栅格图像处理器测试方法及系统的制作方法
【专利摘要】本发明公开了一种栅格图像处理器测试方法及系统，该方法包括：使用待测试RIP处理测试样例，得到测试图元轮廓点阵；将所述测试图元轮廓点阵与基准加粗轮廓点阵以及基准减细轮廓点阵进行比较；如果所述测试图元轮廓点阵完全被基准加粗轮廓点阵包含，且完全包含基准减细轮廓点阵，则确定所述待测试RIP合格；否则，确定所述待测试RIP不合格。利用本发明，可以实现针对栅格图像处理器的可调控自动测试。
【专利说明】栅格图像处理器测试方法及系统
【技术领域】
[0001]本发明涉及印刷【技术领域】，具体而言，涉及一种栅格图像处理器测试方法及系统。
【背景技术】
[0002]RIP (Raster Image Processor,栅格图像处理器)是一种转换处理器,用于将页面描述语言所描述的版面信息解释转换为可供输出设备输出的数据信息(一般是位图或点阵，亦即栅格图像)。RIP是整个印前行业的核心软件，一个桌面出版系统的输出质量、输出速度和开放性及兼容性在很大程度上取决于所用RIP的优劣。
[0003]目前，对RIP产品的测试流程为:测试人员将测试样例提交至待测试的RIP和作为对照基准的RIP，经RIP处理后，分别输出点阵，然后比较二者的点阵是否存在差异。若测试人员在人眼可识别的范围内未发现差异，则认为待测试的RIP正确处理了此测试样例。若待测试的RIP对一个大的测试样例集合均能正确处理，则认为此RIP通过测试。
[0004]从上述RIP的测试流程可以看出手工测试的方法存在一系列缺陷，如测试样例手动提交较为繁琐、样例提交随意性较大不利于回归测试、测试结果的正确性认定由人眼保证费时费力且可靠性难以评估等等。
[0005]针对上述缺陷，一种改进方法是利用计算机检查测试结果的正确性，将基准RIP点阵和待测试RIP点阵之间的比较交由计算机去完成，这一方法大大减轻了人工干预的工作量，在一定程度上实现了对栅格图像处理器的自动测试。但是，其缺陷也很明显，即该自动测试方法对点阵差异没有容忍度，无法调控用于判断结果是否一致的点阵差异度，只要有一个像素存在差异，就会认为点阵不同，从而报告待测试RIP出现异常。这一特性使得该自动测试系统过于灵敏，缺乏对因程序实现代码的轻微修改导致转换处理结果产生轻微不同但并不影响结果正确性的现象的容忍，而RIP是经常会进行这一类轻微修改的，如此一来，测试人员会发现报告异常的样例大部分情况下都不算是真正的异常，而只是极其轻微的、人眼难以发现的细小差异，完全可以忽略不计，于是，这样一来，反而耗费了更多了人工去排除这类“误报”，从而使得测试人员逐渐失去了用该自动测试系统进行自动测试的热情。显然，上述情况是远远不能令人满意的。
【发明内容】
[0006]针对现有技术中存在的缺陷，本发明实施例提出一种栅格图像处理器测试方法，实现针对栅格图像处理器的可调控自动测试。
[0007]本发明实施例提供的技术方案是:
[0008]一种栅格图像处理器测试方法，包括:
[0009]使用待测试RIP处理测试样例，得到测试图元轮廓点阵；
[0010]将所述测试图元轮廓点阵与基准加粗轮廓点阵以及基准减细轮廓点阵进行比较；
[0011]如果所述测试图元轮廓点阵完全被基准加粗轮廓点阵包含，且完全包含基准减细轮廓点阵，则确定所述待测试RIP合格；
[0012]否则，确定所述待测试RIP不合格。
[0013]优选地，将所述测试图元轮廓点阵与基准加粗轮廓点阵以及基准减细轮廓点阵进行比较包括:
[0014]将所述测试图元轮廓点阵与基准加粗轮廓点阵进行求交运算，若结果点阵与测试图元轮廓点阵完全相同，则确定所述测试图元轮廓点阵完全被基准加粗轮廓点阵包含；
[0015]将所述测试图元轮廓点阵与基准减细轮廓点阵进行求交运算，若结果点阵与基准减细轮廓点阵完全相同，则确定所述测试图元轮廓点阵完全包含基准减细轮廓点阵。
[0016]优选地，所述方法还包括:
[0017]使用待测试RIP以设定的低分辨率处理测试样例，得到低分辨率测试图元灰度点阵；
