专利名称：测试卡的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种测试卡，特别涉及一种对系统进行负载测试的测试卡。
背景技术：
目前，随着计算机功能的愈加强大，人们开始对计算机有了更多的要求，除了计算机的基本功能以外，对其它扩充的能力也愈加兴趣，随之而来一些外接的扩展卡也开始出现在一些玩家的手中，诸如，声卡、网卡以及显卡等的介入。同时，系统的稳定性也随之愈加重要，且对于众多玩家而言具有相当大的重要性。
对系统稳定性及其可靠性的考察，通常均是通过对其负载能力来进行测试，在进行测试操作或者资源降至极低的情况下，系统能够保持稳定工作。
现有对于系统的测试，在测试过程中对于PCI_E(Pedpherd ComponentInterconnect Express)插槽，通常是通过外插一张监测卡或者扩展卡来对其进行测试，及配合系统测试的。综上两种方式，虽然所述监测卡能够达到检测插槽的目的，但冲其量其只是检测该PCI_E插槽的回路是否畅通，对系统的稳定性而言，并没有达到测试的目的，而扩展卡虽然其实测能力比较强，但存在测试成本过高的问题。
发明内容
鉴于上述问题，本发明的主要目的在于提供了一种可以对系统进行负载测试，进而考察系统稳定性及其可靠性的测试卡。
为了达到上述的目的，本发明采用了下述技术方案该测试卡包括一印刷电路板，其上具有一接口、至少一个开关以及若干个并联电阻组。上述开关一端与接口连接，另一端则是与并联电阻组相连；而并联电阻组的一端则是连接至地。
本发明所述测试卡为根据负载测试需求的负载功率，而来设计其电路接入的并联电阻组数、电阻数以及电阻值。且其可通过切换开关的开或者关，来控制负载的接入。
通过上述技术方案，采用本发明所述测试卡，用户可以针对系统的不同要求，而来控制切换开关，以达到不同负载测试的目的，而得以从多方面考察系统的稳定性及其可靠性。并且该种测试方式，是将功率消耗分布在较多的电阻上，其既可将热平均分散，也避免了组件过热。
图1为本发明测试卡最小系统的架构图；图2为测试卡的形态结构示意图；图3为实施例一之针对PCI_E X8 10W的测试卡电路图；图4为实施例二之针对PCI_E X8 75W的测试卡电路图；图5为实施例三之针对PCI_E X16 150W的测试卡电路图。
具体实施例方式
下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步详细描述参照图1所示之本发明测试卡最小系统的架构图。该测试卡100为一印刷电路板101，在其上具有一接口104，且该接口104通过开关103与电阻组102连接。上述接口104对应于测试卡100所插的插槽(图中未示)，为一金手指，通过其而与所述插槽进行电性连接。
另外，结合图2所示，上述测试卡100可根据负载测试需求而设计其电路接入的并联电阻组数、电阻数以及电阻值，上述并联电阻组数、电阻数以及电阻值的设定与负载功率相关。且该发明也通过切换开关的开或者关，来控制负载的接入。
系统测试时，将该测试卡100插入上述插槽中，并根据负载测试需求切换开关103处于开或者关的状态，接入负载；或者将根据负载测试每一需求而设计的负载测试卡100直接插入上述插槽中，而不用切换开关103，即可接入负载。然后开启系统负载测试软件开始负载测试，通过上述负载测试软件上显示的数据，来判断系统在该负载下的性能；或者也可通过对系统进行一般的开机动作，让该系统长时间的处于开的状态，当系统一旦在没有人为关机或断电的情况下而关机，则判断系统在该负载情况下稳定性差；反之，则不然。
针对本发明所述的对系统进行负载测试的测试卡100，下面分别以PCI_E X8，功耗数为10W；PCI_E X8，功耗数为75W以及PCI_E X16，功耗数为150W的情况之电路，来对本发明所述的测试卡100进行详细说明。
