专利名称：提高触控坐标轨迹线性度的方法
技术领域：
本发明涉及触控面板的技术领域，尤其指一种可提高触控坐标轨迹线性度的方法。
背景技术：
触控面板的技术原理是当手指或其它介质接触到屏幕时，依据不同感应方式，侦测电压、电流、声波或红外线等，进而测出触压点的坐标位置。例如电阻式触控面板即为利用上、下电极间的电位差，以计算施压点位置，进而检测出触控点所在。电容式触控面板是利用排列的透明电极与人体之间的静电结合所产生的电容变化，从所产生的电流或电压来检测其坐标。互感电容型(Mutual capacitance)触碰侦测是投射式电容触控感测(ProjectedCapacitive)技术的一种。当触碰发生时，互感电容型(Mutual capacitance)触碰侦测会在邻近两层导体线间产生电容耦合现象。而互感电容型(Mutual capacitance)触控面板驱动的方法为感测互感电容(mutualcapacitance, Cm)的大小变化，以判断是否有物体靠近触控面板。互感应电容(Cm)并非实体电容，其为第一方向的导体线与第二方向的导体线之间互感电容(Cm)。图I为现有互感电容(Cm)感测的示意图，如图I所示，驱动器110配置于第一方向(Y)上，传感器120配置于第二方向(X)上,在第一时间周期Tl前半周期时，由驱动器110对第一方向的导体线130驱动，使用电压Vy_l对互感应电容(Cm) 140充电，在第一时间周期TI后半周期时，所有传感器120感测所有第二方向的导体线150上的电压(Vo_l，Vo_2,…，Vo_n)，以获得n个数据，经过m个驱动周期后(Vy_l……Vy_m)，即可获得mXn个数据。互感应电容(Cm)感测方法的优点在于(I)浮接导体和接地导体的信号方向不同，故可以很轻易的判断是否为人体触碰；以及(2)由于具有每一个点的真实坐标，多点同时触碰时，可以分辨出每一个点的真实位置，互感应电容(Cm)感测方法较容易支持多点触控的应用。但是互感电容型(Mutual capacitance)技术必须搭配特定电容触控面板,藉由面板上X、Y 二维空间的驱动与扫描侦测，取得电容触控面板与电容相关的二维电压变化量，该等电压变化量称为未处理数据(Raw Data)。而这些未处理数据(Raw Data)可能包含了触碰与环境噪声等影响所造成的变化量。这些未处理数据(Raw Data)需经过一些算法与内差方法，以计算触碰坐标，进而判断使用者在触控面板上的触碰位置。在现有技术中，对于这些未处理数据(RawData)的处理方式，大多是设定一临界值(Threshold)来判断是否为有效触碰数据。图2为现有技术判断触控位置的示意图。如图2所示，为现有技术中判断触控位置的示意图，第一幅为手指在面板上的触控位置，第二幅为对应二维未处理数据，第三幅为按照临界值进行触摸区域判断，其以未处理数据(Raw Data)是否大于临界值(Threshold),来判断触摸区域，即当未处理数据(RawData)的值大于临界设定值80时，判定该位置数据为有效触摸区域，换句话说，即当触摸感值超过临界设定值80时，即为有效触摸，否则视为噪声。然而，这种现有技术却会导致一个严重问题，即未处理数据(Raw Data)的线性、感值优良与否受到电容触控面板的电极图案(Pattern)的影响很大。图3为现有技术所显示非线性的一简略示意图，当电容触控面板的电极图案特性不佳时，可能造成触摸轨迹感值不佳、断线或成阶梯状的非线性的状况，比如图3中的第一幅图为触摸感值不佳的情况，第二幅图为出现短线的情况。
此外，电容触控面板的电极图案(Pattern)设计对未处理数据(Raw Data)的数值影响很大。图4A至图4C为电极图案对未处理数据的数值影响的示意图，每幅图中第一幅图是从右往左触控时触控位置对应的未处理数据变化，第二幅图为手指在触摸区域上触控位置对应的感测线变化。其中，斜线区域为使用者的触摸区域，当触摸区域由右往左移动时，可以明显看到当按压在垂直方向的感测线变化(如图4A至图4C中的S3/S4/S5—S3/S4/S5—S3/S4)上时，能获得较大触控感值，当没完全按到时，则相对应的触控数值衰减很多。