[0018]将所述低分辨率测试图元灰度点阵与基准低分辨率灰度点阵进行比较；
[0019]如果所述低分辨率测试图元灰度点阵与基准低分辨率灰度点阵的差异小于设定阈值，则确定所述待测试RIP合格；
[0020]否则，确定所述待测试RIP不合格。
[0021]优选地，所述方法还包括:
[0022]预先使用基准RIP处理所述测试样例，得到基准轮廓点阵；
[0023]将所述基准轮廓点阵加宽一个幅度得到所述基准加粗轮廓点阵，以及将所述基准轮廓点阵减细一个幅度得到所述基准减细轮廓点阵。
[0024]优选地，所述方法还包括:
[0025]预先使用所述基准RIP以所述低分辨率处理所述测试样例，得到所述基准低分辨率灰度点阵。
[0026]一种栅格图像处理器测试系统，包括:
[0027]轮廓处理模块，用于使用待测试RIP处理测试样例，得到测试图元轮廓点阵；
[0028]轮廓比较模块，用于将所述测试图元轮廓点阵与基准加粗轮廓点阵以及基准减细轮廓点阵进行比较；
[0029]结果输出模块，用于在所述轮廓比较模块的比较结果是所述测试图元轮廓点阵完全被基准加粗轮廓点阵包含，且完全包含基准减细轮廓点阵时，确定所述待测试RIP合格；否则，确定所述待测试RIP不合格。
[0030]优选地，所述轮廓比较模块，具体用于将所述测试图元轮廓点阵与基准加粗轮廓点阵进行求交运算，若结果点阵与测试图元轮廓点阵完全相同，则确定所述测试图元轮廓点阵完全被基准加粗轮廓点阵包含；将所述测试图元轮廓点阵与基准减细轮廓点阵进行求交运算，若结果点阵与基准减细轮廓点阵完全相同，则确定所述测试图元轮廓点阵完全包含基准减细轮廓点阵。
[0031 ] 优选地，所述系统还包括:
[0032]灰度处理模块，用于使用待测试RIP以设定的低分辨率处理测试样例，得到低分辨率测试图元灰度点阵；
[0033]灰度比较模块，用于将所述低分辨率测试图元灰度点阵与基准低分辨率灰度点阵进行比较；
[0034]所述结果输出模块，还用于在所述灰度比较模块的比较结果是所述低分辨率测试图元灰度点阵与基准低分辨率灰度点阵的差异小于设定阈值时，确定所述待测试RIP合格；否则，确定所述待测试RIP不合格。
[0035]优选地，所述轮廓处理模块，还用于预先使用基准RIP处理所述测试样例，得到基准轮廓点阵；将所述基准轮廓点阵加宽一个幅度得到所述基准加粗轮廓点阵，以及将所述基准轮廓点阵减细一个幅度得到所述基准减细轮廓点阵。
[0036]优选地，所述灰度处理模块，还用于预先使用所述基准RIP以所述低分辨率处理所述测试样例，得到所述基准低分辨率灰度点阵。
[0037]本发明实施例提供的栅格图像处理器测试方法及系统，将栅格图像处理器的结果点阵分为轮廓点阵和灰度点阵，对于测试优先级更高的轮廓点阵引入加粗轮廓点阵和减细轮廓点阵来对待测试的轮廓点阵进行限制，从而检测待测试的轮廓所发生的变化是否在容忍范围之内，大大降低了自动测试系统对差异的敏感性，提高了测试人员的工作效率。进一步地，对于测试优先级较低的灰度点阵，则只需检测是否存在图像显示错误导致丢图或显示不全等存在明显的灰度差异的情况即可，于是采用降低分辨率的方法使得这一处理的效率也大为提高，还防止了漏报和误报。
【专利附图】
【附图说明】
[0038]此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本申请的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中:
[0039]图1是本发明实施例栅格图像处理器测试方法的流程图；
[0040]图2是某样例示意图；
[0041]图3是某样例在基准RIP上进行填充得到图元的填充轮廓点阵；
[0042]图4是某样例在基准RIP上进行画线得到图元的画线轮廓点阵；
[0043]图5是某样例在基准RIP上进行处理得到图元的加粗轮廓点阵；
[0044]图6是某样例在基准RIP上进行处理得到图元的减细轮廓点阵；
[0045]图7是某样例在基准RIP上进行处理得到图像的低分辨率灰度点阵；
