专利名称：开关机自动化测试装置和测试方法
技术领域：
本发明是关于一种自动化测试装置和测试方法，特别是一种可以对开关机次数进行自动化测试的装置和方法。
背景技术：
开关机正常是一切需要开关启动的装置稳定高效运行的基础，故在诸如系统电源、主板或伺服器等进行正式运行前，必须按照规范要求进行严格的开关机测试以保证运行性能的可靠性和稳定性。
主板是个人计算机的主要组件之一，它提供了中央处理器、南桥、北桥芯片组、总线、外围装置数据传输接口等指挥数据传输的重要部件。因此，主板的可靠性以及其与操作系统、个人计算机其它装置间的兼容性为主板产品品质的重要决定因素。按照客户要求，主板的制造商在产品出厂前必须对主板进行兼容性与可靠性测试，在这些测试中，主板电源开关机测试是必不可少的。所谓主板电源开关机测试是指按照不同客户的要求，对主板的电源进行规定次数的开关操作，以测试被测主板在多次开关操作后的启动能力及启动过程中基本输出入程序的运行状况。
现有技术对主板电源开关机测试主要通过人工手动测试来完成，即如果开关机测试需要进行1000次，则操作人员一直不停的按主板电源的开关按钮1000次。测试过程中由于多次重复操作，测试人员容易疲劳，易造成误操作；开关机测试时开机与关机之间需延时，待计算机显示器完全熄灭后方可再开机，测试人员每次的延时不可能完全相同，故测试误判率较高；再者，由于待测试机种多，测试时间紧迫，造成人力难以排配，不但耗费时间与人力，还必须配合测试人员的工作时间，影响工作效率。
发明内容鉴于以上内容，有必要提供一种开关机自动化测试装置和测试方法，以减少人为因素对开关机测试结果的影响，提高开关机测试效率。
一种开关机自动化测试装置，其包括一微型控制单元、一时钟电路、一侦测电路、一初始化装置及一开关装置；所述微型控制单元设有预定程序；所述时钟电路用来提供所述微型控制单元程序运行所需的时钟信号；所述侦测电路用以侦测一待测设备的开关机状态并将侦测结果输入所述微型控制单元；所述初始化装置用于设定所述开关机自动化测试装置的初始值；所述开关装置由所述微型控制单元的相关程序来控制其状态，以使所述待测设备开机。
一种开关机自动化测试方法，其包括对一微型控制单元上电，使所述微型控制单元及与其连接的一时钟电路开始工作；所述微型控制单元通过一侦测电路探知一被测设备关机后，一初始化装置即进行初始化设置；所述微型控制单元运行测试程序，经过一延时时间后，该微型控制单元使一开关装置处于工作状态，则所述被测设备开机；当所述微型控制单元探知所述被测设备开机时，一显示装置自动加一并显示已测试次数；所述被测设备运行自侦测程序并进入操作系统完成一次测试后自行关机；所述微型控制单元比较所述显示装置上的测试次数与设置的测试次数是否相等；及当所述微型控制单元判断显示次数等于设定的测试次数时，一复位装置使所述显示装置复位。
上述开关机自动化测试装置及测试方法通过对所述微型控制单元程序化控制来自动完成整个开关机测试，简化了测试过程，提高了工作效率。
下面参照附图结合具体实施方式
对本发明作进一步的说明。
图1是本发明开关机自动化测试装置的较佳实施方式的电路框图。
图2是本发明开关机自动化测试装置的较佳实施方式的具体电路图。
图3是本发明开关机自动化测试方法的较佳实施方式的流程图。
具体实施方式本发明开关机自动化测试装置和测试方法的较佳实施方式以一被测主板10的开关机测试为例来说明，请参阅图1，该开关机自动化测试装置100的较佳实施方式包括一微型控制单元20、一时钟电路30、一侦测电路40、一初始化装置50、一显示装置60、一开关装置70及一复位装置80。所述微型控制单元20设有预定程序，用以负责整个测试的顺利进行；所述时钟电路30用来提供所述微型控制单元20程序运行所需的时钟信号；所述侦测电路40用以侦测所述待测主板10的系统电源42的开关状态并将侦测结果输入所述微型控制单元20；所述初始化装置50用于设定该开关机自动化测试装置100的初始值；所述显示装置60由所述微型控制单元20控制以显示开关机的测试次数；所述开关装置70由所述微型控制单元20的相关程序来控制其状态，以使所述待测主板10可循环开机；所述复位装置80与所述微型控制单元20相连，并通过所述微型控制单元20使所述显示装置60复位。
