时钟信号和数据信号;
40.未读取到低电平信号的部分持续进行读取,至检测超时或主控单片机u11接收到时钟信号和数据信号后停止读取,在此期间读取到新的低电平信号时由功能选择电路板400将新读取到的部分增加至信号列表中,并整理确认出新的被选择的检测项目后向主控单片机u11发送一串与新的被选择的检测项目对应的时钟信号和数据信号;
41.主控单片机u11启用在规定时间内最后接收到的时钟信号和数据信号,得出最终的被选择的检测项目,从而进行下一步数据处理;
42.其中,主控单片机u11接收到的时钟信号和数据信号与信号对比表上的数据不对应时,反馈功能选择电路板400重新发送时钟信号和数据信号。
43.有效确保读取检测项目选择的准确性,使得质检更准确。
44.优选地,功能选择电路板400发送的时钟信号和数据信号通过光耦隔离后传至主控单片机u11。
45.具体请参阅图2、4、5,单片机u18的时钟信号输出端sck连接有n型场效应管q3,单
片机u18的数据信号输出端sda连接有n型场效应管q2,其中:
46.n型场效应管q3的栅极通过电阻r1与单片机u18的时钟信号输出端sck连接,n型场效应管q3的栅极还通过电阻r6与接地端gnd连接;n型场效应管q3的源极与接地端gnd连接;n型场效应管q3的漏极至少连接有1个光耦u2,其中,每个光耦u2的发光部的正极均通过一下拉电阻r9与电源电压端vcc连接,每个光耦u2的发光部的负极均连接在n型场效应管q3的漏极上,不同光耦u2的受光部用于向不同的主控单片机u11的时钟信号接收端sck1发生信号;
47.n型场效应管q2的栅极通过电阻r74与单片机u18的数据信号输出端sda连接,n型场效应管q2的栅极还通过电阻r54与接地端gnd连接;n型场效应管q2的源极与接地端gnd连接;n型场效应管q2的漏极至少连接有一个光耦u23,其中,每个光耦u23的发光部的正极均通过一下拉电阻r33与电源电压端vcc连接,每个光耦u2的发光部的负极均连接在n型场效应管q2的漏极上,不同光耦u23的受光部用于向不同的主控单片机u11的数据信号接收端sda1发生信号。
48.单片机u18发出的时钟信号通过控制n型场效应管q3,从而控制光耦u2向主控单片机u11输出和单片机u18发出的时钟信号相同且与单片机u18隔离的时钟信号;单片机u18发出的数据信号通过控制n型场效应管q2,从而控制光耦u23向主控单片机u11输出和单片机u18发出的数据信号相同且与单片机u18隔离的数据信号。一方面,信号受干扰程度小,另一方面,可通过一个功能选择电路板400向多个主控单片机u11发送时钟信号和数据信号,对应的,每个主控单片机u11的时钟信号接收端sck1与对应的光耦u2的受光器连接,每个主控单片机u11的数据信号接收端sda1与对应的光耦u23的受光器连接,仅需一个功能选择电路板400即可同时对多个电控板进行检测项目的确认,进一步提升质检效率,且有效降低质检成本,采用n型场效应管q3、光耦u2、n型场效应管q2、光耦u23的设计使得发送给每个主控单片机u11的信号相互隔离,不会相会干扰且安全。
49.每个光耦u2均使用下拉电阻r9控制,每个光耦u23均使用下拉电阻r33控制,在需要提升对应光耦的驱动能力、提升传输信号的速度时,可通过调整下拉电阻r9、下拉电阻r33的阻值去完成,适用性更好。
50.进一步地,在进行步骤s3前,在测试架面板100上布置一块线路板700,线路板700上焊接合盖信号光电开关800,盖板200上固定有与合盖信号光电开关800对应的合盖挡光片900,且盖板200在合上时,盖板200上的合盖挡光片900遮挡合盖信号光电开关800的感光部,合盖信号光电开关800在合盖挡光片900遮挡其感光部后向功能选择电路板400的单片机u18及主控单片机u11发生低电平信号;
51.在进行步骤s4时,合上盖板200后,功能选择电路板400的单片机u18在接收到合盖信号光电开关800的低电平信号后再开启接收项目选择光电开关500发生的低电平信号;
52.在进行步骤s5时,合上盖板200后,主控单片机u11在接收到合盖信号光电开关800的低电平信号后再开启接收功能选择电路板400所发送的时钟信号和数据信号。
53.通过增设合盖信号光电开关800和合盖挡光片900,一方面,能用于辅助识别待测电控板已放置到位及被盖板固定,即确保在对待测的电路板进行质检前,盖板200已进行合盖,另一方面,降低项目选择光电开关500误触发而导致功能选择电路板400及主控单片机u11无效运转的情况,有效降低功能选择电路板400及主控单片机u11的能耗。
54.如图2所示,功能选择电路板400的单片机u18通过j2端子接收合盖信号光电开关800的低电平信号。
55.在打开盖板200时,项目选择挡光片600不挡住项目选择光电开关500的感光部、合盖挡光片900不挡住合盖信号光电开关800的感光部,项目选择光电开关500的信号输出端、合盖信号光电开关800的信号输出端通过功能选择电路板的单片机u18内置的上拉信号一直维持高电压;在合盖时,项目选择挡光片600挡住项目选择光电开关500的感光部、合盖挡光片900挡住合盖信号光电开关800的感光部,项目选择光电开关500的信号输出端、合盖信号光电开关800的信号输出端输出低电平信号,功能选择电路板400的单片机u18接收到合盖信号光电开关800的低电平信号后启动接收项目选择光电开关500的信号;合盖信号光电开关800与主控单片机u11的配合方式与上述相同,其中,主控单片机u11在接收到合盖信号光电开关800的低电平信号后启动接收功能选择电路板400所发送的信号。
56.在本发明实施例中,项目选择光电开关500优选采用对射型光电传感器;合盖信号光电开关800优选采用对射型光电传感器。功能选择电路板400的单片机u18的型号优选为tm52fe8296;主控单片机u11的型号优选为tm52fe8276,在进行上述步骤前烧录入对应的程序,tm52fe8276其内部集成了一个14.7456mhz的快速时钟,tm52fe8276使用的是全新快速的8051架构,通常情况下,tm52执行指令,比传统的8051架构快六倍。
57.对于本领域技术人员而言,显然本发明不限于上述示范性实施例的细节,而且在不背离本发明的精神或基本特征的情况下,能够以其他的具体形式实现本发明。因此,无论从哪一点来看,均应将实施例看作是示范性的,而且是非限制性的,本发明的范围由所附权利要求而不是上述说明限定,因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本发明内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。
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