专利名称：全自动ic卡测试发卡机的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及是一种IC卡测试发卡机，属于信息机器的机电一体化技术领域。
目前，IC卡测试发卡机中，按卡片的运动方式来看，分为直线式和转盘式两种。
直线式的，如中国发明专利99107888.8的IC卡处理机，但该机结构复杂，部件繁多。而且卡片靠滚轮来移动，长时间运行容易因污垢而打滑。
转盘式的，如中国实用新型专利00249635.6的圆盘式发卡机，该机靠圆盘间歇性的转动来移动卡片。因转盘质量大，而且要间歇性的转动和停止，另因卡片离心力的作用，因此该机的转动速度受到限制。
另PHILIPS有一款全自动IC卡测试设备，属于直线式的，该机用真空吸盘来移动卡片，克服了以上两款构造的问题，速度比较快，但是该机为柜式机，体积大，机构复杂，造价昂贵，需要配备气源来产生真空和带动气缸动作。故此机的应用一般只限于工厂，不适用于一般的发卡部门。
本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是本实用新型至少包括送入机构，测试机构，送出分派机构三部分。
送入机构，可将待测卡槽内叠放的IC卡片推出送至测试机构中。其包含，待测卡槽、推卡块和推卡电机等。推卡块在推卡电机的带动下，可以将叠放于待测卡槽内的IC卡从最底部推出至测试头下方，每次一张。
测试机构，可对送至的IC卡进行信息处理并判断其好坏。其包含，测试头、测试头驱动组件、IC卡读卡器等。IC卡到位后，测试头电机带动测试头压下，通过IC卡读卡器对IC卡进行测试和数据处理。
送出分派机构，可将测试完毕的IC卡送出，并根据测试结果将IC卡分派至相应的接卡槽。其包含，顶卡块、吸盘组件、吸盘驱动组件、好卡槽、废卡槽等。测试完毕后，顶卡块将IC卡顶出给吸盘组件吸住，吸盘驱动组件根据IC卡的测试处理结果将其移动到好卡槽或废卡槽上方并释放。
本实用新型用真空吸盘来吸取并移动卡片，将真空吸盘的吸取动作改为由顶出机构执行的顶卡动作，真空吸盘不用垂直运动，只有水平平移动作。而顶出机构只有垂直运动，其与测试头机构合并，由同一机构带动。测试头测试完毕后，向上回位时将卡顶出给真空吸盘。真空吸盘的真空由顶卡机构顶卡时压出吸盘内的空气而产生，卡的释放则由电磁铁执行。这样，动作机构被简化了。因不需要另接真空，亦省略了气源或真空泵。
本实用新型的有益效果是，卡的移动机构被分解和重新组合后，被简化了。整机体积小，机构的运动惯性小，因此动作的速度更快。同时不需要气源。
图1是本实用新型的装配图，处于进卡就绪状态。
图2是本测试发卡机的测试状态图。
图3是本测试发卡机的顶卡过程图。
图4是真空吸盘机构7的构造图，处于常态。
图5是真空吸盘机构7的吸卡状态图。
图6是真空吸盘机构7的释放状态图。
图中1.已测IC卡(废卡槽)，2.已测IC卡(好卡槽)，3.测试头电机曲柄，4.测试头连杆，5.顶卡块，6.吸盘，7.吸盘机构，8.测试头，9.待测卡IC卡(入卡槽)，10.推卡滑块，11.测试头电机，12.电磁铁，13.电磁铁线圈，14.弹簧，15.动铁芯，16.平衡气孔，17.吸盘进气孔。
在图1中，本测试发卡机处于进卡就绪状态。测试头电机曲柄3由测试头电机11(步进电机)控制旋转至水平位置。推卡滑块10在推卡电机(未图示)的带动下将入卡槽的待测IC卡9自右向左推出至测试位。
