专利名称：检验版图的方法
技术领域：
本发明涉及电子自动化设计领域，特别涉及在电子自动化设计软件中检验 版图的方法。
背景技术：
在集成电路版图设计过程中，版图的同一性及对称性十分重要。例如， 在芯片里面一些晶体管或电容、电阻需要保持一致、匹配，但由于这些晶体 管或电容、电阻本身在形状上存在差异，或者是例如附近布线等周围环境存 在差异，就会对晶体管的参数或对电容的电容值、电阻的电阻值造成影响， 甚至造成芯片失效。
而电子设计自动化软件，包括版图编辑器及设计规则验证工具，都没有 专门检测版图的同 一性及对称性的工具，只能通过设计人员的个人经验来满 足设计中对同 一性及对称性的要求，而这样做的风险性比较大。
发明内容
本发明要解决的问题是，现有技术电子设计自动化软件没有专门检测版 图的同 一性及对称性的工具的问题。
为解决上述问题，本发明提供一种在版图编辑器中检验版图的方法，包
括
设置需比较的图层为可选图层，不需比较的图层为不可选图层； 提取第 一 比较区域内可选图层数据，形成第 一 比较区域图形数据； 对所述第 一 比较区域图形数据对应的第 一 比较图形进行第 一操作； 将所述第一比较图形移动至第二比较区域；
在第二比较区域内，提取与第一比较图形对应的第二比较图形的图形数据；
对第一比较图形和第二比较图形进行异或运算，获得第一比较图形和第 二比较图形的差异。
与现有4支术相比，上述方案具有以下优点通过设置需进行比较的图层 和不需进行比较的图层，提取需要进行比较的第一比较区域内需进行比较的 图层对应的图形数据，并通过相关操作将第 一比较区域图形数据对应的第一 比较图形移动至第二比较区域，在第二比较区域内，提取与第一比较图形对 应的第二比较图形的图形数据，从而通过第一比较图形和第二比较图形数据 的异或运算，来获得该两个图形的差异，实现在版图编辑器中检验版图的目 的。
图1是本发明检验版图的方法的一种实施方式图2是本发明检验版图的方法的一种实例中版图的局部图形示意图3是图2所示实例中第一比较区域的十字图形平移操作示意图4是本发明检验版图的方法的另一种实例中第一比较区域的十字图形 平移操作示意图。
具体实施例方式
参照图l所示，本发明在版图编辑器中^r验版图的方法的一种实施方式， 可以包括下列步骤
步骤sl,设置需比较的图层为可选图层，不需比较的图层为不可选图层； 步骤s2,提取第一比较区域内可选图层数据，形成第一比较区域图形数
据；
步骤s3,对所述第一比较区域图形数据对应的第一比较图形进行第一操
作；步骤s4,将所述第一比较图形移动至第二比较区域； 步骤s5，在第二比较区域内，提取与第一比较图形对应的第二比较图形 的图形凝:据；
步骤s6,对第一比较图形和第二比较图形进行异或运算，获得第一比较 图形和第二比较图形的差异。
由于版图是基于电子线路图形，而由多个图层的相应图形构成的。因而， 上述实施方式中，在进行两个比较区域的版图比较以检验版图之前，首先需 要对本次检验所需要比较的图层进行设置，通过将需比较的图层设置为可选， 不需比较的图层设置为不可选，使得之后基于该设置提取的两个比较区域的 图形数据对应的图形就是需进行比较的那些图层图形。
上述实施方式中，在提取出第一比较区域的图形数据后，为了将第一比 较区域的图形数据对应的第 一 比较图形移动至第二比较区域内预定的比较位 置上，根据本次检验的目的可对所述第一比较图形进行相应的操作。
若要验证两个比较区域是否符合同一性的要求，可通过例如移动、旋转 等操作将第 一比较图形移动至第二比较区域中要求的比较位置后，进行步骤 s4、 s5、 s6的后续检验步骤。
例如镜像或镜像后移动的操作将第 一 比较图形移动至第二比较区域中预定的 比專交位置后，进行步骤s4、 s5、 s6的后续检^r步骤。
而若要验证两个比较区域是否符合中心对称的要求，可通过例如沿所述 中心点进行旋转的操作将第 一 比较图形移动至第二比较区域中预定的比较位 置后，进行步骤s4、 s5、 s6的后续^r验步骤。
下面通过一些具体的检验版图的例子，来对于上述在版图编辑器中检验 版图的方法作进一步说明。实例一
图2所示为某一版图的局部图形示意图。参照图2所示，假设对于第一
比较区域的虚线框范围内的十字图形和第二比较区域的虚线框范围内的十字
图形的版图要求是具有同一性，即图形一致。则若要对图2所示的版图进行 检验，结合图1所示的方法步骤可进行如下操作
