专利名称：：可适用多重磁碟阵列系统的阵列配置检验方法
技术领域：
：本发明涉及磁碟阵列技术，尤指一种可适用多重磁碟阵列系统的阵列配置检验方法，其主要利用阵列配置数据中的同一阵列中各磁碟机的序号校验和，与阵列磁碟数目及磁碟的顺序与功能等数据交互比对，可籍以快速检验阵列配置数据的正确性。本发明的磁碟阵列配置检验方法可运用于各式磁碟阵列系统，尤其是如图1所示的多重磁碟阵列系统中。该多重磁碟阵列系统的主要结构包含至少一个电脑12、一介面卡14、复数个独立磁碟机191与193、及复数个各类型磁碟阵列，如第一磁碟阵列16、第二磁碟阵列17及第三磁碟阵列18。其中第一磁碟阵列16可为一RAID0阵列，包含有一第一磁碟机161及一第二磁碟机163；第二磁碟阵列17为一RAID0+1阵列，包含有一第分带磁碟机(stripedisk)171、一第二分带磁碟机173、一第一镜像磁碟机(mirrordisk)175及一第二镜像磁碟机177；第三磁碟阵列18为一RAID1阵列，包含有一来源磁碟机(sourcedisk)181、一镜像磁碟机183及一备份磁碟机(sparedisk)185。该电脑12利用介面卡14以连接该复数个磁碟阵列及复数个独立磁碟机。当主电脑12欲存取数据时，可先辨识该数据的地址属于那一个磁碟阵列或独立磁碟机，再通过该介面卡14对该磁碟阵列或磁碟机进行存取。对于如此庞大的结构，其配置数据的正确性就变得非常重要，只要一点小小的错误，就有可能导致系统产生严重的偏差。因此，如何针对上述可适用多重磁碟阵列系统的阵列配置，设计出一种良好的检验方法，不仅可有效并正确检验其阵列配置数据，且可大幅缩短验证所需的时间，长久以来一直是使用者殷切盼望及本发明人欲行解决的困难点所在，而本发明人基于多年从事于资讯产业的相关研究、开发、及销售的实务经验，乃思及改良的意念，经多方设计、探讨、实作及改良后，终于研究出一种可适用多重磁碟阵列系统的阵列配置检验方法，以解决上述的问题。本发明的次要目的，在于提供一种可适用多重磁碟阵列系统的阵列配置检验方法，可利用阵列配置数据中的阵列磁碟数目与同一阵列各磁碟机的序号校验和所记载的数目比对，籍以检验配置数据中阵列所属磁碟机的数目是否正确。本发明的又一目的，在于提供一种可适用多重磁碟阵列系统的阵列配置检验方法，可利用阵列配置数据中的磁碟顺序与功能记录与同一阵列各磁碟机的序号校验和之中的各磁碟机的排列位置做比对，藉以检验配置数据中各磁碟机的顺序与功能是否正确。为了达成上述的目的，本发明提供一种可适用多重磁碟阵列系统的阵列配置检验方法，该磁碟阵列系统中，各阵列所属的磁碟机储存有一阵列配置，该阵列配置至少包含有一阵列磁碟数目、一磁碟顺序与功能及同一磁碟阵列中各磁碟机的序号校验和，该方法包含有下列步骤读取阵列配置数据；取得阵列磁碟数目；读取同一磁碟阵列中各磁碟机的序号校验和；及比对阵列磁碟数目与该同一磁碟阵列中各磁碟机的序号校验和所载的磁碟机数目。本发明还提出一种可适用多重磁碟阵列系统的阵列配置检验方法，该磁碟阵列系统中，各阵列所属的磁碟机储存有一阵列配置，该阵列配置至少包含有一阵列磁碟数目、一磁碟顺序与功能及同一磁碟阵列中各磁碟机的序号校验和，其中该同一磁碟阵列中各磁碟机的序号校验和是将各磁碟阵列中所属磁碟机的序号校验和依其顺序与功能排列，其配置的检验方法包含下列步骤读取阵列配置数据；取得磁碟顺序与功能；读取同一磁碟阵列中各磁碟机的序号校验和；及比对该磁碟顺序与功能与该同一磁碟阵列中各磁碟机的序号校验和所载该磁碟机序号校验和的位置。