[0046]图8是某样例在待测RIPl上进行填充得到图元的填充轮廓点阵；
[0047]图9是某样例在待测RIPl上进行处理得到图像的低分辨率灰度点阵；
[0048]图10是某样例在待测RIP2上进行填充得到图元的填充轮廓点阵；
[0049]图11是某样例在待测RIP2上进行处理得到图像的低分辨率灰度点阵；
[0050]图12是本发明实施例栅格图像处理器测试系统的一种结构示意图；
[0051]图13是本发明实施例栅格图像处理器测试系统的另一种结构示意图。
【具体实施方式】
[0052]下面将参考附图并结合实施例，进一步详细说明本发明。
[0053]针对现有技术中对栅格图像处理器的自动测试的缺点，本发明实施例提供一种栅格图像处理器测试方法及系统，将栅格图像处理器的结果点阵分为轮廓点阵和灰度点阵，对于测试优先级更高的轮廓点阵引入加粗轮廓点阵和减细轮廓点阵来对待测试的轮廓点阵进行限制，从而检测待测试的轮廓所发生的变化是否在容忍范围之内，大大降低了自动测试系统对差异的敏感性，提高了测试人员的工作效率。
[0054]如图1所示，是本发明实施例栅格图像处理器测试方法的流程图，包括以下步骤:
[0055]步骤101，使用待测试RIP处理测试样例，得到测试图元轮廓点阵；
[0056]步骤102，将所述测试图元轮廓点阵与基准加粗轮廓点阵以及基准减细轮廓点阵进行比较；
[0057]具体地，可以将所述测试图元轮廓点阵与基准加粗轮廓点阵进行求交运算，若结果点阵与测试图元轮廓点阵完全相同，则确定所述测试图元轮廓点阵完全被基准加粗轮廓点阵包含；将所述测试图元轮廓点阵与基准减细轮廓点阵进行求交运算，若结果点阵与基准减细轮廓点阵完全相同，则确定所述测试图元轮廓点阵完全包含基准减细轮廓点阵。
[0058]步骤103，如果所述测试图元轮廓点阵完全被基准加粗轮廓点阵包含，且完全包含基准减细轮廓点阵，则确定所述待测试RIP合格；否则，确定所述待测试RIP不合格。
[0059]进一步地，本发明实施例的方法还可对测试优先级较低的灰度点阵进行比较，采用降低分辨率的方式，检测是否存在图像显示错误导致丢图或显示不全等存在明显的灰度差异的情况。
[0060]下面对本发明实施例中轮廓点阵及灰度点阵的生成及比较做进一步详细说明。
[0061]I)基准加粗轮廓点阵和减细轮廓点阵的生成和记录:
[0062]1.1)根据图元轮廓描述由基准RIP进行填充得到图元的填充轮廓点阵；
[0063]1.2)根据阈值确定一个线宽；
[0064]1.3)根据图元轮廓描述和线宽由基准RIP进行画线得到图元的画线轮廓点阵；
[0065]1.4)将填充轮廓点阵和画线轮廓点阵进行求并运算，得到加粗轮廓点阵；
[0066]1.5)将填充轮廓点阵和画线轮廓点阵进行求差运算，得到减细轮廓点阵；
[0067]1.6)将加粗轮廓点阵和减细轮廓点阵记录到基准数据库中；
[0068]2)基准图像低分辨率灰度点阵的生成和记录:
[0069]2.1)根据阈值确定一个较低的RIP处理分辨率；
[0070]2.2)根据图像描述和上述分辨率由基准RIP进行转换处理得到图像的低分辨率灰度点阵；
[0071]2.3)将图像低分辨率灰度点阵记录到基准数据库中；
[0072]3 )对待测RIP与基准RIP的比较:
[0073]3.1)对轮廓点阵的比较:
[0074]3.1.1)根据图元轮廓描述由待测RIP进行填充得到图元的填充轮廓点阵；
[0075]3.1.2)将待测RIP的填充轮廓点阵与对应的基准RIP的加粗轮廓点阵和减细轮廓点阵进行比较:
[0076]3.1.2.1)将待测RIP的填充轮廓点阵与对应的基准RIP的加粗轮廓点阵进行求交运算，若结果点阵与待测RIP的填充轮廓点阵完全相同，则说明待测RIP的填充轮廓点阵被对应的基准RIP的加粗轮廓点阵完全包含在内；否则说明待测RIP的填充轮廓点阵未能被对应的基准RIP的加粗轮廓点阵完全包含在内；
