一种pdk自动测试实现方法
【专利摘要】本发明公开一种PDK自动测试的实现方法，属于IC?CAD工具中PDK设计、测试【技术领域】。该方法通过程序实现了PDK单元的批量产生和测试。通过读取配置文件中设置的PDK库名、单元名、路径、以及单元的参数组合，可以自动生成对应的电路图和版图，包含不同参数的大量PDK单元；并且可以批量的进行DRC,LVS验证，有效的验证了技术文件，Symbol，CDF,?Callback，参数化单元，物理验证规则，Spice?Model的正确性。依照本发明，程序内定义了测试单元的产生、测试过程，测试结果的整理，以及用户进行不同测试步骤的选择。
【专利说明】—种PDK自动测试实现方法
【技术领域】
[0001]一种F1DK自动测试实现方法是通过EDA (Electronic Design Automation)工具来进行F1DK(PrC)Cess Design Kits)库的自动测试的方法。本发明属于集成电路计算机辅助设计(IC CAD )领域，尤其是IC CAD工具中PDK设计、测试【技术领域】。
【背景技术】
[0002]PDK是沟通IC设计公司、代工厂与EDA厂商的桥梁。当我们需要开始采用一个新的半导体工艺时，首先需要开发一套PDK，PDK用代工厂的语言定义了一套反映代工厂工艺的文档资料，是设计公司用来做物理验证的基石。PDK包含了反映制造工艺基本的“积木块”:晶体管、接触孔，互连线等。
[0003]除PDK的参考手册(Documentation)外，PDK的内容还包括:
[0004](I)器件模型(Device Model):由Foundry提供的仿真模型文件
[0005](2) Symbols和View:用于原理图设计的符号，参数化的设计单元都通过了SPICE仿真的验证
[0006](3) CDF(Component Description Format,组件描述格式)& Callback:器件的属性描述文件，定义了器件类型、器件名称、器件参数及参数调用关系函数集Callback、器件模型、器件的各种视图格式等
[0007](4)Pcell (Parameterized Cell,参数化单元):它由EDA工具所支持的语言编写，其对应的版图通过了 DRC和LVS验证，方便设计人员进行Schematic Driven Layout (原理图驱动的版图)设计流程
[0008](5)技术文件(Technology File):用于版图设计和验证的工艺文件，包含⑶SII的设计数据层和工艺层的映射关系定义、设计数据层的属性定义、在线设计规则、电气规则、显示色彩定义和图形格式定义等
[0009](6) PV Rule (物理验证规则)文件:包含版图验证文件DRC/LVS/RC提取等
[0010]为了验证PDK的正确性，往往需要对不同的PDK单元进行不同的参数设置，生成大量的单元，然后来进行正确性的检查，包括DRC(Design Rule Check), LVSCLayout VersusSchematic)等，这个过程需要占用设计人员和测试人员的大量时间。通过程序来进行自动化测试，不仅大大减少了重复劳动，增加了验证的样本；而且非常有利于设计者查看验证结果，修改PDK设计，实现设计过程的快速验证；并在自动化测试的过程中调用了 TOK中的不同组成部分，很好的进行了相互验证。
【发明内容】
[0011]本发明公开一种TOK自动测试的实现方法。该方法通过程序实现了 PDK单元的批量产生和测试。通过读取配置文件中设置的PDK库名、单元名、路径、以及单元的参数组合，可以自动生成对应的电路图和版图，包含不同参数的大量PDK单元；通过对这些单元进行批量DRC，LVS等验证过程，有效的验证了技术文件，Symbol，⑶F，Callback，参数化单元，物理验证规则，Spice Model的正确性。依照本发明，程序内定义了测试单元的产生过程，测试过程，测试结果的整理，以及根据用户的需要进行不同测试步骤的选择。
[0012]>基本思想:
[0013]PDK库的测试存在大量的重复性工作，当测试发现错误并修改后，仍然需要对相关内容进行重复测试，而这些工作往往可以通过EDA工具所支持的编程语言来完成。通过程序来调用EAD工具和EDA工具所支持的编程语言，就可以自动完成测试的过程并将结果整理输出，这可以节省设计、测试人员的大量时间。将输入条件包括PDK库的路径、名字，工艺文件，显示文件，测试库的名字，被测试单元的名字、CDF参数组合等写在配置文件中，通过程序来调用对应的EDA工具和EDA工具所支持的编程语言，根据配置文件的内容来生成对应的测试单元；并通过程序来调用对应的EDA工具来进行DRC，LVS验证，输出整理后的测试结果，可以完成PDK库的自动测试。
【专利附图】
【附图说明】
[0014]图1PDK自动测试的配置文件
[0015]图2根据配置文件所生成的测试单元的电路图
[0016]图3根据配置文件所生成的测试单元的版图
[0017]图4对版图进行自动DRC检查的结果
[0018]图5对版图进行自动LVS检查的结果
[0019]具体实施步骤:
[0020]PDK自动测试是通过编写的程序和EDA工具来共同实现的。最终生成的测试单元依赖于EDA工具和给定的参数取值。使用程序来实现单元批量测试的自动化，操作流程步骤如下:
[0021]( I )首先定义配置文件，包括PDK库的路径、名字、工艺文件、显示文件、测试库的名字、被测试单元的名字、CDF参数组合、物理验证规则、仿真模型文件；
[0022]( 2 )通过程序来调用电路图编辑工具，根据配置文件的内容来生成大量测试单元电路图；
[0023]( 3 )通过程序自动导出各测试单元电路的网表文件；
[0024]( 4 )通过程序来调用版图编辑工具，根据配置文件的内容来生成大量测试单元版图。
[0025]( 5 )通过程序自动导出各测试单元版图的⑶S文件；
[0026]( 6 )通过程序来调用版图验证工具，对生成的⑶S，网表文件进行自动化，批量化的DRC和LVS检查；
[0027]( 7 )通过程序对(6)的检查结果进行整理后输出，根据结果判断测试单元是否通过了 DRC和LVS检查；
[0028]( 8 )可通过程序顺序执行上述步骤或选择执行某一步骤，来选择所需检查的内容。
【权利要求】
1.一种TOK自动测试实现方法，主要涉及通过程序来实现PDK单元的批量产生和测试的过程。具体特征如下: (I )首先定义配置文件，包括roK库的路径、名字、工艺文件、显示文件、测试库的名字、被测试单元的名字、CDF参数组合、物理验证规则、仿真模型文件； (2 )通过程序来调用电路图编辑工具，根据配置文件的内容来生成大量测试单元电路图； (3 )通过程序自动导出各测试单元电路的网表文件； (4 )通过程序来调用版图编辑工具，根据配置文件的内容来生成大量测试单元版图。 (5 )通过程序自动导出各测试单元版图的⑶S文件； (6 )通过程序来调用版图验证工具，对生成的⑶S，网表文件进行自动化，批量化的DRC和LVS检查； (7 )通过程序对(6)的检查结果进行整理后输出，根据结果判断测试单元是否通过了DRC和LVS检查； (8 )可通过程序顺序执行上述步骤或选择执行某一步骤，来选择所需检查的内容。
【文档编号】G06F17/50GK103838894SQ201210487094
【公开日】2014年6月4日 申请日期:2012年11月26日 优先权日:2012年11月26日
【发明者】任丛飞, 张效通, 吕昌, 李起宏 申请人:北京华大九天软件有限公司