本发明的一种可适用多重磁碟阵列系统的阵列配置检验方法，其主要利用阵列配置数据中的同一阵列中各磁碟机的序号校验和，与阵列磁碟数目及磁碟顺序与功能等数据交互比对，可籍以快速检验阵列配置数据的正确性。具体实施例方式首先，请参阅图2、图3及图4，分别为本发明一较佳实施例可运用的磁碟阵列系统的配置结构说明图。本发明的检验方法主要是利用阵列配置数据中，记录磁碟阵列的数据与记录各磁碟机的数据交互比对，籍以检验阵列配置数据的正确性。故各磁碟阵列的配置数据至少应包含有一阵列磁碟数目、一磁碟顺序与功能及同一磁碟阵列中各磁碟机的序号校验和(serialchecksum)等数据。其中该同一磁碟阵列中各磁碟机的序号校验和，是将各磁碟机的序号校验和依其于阵列中的顺序及功能排列而得。以如图所示的阵列配置结构为例，其主要包含有一阵列标帜(signature)、一版本识别、一阵列资讯及磁碟资讯、同一磁碟阵列中各磁碟机的序号校验和及一阵列配置校验和。其中，图2概略说明阵列配置中各项数据的位置与型态。如阵列标帜是以一个WORD(16bits)的数据型态位于阵列配置中偏移量(offset)0的位置。版本识别则以1BYTE的数据型态位于偏移量2的位置。阵列资讯及磁碟资讯则共有15bytes，位于偏移量3的位置，分别记录该磁碟阵列及该阵列磁碟机的相关数据与状态。同一磁碟阵列各磁碟机的序号校验和则分别以DWORD(doubleword；32bits)的数据型态，将该阵列所属各磁碟机的序号校验和依其功能与顺序储存于偏移量18、22、26、30、34、38、42及46的位置。其中，该序号校验和可将各磁碟机的型号(modelnumber)、序列号(serialnumber)及固件版本(firmwarerevisionnumber)等加以运算而得。阵列配置校验和则是以一个BYTE的数据型态储存于偏移量50的位置，利用整个阵列配置数据做运算而得，可用以检验阵列配置数据是否发生错误。图3及图4，分别对该阵列配置中各磁碟阵列的阵列资讯及各阵列磁碟机的磁碟资讯做较详细的说明。阵列资讯中，第0至第2位元(bit)标示一阵列中所包含的磁碟机数目，可直接以数值记录，亦可依各种阵列类型的不同而采不同的计数方法。在本例中，RAID0阵列记录其所有磁碟机的数量；RAID1阵列则记录其备份磁碟的数量，即可由此推算该阵列的磁碟机总数；RAID0+1阵列记录其分带磁碟的数量，其倍数即为阵列磁碟的总数；Span阵列亦可直接记录其磁碟机的总数。其第3位元为阵列完整旗帜(arraybrokenflag)。第4至第7位元用以标示磁碟阵列的类型，如RAID0、RAID1到RAID7阵列分别用0到7的数值表示，Span及RAID0+1等其他特殊阵列则用其他数值如8、9等加以标示。第8至第10位元标示各阵列于磁碟系统中的序号。第11至第14位元记录数据分带的大小，利用不同的数值代表4k、8k、16k、32k或是64k等不同的单位。第15至第46位元则记录各磁碟机中磁碟阵列可使用的容量。第47至第63位元为保留位元，可做为扩充之用。磁碟资讯中，第0位元为启动栏，标示该磁碟阵列是否具有启动功能(bootable)。