专利名称：一种rfid标签排列密度的基准测试系统及方法
技术领域：
本发明涉及射频识别技术的测试技术领域，尤其涉及一种对RFID标签排列密度 进行测试的系统及方法。
背景技术：
RFID全称为射频识别(Radio Frequency Identif ication)，是一种利用射频技 术实现的非接触式自动识别技术。RFID标签具有体积小、读写速度快、形状多样、使用寿命 长、可重复使用、存储容量大、能穿透非导电性材料等特点，结合RFID读写器可以实现多目 标识别和移动目标识别，进一步通过与互联网技术的结合还可以实现全球范围内物品的跟 踪与信息的共享。RFID技术应用于物流、制造、公共信息服务等行业，可大幅提高管理与运 作效率，降低成本。RFID技术目前已经成为IT领域的热点，众多机构和企业都在大力推广这种技术。 随着RFID技术飞速发展，相关产品的生产厂家逐渐增多，RFID标签的品种也已经上升到数 百种，并且还在不断推出新的产品。为了在繁多的RFID标签中选择最能够满足使用者需求 的产品，就需要对RFID产品的性能指标进行专门的测试，由于在实际应用中，尤其是在物 流与仓储管理领域，RFID标签都是以标签群的形式出现的，即大量的RFID标签按照一定规 则甚至是无规则地排列在空间中，例如一个托盘上整齐码放的三十件包装箱，或一个购物 车中随意摆放的十五件商品。在很多应用场合中，RFID标签群的间距很小，甚至是相互紧 靠，这种高密度的部署方式将对RFID系统的识读效果造成很大的影响。由于RFID标签本 身也是一种介质，且在被激活后也成为一个微弱的辐射源，因此在密集标签群的情况下，就 需要考虑RFID标签之间相互产生的干扰，获得每一款RFID标签产品在不同的空间排列和 密度下的性能表现。因而，RFID标签排列密度也是一项重要的标签基准性能指标。RFID标 签排列密度是指对于同一款电子标签在多标签部署时，由于排列方式和排列间距不同而造 成的临近标签干扰影响程度，这种干扰影响程度体现为标签反向散射信号变化，包括增强 和减弱。RFID标签在空间中的分布关系可以用球坐标系来表示，即以某个RFID标签作为 球心建立相对参照系，其它标签的空间位置可以用球极坐标来表示，但是用球坐标系来表 示RFID标签在空间中的位置显然过于复杂，考虑标签排列方式的初衷是为了检验RFID标 签之间是否会产生相互干扰，从而影响识读率，考虑到实际应用中具体情况，只需要对具有 代表性的位置进行考察即可。两个RFID标签在空间中的典型相对排列方式包括上下、左 右、前后。因此在测试时，只需要测量具有上下关系、左右关系和前后关系的一对标签组合 的性能，并与它们独立存在时的性能相比，即可得到典型空间位置下的性能对比。在很多应用场合中，RFID标签群的间距很小，甚至是相互紧靠，由于RFID标签本 身也是一种介质，并且在被激活后也成为一个微弱的辐射源，因此在标签群密度较高的情 况下，就需要考虑RFID标签之间相互产生的干扰。RFID标签的辐射场与波长λ相关，在谐 振频率为920MHz时λ大约为30cm，根据实际应用需求，主要考虑间距IOcm之内的干扰影响程度，因此可以选择λ/8、λ/4、λ/2作为典型值进行测量。基准测试的目的是通过设计合理的测试方法、测试流程和测试工具对一类测试对 象的某项性能指标进行测试，并且保证测试取得的结果是可比较的、可重复的。使用基准测 试方法对RFID标签排列密度进行测试，不仅可以通过观测单、多标签两种情况下RFID标签 反向散射信号的变化来评价标签对于不同排列方式和不同排列间距下的工作状态，还可以 利用RFID标签排列密度测试的结果，协助使用者在RFID部署前即根据应用环境中物品摆 放的特点选择相互干扰更小和能量转换效率更高的RFID标签
发明内容