请继续参阅图2，所述微型控制单元20包括一小型微机芯片22，所述微机芯片22中事先已写入预定程序，以运行所述自动化开关机测试装置100的预定功能。在本较佳实施方式中，所述微机芯片22的电源引脚VCC直接接至通用串行总线(USB)接口的5V电源接口；其P0.0、P0.1、P0.2......P0.7及VPP引脚分别通过上拉电阻R1、R2、R3......R8及R9接至所述USB 5V电源接口，其接地引脚GND直接接地。
所述时钟电路30包括一晶振器32、一第一电容C1及一第二电容C2。所述晶振器32两端分别接至所述微机芯片22的两时钟引脚XTAL1和XTAL2；所述晶振器32与所述微机芯片22的XTAL1时钟引脚相连的一端经所述第一电容C1后接地；所述晶振器32与所述微机芯片22的XTAL2时钟引脚相连的一端经所述第二电容C2后接地。
所述侦测电路40包括一第一开关晶体管Q1及一电阻R10，所述第一开关晶体管Q1为NPN型晶体管，其基极经所述电阻R10接至所述待测主板10的系统电源42，其发射极接至所述微机芯片22的P1.1引脚，其集电极接至所述USB 5V电源接口。所述侦测电路40通过侦测所述系统电源42的上电与下电来判定所述被测主板10的开关机状态并把对应信号输入至所述微机芯片22；在该系统电源42上电的情况下，所述微型控制单元20方开始进行开关机自动化测试。
所述初始化装置50与所述微机芯片22连接，用于在所述系统电源42上电前设定所述开关机自动化测试的测试次数和开关机之间的延时时间。所述初始化装置50包括一位开关52、一计数开关54。所述位开关52及计数开关54的输入端均接至所述USB 5V电源接口；其输出端分别接至所述微机芯片22的P1.0和P1.1引脚。
所述显示装置60与所述微机芯片22连接，在测试过程中及测试结束时，由所述微机芯片22的相关程序控制所述显示装置60来直观显示开关机的测试次数。所述显示装置60包括若干数码管62及若干第二开关晶体管Q2，所述第二开关晶体管Q2为NPN型晶体管。在本较佳实施方式中，有4个所述数码管62及与其分别对应的4个第二开关晶体管Q2来完成显示。所述4个第二开关晶体管Q2的基极分别对应接至所述微机芯片22的引脚P2.0、P2.1、P2.2及P2.3；其发射极分别接至每一对应数码管62的电源引脚VCC；其集电极均直接接至所述USB 5V电源接口。所述每一数码管62的A、B、C......H引脚均分别对应接至所述微机芯片22的P0.0、P0.1、P0.2......P0.7引脚。
所述开关装置70与所述微机芯片22连接，由所述微机芯片22的相关程序来控制所述开关装置70循环工作直至完成所述初始化装置50设定的测试次数。所述开关装置70包括一第三开关晶体管Q3及一电阻R11，所述第三开关晶体管Q3为NPN型晶体管。所述第三晶体管Q3的基极经所述电阻R11接至所述微机控制芯片22的P1.3引脚；其发射极直接接地；其集电极与所述被测主板10复位开关的电源跳线相连，当所述开关装置70处于工作状态时，所述被测主板10即开机运行，而后所述系统电源42处于上机状态，此时所述显示装置60即自动加一，通过所述微型控制单元20运行程序来实现自动测试。