由于本次检验版图的目的是比较第 一 比较区域内和第二比较区域内的十 字图形是否完全一致，因而首先，将图2中的图形10、图形ll对应的图层设 置为不可选图层，而将第一比较区域内十字图形所在的图形20、图形30对应 的图层设置为可选图层，将第二比较区域内十字图形所在的图形21、图形31 对应的图层设置为可选图层。
接着，可以通过鼠标画框或输入坐标来选取第 一 比较区域内十字图形所 在的图形20、图形30。由于已将图形IO对应图层设置为不可选图层，将图 形20、图形30对应图层设置为可选图层，因而通过鼠标画框或输入坐标选取 获得的也就是图形20、图形30组成的十字图形。
接下来，对所选取的由图形20、图形30组成的十字图形提取图形数据， 以形成第一比较区域的图形数据。此处由于所选取的图形较简单，因而可直 接对所选取的图形提取图形数据。而当所选取的图形具有分层结构 (hierarchical)时，为了与第二比较区域的相应图形比较的方便，还可以对所 选取的图形先进行打平(flatten)处理，即将具有分层结构的图形处理为同一 层次的图形，再提取图形数据。
此处需要进行说明的是，由于在版图检验过程，实际进行比较的是，通 过选取以及提取而获得的两个比较区域内相应图形的图形数据，因而检验过 程并不涉及到对直接选取的图形的任何操:作，从而可以防止由于误操作而导 致已有版图被破坏或产生不需要的多余图形。由于本次版图4全验的目的是比较第一比较区域和第二比较区域内相应十 字图形是否一致，而考虑到第二比较区域内的十字图形相对于第一比较区域 的十字图形的位置，在提取了第一比较区域的图形数据后，只需要对第一比 较区域的图形数据所对应的第一比较图形(十字图形)执行平移操作即可。 此处所述的平移操作可以是对第一比较区域的图形数据中涉及图形范围的坐 标的相应更改操作。
例如，参照图3所示，第一比较区域内的十字图形所在的图形20的四端 点的坐标分别为(xl,yl)、 (x2，y2)、 (x3,y3)、 (x4,y4),图形30的四端点的 坐标分别为(x5，y5)、 (x6，y6)、 (x7，y7)、 ( x8,y8 )。假设将第一比较区域内的 所述十字图形移动到第二比较区域内的相应十字图形处需要向右平移6个格 点或坐标单元，则只需将所述坐标的横坐标值加6即可。即更改图形20四端 点的相应坐标为(xl+6,yl)、 (x2+6，y2)、 (x3+6,y3)、 (x4+6,y4)，更改图形30四 端点的相应坐标为(x5+6，y5)、 (x6+6，y6)、 (x7+6，y7)、 (x8+6，y8)。
在对所述第 一比较区域内的十字图形进行平移操作后，提取第二比较区 域相应十字图形数据。其过程如下
首先获得第 一比较区域内的十字图形平移操作后的坐标。
在获得第一比较区域内十字图形平移操作后的坐标后，在所述坐标范围 内，选取可选图层对应的图形。此处其实对第二比较区域，在所获得的坐标 范围内所选取的图形就是由图形21、图形31构成的十字图形。
此处对所选取的图形提取图形数据的处理与第 一 比较区域内相应处理相 同，可直接对所选取的图形提取图形数据。而当所选取的图形具有分层结构 (hierarchical)时，也可以对所选取的图形先进行打平(flatten)处理，即将 具有分层结构的图形处理为同 一层次的图形，再提取图形数据。
至此，已分别获得了第一比较区域内由图形20、图形30构成的十字图形的图形数据以及第二比较区域内由图形21、图形31构成的十字图形的图形数 据，接下来需要对该两个图形数据进行比较，以获得该两个十字图形的差异。
此处可以采用对所述两个图形数据对应的十字图形进行异或运算的方法 来获得该两个十字图形的差异。即，两图形相应部分一致就是"0",相应部 分不一致就是"1"。
在获得了两个十字图形的差异后，可以通过高亮或闪烁的方式显示差异
部分，即显示通过异或运算后，结果为"r的部分对应的图形。 实例二
本实例中检验版图的过程与实例一中所说明类似，其区别之处在于，对
于第一比较区域内的十字图形的平移操作可以下述方式进行
首先，根据已提取的第 一 比较区域内十字图形的图形数据形成对应的虚 线框图，即根据图形20对应的图形数据形成虚线框图22,根据图形30对应 的图形数据形成虚线框图32。
然后，对所形成虚线框图，可以通过鼠标框选并拖曳的方式，也可通过 输入近似坐标的方式，对虚线框图进行平移操作。