参照图3所示之PCI_E X8，功耗数为10W的测试卡100的具体电路图。其中，第一开关300为一拨动式开关，其一端与接口104的12伏电压引脚(304、305、306、307和308)连接，另一端则是分别与第一电阻组301、第二电阻组302和第三电阻组303的一端连接，且该三组电阻组中电阻均是以并联方式连接；并且上述每组并联电阻组的另一端还分别与地相接。上述第一开关300为具有7引脚的开关，其引脚1和4连接，并连接至接口12伏电压引脚上；而其引脚5和6连接，以及引脚2和3连接，并都分别与上述三组并联电阻组连接。此外，在本实施例中，上述三组并联电阻组共同提供系统一10W的负载功率，且每组电阻组均可为由10个电阻并联连接构成；且第一电阻组301为10个阻值为470欧姆的电阻并联构成，第二电阻组302和第三电阻组303则是分别可由9个阻值为470欧姆以及1个阻值为180欧姆的电阻并联构成。
此外，上述接口104为对应于PCI_E之8通道数的插槽，并且该上述电阻组组数以及电阻值则是通过系统提供的12伏电压以及负载能力来计算而排布的，三组电阻组之提供的总功率为10W。
系统测试时，将上述测试卡100插入PCI_E插槽中；同时将上述第一开关300拨向到开的状态，第一开关300的引脚1和2连通以及引脚4和5连通。此时，测试卡与PCI_E插槽形成一个电气回路，12伏电源通过第一开关300分别流经上述第一电阻组301、第二电阻组302和第三电阻组303，且共同提供10W的负载功率，通过测试该负载功率下，系统的稳定性。
参照图4所示，为PCI_E X8，功耗数为75W的测试卡100的具体电路图。其与图3的实施例不同，该电路中包括5组均可分别由一开关和10个电阻组成的负载电路400。其中，在上述负载电路400中每一开关的引脚1和4连接，并且连接至接口104之12伏电压引脚(401、402、403、404和405)；且每一开关的引脚5和6连接，以及引脚2和3连接，并都分别连接一电阻组。
另外，上述每组负载电路400中之电阻组的另一端均与地连接，且上述5组负载电路400中每一组电阻组之电阻均是以并联方式连接，并在被提供12电压的情况，每组电阻均提供12.5W的负载功率以负载测试，即该测试卡总的负载功率在预设定的75W。且每组电阻组均可由8个电阻值为120欧姆和2个电阻值为100欧姆的电阻并联连接而成。
此外，在上述测试卡电路中还包括有一第二开关406。该第二开关406的引脚1与接口104的12伏电压引脚(401、402、403、404和405)连接；且该第二开关的引脚4则是与接口104的3.3伏电压引脚(407、408和409)连接，且该第二开关406的引脚2和3则与由3个电阻值为130欧姆的电阻并联连接构成的第四电阻组410的一端相连，该第四电阻组410的另一端与地相接，且该第四电阻组410中的电阻为并联连接方式相连。
当该第二开关406处于开的状态时，引脚1则会与2接通，第四电阻410组与接口104的12伏电压引脚(401、402、403、404和405)的电路接通；上述12伏电压加在上述第四电阻组410，使上述第四电阻组410上形成2.5W左右的功率。以及上述第二开关406的引脚5和4为连接至由7个电阻值为8.2欧姆的电阻并联连接构成的第五电阻组411，且该第五电阻组411的另一端连接至地。当上述第二开关406处于开的状态时，其引脚4会与5接通，第五电阻组411与接口104的3.3伏电压引脚(407、408和409)的电路接通，在该状态下，在此第五电阻组411上会形成10W左右的功率。
另，上述第二开关406与第四电阻组410和第五电阻组411的连接，以及与12伏电压和3.3伏电压的连接也可与其它5组负载电路400的连接方式及电阻组数的设定、电阻值的选定一样，只需要确定该第二开关406所连接的电阻组能提供12.5W的负载功率即可，即该第二开关406也与一由8个电阻值为120欧姆和2个电阻值为100欧姆的电阻并联构成的电阻组连接，以及第二开关406的另一端与接口104之12伏电压引脚连接。
综上述而言，从而在进行负载测试时，该第四电阻组410和第五电阻组411提供的功率相加等于其它各组电阻组上分摊的功率消耗数，且与5组负载电路400共同提供75W功率的负载。
参照图5所示，为PCI_E X16，功耗数为150W的测试卡100的具体电路图。其又与图3和图4的实施例有所不同，依据PCI_E总线标准，16信道的PCI_E的总线接口其电源供应会分为两部分，一部分则连接一电源连接器501，由电源连接器501连上主机板(图中未示)上总电源，使其提供一12伏电压给该部分电源。在实际操作中，该电源连接器501可为一插座，且可从主机板总电源之12伏电压脚引线出来并焊接一插头，并且使该插头插入上述电源连接器501中，主机板总电源开启时，便可提供一12伏的电压；另一部分电源则是直接使用PCI_E插槽的电源供应。