因此每次手指跨过感测线时，未处理数据(Raw Data)的数值变化最剧烈，故可知未处理数据(Raw Data)的数值受电极图案(Pattern)的影响相当大。若再使用前述现有的临界值(Threshold)判断方式，来判断是否为有效触摸数据的方式来计算坐标，便容易造成类似图5的阶梯状的触摸坐标非线性表现。为解决上述问题，一种现有技术采用降低临界值的方式，然而该方法虽可增加线性度，但却容易造成杂点。图6A至图6D为现有的降低临界值的示意图，其中，图6A显示为一手指触碰位置，图6B为所取得的未处理数据(Raw Data)的数值，图6C表示当临界值(Threshold)设定为80时，斜线处会被判定为触碰位置，图6D表示当降低临界值(Threshold)，将其设定为30时，斜线处被判定为触碰位置，同时也会增加杂点。由此可以看出，临界值(Threshold)的设定相当困难,设定太高,会导致触控不易判定，进而导致后续坐标换算线性度不佳，设定太低，虽能保持线性表现，但却容易遭受噪声干扰影响，而让原本应该只有特定位置触摸的表现，却如图6D所示出现许多非预期之内的坐标点。图7为一触控面板上X轴与Y轴交错处某一像素连续观察一段时间的未处理数据(Raw Data)的示意图。图7中的横轴为时间轴，纵轴为触摸感值量。可通过设定临界值来决定有效触摸感值大小，如图7中虚线所示(较低)，若设定的临界值(Threshold)较小，虽能保留较多的未处理数据(Raw Data)量，进而可保留较多细节数据，有效提升线性表现，但有可能因为噪声值较高而容易受到噪声影响(方框中状况)，超过设定较低的临界值而产生误认触摸的状况，因此系统有可能误报噪点坐标。相反的，若设定点画线为临界值(Threshold)较大，虽能确保数据不易受到噪声干扰，却忽略掉细节有益于线性的触摸数据，失去线性度表现。在图7中，单只以临界值(Threshold)认定是否为被触摸的数据，若临界值(Threshold)较大虽能拥有较高去除噪声影响功能,但却会明显牺牲线性度。反之使用较小的临界值(Threshold)虽会提高线性度但却降低了抗噪声能力。然而，上述处理方法还会因触控面板的电极图案(Pattern)的不同，而表现出不同的线性度。某些触控面板的电极图案(Pattern)经过特别设计，可增加线性度与感测值。但毕竟不是各家触控系统商都能够使用到这类特别设计的电极图案(Pattern)。因此，现有触控坐标轨迹线性度的计算技术仍有改善的空间。
发明内容
本发明的目的主要是提供一种可提高触控坐标轨迹线性度的计算方法，以增加触碰未处理数据的线性度，并避免触碰未处理数据受到噪声干扰，可让厂商使用一般的电极图案，即可获得良好的触碰效能。本发明提出一种提高触控坐标轨迹线性度的方法，用于一电容式多点触控系统，所述电容式多点触控系统包括一电容式触控面板及一控制装置，所述方法包括以下步骤
步骤A、所述控制装置读取所述电容式触控面板的二维未处理数据；步骤B、所述控制装置从所述二维未处理数据中读取一像素及该像素的邻近区域；步骤C、判断所述像素的像素值是否大于一临界值；步骤D、若判定所述像素的像素值不大于所述临界值，则再判断该像素的邻近区域的像素值是否存在大于所述临界值的像素值；步骤E、若判定所述邻近区域的像素值均不大于所述临界值，将所述像素的像素值设定为第一设定值；步骤F、若判定所述像素的像素值大于所述临界值，或者，判定所述像素的邻近区域的像素值存在大于该临界值的像素值，则保留该像素的像素值；步骤G、判断所述二维未处理数据中的所有像素是否均执行过判定，若否，则重行执行步骤B ；步骤H、在步骤G中，若判断所述二维未处理数据中的所有像素均执行过判定，则对所述二维未处理数据进行特征点撷取，并依据所述特征点，将所述二维未处理数据分割成至少一个触碰区域，并对所述至少一个触碰区域编列识别码。现有的电容式触控系统中触碰位置容易受到触控面板结构与电极图案的影响。但电容式触控面板的电极图案却是各家触控面板厂的核心技术，并不能让一般厂商自由采用。因此基于成本考虑，许多的手持式触控装置，被迫使用性能不佳的电容式触控面板结构与电极图案。然而，这些电容式触控面板结构与电极图案往往在线性度表现上有瑕疵，因此藉由本发明的计算方法，能让电容式触控系统应用于不同触控面板时有效提高线性度表现。