专利名称：一种测试软件工具的分析方法
技术领域：
本发明的目的是一种测试软件工具的分析方法。它尤其可以在测试设备执行的测试软件领域中，用来测试电子组件，例如，用来评价作为电子组件生产质量控制工具的软件工具的性能特点，因为这些组件通常是大批量生产的。在现有的技术中，没有已知的分析这种测试软件工具的方法。本发明的价值就在于它提出了一种分析方法，通过这种方法，可以组织测试设备的维护，此分析方法给出的结果和测试软件工具给出的结果可以用来优化软件。
在现有技术中，存在一种用这样一种方式执行测试软件的测试程序的测试设备，此方式为测试程序包括一个为了测试待测组件而执行的指令序列。此指令序列和执行这些指令后得到的结果的接受标准都存储在测试设备的数据存储器中。一个测试设备通常包括一个与数据存储器交换信息的微处理器。而且，微处理器控制着此测试设备的多路器。通过此多路器，将必需应用到待测电子组件特殊点的电压与测试设备的插脚相连而且，多路器还可以用来在插脚中识别组件发出的电压。微处理器记录下每个插脚发出的电压，这就构成了测试程序的结果。然后将此结果记录在测试设备的测量存储器中。
为了确保这种测试设备给出的结果的质量，必需保证构成测试设备本身的每个电子组件工作正常。因此，在现有的技术中，必需对测试设备做频繁的修理。例如，如果连续拒绝了要测试的大量组件，而且发生的原因相同，则必须停止测试设备，必需在其组成的电子组件中做故障搜寻。类似地，在另一个例子中，如果测试设备不能再完整地执行此测试程序，则必需停止用此设备进行的测试，必需在设备中进行故障搜寻。目前在现有技术中搜寻故障(或故障检修)是一项艰苦的操作。实际上，在测试设备中寻找故障必需按照一个逻辑顺序进行，此顺序依赖于构成测试设备的每个组件的故障出现的频率。这种故障搜索顺序经验上是根据测试设备的用户所作的观察。这种故障的搜索是独立于测试程序中含有的指令知识之外进行的，它将设备的不同组件都投入运行。
在现有技术中，使用这种执行测试程序的测试设备带来了一些问题。事实上，这类测试设备经常会出错，而且很难预料。当在有批量组件需要测试的测试工作中发生故障时，这会限麻烦。而且，当测试设备由于故障停止时，故障的修理可能会耗费大量的时间，因为没有可以用来快速发现故障原因的方法和解决它的方法。事实上，所用的经验性的方法并不能优化这种问题的解决。而且，在现有技术中，也没有将故障发生最小化的预防性维护措施。事实上，只是在时间到来时才面对问题。没有防止它的措施。
本发明的一个目的是通过提出一种测试软件工具的分析方法来克服所述问题，以使分析程序记录下软件测试程序的给定操作的运行次数。一个测试软件可以包括程序，这样每个程序对电子组件的给定类型都是特定的。一个测试程序包括测试设备要执行的操作和指令。然后，对每个测试程序都记录下每个操作的运行次数。而且，分析方法也可以评价测试软件的任一个测试程序对测试设备的一个电子组件操作的次数。这样，就可以根据软件对其操作的次数导出一个对测试设备电子组件的分类。而且，还可以知道每个测试程序执行最频繁的操作。根据本发明的方法，可以评价出测试设备的每个组件磨损和破损的比率，并在对待测组件系列进行一系列的测试时，预测出每个组件磨损和破损比率的进展。这样就可以为这些细件都计划出早期的替换或甚至是替换频率，以防止故障的出现。
而且，此分析方法给出的信息还可以用来优化包含在每个测试程序中的操作顺序。这种优化旨在减少高频操作的运行实例的数量。而且，由于可以使用一种分析方法来找出每个操作的运行周期，所以最好要找出此周期以便减少最长操作的运行次数。本发明产生的此方法提供了对测试设备的预防维护，并可以帮助优化软件甚至是此软件执行的测试程序。
因此，本发明涉及一种测试软件工具的分析方法，其特征在于，它包括以下步骤在一个测试设备中，使用此软件程序来测试电子组件；记录下此程序相同的测试操作的运行的发生次数。
从下面的描述和附图中可以更清楚地理解本发明。这些图形纯粹作为指示给出，它们没有限制本发明的范围。这些图中
图1是依据本发明的一个软件工具的分析方法的示意图；图2是依据本发明的一个数据分析的示意图；图1表示用来测试电子组件2的一个测试设备1。电子组件2是一个例如具有电子微电路的卡，诸如一个智能卡或一个存储组件。一般来说，这种电子组件2提供在诸如平板3的平板3上，通常包括诸如2个待测的电子组件。这种类型的平板3的组件相互可以相同或不同。在优选示例中，平板3拥有相互相同的集成电路。
测试设备1具有一个模块4，它包括与待测电子组件2的特定点5相连的插脚，例如，P1、P2、P3和P4。模块4可以包括许多插脚，以便与电子组件2的许多特定点插脚相连。这些插脚按照特定的几何形状分布，此几何形状可以用来，用已知的方法，将每个插脚分别放置在待测电子组件2的特定插脚之前。