第1位元为优化栏位，第2至第33位元则用以记录各磁碟机本身的序号校验和。第34至第38位元用以标示各磁碟机于磁碟阵列中的顺序及其功能。于RAID0及Span阵列中，标示该磁碟机于阵列中的顺序。RAID1阵列则以第34至第35位元标示该磁碟机为来源、镜像或备份磁碟机，另以第36位元标示其是否需进行同步(synchronize)动作。RAID0+1阵列则利用第34至第36位元记录该磁碟机于分带子阵列(stripe-array)中的顺序，第37位元标示该磁碟机位于来源分带子阵列(stripe-array)或镜像分带子阵列(stripe-array)中，第38位元则标示该磁碟机是否需进行同步(synchronize)动作。另有第39至第55位元为保留位元，可做为扩充之用。最后，请参阅图5，是本发明一较佳实施例的步骤流程图。如图所示，运用本发明以检验上述的阵列配置时，首先需读取该阵列配置数据中的阵列资讯501；并由该阵列资讯中取得阵列的类型为RAID0、RAID1、RAID0+1或其他类型的阵列503。读取阵列磁碟数目的数据，再根据阵列类型计算该磁碟阵列所属的磁碟机数目505。计算阵列配置数据中同一磁碟阵列中各磁碟机的序号校验和部分所列的序号校验和数目，并比对与由步骤505所得的磁碟机数目是否一样507；若否，则该阵列配置数据必定发生错误523，需重新修正；若是，则初步检验正确，可进行步骤509，读取阵列配置的磁碟资讯。接着，由磁碟资讯中的磁碟顺序与功能数据，配合阵列类型而解读各磁碟机于该阵列中的顺序与功能511。由于阵列配置数据中，同一磁碟阵列中各磁碟机的序号校验和，是将该磁碟阵列所属各磁碟机的序号校验和依其顺序与功能排列，故可比对步骤511所得各磁碟机的功能与顺序是否一致513；若否，则表示该阵列的配置数据发生错误523；若是，则该阵列配置数据应正确无误而系统可正常运作515。通过以上所述的阵列配置检验方法及流程，即可于一磁碟阵列系统中快速而有效检验其阵列配置的数据是否正确，不仅可确保磁碟阵列系统的正常运作，且可大幅减少阵列配置数据繁复验证所需的时间。综上所述，本发明的一种可适用多重磁碟阵列系统的阵列配置检验方法，其主要利用阵列配置数据中的同一阵列中各磁碟机的序号校验和，与阵列磁碟数目及磁碟顺序与功能等数据交互比对，可籍以快速检验阵列配置数据的正确性。故本发明实为一富有新颖性、进步性，及可供产业利用功效者，应符合专利申请要件无疑，爰依法提请发明专利申请，恳请贵审查委员早日赐予本发明专利，实感德便。虽然本发明已以较佳实施例揭露如上，然其并非用以限定本发明，任何熟悉此项技艺者，在不脱离本发明之精神和范围内，当可做些许更动与润饰，因此本发明之保护范围当视权利要求书范围所界定者为准。权利要求1.一种可适用多重磁碟阵列系统的阵列配置检验方法，其特征是该磁碟阵列系统中，各阵列所属的磁碟机储存有一阵列配置，该阵列配置至少包含有一阵列磁碟数目、一磁碟顺序与功能及同一磁碟阵列中各磁碟机的序号校验和，该方法包含有下列步骤读取阵列配置数据；取得阵列磁碟数目；读取同一磁碟阵列中各磁碟机的序号校验和；及比对阵列磁碟数目与该同一磁碟阵列中各磁碟机的序号校验和所载的磁碟机数目。2.如权利要求1所述的方法，其特征是该同一磁碟阵列中各磁碟机的序号校验和，是将各磁碟阵列中所属磁碟机的序号校验和依其顺序与功能排列。3.