所述复位装置80与所述微机芯片22连接，开始初始化设置之前或出现测试故障或在测试结束时，该复位装置80可通过所述微机芯片22来使所述显示装置60复位至起始状态。所述复位装置80包括一复位开关82、一第三电容C3及一电阻R12。所述复位开关82的输入端接至所述USB 5V电源接口，其输出端接至所述微机控制芯片22的RST(reset，复位)引脚；所述第三电容C3的一端直接接至所述USB 5V电源接口，另一端与所述复位开关82的输出端相连后经所述电阻R12接地。所述第三电容C3及与其相连的电阻R12起上电复位作用。
所述开关机自动化测试装置100的工作过程如下将所述微机芯片22的电源引脚VCC直接接至USB 5V电源，所述微型控制单元20即可开始工作。此时被测主板10处于关机状态。由于所述第三电容C3充电，故此时所述微机芯片22的RST引脚为高电平，开启所述复位装置80的复位开关82，则所述微机芯片22控制所述显示装置60处于初始状态，所述每一数码管62均显示零。此时通过所述初始化装置50的位开关52和计数开关54来设定开关机测试次数及每一次开关机之间的延时时间，在上述设置过程中，所述微机芯片22可控制所述显示装置60将设置结果显示于所述数码管62。而后所述主板开关机延时时间过后，所述微机芯片22运行相关程序使得所述开关装置70开启，此时所述侦测电路40探测到主板电源42上电，所述微机芯片22运行相关程序控制所述显示装置60显示测试次数为一；而后所述主板10进行内部程序自侦测一个周期后自动关机，所述微机芯片22待所述开关机延时时间过后再次启动所述开关装置70并控制所述显示装置60加一，而后重复上述程序运行直至所述微机芯片22探测到完成所述设定测试次数。此时，所述显示装置60上即显示设定测试次数值，所述微机芯片22结束测试程序运行。而后开启所述复位装置80的复位开关82即可使所述开关机测试装置100初始化以进行再次测试。
请共同参考图3，所述开关机自动化测试方法包括步骤S1，将所述被测主板10的电源连接线连接至所述开关装置70，将所述开关机自动化测试装置100的相应工作电压上电后开始进行测试；则所述开关机自动化测试装置100的微型控制单元20及时钟电路30获取工作电压，打开所述复位电路80的复位开关82，所述显示装置60即显示初始状态。步骤S2，所述开关机自动化测试装置100的微机控制芯片22通过所述侦测电路40探知所述系统电源42下电，表明此时被测主板10关机；所述初始化装置50即可进行初始化设置，具体方法是，所述初始化装置50通过所述位开关52及计数开关54设置测试次数及每次开关机之间的延时时间并在所述显示装置60上显示。步骤S3，所述微机控制芯片22运行测试程序，待设定的延时时间过后，所述微机控制芯片22使所述开关装置70处于工作状态，则该被测主板10开机，其系统电源42上电。步骤S4，所述微机控制芯片22通过所述侦测电路40探知所述系统电源42上电，所述显示装置60自动加一并显示已测试次数。步骤S5，所述微机控制芯片22等待所述被测主板10运行自侦测程序并进入操作系统完成一次循环后自行关机。步骤S6，所述微机控制芯片22通过所述侦测电路40探知所述系统电源42下电，表明此时被测主板10关机完毕。步骤S7，所述微机控制芯片22比较所述显示装置60上的已测试次数与设置的测试次数是否相等，是，进入步骤S8；否，则再次进入步骤S3。步骤S8，所述复位装置80通过所述微机控制芯片22使所述显示装置60复位至起始状态。
上述步骤通过对所述微机控制芯片22程序化控制来自动完成整个开关机测试，简化了测试过程，提高了工作效率。
权利要求
1.一种开关机自动化测试装置，其特征在于所述开关机自动化测试装置包括一微型控制单元、一时钟电路、一侦测电路、一初始化装置及一开关装置；所述微型控制单元设有预定程序；所述时钟电路用来提供所述微型控制单元程序运行所需的时钟信号；所述侦测电路用以侦测一待测设备的开关机状态并将侦测结果输入所述微型控制单元；所述初始化装置用于设定所述开关机自动化测试装置的初始值；所述开关装置由所述微型控制单元的相关程序来控制其状态，以使所述待测设备开机。