本发明所述一种RFID标签排列密度的基准测试系统及方法，其目的是为使用者 提供一种简单、明确、有效的自动化测试工具和基准测试方法，用以在标准测试环境下快速 评价一款RFID标签在不同排列方式和不同排列间距情况下所产生的性能差异，从而为使 用者设备选型和应用部署提供决策参考。本发明所述一种RFID标签排列密度的基准测试系统及方法，实现在输入能量相 同的情况下，测量RFID标签在不同空间排列、不同密度下的工作状态，其原理是在理想空 间中通过观测位于不同空间位置的RFID标签之间的RFID标签反向散射信号和单独存在时 的反向散射强度信号之间的对比，评价主测试标签在受到相邻标签干扰时的影响程度。利 用RFID标签排列密度测试的结果，可以协助使用者在RFID部署前即根据应用环境中物品 摆放的特点选择相互干扰更小和能量转换效率更高的RFID标签。为了达成所述目的，本发明的第一方面，提供一种RFID标签排列密度的基准测试 系统，该系统包括测试控制器、频谱分析仪、标准读写器信令单元、发射天线、接收天线、发 射天线支架、接收天线支架、塑料基底板、基底板支架、主测试标签和从测试标签，其中发射 天线、接收天线、发射天线支架、接收天线支架、塑料基底板、基底板支架、主测试标签和从 测试标签置于标准测试环境中，发射天线固定于发射天线支架上，发射天线与标准读写器 信令单元通过射频馈线连接，用于感应主测试标签和从测试标签，接收天线固定于接收天 线支架上，接收天线与频谱分析仪通过射频馈线连接，用于接收主测试标签和从测试标签 响应；塑料基底板与基底板支架通过多轴方式连接，在塑料基底板上布置主测试标签和从 测试标签的不同排列方式与不同的排列间距，发射天线、接收天线、主测试标签和塑料基底 板位于同一中心线上，测试控制器通过局域网分别与标准读写器信令单元、频谱分析仪相 连，用于发送测试命令和接收主测试标签反向散射信号从而获得主测试标签反向散射信号 变化，基准测试时，首先以单标签读取方式获得主测试标签在塑料基底板固定位置处的主 测试标签反向散射信号作为参照值，加入从测试标签，改变基底板支架方向实现不同的标 签间距和排列组合，采取多标签读取方式获得主测试标签在不同的标签间距和排列方式组 合下的主测试标签反向散射信号并与参照值作对比，所得百分比表达的评价指标作为邻近 标签干扰影响程度的评价依据。其中所述标准测试环境是所在环境的温度、湿度、光照度和电磁干扰度在一组测 试中均能够保持稳定，并且测试中除塑料基底板的机械位置以及操作者的所在位置外都保 持固定。其中所述塑料基底板与基底板支架通过多轴方式连接，是指塑料基底板两侧边线中心开孔以便与基底板支架固定，同时基底板支架具有多条转轴与塑料基底板连接，以 部署主测试标签和从测试标签一侧作为塑料基底板的正面，基底板支架通过转轴可将塑料 基底板逆时针旋转90度，以塑料基底板向发射天线方向为前向，基底板支架通过转轴可将 塑料基底板向后旋转90度。其中所述主测试标签和从测试标签的不同排列方式，是指实际应用中大量存在 的、典型的主测试标签和从测试标签位置组合关系，包括上下关系，前后关系与左右关系。其中所述主测试标签和 从测试标签的不同排列间距，是指在谐振频率为920MHz 时，以λ/8、λ/4、λ/2作为主测试标签和从测试标签间距的典型值。 其中所述塑料基底板布置主测试标签和从测试标签的不同排列方式与不同的排 列间距是塑料基底板的中心垂线上标记有3组以几何中心为对称点的6个固定位置，两两 一组由内至外间距分别为λ/8、λ/4和λ/2，在这六个固定位置两两部署主测试标签和从 测试ID标签可实现权利要求5所述的RFID标签的不同排列间距，以部署主测试标签和从 测试标签一侧作为塑料基底板的正面，以塑料基底板向发射天线方向为前向，塑料基底板 正前向放置，可实现上下关系，塑料基底板逆时针旋转90度，可实现左右关系，基底板向后 旋转90度，可实现前后关系。其中所述发射天线、接收天线、主测试标签、塑料基底板位于同一中心线上是为 保证测试结果的可重复性，发射天线、接收天线、主测试标签的几何中心、塑料基底板的几 何中心应距离地面等高，且主测试标签和接收天线均位于发射天线辐射场的峰值平面矢量 法线方向上。