测试设备1还包括一个微处理器6，用来管理诸如数据之类的信息流，控制和访问从模块4发出和由模块4接收的总线。微处理器6可以调用软件工具7中的测试程序8。调用的测试程序8依赖于待测组件的性能。软件工具7具有多个类似的测试程序例如8个。
在优选示例中，操作者可以通过键盘11驱动微处理器6，可以通过屏幕12来接收微处理器6发出的信息。例如，一个用户可以使用键盘11来强行使用微处理器6上的程序8或另一个存储在软件工具7中的程序。而且，如果必要的话，这个用户还可以在屏幕12上看到程序8中所需的测量结果或程序8的分析步骤的结果的显示，或甚至是，如果必要的话，软件工具7分析方法的结果的显示。
程序8包括数个操作或指令行14。这些操作14是由模块4执行的。由代码，例如C1、C2、C3、C4、C5、C6、C7识别指令行14。在同一个程序中指令行14，同一个指令行或操作14是可以重复数次。例如，如图1所示，在程序8中，其代码为C1的指令行重复了一次，而在相同的程序8中，指令行C2重复了四次。
在一个例子中，程序8基本上包括两种类型的指令。首先是“发送电压”类型的指令，例如，具有代码C1的S/P1/S1旨在向插脚P1提供值为S1的功率。此外，程序8还包括“测量”类型的指令，例如，设计编码为C2的MP2请求进行插脚P2电压的测量。微处理器6逐行执行程序8。在S/P1/S1类型的指令行情况中，微处理器6调出数据存储器9中的数值S1。在指令行MP2的情况中，微处理器6将插脚P2的电压测量存储在测量存储器10中。
在图2的表Tab1中，对于每个用其代码识别的不同的指令行14，在表的第15列中记录下在电子组件2上运行测试程序期间，此指令14的发生次数。由于使用了软件工具7来测试例如标为2的数个电子组件，所以表Tab1包括数个诸如15的列。在每次新运行诸如8或13的软件工具7的程序时，诸如15的每列都含有软件工具7提出的所有指令中每个指令的发生次数。
在这种类型的表中，还可以在列16中记录下指令14中的每一个发生的总次数。列16对应着在诸如8的同一个程序运行期间发生次数的总和。因此，在表Tab1中有诸如16的数列，软件7提供的诸如8或13的一个程序对应一列。也可以在诸如16的其他列中，得到与软件工具7的程序集引起的指令的发生次数的总和对应的总和，即执行此指令的软件工具7的每个程序引起的发生次数的总和。而且，可以在列18中记录下从这些测量数据中计算出的统计数值。例如，可以计算出此数据的一个平均标准偏差和/或一个方差。
用与表Tab1中的每个指令14相同的方法，可以为模块4的每个组成元件，尤其为诸如8的软件工具7的程序执行的那些元件准备出第二个表Tab2。模块4可以分成诸如插脚P1、P2、P3和P4的元件和用于驱动这些插脚中的每一个的电子微电路。因此，表Tab2为这些元素中的每一个都包括有一行。在表Tab2中，估计了模块4中每个组成元件经历的操作的比率。因此，根据图1的例子，在用来测试组件的程序8运行期间，可以得到对插脚P1操作1次而对插脚P2操作5次的情况。
然后，将组成元件经历的操作比率存储到列17中。对于诸如8的程序的每次运行，都会在诸如17的列中记录下在执行的组件上操作的比率。这种类型的表Tab2可以包括数个诸如17的列。它可以具有与存在的软件工具7程序的运行同样多的列。它可以在列8中记录下对每个组成元件的总操作率，这个总和是所有程序引起的对组件操作实例的总和，这些程序是为测试组件执行的或在给定的期间内执行的。因此，还可以估计出软件工具7引起的对每个组成元件的总操作率。可以对这些数值进行统计分析。例如，可以为每个组成元件估计出诸如列18中的一个平均标准偏差和/或一个方差和/或一个平均值。
在表Tab2中，还可以为每个组件估计出自一个组件安装在测试设备起经历的操作实例的比率。由于测试设备的所有组成程序不是同时更新的，所以计划为每个组件独立地进行计数器的复位。
在上述两个表中，根据此信息，可以依据运行的发生次数推导出对一个程序或一个软件工具的操作进行分类的方法。例如，可以对彼此之间相对的指令或操作进行分类。特别地，这种分类可以根据运行发生总次数按降序进行。因此，用这种分类就可以强调出测试程序执行最频繁的指令，或更一般地说，测试软件工具执行最频繁的指令。
类似地，从对测试设备每个组成元件的操作比率，可以判定出在这些元件上操作的实例的总数。此总数可以为特别的程序或为测试软件工具7执行的所有程序得到。这样，就可以知道测试程序操作最多的是测试设备的哪些元件。因此，就可以根据对组件进行的操作实例的总数按降序在这些组成元件间进行分类。因此，这种分类，尤其是依据自其安装起对一个组件进行的操作实例的总数按降序进行的分类，可以用来判定故障搜寻的一个优选顺序。事实上，最常操作的测试设备的元件在故障事件中也是最危险的。进行的所有的测试对这些元件的削弱最严重，因此通常它们最先遇到故障。这种顺序的知识使得进行简化的、快速的故障搜寻成为可能。