同时，要改变系统厂商被迫使用性能不佳的电容式触控面板结构与电极图案的困境非常困难，然而本发明的提高触控坐标轨迹线性度的计算方法，可改变现有电容式触控技术处理来自触控面板的二维未处理数据的方法，可以不受噪声影响且提高电容触控系统坐标线性表现，因而可降低使用不同电容触控面板电极图案的限制，对于开发电容触控系统的厂商而言，其系统可不受限制使用不同电极图案，且皆能拥有不错的线性度表现，对于整个产品竞争力与兼容性能有效提高。本发明的技术从电容式触控面板取得的第一手原始二维未处理数据着手。而现有技术中，则是直接设定一临界值来决定是否为有效触摸，若未超过临界值则视为噪声或为小变动，而不予考虑。然而，即便降低临界值设定，能有效改善未处理数据在线性度方面的表现，但是却容易在其它非触摸区域被噪声影响，而出现非预期中的触摸点(杂点)的问题。本发明考虑邻近关系的方式，除了有效改善未处理数据被临界值设定不当所导致未处理数据表现非线性的表示，同时也能避免非触摸位置的杂点影响。
图I为现有互感电容感测的示意图；图2为现有技术判断触控位置的示意图；图3为现有技术所显示非线性的示意图；图4A为电极图案对未处理数据的数值影响的示意图一； 图4B为电极图案对未处理数据的数值影响的示意图二 ；图4C为电极图案对未处理数据的数值影响的示意图三；图5为现有技术的实际量得的数据示意图；图6A为一现有的降低临界值的示意图一；图6B为一现有的降低临界值的示意图二 ；图6C为一现有的降低临界值的示意图三；图6D为一现有的降低临界值的示意图四；图7为一触控面板上X轴与Y轴交错处某一像素连续观察一段时间的未处理数据的不意图；图8为本发明的提高触控坐标轨迹线性度的计算方法的流程图；图9为使用本发明的提高触控坐标轨迹线性度的计算方法的电容式多点触控系统示意图；图10为本发明二维未处理数据的示意图；图11为本发明处理一像素的示意图；图12为本发明处理一像素的邻近区域的示意图；图13为本发明处理二维未处理数据以及根据预定值进行判定后数据的示意图；图14为本发明处理二维未处理数据的特征点撷取和触控区域划分的示意图；图15为本发明实施例中利用二维列表处理二维未处理数据的特征点撷取的示意图；图16为本发明实施例中利用三维直方图处理二维未处理数据的特征点撷取的示意图；图17为本发明技术的实际量得的数据的示意图。附图中，各标号所代表的名称如下110、驱动器,120、传感器,130、第一方向的导体线，140、互感电容,150、第二方向
的导体线，21、电容式触控面板，22、控制装置，31、第一导体线，32、第二导体线
具体实施例方式为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下参照附图并举实施例，对本发明作进一步详细说明。图8为本发明的一种提高触控坐标轨迹线性度的方法的流程图，该方法用于一如图9所不的电容式多点触控系统,该电容式多点触控系统包括一电容式触控面板21及一控制装置22，其中，该电容式触控面板21具有在第一方向X分布的M条第一导体线31以及在第二方向Y分布的N条第二导体线32，第一方向垂直于第二方向，M、N为正整数，每一第一导体线31以及第二导体线32的交叉处为对应电容式触控面板21的未处理数据(RawData)的一像素p(i, j)，其中i的范围为(T(M-I), j的范围为(T(N-I)。本发明的方法在步骤A中，所述控制装置22读取所述电容式触控面板21的二维未处理数据(Raw Data)。所述控制装置22会从所述电容式触控面板21上取得电容变化的数值，该电容变化为X轴与Y轴交互形成的二维数据，图10为本发明二维未处理数据(RawData)的示意图，图10中，A与B为两个触摸位置。其中，该二维未处理数据(Raw Data)由互感电容感测技术所获得,该二维未处理数据(Raw Data)具有MXN个像素，i的范围为0 (M-1)，j 的范围为(T(N-I)。在步骤B中，所述控制装置22从所述二维未处理数据(Raw Data)中读取一像素及该像素的邻近区域。