为了达成所述目的，本发明的第二方面，提供一种使用权利要求1所述RFID标签 排列密度的基准测试系统的RFID标签排列密度的基准测试方法，该方法包括以下步骤步骤1 设定发射天线与基底板之间的距离为dt，接收天线与基底板之间的距离为 dr ；步骤2:设定标准读写器信令单元的发射频率为Ftl，发射天线端的输出功率为所在 地区允许等效全向辐射功率(EIRP)的上限；步骤3 设定频谱分析仪的中心频率与标准读写器信令单元的当前发射频率一 致，并开启频谱分析仪的频率模板触发功能；步骤4 将主测试标签分别固定于基底板的6个固定位置，标准读写器信令单元输 出Q = 1的激励主测试标签产生响应信号的读写器查询(QUERY)命令信号；步骤5 对频谱分析仪捕获的时域信号分别进行解调分析，获取每个位置下的主 测试标签反向散射信号BSS测量值，并与当前位置一起记录到数组BSS(Position)ref中；步骤6 选取一种排列方式步骤7 选取一种间距，加入辅助测试标签，提示操作者重新部署场地；步骤8 标准读写器信令单元输出Q = 2的激励主测试标签和从测试标签产生响 应信号的读写器QUERY信号；步骤9 对频谱分析仪捕获的时域信号进行解调分析，获取此时主测试标签的反 向散射信号BSS测量值BSS(Position)，并计算与BSSref的比值，测试控制器记录此时的排 列方式，间距大小和反向散射信号比值；步骤10 更换为另一间距，重复步骤7至步骤9步过程，直至遍历测试中所有间距；步骤11 更换为另一种排列方式，重复步骤6至步骤10步过程，直至遍历测试中所有排列方式。本发明的有益效果是1)使用本发明所述的RFID标签排列密度的基准测试方法，可以将不同排列方式 与不同排列间距组合下临近标签对测试标签干扰影响程度评价问题转化为可测量的标签 反向散射信号变化从而进行科学评估。2)本发明所使用百分比形式表达的反向散射信号变化指标直观明了，更便于使用 者对比分析，可以快速明确不同排列方式和不同排列间距对标签性能的影响效果。3)本发明所述的RFID标签排列密度的基准测试系统，为实现基准测试方法的流 程提供了一套自动化的测试工具，从而保证测试在任何时间、任何地点、任何人的操作下， 只要满足标准测试环境要求和测试参数要求，结果都是可重复的、可比较的。
图1为本发明提供的RFID标签排列密度的基准测试系统示意图。图2为本发明提供的RFID标签排列密度的基准测试系统中基底板正视图。图3为本发明提供的RFID标签排列密度的基准测试系统中基底板支架转轴示意 图。图4为本发明提供的RFID标签排列密度的基准测试方法流程图。图5(a)和图5(b)为本发明提供的RFID标签排列密度的基准测试方法测试结果 可视化分析图。主要元件说明1 测试控制器6 发射天线支架2 频谱分析仪7 接收天线支架3 标准读写器信令单元 8 基底板4 发射天线9 基底板支架5 接收天线10 主测试标签11 从测试标签
具体实施例方式为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，并参照 附图，对本发明进一步详细说明。如图1所示，图1为本发明提供的RFID标签排列密度的基准测试系统示意图，包 括测试控制器1、频谱分析仪2、标准读写器信令单元3、发射天线4、接收天线5、发射天线支 架6、接收天线支架7、塑料基底板8、基底板支架9、主测试标签10、从测试标签11，其中发 射天线4、接收天线5、发射天线支架6、接收天线支架7、塑料基底板8、基底板支架9置于标 准测试环境中；发射天线4固定于发射天线支架6上，发射天线4与标准读写器信令单元3 通过射频馈线连接，用于感应位于塑料基底板8上的主测试标签10和从测试标签11 ；接收 天线5固定于接收天线支架7上，接收天线5与频谱分析仪2通过射频馈线连接，用于接收位于塑料基底板8上的主测试标签10和从测试标签11的响应；塑料基底板8与基底板支 架9通过多轴方式连接，在塑料基底板8上布置主测试标签10与从测试标签11的不同排 列方式与不同的排列间距；发射天线4、接收天线5和主测试标签10、塑料基底板8位于同 一中心线上；测试控制器1通过局域网分别连接标准读写器信令单元3和频谱分析仪2，用 于发送测试命令和接收主测试标签10的反向散射信号从而获得主测试标签10的反向散射 信号变化。