[0077]3.1.2.2)将待测RIP的填充轮廓点阵与对应的基准RIP的减细轮廓点阵进行求交运算，若结果点阵与基准RIP的减细轮廓点阵完全相同，则说明基准RIP的减细轮廓点阵被对应的待测RIP的填充轮廓点阵完全包含在内；否则说明基准RIP的减细轮廓点阵未能被对应的待测RIP的填充轮廓点阵完全包含在内；
[0078]3.1.2.3)若待测RIP的填充轮廓点阵被对应的基准RIP的加粗轮廓点阵完全包含在内，并且基准RIP的减细轮廓点阵被对应的待测RIP的填充轮廓点阵完全包含在内，则表示此图元通过了轮廓点阵的比较测试，意味着在所设阈值的容忍度之内可以认为此图元在待测RIP中的轮廓转换处理结果与基准RIP相比没有明显差异；否则，表示此图元未能通过轮廓点阵的比较测试，需要报告相关异常信息并记录到数据库中；
[0079]3.2)对灰度点阵的比较:
[0080]3.2.1)根据阈值确定一个较低的RIP处理分辨率(同2.1);
[0081]3.2.1)根据图像描述和上述分辨率由待测RIP进行转换处理得到图像的低分辨率灰度点阵；
[0082]3.2.2)将上述待测图像低分辨率灰度点阵与对应的基准图像低分辨率灰度点阵进行比较，若两者差异不超过阈值，则表示此图像通过了灰度点阵的比较测试，意味着在所设阈值的容忍度之内可以认为此图像在待测RIP中的灰度转换处理结果与基准RIP相比没有明显差异；否则，表示此图像未能通过灰度点阵的比较测试，需要报告相关异常信息并记录到数据库中；
[0083]由此可见，本发明实施例栅格图像处理器测试方法，通过一个阈值来控制可以容忍的点阵差异，在阈值之内的点阵差异认为可以接受，不再报告出现异常，从而过滤掉细小差异，只对可能是代码修改错误产生的真正明显的差异进行异常报告，进而达到节省人工、真正使测试人员乐于且便于使用的目的。
[0084]下面再以某样例某页面中的图元描述为例，对上述处理流程作进一步阐释。
[0085]假设页面中有3个图元，分别是文字(M)、图形(圆环)和图像(小鸟)，其示意图如图2所示。
[0086]首先，在基准RIP上进行填充得到图元的填充轮廓点阵，如图3所示；
[0087]然后，根据由阈值确定的线宽在基准RIP上进行画线得到图元的画线轮廓点阵，如图4所示；
[0088]然后，将填充轮廓点阵和画线轮廓点阵进行求并运算，得到加粗轮廓点阵，如图5所示；
[0089]然后，将填充轮廓点阵和画线轮廓点阵进行求差运算，得到减细轮廓点阵，如图6所示；
[0090]然后，将加粗轮廓点阵和减细轮廓点阵记录到基准数据库中；
[0091]同时，根据由阈值确定的低分辨率由基准RIP进行转换处理得到图像的低分辨率灰度点阵，如图7所示，并将其记录到基准数据库中；
[0092]假设有两个不同的待测RIP，分别称为待测RIPl和待测RIP2，相对于基准RIP而言，待测RIPl所作的修改对结果影响很小，而待测RIP2所作的修改对结果影响较大；
[0093]接下来，在待测RIPl上进行填充得到图元的填充轮廓点阵，如图8所示；
[0094]然后，通过点阵求交运算可以确定，待测RIPl的填充轮廓点阵既完全被基准RIP的加粗轮廓点阵包含在内，又完全将基准RIP的减细轮廓点阵包含在内，即它正好介于基准RIP的加粗轮廓点阵和减细轮廓点阵之间，这就表明待测RIPl通过了轮廓点阵的比较测试；
[0095]接下来，在待测RIPl上根据由阈值确定的低分辨率进行转换处理得到图像的低分辨率灰度点阵，如图9所示；
[0096]然后，将待测RIPl的图像低分辨率灰度点阵与基准RIP的图像低分辨率灰度点阵进行比较，其差异在阈值的容忍范围之内，这就表明待测RIPl也通过了灰度点阵的比较测试，于是，待测RIPl便通过了本样例本页面的比较测试，亦即验证了待测RIPl和基准RIP相比确实差别很小；
[0097]接下来，在待测RIP2上进行填充得到图元的填充轮廓点阵，如图10所示；
[0098]然后，通过点阵求交运算可以确定，待测RIP2的填充轮廓点阵未能完全被基准RIP的加粗轮廓点阵包含在内，这就表明待测RIP2未能通过轮廓点阵的比较测试，于是，需要报告相关异常信息并记录到数据库中，这也意味着待测RIP2未能通过本样例本页面的比较测试，亦即待测RIP2和基准RIP相比确实差别较大，需要进一步核查造成这一较大差别的原因；