图11为本发明处理一像素P(i，j)的示意图，其依序扫描像素P(i， j)邻近点，观察该像素P(i，j)周围大小关系。如图11所示，粗线框住的数据表示目前考虑的像素位置，斜线格数据则表示目前像素的邻近点。举例来说，如图11所示先以邻近8个像素分布状况做讨论，视需求可扩展邻近点范围，即当该像素为P(i，j)，该邻近区域的像素为 P(i-1，j_l)、p(i，j_l)、p(i+l，j-l)、p(i_l, j)、p(i+l, j)、p(i_l, j+l)、p(i, j+1)、p(i+l，j+1)，i，j为索引值，i的范围为(T(M-I)，j的范围为(T(N-I)。在步骤C中，判断该像素p(i，j)的像素值是否大于一临界值。其为判断像素p(i，j)的像素值是否大于设定的该临界值。如图11所示，假定该临界值为80，可发现图11中像素p (I, I)的像素值-I与像素p (7，3)的像素值82这两个像素数据的位置；像素值82是超过设定该临界值，对应于该像素值82的像素p (7，3)，后续步骤应执行步骤I ;像素值-I未超过该临界值，对应于该像素值-I的像素P(l，I)，后续步骤应执行步骤D，以辨识该像素p(l, I)的像素值是否有存在必要性。在步骤D中，若判定该像素的像素值不大于该临界值，则再判断该像素的邻近区域的像素值是否至少有一个大于该临界值的像素值。在步骤D中，若是，执行步骤I。图12为本发明处理一像素p(i，j)的邻近区域的示意图。在步骤D中，判断目前所判定的该像素P(i，j)的邻近区域是否有超过该临界值的邻近像素，若有，则表示目前考虑的该像素P(i，j)会影响坐标线性的表现，因而有存在必要，则执行步骤I，例如像素值为32的像素，其邻近区域有两个像素的像素值(150和91)超过了临界值80，因此，像素值为32的像素需保留。反之，若目前所评估的该像素p(i，j)中的该邻近区域没有任何超过设定该临界值的像素，则表示目前考虑的该像素P(i，j)不会影响坐标线性的表现，故没有存在必要，则执行步骤E,例如像素值为8的像素,其邻近区域有没有一个像素的像素值超过临界值80，因此，像素值为8的像素无需保留。在步骤E中，若步骤D的判定为否，即若判定所述邻近区域的像素值均不大于所述临界值，则将该像素的像素值设定为第一设定值，例如该第一设定值可为O。在步骤G中，判断该二维未处理数据(Raw Data)中的所有像素是否均执行过判定，若否，则重行执行步骤B。步骤G是用来判断是否已经完整扫描完整个二维未处理数据(Raw Data)，若完整扫描完毕，会得到如图12的结果。图13为本发明处理二维未处理数据(Raw Data)以及根据预定值进行判定后的示意图，如图13所示，有些标注反斜线的像素(例如其中反斜线的像素值为14的像素)则在本发明执行过程中，保留其像素值，用以增加线性度，另外有些标注斜线的像素(例如其中斜线的像素值为91的像素)，表示其像素值超过该临界值，而被保留。若步骤G判定尚未扫描完毕整个该二维未处理数据(RawData)，则继续下一个像素，继续步骤B的流程工作。在步骤H中，若步骤G判定该二维未处理数据(Raw Data)中的所有像素均执行过判定，则对该二维未处理数据(Raw Data)进行特征点撷取，即撷取触控屏幕上的像素值被保留的像素点，并依据所撷取的特征点，将该二维未处理数据(Raw Data)分割成至少一个触碰区域，并对该少一个触碰区域编列识别码。图14为本发明处理二维未处理数据(RawData)的特征点撷取的示意图，如图14所示,其将该二维未处理数据(Raw Data)分割成三 个触碰区域，分别编列识别码ID1、ID2、及ID3，ID3处于IDl和ID2的交界处。对于重新设定为0的那些像素点可以不进行辨识码的编列和特征点的撷取。在步骤I中，依据识别码，对该识别码所对应的该至少一个触碰区域进行坐标换算，进而输出相对应的触碰坐标。如图14所示，第一幅表示特征点撷取示意，第二幅为触控区域划分示意，ID3区域为IDl区域与ID2区域的共有区域，在进行坐标换算时必须一并考虑进去。其可使用一阶动量(first order momentum)方法以对该至少一个触碰区域进行坐标换算。