系统首先利用单标签读取方式获得只有主测试标签10在塑料基底板8若干固 定位置处时主测试标签10的反向散射信号作为参照值，加入从测试标签11，利用塑料基底 板8和基底板支架9实现不同的标签间距和排列方式，采取多标签读取方式获得主测试标 签10在不同的标签间距和排列方式组合下的主测试标签10的反向散射信号并与该位置下 的参照值作对比，所得百分比表达的评价指标作为邻近标签干扰影响程度的评价依据。 在本发明的一个实施例中，发射天线支架6、接收天线支架7均是由聚氯乙烯材料 制成高度为1. 4米的管材，外裹吸波材料，固定于长6米，宽3米，高3米的半电波暗室的水 平地面上。发射天线4选用高增益双脊喇叭天线，通过夹具固定在发射天线支架6的顶端， 其几何中心的水平高度距离地面为1. 5米，接收天线5选用偶极子天线，通过夹具固定在接 收天线支架7的顶端，其几何中心的水平高度距离地面也为1.5米。塑料基底板8的正视 图如图2所示，其尺寸为60X60cm，两侧边线中心开孔以便与基底板支架9固定，塑料基底 板8的中心垂线上标记有3组以几何中心为对称点的6个固定位置，两两一组由内至外间 距分别为λ /8、λ /4和λ /2 (当f = 920MHz时，λ 32cm)。基底板支架9转轴结构如 图3所示，通过连接部位的301轴轴向旋转可将基底板逆时针旋转90°，或通过连接部位的 302轴和303轴轴向旋转可将基底板后倾90°。发射天线4与塑料基底板8之间的距离为 50cm,接收天线5与塑料基底板8之间的距离为10cm，发射天线4与接收天线5在塑料基底 板8同侧。这样可保证塑料基底板8上部署的标签应置于发射天线4的远场区；有效利用 电波暗室中的静区，避免电磁波的多径反射对测试结果的影响；尽量降低标签到接收天线 5之间的路径损耗，使接收信号的信噪比更大；避免金属介质的接收天线5与标签距离过近 而影响测试结果。测试对象为位于塑料基底板8上的两枚同款RFID标签，其中一枚为主测试标签 10，另一枚为从测试标签11，改变的参数只有测试标签的排列方式和间距，其中排列方式分 为上下、左右、前后，上下关系通过图2的塑料基底板8正视图即可获得，左右关系在图2的 基础上通过将图3中基底板支架9的301号轴逆时针方向旋转90°获得，前后关系通过在 图2的基础上通过将图3中基底板支架9的302、303号轴同时向后翻转90°获得。为了使测试结果具有可重复性，就需要保证测试过程中的环境参数保持稳定，即 需要一个标准测试环境。所谓标准测试环境的地点，可以是全电波暗室、半电波暗室，也可 以是开放空间。在本发明的实施例中，选择半电波暗室进行测试，能够有效屏蔽外界的电磁 干扰，并且在一组完整的测试中，所在环境的温度均保持在23士3°C，湿度在30 50%，光 照度在低亮度条件。由于测试中半电波暗室内只有用于部署标签排列方式的塑料基底板8 机械位置有所变化，并且在本实施例中，频谱分析仪2和标准读写器信令单元3置于电波暗 室外部，其射频接口和电源接口通过位于电波暗室墙上的光纤波导管与暗室内的发射天线 4与接收天线5相连，这样仪器接口发出的电磁辐射就不会对电波暗室内的电磁环境造成 改变。因此可以认为，本实施例中的环境参数均能够保持稳定，可以作为标准测试环境进行测试。如图4所示，图4为本发明提供使用RFID标签排列密度的基准测试系统的RFID 标签排列密度的基准测试方法流程图。作为本发明的一个实施例，该方法包括以下步骤步骤401 设定发射天线4与塑料基底板8之间的距离为dt，此时dt = 0. 5米，接 收天线5与塑料基底板8之间的距离为d,，此时d, = 0. 1米；距离dt及d,并不限于此举例， 距离dt及4的其他具体数值不再赘述。步骤402 设定标准读写器信令单元3的发射频率为Ftl，此时Ftl = 920MHz，发射天 线4端的输出功率为所在地区允许等效全向辐射功率(EIRP)的上限；发射频率为Ftl并不 限于此举例，发射频率为Ftl的其他具体数值不再赘述。