[0099]最后，假如上一步待测RIP2通过了轮廓点阵的比较测试，那么还需要在待测RIP2上根据由阈值确定的低分辨率进行转换处理得到图像的低分辨率灰度点阵，如图11所示；
[0100]然后，将待测RIP2的图像低分辨率灰度点阵与基准RIP的图像低分辨率灰度点阵进行比较，其差异超出了阈值的容忍范围，这就表明待测RIP2未能通过灰度点阵的比较测试，于是，需要报告相关异常信息并记录到数据库中，这也意味着待测RIP2未能通过本样例本页面的比较测试，亦即待测RIP2和基准RIP相比确实差别较大，需要进一步核查造成这一较大差别的原因。
[0101]相应地，本发明实施例还提供一种栅格图像处理器测试系统，如图12所示，该系统包括:
[0102]轮廓处理模块121，用于使用待测试RIP处理测试样例，得到测试图元轮廓点阵；
[0103]轮廓比较模块122，用于将所述测试图元轮廓点阵与基准加粗轮廓点阵以及基准减细轮廓点阵进行比较；
[0104]结果输出模块123，用于在所述轮廓比较模块122的比较结果是所述测试图元轮廓点阵完全被基准加粗轮廓点阵包含，且完全包含基准减细轮廓点阵时，确定所述待测试RIP合格；否则，确定所述待测试RIP不合格。
[0105]其中，所述轮廓比较模块122，具体用于将测试图元轮廓点阵与基准加粗轮廓点阵进行求交运算，若结果点阵与测试图元轮廓点阵完全相同，则确定测试图元轮廓点阵完全被基准加粗轮廓点阵包含；将测试图元轮廓点阵与基准减细轮廓点阵进行求交运算，若结果点阵与基准减细轮廓点阵完全相同，则确定测试图元轮廓点阵完全包含基准减细轮廓点阵。
[0106]在本发明栅格图像处理器测试系统的另一实施例中，如图13所示，还进一步包括:
[0107]灰度处理模块131，用于使用待测试RIP以设定的低分辨率处理测试样例，得到低分辨率测试图元灰度点阵；
[0108]灰度比较模块132，用于将所述低分辨率测试图元灰度点阵与基准低分辨率灰度点阵进行比较；
[0109]相应地，在该实施例中，结果输出模块123，还用于在所述灰度比较模块132的比较结果是所述低分辨率测试图元灰度点阵与基准低分辨率灰度点阵的差异小于设定阈值时，确定所述待测试RIP合格；否则，确定所述待测试RIP不合格。
[0110]需要说明的是，上述轮廓处理模块121还用于预先使用基准RIP处理所述测试样例，得到基准轮廓点阵；将所述基准轮廓点阵加宽一个幅度得到所述基准加粗轮廓点阵，以及将所述基准轮廓点阵减细一个幅度得到所述基准减细轮廓点阵。上述灰度处理模块131还用于预先使用所述基准RIP以所述低分辨率处理所述测试样例，得到所述基准低分辨率灰度点阵。
[0111]在本发明中，加粗轮廓点阵和减细轮廓点阵的生成和比较是可调控的自动测试栅格图像处理器的方法及系统的关键，其算法与数据结构的实现非常精致高效，通过恰当的控制和调节，可以方便地验证各种容忍度下栅格图像处理器的正确性。采用本发明的方法，能够在很大程度上降低自动测试系统对RIP处理结果差异的敏感性，提高测试人员的工作效率，从而使得栅格图像处理器的自动测试系统在实践中能发挥更大的作用。
[0112]需要说明的是，由于轮廓点阵表示结果内容的位置，灰度点阵表示结果内容的色值，因此，在实际应用中，可以根据测试样例的实际情况决定是只进行轮廓点阵或灰度点阵的比较，还是同时进行轮廓点阵和灰度点阵的比较。比如，如果测试样例是黑白二值图元，不涉及灰度和色值，在这种情况下只需对轮廓点阵进行比较，不用对灰度点阵进行比较；如果测试样例只包含图像点阵，不涉及轮廓和图形，在这种情况下只需对灰度点阵进行比较，不用对轮廓点阵进行比较；在其他的情况下，则都需要对两种点阵进行比较。
[0113]显然，本领域的技术人员应该明白，上述的本发明的各模块或各步骤可以用通用的计算装置来实现，它们可以集中在单个的计算装置上，或者分布在多个计算装置所组成的网络上，可选地，它们可以用计算装置可执行的程序代码来实现，从而，可以将它们存储在存储装置中由计算装置来执行，或者将它们分别制作成各个集成电路模块，或者将它们中的多个模块或步骤制作成单个集成电路模块来实现。这样，本发明不限制于任何特定的硬件和软件结合。