以图14中ID3区域为例，ID3区域中的像素其坐标分别为(4，5)、(5，5)、(6，5)、(7, 5)，像素值分别为 33、81、61、32，因此，其 X 坐标为 5 (=[4X 33+5 X 81+6 X 61+7 X 32] /[33+81+61+321=1127/207=5. 44 ^ 5),其 Y 坐标为 5 (=[5 X 44+5 X 81+5 X 61+5 X 32] /[33+81+61+32] =1035/207=5)。其它区域的触碰坐标也可使用一阶动量方法求得，不再赘述。在其它实施例中，也可使用其它方法计算触碰坐标。如图15所示，为本发明实施例中利用二维列表处理另一二维未处理数据(RawData)的特征点撷取的示意图。对二维未处理数据(Raw Data)的特征点进行撷取之后，依据特征点对应的像素值排序以及干扰像素值的处理后，得到实际触控位置对应的两个像素点，依据这两个像素点的像素值608、542，利用二维列表将触控区域划分为两个区域并赋以标识码IDl、ID2，其中ID3表示触控区域IDl和触控区域ID2的共有区域。如图16所示，为本发明实施例中利用三维直方图处理另一二维未处理数据(RawData)的特征点撷取的示意图。依据撷取到的所有特征点生成像素直方图；确定像素直方图中相邻两个峰值之间的山谷区域；根据相邻两个峰值之间山谷区域对应特征点的像素值，以山谷区域为界，划分左侧的“山峰”区域、右侧的“山峰”区域，分别赋以表示标识码IDl和ID2，山谷区域赋以标识码ID3，为左侧“山峰”区域IDl和右侧“山峰”区域ID2共有的区域。对于共有区域ID3的处理，可以根据划分形成了多少个触控区域来进行处理，有多少个触控区域，就将共有区域ID3处特征点对应的像素值均分为多少份，给每一个触控区域分配一份，以进行该触控区域对应触控坐标的计算。上述如何划分触碰区域，以及如何计算触碰坐标，可详细参见相关现有技术，在此不再赘述。在步骤F中，若判定该像素的像素值大于该临界值，或者，如判定所述像素的邻近区域的像素值存在大于该临界值的像素值，则保留该像素的像素值，并执行步骤G。图17为本发明技术的实际量得的数据的示意图。比较图17与图5可知，本发明技术不会存在现有技术中当触摸位置经过感测线时，所造成阶梯状非线性的现象。即本发明技术可增加触碰未处理数据(Raw Data)的线性度,又不会让触碰未处理数据(Raw Data)受到噪声干扰。现有的电容式触控系统中触碰位置容易受到触控面板结构与电极图案(Pattern)的影响。但电容式触控面板的电极图案却是各家触控面板厂的核心技术，并不能让一般厂商自由采用。因此基于成本考虑，许多的手持式触控装置，被迫使用性能不佳的电容式触控面板结构与电极图案。然而，这些电容式触控面板结构与电极图案往往在线性度表现上有瑕疵，因此藉由本发明的计算方法，能让电容式触控系统应用于不同触控面板时有效提高线性度表现。同时，要改变系统厂商被迫使用性能不佳的电容式触控面板结构与电极图案的困境非常困难，然而本发明的提高触控坐标轨迹线性度的计算方法，可改变现有电容式触控 技术处理来自触控面板的二维未处理数据(Raw Data)的方法，可以不受噪声影响且提高电容触控系统坐标线性表现，因而可降低使用不同电容触控面板电极图案(Pattern)的限制，对于开发电容触控系统的厂商而言，其系统可不受限制使用不同电极图案，且皆能拥有不错的线性度表现，对于整个产品竞争力与兼容性能有效提高。本发明的技术从电容式触控面板取得的第一手原始二维未处理数据(Raw Data)着手。而现有技术中，则是直接设定一临界值(Threshold)来决定是否为有效触摸，若未超过临界值则视为噪声或为小变动，而不予考虑。然而，即便降低临界值设定，能有效改善未处理数据(Raw Data)在线性度方面的表现，但是却容易在其它非触摸区域被噪声影响，而出现非预期中的触摸点(杂点)的问题。本发明考虑邻近关系的方式，除了有效改善未处理数据(Raw Data)被临界值设定不当所导致未处理数据(RawData)表现非线性的表示，同时也能避免非触摸位置的杂点影响。以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明保护的范围之内。