IC卡到位后，见图2，测试头电机曲柄3逆时针旋转90°至最底位，通过连杆4将顶卡块5和测试头8带至最低点。此时，测试头8的触点与IC卡芯片接触，测试开始。在此期间，推卡滑块10向右回位为下一次推卡做准备，吸盘机构7向左移动放置上一次测完的IC卡入相应的卡槽后，再归右位，等待IC卡被顶上。
测试完毕，测试头电机曲柄3逆时针旋转270°至进卡就绪状态，测试头回位，即回到图1中的状态。此运动过程中，当曲柄3逆时针旋转180°经过最高点时，见图3，连杆4通过顶卡块5将IC卡片顶上给到位在此的吸盘6。然后，吸盘机构7根据测试结果将卡片向左平移至好卡槽2或废卡槽1上方，再由电磁铁12释放，落入相应的卡槽。完成一个测试周期。实际上，当卡片被顶上吸住后，电机曲柄3即处于进卡就绪状态，下一张卡片此时被推入。
图4为不用真空气源的真空吸盘机构7的构造图。
图中6.吸盘，12.电磁铁，13.电磁铁线圈，14.弹簧，15.动铁芯，16.平衡气孔，17.吸盘进气孔。吸盘7位于最底部，其中心有一吸盘进气孔17，吸盘进气孔之上为动铁芯15，由弹簧14压住，吸盘进气孔平时被压住密封。动铁芯和弹簧被安装在一钢管内，钢管下部靠近吸盘气孔处有平衡气孔16，作为吸盘内空气的出入通道。动铁芯之上为电磁铁12和电磁铁线圈13。电磁铁线圈通电后，电磁铁将带动动铁芯14向上移动，可打开吸盘进气孔17。
吸盘机构处于常态时，动铁芯15在弹簧14的作用下，压住吸盘6顶部的吸盘进气孔17。
图5是真空吸盘机构7的吸卡状态图。
当卡片受外力被顶向吸盘6时，吸盘空腔内的空气被压迫排出。当外力消失时，因吸盘为橡胶制成，其回复弹性使得空腔内的气压小于大气压而产生真空，卡片被吸住。
图6是真空吸盘机构7的释放状态图。
当卡片移至相应的位置后，电磁铁线圈13通电，动铁芯15在电磁力的作用下上移，放开吸盘进气孔17，空气通过平衡气孔16、吸盘进气孔17进入吸盘6，真空消失，卡片被释放。
综上所述，本实用新型的设计结构，创新地将组合和分解IC卡发卡的动作，使其具有结构简单，体积小，速度快，不需要气源等优点。整体而言，具有极佳的产业价值。
权利要求1.一种全自动IC卡测试发卡设备，其最少包括送入机构，可将待测卡槽内叠放的IC卡片推出送至测试机构中。测试机构，可对送至的IC卡进行信息处理并判断其好坏，送出分派机构，可将测试完毕的IC卡送出，并根据测试结果将IC卡分派至相应的接卡槽。
2.根据权利要求1所述的IC卡全自动测试设备，其特征是测试机构中的测试头和送出分派机构中的顶卡头由同一连杆带动完成，测试时，连杆带动测试头压下，测试完毕后，连杆带动测试头抬起，同时也带动顶卡头抬起，将卡片顶出给吸盘。
3.根据权利要求2所述的IC卡全自动测试设备，其特征是由顶卡头顶出卡片至吸盘时，排出吸盘内的空气，产生真空，使吸盘吸住卡片，吸卡动作由顶卡头顶出卡片而被动完成，此过程不需要真空气源。
专利摘要本实用新型提供一种全自动IC卡测试发卡机，用于IC卡的批量测试和发行。本实用新型将叠放在待测卡槽内的IC卡自动送入测试机构，进行信息处理，并根据处理结果将IC卡分类放置。本实用新型优点是，通过对测试机构和拾卡分派机构的分解和重新组合，简化了结构。具有结构简单、速度高、体积小、不需要气源等优点。可应用于生产厂家和发行部门对IC卡进行批量的检测和发行。
文档编号G06K7/06GK2567693SQ0222734
公开日2003年8月20日 申请日期2002年4月30日 优先权日2002年4月30日
发明者张毅军, 李进光 申请人:张毅军, 李进光