如权利要求2所述的方法，其特征是还包含有下列步骤取得阵列配置中的磁碟顺序与功能数据；及比对该磁碟慎序与功能数据与该同一磁碟阵列中各磁碟机的序号校验和的顺序。4.如权利要求1所述的方法，其特征是各磁碟机的序号校验和是利用各磁碟机的型号、序列号及固件版本运算而得。5.如权利要求1所述的方法，其特征是该阵列配置还包含有一阵列类型，而其阵列磁碟数目的记录方法与阵列类型相关联。6.如权利要求5所述的方法，其特征是该取得阵列磁碟数目的方法包含有下列步骤读取阵列类型；读取该阵列类型相关的阵列磁碟数目记录；及计算该阵列所包含的磁碟机的数目。7.如权利要求3所述的方法，其特征是该阵列配置还包含有一阵列类型，而其磁碟顺序与功能的记录方法与阵列类型相关联。8.如权利要求7所述的方法，其特征是该取得阵列配置中的磁碟顺序与功能数据的方法包含有下列步骤读取阵列类型；读取该阵列类型相关的磁碟顺序与功能记录；及演算取得各磁碟的顺序及功能。9.一种可适用多重磁碟阵列系统的阵列配置检验方法，其特征是该磁碟阵列系统中，各阵列所属的磁碟机储存有一阵列配置，该阵列配置至少包含有一阵列磁碟数目、一磁碟顺序与功能及同一磁碟阵列中各磁碟机的序号校验和，其中该同一磁碟阵列中各磁碟机的序号校验和是将各磁碟阵列中所属磁碟机的序号校验和依其顺序与功能排列，其配置的检验方法包含下列步骤读取阵列配置数据；取得磁碟顺序与功能；读取同一磁碟阵列中各磁碟机的序号校验和；及比对该磁碟顺序与功能与该同一磁碟阵列中各磁碟机的序号校验和所载该磁碟机序号校验和的位置。10.如权利要求9所述的方法，其特征是还包含有下列步骤取得阵列磁碟数目；及比对该阵列磁碟数目与该同一磁碟阵列中各磁碟机的序号校验和所载的磁碟机数目。11.如权利要求9所述的方法，其特征是各磁碟机的序号校验和是利用各磁碟机的型号、序列号及固件版本运算而得。12.如权利要求9所述的方法，其特征是阵列配置还包含有一阵列类型，而其磁碟顺序与功能的记录方法与阵列类型相关联。13.如权利要求12所述的方法，其特征是该取得磁碟顺序与功能的方法包含有下列步骤读取阵列类型；读取该阵列类型相关的磁碟顺序与功能记录；及演算取得各磁碟于该磁碟阵列中的倾序与功能。14.如权利要求9所述的方法，其特征是该阵列配置还包含有一阵列类型，而其阵列磁碟数目的记录方法与阵列类型相关联。15.如权利要求14所述的方法，其特征是该取得阵列配置中该阵列所包含的磁碟机数目的方法包含有下列步骤读取阵列类型；读取该阵列类型相关的阵列磁碟数目记录；及计算该阵列所包含的磁碟机的数目。全文摘要本发明系有关于一种磁碟阵列配置的检验方法，尤指一种可适用多重磁碟阵列系统的阵列配置检验方法，其主要实施步骤系包含有读取磁碟的阵列配置数据；依阵列类型取得阵列磁碟数目；读取同一磁碟阵列各磁碟机的序号校验和；比对所得的阵列磁碟机数目与同一磁碟阵列中各磁碟机的序号校验和所记录的磁碟机数目是否一样；取得阵列配置中的磁碟)IW序与功能；比对磁碟顺序与功能的记录与同一磁碟阵列中各磁碟机的序号校验和所记录的磁碟机)顺序是否一致，如此，利用阵列配置中的数据交互比对，即可快速检验该阵列配置的数据是否正确无误者。文档编号G06F11/08GK1425983SQ0215912公开日2003年6月25日申请日期2002年12月25日优先权日2002年12月25日发明者王君毅,胡国玉申请人:威盛电子股份有限公司