此外，还可以在同一个表中为每个组成元件记录下观察和识别到的故障的次数。例如，在表Tab2的列19中，为组成元件P1、P3和P4分别记录下了次数x1、x3和x4。这种知识是经验性的，是由测试设备的用户输入的。组件的统计寿命是已知的。
因此，对测试设备的一个元件来讲，可以使经验性观察到的故障的次数与自其安装起对它的操作率相关连。在编译在测试设备中的同一位置安装的数个连续组件上获得的数据时，观察到的对此元件的操作率和故障数量之间的相关性可以用来判定测试设备中该元件的理论寿命。而且，由于每个程序和每个软件工具对此组件操作的实例的次数都是已知的，所以可以预测出在末尾处必需更换此组成元件的限度时间量(即理论寿命)。为了改进测试设备的维护，判定出的此理论寿命最好比统计寿命要小一些，这样就不会再发生任何故障了。这样就完成了预防性维护。当观察到的此组件的故障次数变得很大时，在一个例子中可以重新判定组件的理论寿命。
类似地，由于预先知道了对测试设备进行测试工作的类型，所以可以计算出对每个组件的操作的期望次数，即可以计算出对每个组件的操作率的增加。然后，就可以看情况，在开始对待测组件系列开始测试工作之前，计划出组件中的可能变化，以避免必须在组件系列的测试中停止测试。
此外，对测试程序的每个操作，都可以在表Tab1的列20中记录下每次执行操作时观察到的基本持续时间。这样就要为操作的每次执行都考虑有一个诸如20的列。然后，就可以使根据这些数值使诸如平均值或平均标准偏差的计算之类的统计计算成为可能。时间周期对每次测试操作是专用的。
还可以估计出测试程序运行的总持续时间。可以对待测组件上的测试程序的每次运行进行计算。这样，就可以得到与测试的组件同样多的数值。可以从待测组件上测试运行的这些总持续时间，计算出一个总和、一个平均值、一个平均标准偏差或其他统计数值。
不太正式地讲，可以很简单地记录下测试序列的持续时间。一个序列则包括数个连续的测试操作。为了改进软件工具，可以通过减少组件上测试的运行周期来优化每个程序。为了这个目的，可以为降低程序的基本持续时间建立两个主要的搜索方向。依据表Tab1，第一个方向旨在减少识别为最长操作的操作的次数。还是依据表Tab1的数据，用于降低的第二个搜索方向旨在减少最频繁执行的操作。事实上，可以想到，频繁执行的操作可以用作不同的测试功能，而且可以只执行一次。然后，应该可以将通过此操作得到的结果用到数个不同的测试中。
权利要求
1.一种测试软件工具(7)的分析方法，其特征在于，它包括以下步骤在测试设备(1)中，使用此软件的程序(8)来测试电子组件(2)；记录下此程序相同的测试操作(14)运行发生的次数(15、16)。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，按照执行的统计发生次数对测试操作进行分类。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，可以推导出或记录下测试设备的组成元件经历的操作(17)的实例的比率。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，把组成元件按照经受操作的实例的统计比率进行分类。
5.根据权利要求3和4中任一项所述的方法，其特征在于，对测试设备组成元件的分类是按照对其操作的比率决定的，以便在此设备中发生故障的情况下，判定出要进行的最优的搜索顺序。
6.根据权利要求3到5中任一项所述的方法，其特征在于，可以为测试设备的每个组成元件记录下故障发生的次数(19)；这些组成元件的统计寿命是通过将对其操作的实例的比率和每个元件故障发生的次数相关决定的。
7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，可以按照比他们的统计寿命小的频率来预防性地更换测试设备的组成元件。
8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，可以记录下执行测试程序序列的持续时间；可以通过减少在电子组件上执行测试程序的持续时间来优化软件工具，可以通过减少执行最长序列的次数，并减少执行最频繁的操作的发生次数来得到持续时间的减小。
全文摘要
一种实施测试设备(1)的测试软件工具(7)的分析方法，它可以利用软件工具的程序(8、13)来测试电子组件(2)，以致在该方法中，对执行的每个独立操作(14)都记录下测试设备执行此操作的次数(15)；其次，记录下测试设备的组成元件经历的操作(17)的比率。因此，这种方法可以带来预防性的维护，并且可以根据情况对这种类型的测试设备中执行的软件工具进行改进。
文档编号G06F11/00GK1316715SQ0111649
公开日2001年10月10日 申请日期2001年3月14日 优先权日2000年3月14日
发明者菲利浦·乐久恩 申请人:比拉克诺博芬纳泰奥·塔加拉克塞