故请再参照图5所示，第三开关502、第四开关503和第五开关504的一端与电源连接器501的电压引脚(505、506和507)连接；而当上述测试卡100插入插槽时，该电压引脚(505、506和507)与外接12伏电源直接相连。上述第三开关502、第四开关503和第五开关504的另一端则分别与第六电阻组508、第七电阻组509以及第八电阻组510的一端连接，且该三组电阻组在12电压提供的情况下，每一组提供一25W的负载功率，并且每一组电阻组均可由16个电阻值为120欧姆的电阻和4个电阻值为100欧姆的电阻并联连接而成，而该上述每一组电阻组的另一端与上述电源连接器501的接地引脚连接至地。
其中，上述第三开关502、第四开关503和第五开关504的引脚1和4是连接在一起并与电源连接器501的电源引脚(505、506和507)连接，而上述每一开关的引脚2和3，以及引脚4和5则是分别与电阻组连接。
另外，第六开关511和第七开关512的引脚1和4连接并与接口104的12伏电源引脚(518、519、520、521和522)相连，而上述第六开关511和第七开关512的引脚4和5，以及引脚2和3则分别与第九电阻组513和第十电阻组514的一端连接，且该第九电阻组513和第十电阻组514均可由16个电阻值为120欧姆的电阻和4个电阻值为100欧姆的电阻并联构成的电阻组的一端连接；上述第九电阻组513和第十电阻组514的另一端均连接至地。
请再参照图5，第八开关515的引脚1与界面104的12伏电源引脚(518、519、520、521和522)相连，且上述第八开关515的引脚4则是与界面104的3.3伏电源引脚(523、524和525)连接；而其引脚2和3连接第十一电阻组516的一端，且该第十一电阻组516可为13个电阻值为120欧姆的电阻并联连接构成的电阻组。另外，上述第八开关515的引脚4和5是与由6个电阻值为8.2欧姆电阻并联构成的第十二电阻组517的一端连接。上述第十一电阻组516和第十二电阻组517的另一端均与地相接。
其中，上述接口104为对应于PCI_E总线中16信道数的插槽。并且，上述第八开关515与电阻组的连接以及电源的连接也可与其它组的连接方式及电阻组数的设定、电阻值的选定一样，即该第八开关515可连接一由16个电阻值为120欧姆和4个电阻值为100欧姆的电阻并联构成的电阻组，而提供25W的负载功率，及上述第八开关515的另一端则可与接口104的12伏电压引脚连接。
在该实施例中，每一开关所连接的并联电阻组所提供的负载功率为25W，且其共同提供一负载功率为150W于系统的负载测试。
综上所述的三个实施例，本发明的测试卡电路主要是根据系统负载测试需求，而去决定其连接的电阻组的组数、电阻个数以及电阻值，以及结合PCI_E总线规范来进行具体设计的。
权利要求
1.一种用以对系统进行负载测试的测试卡，其特征在于该所述测试卡包括一单个接口；至少一开关，其与上述接口连接；若干个电阻组，其中，所述电阻组一端与上述开关连接，另一端则接地；以及一印刷电路板，上述单个接口、开关以及若干个电阻组均位于其上。
2.根据权力要求1所述测试卡，其特征在于所述每组电阻组的电阻均以并联方式相连。
3.根据权力要求1所述测试卡，其特征在于所述接口为与插槽电性连接的金手指。
4.根据权力要求1所述测试卡，其特征在于所述印刷电路板插入插槽中，并通过上述接口与插槽电性连接。
全文摘要
本发明公开一种用以对系统进行负载测试的测试卡，其主要包括一印刷电路板、设置于其上用于与插槽进行电性连接的金手指、与金手指连接的开关以及若干个并联电阻组；其中，所述并联电阻组的一端是与开关相连，另一端连接于地。通过切换所述开关的开与关，来达到对所需负载进行自行切换，而对系统进行功耗测试。该种测试方式中，是将功率消耗分布在较多的电阻上，既可将热平均分散，也可避免组件过热。本发明所述测试卡结构简单，易实现，具有较佳的实用价值。
文档编号G06F11/267GK101042667SQ200610034410
公开日2007年9月26日 申请日期2006年3月20日 优先权日2006年3月20日
发明者林诗窈, 陈文宾 申请人:佛山市顺德区顺达电脑厂有限公司, 神达电脑股份有限公司