步骤403 设定频谱分析仪2的中心频率与矢量信号发生器3的当前发射频率一 致，并开启频谱分析仪2的频率模板触发功能；步骤404 将主测试标签分别固定于塑料基底板5的6个固定位置，标准读写器信 令单元3输出Q = 1的激励RFID标签产生响应信号的读写器QUERY(查询)命令信号；步骤405 对频谱分析仪捕获的时域信号分别进行解调分析，获取每个位 置下的标签反向散射信号BSS测量值，并与当前位置一起由测试控制器记录到数组 BSS (position) ref 中；步骤406 选取一种排列方式；步骤407 选取一种间距，加入辅助测试标签，提示操作者重新部署场地；步骤408 测试控制器1驱动标准读写器信令单元3输出Q = 2的激励RFID标签 产生响应信号的读写器QUERY(查询)命令信号；步骤409 对频谱分析仪2捕获的时域信号进行解调分析，测试控制器1获取此时 主测试标签的反向散射信号BSS测量值BSS (position)，并计算反向散射信号BSS与测量值 BSS(position)的比值，记录此时的排列方式，间距大小和反向散射信号比值；步骤410 更换为另一间距，重复步骤407至步骤409步过程，直至遍历测试中所 有间距。步骤411 更换为另一种排列方式，重复步骤406至步骤410步过程，直至遍历测 试中所有排列方式。利用上述测试方法与系统，对多款标签产品测试完毕后，可以得到多款产品在某 个间距下的不同空间位置所受的影响程度对比，如图5(a)所示，其中说明了标签A和标签 B作为主测试标签在间距为λ/8时前后、上下、左右六种排列方式下所受影响程度，也可得 到多款产品在某个空间位置下不同间距的影响程度，如图5(b)所示，其中说明了主测试标 签与从测试标签为后向排列方式时，在不同间距下标签A和标签B作为主测试标签所受影 响程度的分布情况。测试结果有助于使用者在RFID部署前即根据应用环境中物品摆放的 特点选择相互干扰更小和能量转换效率更高的RFID标签。上面描述是用于实现本发明及其实施例，本发明的范围不应由该描述来限定，本 领域的技术人员应该理解，在不脱离本发明的范围的任何修改或局部替换，均属于本发明 权利要求来限 定的范围。
权利要求
一种RFID标签排列密度的基准测试系统，其特征在于包括测试控制器、频谱分析仪、标准读写器信令单元、发射天线、接收天线、发射天线支架、接收天线支架、塑料基底板、基底板支架、主测试标签和从测试标签，其中发射天线、接收天线、发射天线支架、接收天线支架、塑料基底板、基底板支架、主测试标签和从测试标签置于标准测试环境中，发射天线固定于发射天线支架上，发射天线与标准读写器信令单元通过射频馈线连接，用于感应主测试标签和从测试标签，接收天线固定于接收天线支架上，接收天线与频谱分析仪通过射频馈线连接，用于接收主测试标签和从测试标签响应；塑料基底板与基底板支架通过多轴方式连接，在塑料基底板上布置主测试标签和从测试标签的不同排列方式与不同的排列间距，发射天线、接收天线、主测试标签和塑料基底板位于同一中心线上，测试控制器通过局域网分别与标准读写器信令单元、频谱分析仪相连，用于发送测试命令和接收主测试标签反向散射信号从而获得主测试标签反向散射信号变化，基准测试时，首先以单标签读取方式获得主测试标签在塑料基底板固定位置处的主测试标签反向散射信号作为参照值，加入从测试标签，改变基底板支架方向实现不同的标签间距和排列组合，采取多标签读取方式获得主测试标签在不同的标签间距和排列方式组合下的主测试标签反向散射信号并与参照值作对比，所得百分比表达的评价指标作为邻近标签干扰影响程度的评价依据。
2.根据权利要求1所述的RFID标签排列密度的基准测试系统，其特征在于所述标准 测试环境是所在环境的温度、湿度、光照度和电磁干扰度在一组测试中均能够保持稳定，并 且测试中除塑料基底板的机械位置以及操作者的所在位置外都保持固定。
3.根据权利要求1所述的RFID标签排列密度的基准测试系统，其特征在于所述塑料 基底板与基底板支架通过多轴方式连接，是指塑料基底板两侧边线中心开孔以便与基底板 支架固定，同时基底板支架具有多条转轴与塑料基底板连接，以部署主测试标签和从测试 标签一侧作为塑料基底板的正面，基底板支架通过转轴可将塑料基底板逆时针旋转90度， 以塑料基底板向发射天线方向为前向，基底板支架通过转轴可将塑料基底板向后旋转90 度。