2.如权利要求1所述的开关机自动化测试装置，其特征在于所述微型控制单元包括一微机芯片；所述时钟电路包括一晶振器、一第一电容及一第二电容；所述晶振器两端分别接至所述微机芯片的两时钟引脚；该晶振器两端还分别经所述第一电容及第二电容后接地。
3.如权利要求2所述的开关机自动化测试装置，其特征在于所述侦测电路包括一第一开关晶体管及一电阻，所述第一开关晶体管的基极经所述电阻接至所述待测设备的系统电源，其发射极接至所述微机芯片的对应引脚，其集电极接至一电源。
4.如权利要求3所述的开关机自动化测试装置，其特征在于所述初始化装置包括一位开关和一计数开关，所述位开关及计数开关的输入端均接至所述电源；其输出端分别接至所述微机芯片的对应引脚；所述设定初始值系指设定开关机自动化测试的测试次数及所述被测设备开关机之间的延时时间。
5.如权利要求3所述的开关机自动化测试装置，其特征在于所述开关机自动化测试装置还包括一显示装置，所述显示装置包括若干数码管及与每一所述数码管对应的第二开关晶体管，所述每一第二开关晶体管的基极分别对应接至所述微机芯片的对应引脚；其发射极分别接至对应数码管的电源引脚；其集电极均接至所述电源；所述每一数码管的各引脚分别对应接至所述微机芯片的对应引脚。
6.如权利要求5所述的开关机自动化测试装置，其特征在于所述开关装置包括一第三开关晶体管及一电阻，所述第三开关晶体管的基极经所述电阻接至所述微机控制芯片的对应引脚；其发射极直接接地；其集电极与所述被测设备复位开关的电源跳线相连。
7.如权利要求2-6项中任一项所述的开关机自动化测试装置，其特征在于所述开关机自动化测试装置还包括一复位装置，所述复位装置包括一复位开关、一第三电容及一电阻；所述复位开关的输入端接至一电源，其输出端接至所述微机控制芯片的复位引脚；所述第三电容的一端直接接至所述电源，另一端与所述复位开关的输出端相连后经所述电阻接地。
8.一种开关机自动化测试方法，其包括对一微型控制单元上电，使所述微型控制单元及与其连接的一时钟电路开始工作；所述微型控制单元通过一侦测电路探知一被测设备关机后，一初始化装置即进行初始化设置；所述微型控制单元运行测试程序，经过一延时时间后，该微型控制单元使一开关装置处于工作状态，则所述被测设备开机；当所述微型控制单元探知所述被测设备开机时，一显示装置自动加一并显示已测试次数；所述被测设备运行自侦测程序并进入操作系统完成一次测试后自行关机；所述微型控制单元比较所述显示装置上的测试次数与设置的测试次数是否相等；及当所述微型控制单元判断显示次数等于设定的测试次数时，一复位装置使所述显示装置复位。
9.如权利要求8所述的开关机自动化测试方法，其特征在于所述微型控制单元比较所述显示装置上的测试次数与设置的测试次数是否相等的步骤中，若已显示次数不等于设定的测试次数，则返回所述微型控制单元运行测试程序的步骤。
10.如权利要求8所述的开关机自动化测试方法，其特征在于所述初始化设置是指设置开关机测试的测试次数及设置每次开关机之间的延时时间。
全文摘要
一种开关机自动化测试装置和测试方法，所述开关机自动化测试装置包括一微型控制单元、一时钟电路、一侦测电路、一初始化装置及一开关装置。所述开关机自动化测试方法，是设置一可事先写入程序的微型控制单元来自动化测试开关机测试的次数，并通过一显示装置显示所述测试次数。通过应用所述测试装置和测试方法将开关机测试实现自动化操作，减少了人为因素对开关机测试结果的影响，提高了开关机的测试效率。
文档编号G06F11/26GK1971528SQ20051010178
公开日2007年5月30日 申请日期2005年11月25日 优先权日2005年11月25日
发明者黄永兆, 江武, 王辉 申请人:鸿富锦精密工业(深圳)有限公司, 鸿海精密工业股份有限公司