[0114]以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
【权利要求】
1.一种栅格图像处理器测试方法，其特征在于，包括: 使用待测试RIP处理测试样例，得到测试图元轮廓点阵； 将所述测试图元轮廓点阵与基准加粗轮廓点阵以及基准减细轮廓点阵进行比较； 如果所述测试图元轮廓点阵完全被基准加粗轮廓点阵包含，且完全包含基准减细轮廓点阵，则确定所述待测试RIP合格； 否则，确定所述待测试RIP不合格。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，将所述测试图元轮廓点阵与基准加粗轮廓点阵以及基准减细轮廓点阵进行比较包括: 判断所述测试图元轮廓点阵是否完全被基准加粗轮廓点阵包含，以及是否完全包含基准减细轮廓点阵。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括: 使用待测试RIP以设定的低分辨率处理测试样例，得到低分辨率测试图元灰度点阵； 将所述低分辨率测试图元灰度点阵与基准低分辨率灰度点阵进行比较； 如果所述低分辨率测试图元灰度点阵与基准低分辨率灰度点阵的差异小于设定阈值，则确定所述待测试RIP合格； 否则，确定所述待测试RIP不合格。
4.根据权利要求1至3任一项所述的方法，其特征在于，还包括: 预先使用基准RIP处理所述测试样例，得到基准轮廓点阵； 将所述基准轮廓点阵加宽一个幅度得到所述基准加粗轮廓点阵，以及将所述基准轮廓点阵减细一个幅度得到所述基准减细轮廓点阵。
5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，还包括: 预先使用所述基准RIP以所述低分辨率处理所述测试样例，得到所述基准低分辨率灰度点阵。
6.一种栅格图像处理器测试系统，其特征在于，包括: 轮廓处理模块，用于使用待测试RIP处理测试样例，得到测试图元轮廓点阵； 轮廓比较模块，用于将所述测试图元轮廓点阵与基准加粗轮廓点阵以及基准减细轮廓点阵进行比较； 结果输出模块，用于在所述轮廓比较模块的比较结果是所述测试图元轮廓点阵完全被基准加粗轮廓点阵包含，且完全包含基准减细轮廓点阵时，确定所述待测试RIP合格；否贝U，确定所述待测试RIP不合格。
7.根据权利要求6所述的系统，其特征在于， 所述轮廓比较模块，具体用于判断所述测试图元轮廓点阵是否完全被基准加粗轮廓点阵包含，以及是否完全包含基准减细轮廓点阵。
8.根据权利要求6所述的系统，其特征在于，还包括: 灰度处理模块，用于使用待测试RIP以设定的低分辨率处理测试样例，得到低分辨率测试图元灰度点阵； 灰度比较模块，用于将所述低分辨率测试图元灰度点阵与基准低分辨率灰度点阵进行比较； 所述结果输出模块，还用于在所述灰度比较模块的比较结果是所述低分辨率测试图元灰度点阵与基准低分辨率灰度点阵的差异小于设定阈值时，确定所述待测试RIP合格；否贝U，确定所述待测试RIP不合格。
9.根据权利要求6至8任一项所述的系统，其特征在于， 所述轮廓处理模块，还用于预先使用基准RIP处理所述测试样例，得到基准轮廓点阵；将所述基准轮廓点阵加宽一个幅度得到所述基准加粗轮廓点阵，以及将所述基准轮廓点阵减细一个幅度得到所述基准减细轮廓点阵。
10.根据权利要求8所述的系统，其特征在于， 所述灰度处理模块，还用于预先使用所述基准RIP以所述低分辨率处理所述测试样例，得到所述基准低分辨率灰度点阵。
【文档编号】G06F11/36GK104424091SQ201310370092
【公开日】2015年3月18日 申请日期:2013年8月22日 优先权日:2013年8月22日
【发明者】陈恳 申请人:北大方正集团有限公司, 方正信息产业控股有限公司, 北京北大方正电子有限公司