4.根据权利要求1所述的RFID排列密度的基准测试系统，其特征在于所述主测试标 签和从测试标签的不同排列方式，是指实际应用中大量存在的、典型的主测试标签和从测 试标签位置组合关系，包括上下关系，前后关系与左右关系。
5.根据权利要求1所述的RFID标签排列密度的基准测试系统，其特征在于所述主测 试标签和从测试标签的不同排列间距，是指在谐振频率为920MHz时，以入/8、A /4、A /2作 为主测试标签和从测试标签间距的典型值。
6.根据权利要求1所述的RFID标签排列密度的基准测试系统，其特征在于所述塑料 基底板布置主测试标签和从测试标签的不同排列方式与不同的排列间距是塑料基底板的 中心垂线上标记有3组以几何中心为对称点的6个固定位置，两两一组由内至外间距分别 为入/8、X/4和入/2，在这六个固定位置两两部署主测试标签和从测试ID标签能实现权 利要求5所述的RFID标签的不同排列间距，以部署主测试标签和从测试标签一侧作为塑料 基底板的正面，以塑料基底板向发射天线方向为前向，塑料基底板正前向放置，能实现上下 关系，塑料基底板逆时针旋转90度，能实现左右关系，基底板向后旋转90度，可实现前后关 系。
7.根据权利要求1所述的RFID标签排列密度的基准测试系统，其特征在于所述发射天线、接收天线、主测试标签、塑料基底板位于同一中心线上是为保证测试结果的可重复 性，发射天线、接收天线、主测试标签的几何中心、塑料基底板的几何中心应距离地面等高， 且主测试标签和接收天线均位于发射天线辐射场的峰值平面矢量法线方向上。
8. 一种使用权利要求1所述RFID标签排列密度的基准测试系统的RFID标签排列密度 的基准测试方法，其特征在于，包括以下步骤步骤1 设定发射天线与基底板之间的距离为dt，接收天线与基底板之间的距离为火； 步骤2 设定标准读写器信令单元的发射频率为&，发射天线端的输出功率为所在地区 允许等效全向辐射功率的上限；步骤3 设定频谱分析仪的中心频率与标准读写器信令单元的当前发射频率一致，并 开启频谱分析仪的频率模板触发功能；步骤4 将主测试标签分别固定于基底板的6个固定位置，标准读写器信令单元输出Q =1的激励主测试标签产生响应信号的读写器查询命令信号；步骤5 对频谱分析仪捕获的时域信号分别进行解调分析，获取每个位置下的主测试 标签反向散射信号的测量值，并与当前位置一起记录到数组BSS(p0siti0n)ref中； 步骤6 选取一种排列方式步骤7 选取一种间距，加入辅助测试标签，提示操作者重新部署场地； 步骤8 标准读写器信令单元输出Q = 2的激励主测试标签和从测试标签产生响应信 号的读写器查询信号；步骤9:对频谱分析仪捕获的时域信号进行解调分析，获取此时主测试标签的反向散 射信号的测量值BSS (position)，并计算与BSSref的比值，测试控制器记录此时的排列方 式，间距大小和反向散射信号比值；步骤10 更换为另一间距，重复步骤7至步骤9步过程，直至遍历测试中所有间距； 步骤11 更换为另一种排列方式，重复步骤6至步骤10步过程，直至遍历测试中所有 排列方式。
全文摘要
本发明公开了一种RFID标签排列密度的基准测试系统及方法，由测试控制器、频谱分析仪、标准读写器信令单元、发射天线、接收天线、发射天线支架、接收天线支架、基底板、基底板支架组成，在输入能量相同的情况下，通过测量RFID标签在不同排列方式和不同排列密度下反向散射信号与标签单独存在时反向散射信号的对比来评价该款测试标签在多标签部署时所受到的相邻标签干扰程度。利用该测试系统与方法，可以协助使用者在RFID部署前即根据应用环境中物品摆放的特点选择相互干扰更小和能量转换效率更高的RFID标签。进而为使用者提供一种简单、明确、有效的RFID自动化测试工具和基准测试方法。
文档编号G06K17/00GK101859396SQ201010185468
公开日2010年10月13日 申请日期2010年5月28日 优先权日2010年5月28日
发明者关强, 刘禹 申请人:中国科学院自动化研究所