一种RFID芯片随机数产生装置和方法与流程

本发明属于集成电路设计领域，具体地说，属于rfid芯片设计的技术领域。

背景技术：

rfid系统一般由一个rfid读卡器和若干个rfid标签组成。读卡器和其中一个rfid标签的正常操作过程包括：寻卡，抗冲突，选卡，安全认证和交易几个阶段，其中安全认证阶段需要随机数参与安全认证的运算，以确保通信的合法性。

rfid芯片中使用随机数发生器产生随机数，一般地，随机数发生器先接收一个随机数初始值，这个随机数的初始值可能来自于物理随机源，也有可能是一个固定值，然后根据随机数算法进行产生随机数的运算，运算完成后，随机数发生器输出的值即为产生的随机数，供安全认证使用。

在设计中，为了尽量提高随机数发生器产生的随机数的随机性，通常是芯片上电之后就使随机数发生器开始工作。但当rfid芯片进行量产测试时，由于每颗芯片的上电时间不同，导致其在进行安全认证时使用的随机数也不尽相同，这就需要量产测试程序针对不同芯片的随机数去写不同的安全认证测试程序，极大的增加了量产测试程序的复杂度和并行测试的难度。

技术实现要素：

为了克服上述问题，本发明提出一种适合量产测试的rfid芯片随机数产生方法，使用本方法既可以满足rfid芯片在正常工作模式时对随机数随机性要求，又可以在量产测试模式时使芯片使用特定的随机数，这样所有芯片可以使用同样的随机数进行安全认证测试，极大的简化了量产测试程序的复杂度，使所有芯片在量产测试时都使用同样的测试程序，有利于并行测试。

一种适合量产测试的rfid芯片随机数产生方法，其特征在于当芯片工作在非量产测试模式时，随机数发生器正常产生随机数供安全认证运算使用。当芯片工作在量产测试模式时，随机数发生器产生特定的随机数供安全认证运算使用。这样可以保证在正常工作模式时，不同芯片都产生不同的随机数，不影响安全认证的保密性；而当芯片在量产测试模式时，不同的芯片都产生相同的特定的随机数供安全认证运算使用，所有芯片可以使用同样的量产测试程序，简化了量产测试程序，有利于并行测试。

本发明还提出一种适合量产测试的rfid芯片随机数产生装置，包括运算器，串行移位寄存器和选择器。

如图1所示，所述运算器的作用是完成随机数产生所需要的运算，并将运算结束后的数据反馈给串行移位寄存器。所述运算器的输入一路为随机数发生器的初始值，另一路连接串行移位寄存器的输出，其输出分两路，分别连接至串行移位寄存器寄存器的输入和选择器的输入。

如图1所示，所述串行移位寄存器的作用是配合运算器完成随机数的产生。所述串行移位寄存器的输入运算器的输出，其输出连接运算器。

如图1所示，所述选择器的作用是根据当前的工作模式选择最后输出的数据，当前工作模式为正常工作模式时，选择器选择运算器输出这一路的输入信号作为选择器的输出。当前工作模式为测试模式时，选择器选择特定的随机数这一路的输入信号作为选择器的输出。所述选择器的输入分别连接运算器的输出和测试模式下特定的随机数，其输出即为随机数发生器的输出信号，连接至需要随机数的电路。

附图说明

图1为本发明提出的一种适合量产测试的rfid芯片随机数产生装置的结构图。

图2为本发明提出的一种适合量产测试的rfid芯片随机数产生方法流程图。

具体实施方式

以下根据附图，具体说明本装置的较佳实施例。

如图1所示，所述运算器的输入一路为随机数发生器的初始值，另一路连接串行移位寄存器的输出，其输出分两路，分别连接至串行移位寄存器寄存器的输入和选择器的输入。

如图1所示，所述串行移位寄存器的输入连接所述运算器的输出，其输出连接所述运算器的输出。

如图1所示，所述选择器的输入一路为所述运算器的输出，另一路连接特定随机数，其输出即为输出随机数，连接至需要随机数的电路。

如图2所示，芯片上电完成后会判断当前工作模式是否是量产测试模式，如果不是量产测试模式，则选择器选择运算器的输出作为输出随机数，此时不同芯片的随机数是不同的，满足非量产测试模式下安全认证的加密性要求。如果是量产测试模式，则选择器选择特定的随机数作为输出随机数，此时所有芯片的随机数都是相同的，由于安全认证需要用到随机数，所以安全认证的测试程序也是相同的，大大简化了量产测试程序的复杂度，提高了并行测试的可行性。

尽管本发明的内容已经通过上述优选实施例作了详细介绍，在本领域技术人员阅读了上述内容后，对于本发明的多种修改和替代都将是显而易见的。以上的描述和附图仅仅是实施本发明的范例，但应当认识到上述的描述不应被认为是对本发明的限制。

技术特征：

1.一种适合量产测试的rfid芯片随机数产生装置，其特征在于，包含：运算器，移位寄存器和选择器。

2.如权利要求1所述的运算器，其特征在于其输入分为两路，一路连接随机数初始值，另一路连接所述移位寄存器的输出；其输出连接所述选择器。运算器完成随机数产生所需要的运算。

3.如权利要求1所述的移位寄存器，其特征在于其输入连接所述运算器的输出；其输出连接所述运算器的输入。与所述运算器一起完成正常工作模式下随机数产生的功能。

4.如权利要求1所述的选择器，其特征在于其输入分为两路，一路连接供良辰测试模式使用的特定的随机数，另一路连接所述运算器的输出；其输出为随机数发生器输出随机数，连接至其他功能模块完成安全认证运算。

5.一种适合量产测试的rfid芯片随机数产生方法，其特征在于，rfid芯片完成上电后首先判断芯片是否在量产测试模式。

6.如权利要求5所述的一种适合量产测试的rfid芯片随机数产生方法，其特征在于如果上电完成后判断芯片不是量产测试模式，则选择器选择运算器的输出作为随机数发生器的输出随机数，保证非量产测试模式下随机数的随机性。

7.如权利要求5所述的一种适合量产测试的rfid芯片随机数产生方法，其特征在于如果上电后判断芯片是量产测试模式，则选择特定的随机数作为随机数发生器的输出随机数，所有芯片可以使用相同的测试程序，简化量产测试程序的复杂度，降低并行测试的难度。

技术总结
本发明提出一种适合量产测试的RFID芯片随机数产生装置和方法，其特征在于，包括：运算器，串行移位寄存器和选择器。RFID芯片上电后首先判断当前是否是量产测试模式，如果当前不是量产测试模式，选择器选择特定的随机数作为随机数发生器的输出；如果当前是量产测试模式，选择器选择运算器的输出作为随机数发生器的输出。采用本发明既可以满足非量产测试模式下RFID芯片安全认证对随机数随机性的要求，又可以在量产测试模式下对不同的芯片使用相同的测试程序，简化了量产测试程序的复杂度，有利于并行测试。

技术研发人员：孙晓霞;张建伟
受保护的技术使用者：上海明矽微电子有限公司;张建伟
技术研发日：2019.09.12
技术公布日：2019.11.15