在平移操作后，对虚线框图执行自动匹配。所述自动匹配过程如下
计算移动后的第一比较区域内十字图形与其所覆盖第二比较区域内的图 形的相似度；
获得该两个图形相似度最大时，所述第一比较区域内十字图形对应的坐
标；
以所获得坐标对当前第 一 比较区域内十字图形的坐标进行修正。
其中，所述计算移动后的第 一 比较图形与其所覆盖第二比较区域内的图 形的相似度包括对移动后的第 一比较图形与其所覆盖的图形进行异或运算。通过所述的异或运算，可以得到当异或运算的结果中"1"最少的情况下， 所述第一比较区域内十字图形对应的坐标。也即相似度最大对应的坐标。
最后，以所获得坐标对第 一 比较区域内的所述十字图形的各端点坐标进 行修正，以使得所述第 一 比较区域内的十字图形达到与第二比较区域内的相 应图形的预定比较位置。
此处需要说明的是，若平移操作比较精准，第一比较区域内的所述十字 图形已达到预定比较位置或非常接近预定比较位置，通过自动匹配后，其实
已经能够获得该两个比较图形的差异；而若平移操作误差较大，第一比较区 域内的所述十字图形离预定比较位置还较远，则通过自动匹配后，需再次进 行所述的异或运算，获得该两个比较图形的差异。
此外，为了进一步避免误操作引起的版图破坏，在拖曳虚线框图之前， 还可对虚线框图中各图层的数据类型进行更改。例如，虚线框图22的图层编 号为61,其在数据类型为0时表示可用于制作光罩的图形，而在数据类型为 3时表示制作光罩时可忽略该图形。则在移动虚线框图22之前，只需将其数 据类型更改为3，即可避免误操作对版图的破坏。
虽然本发明己以较佳实施例披露如上，但本发明并非限定于此。任何本 领域技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，均可作各种更动与修改， 因此本发明的保护范围应当以权利要求所限定的范围为准。
权利要求
1. 一种检验版图的方法，其特征在于，包括设置需比较的图层为可选图层，不需比较的图层为不可选图层；提取第一比较区域内可选图层数据，形成第一比较区域图形数据；对所述第一比较区域图形数据对应的第一比较图形进行第一操作；将所述第一比较图形移动至第二比较区域；在第二比较区域内，提取与第一比较图形对应的第二比较图形的图形数据；对第一比较图形和第二比较图形进行异或运算，获得第一比较图形和第二比较图形的差异。
2. 如权利要求1所述的检验版图的方法，其特征在于，所述第一操作包括移 动操作、旋转操作、镜像操作中的任意一种或组合。
3. 如权利要求1所述的才企验版图的方法，其特征在于，将所述第一比较图形 移动至第二比较区域包括直接输入第一比较图形的移动终点坐标。
4. 如权利要求1所述的检验版图的方法，其特征在于，将所述第一比较图形 移动至第二比较区域包括将第一比较图形拖曳至第二比较区域或输入移动 终点的近似坐标。
5. 如权利要求4所述的检验版图的方法，其特征在于，还包括在移动后进行 图形匹配，所述图形匹配包4舌计算移动后的第 一 比较图形与其所覆盖图形的相似度；获得该两个图形相似度最大时，所述第一比较图形对应的坐标；以所获得坐标对当前第 一 比较图形的坐标进行修正。
6. 如权利要求5所述的检验版图的方法，其特征在于，所述计算移动后的第 一比较图形与其所覆盖图形的相似度包括对移动后的第一比较图形与其所覆盖的图形进行异或运算。
7.如权利要求4所述的检验版图的方法，其特征在于，还包括在拖曳或输入移动终点的近似坐标之前，改变所述第一比较图形各图层的数据类型。
全文摘要
一种检验版图的方法，包括设置需比较的图层为可选图层，不需比较的图层为不可选图层；提取第一比较区域内可选图层数据，形成第一比较区域图形数据；对所述第一比较区域图形数据对应的第一比较图形进行第一操作；将所述第一比较图形移动至第二比较区域；在第二比较区域内，提取与第一比较图形对应的第二比较图形的图形数据；对第一比较图形和第二比较图形进行异或运算，获得第一比较图形和第二比较图形的差异。所述检验版图的方法实现了在版图编辑器中对版图同一性或对称性的检验。
文档编号G06F17/50GK101533422SQ200810172779
公开日2009年9月16日 申请日期2008年12月12日 优先权日2008年12月12日
发明者万涛涛, 罗文哲 申请人:昆山锐芯微电子有限公司