权利要求
1.一种提高触控坐标轨迹线性度的方法，用于一电容式多点触控系统，所述电容式多点触控系统包括一电容式触控面板及一控制装置，所述方法包括以下步骤 步骤A、所述控制装置读取所述电容式触控面板的二维未处理数据； 步骤B、所述控制装置从所述二维未处理数据中读取一像素及该像素的邻近区域； 步骤C、判断所述像素的像素值是否大于一临界值； 步骤D、若判定所述像素的像素值不大于所述临界值，则再判断该像素的邻近区域的像素值是否存在大于所述临界值的像素值； 步骤E、若判定所述邻近区域的像素值均不大于所述临界值，将所述像素的像素值设定为第一设定值； 步骤F、若判定所述像素的像素值大于所述临界值，或者，判定所述像素的邻近区域的像素值存在大于该临界值的像素值，则保留该像素的像素值； 步骤G、判断所述二维未处理数据中的所有像素是否均执行过判定，若否，则重行执行步骤B ; 步骤H、在步骤G中，若判断所述二维未处理数据中的所有像素均执行过判定，则对所述二维未处理数据进行特征点撷取，并依据所述特征点，将所述二维未处理数据分割成至少一个触碰区域，并对所述至少一个触碰区域编列识别码。
2.如权利要求I所述的提高触控坐标轨迹线性度的方法，其特征在于，所述方法还包括 步骤I、依据所述识别码与相对应触碰区域的二维未处理数据，进行坐标内插与分辨率演算，进而输出相对应的触碰坐标。
3.如权利要求I所述的提高触控坐标轨迹线性度的方法，其特征在于所述二维未处理数据由互感电容感测技术所获得。
4.如权利要求I所述的提高触控坐标轨迹线性度的方法，其特征在于，所述电容式触控面板具有在一第一方向分布的M条第一导体线，以及在一第二方向分布的N条第二导体线；其中，所述第一方向垂直于所述第二方向，M、N为正整数。
5.如权利要求4所述的提高触控坐标轨迹线性度的方法，其特征在于所述二维未处理数据具有MXN个像素；其中，i取值为(T(M-l)，j取值为(T(N-I)。
6.如权利要求4所述的提高触控坐标轨迹线性度的方法，其特征在于所述像素为P(i，j)，所述邻近区域的像素为 P(i-1，j-1)、P(i，j-1)、p(i+l，j_l)、p(i_l，jl)、p(i+l，j)、p (i-1，j+1)、p (i，j+1)、p (i+1，j+1);其中，i 取值为 0 (M-I)，j 取值为 0 (N-I)。
7.如权利要求2所述的提高触控坐标轨迹线性度的方法，其特征在于，所述步骤I中，采用一阶动量方法进行坐标内插与分辨率演算，进而输出相对应的触碰坐标。
8.如权利要求I所述的提高触控坐标轨迹线性度的方法，其特征在于，依据所述特征点，将所述二维未处理数据分割成至少一个触碰区域，并对所述至少一个触碰区域编列识别码包括 对撷取的所有特征点对应的像素值由大到小进行排序，依据排在前两位的像素值对应的特征点，将所述二维未处理数据分割成至少一个触碰区域，进而编列相对应的识别码。
9.如权利要求I所述的提高触控坐标轨迹线性度的方法，其特征在于，依据所述特征点，将所述二维未处理数据分割成至少一个触碰区域，并对所述至少一个触碰区域编列识别码包括 依据撷取到的所有特征点生成像素直方图； 确定像素直方图中相邻两个峰值之间的山谷区域； 根据相邻 两个峰值之间山谷区域对应特征点的像素值，将所述二维未处理数据分割成至少一个触碰区域，进而编列相对应的识别码。
全文摘要
本发明提供了一种提高触控坐标轨迹线性度的方法，该方法先读取一电容式触控面板的二维未处理数据，再读取二维未处理数据的一像素及该像素的邻近区域。判断该像素的像素值是否大于一临界值，若否，再判断邻近区域的像素值是否有一大于该临界值，若判定邻近区域的像素值均不大于该临界值，则将该像素的像素值设定为第一设定值，若判定邻近区域的像素值至少有其中之一大于该临界值，则保留该像素的像素值，以增加该二维未处理数据的线性度，进而避免该二维未处理数据受到噪声干扰。
文档编号G06F3/044GK102968238SQ20121050867
公开日2013年3月13日 申请日期2012年12月3日 优先权日2012年12月3日
发明者黄鑫茂, 龚至宏, 游翔钲, 黄世新 申请人:旭曜科技股份有限公司