用于测试UFS芯片的测试板、系统及测试方法与流程

本说明书涉及存储器测试，具体涉及一种用于测试ufs芯片的测试板、系统及测试方法。

背景技术：

1、ufs芯片((universal flash storage存储芯片)正越来越多的应用于各种电子设备中，例如安装于手机平台。但是由于操作系统被安装在ufs芯片中，在进行芯片测试时，由于操作系统测得存在，无法检测芯片的全部区域，也无法执行掉电续测、错误注入等测试项目，此外，目前ufs芯片的测试过程，多使用一些较为通用的测试工具，按照预设的项目自动执行测试过程，测试人员无法进行自定义项目的测试。

技术实现思路

1、因此，为了克服上述现有技术的缺点，本发明提供一种用于测试ufs芯片的测试板、系统及测试方法，其中用于测试ufs芯片的测试板能够检测ufs芯片中的全部区域，能够执行自定义的测试项目。

2、为了实现上述目的，本发明提供以下技术方案：

3、一种用于测试ufs芯片的测试板，包括：

4、安装待测ufs芯片用的测试板，以及安装在所述测试板上的访问控制芯片，所述访问控制芯片安装有安卓系统，所述安卓系统设置有自定义的ufs驱动接口，以初始化及访问所述待测ufs芯片；

5、在初始化所述待测ufs芯片后，所述ufs驱动接口用于向所述待测ufs芯片发送第一数据和接收第二数据，其中，所述第一数据包括ufs测试命令，所述第二数据包括所述待测ufs芯片对应所述ufs测试命令生成的反馈信息。

6、在上述方案中，访问控制芯片和待测ufs芯片被安装在同一张测试板上，并且访问控制芯片中安装有安卓系统，利用安卓系统可以同时支持访问控制芯片和待测ufs芯片的特点，并且通过对ufs驱动接口进行自定义，使得安卓系统可以访问待测ufs芯片的全部区域，并且能够与待测ufs芯片进行数据交互，执行全区域测试和自定义测试，对ufs芯片进行充分的白盒测试和黑盒测试。

7、本发明还提供一种方案，所述ufs驱动接口包括ufs协议实现层和驱动适配层；

8、所述ufs协议实现层用于将所述ufs检测指令封装为第一upiu数据，并将所述第一upiu数据下发至所述驱动适配层；

9、所述驱动适配层用于将所述第一upiu数据加入驱动执行命令队列中。

10、本发明还提供一种方案，所述ufs测试命令包括scsi命令、query命令、taskmanagement命令、dme命令和response命令中的至少一种或任意组合。

11、本发明还提供一种方案，所述ufs协议实现层还用于将来自所述安卓系统的控制指令封装为第二upiu数据，所述驱动适配层还用于识别所述第一upiu数据和所述第二upiu数据，并将识别后的所述第一upiu数据送入第一流程，所述第一流程用于根据所述第一数据反馈所述第二数据。

12、本发明还提供一种方案，所述驱动适配层还用于清除所述第二upiu数据中的掉电命令。

13、本发明还提供一种方案，所述ufs驱动接口包括ioctl设备控制接口函数，所述安卓系统通过所述ioctl设备控制接口函数访问所述ufs芯片。

14、本发明还提供一种方案，所述ioctl设备控制接口函数包括wellknowlun类函数、normallun类函数、command类函数、buffer类函数中的至少一种或任意组合。

15、本发明还提供一种方案，所述ioctl设备控制接口函数还包括iufsdriver类，用于将所述ufs测试命令发送至驱动层。

16、本发明还提供一种方案，所述测试板还设置有连接所述访问控制芯片和所述待测ufs芯片的掉电控制模块，所述掉电控制模块用于在所述访问控制芯片的控制下切断和恢复所述待测ufs芯片的电源供应，所述ufs驱动接口还用于在所述待测ufs芯片重新上电后，向所述待测ufs芯片发送所述第一数据和接收所述第二数据。

17、本发明还提供一种用于测试ufs芯片的测试系统，所述测试系统包括电源、上位机以及至少一块如上述任意一项所述的用于测试ufs芯片的测试板。

18、本发明还提供一种ufs芯片的测试方法，包括以下步骤：

19、将待测usf芯片安装在如上述任意一项所述的用于测试ufs芯片的测试板上；

20、在所述测试板上电后，向所述待测usf芯片发送ufs测试命令；

21、接收从所述待测usf芯片反馈的对应所述ufs测试命令的反馈信息，所述反馈信息用于评判测试结果。

22、与现有技术相比，本说明书实施例采用的上述至少一个技术方案能够达到的有益效果至少包括：通过在测试板上增加一块安装有安卓系统的访问控制芯片，并利用安卓系统可以同时支持访问控制芯片和ufs芯片的特点，并对安卓系统的数据接口进行自定义改造，使得访问控制芯片中的安卓系统可以初始化待测ufs芯片，且能够与待测ufs芯片进行数据交互，从而解决了操作系统安装在ufs芯片时无法进行全区域测试的问题，并且可以通过自定义的数据接口向待测ufs芯片输入自定义的测试指令并接收反馈信息，从而执行自定义的测试，使得测试项目更加全面、灵活，能够充分地执行白盒测试和黑盒测试。

技术特征：

1.一种用于测试ufs芯片的测试板，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的用于测试ufs芯片的测试板，其特征在于，所述ufs驱动接口包括ufs协议实现层和驱动适配层；

3.根据权利要求2所述的用于测试ufs芯片的测试板，其特征在于，所述ufs测试命令包括scsi命令、query命令、taskmanagement命令、dme命令和response命令中的至少一种或任意组合。

4.根据权利要求2所述的用于测试ufs芯片的测试板，其特征在于，所述ufs协议实现层还用于将来自所述安卓系统的控制指令封装为第二upiu数据，所述驱动适配层还用于识别所述第一upiu数据和所述第二upiu数据，并将识别后的所述第一upiu数据送入第一流程，所述第一流程用于根据所述第一数据反馈所述第二数据。

5.根据权利要求4所述的用于测试ufs芯片的测试板，其特征在于，所述驱动适配层还用于清除所述第二upiu数据中的掉电命令。

6.根据权利要求1所述的用于测试ufs芯片的测试板，其特征在于，所述ufs驱动接口包括ioctl设备控制接口函数，所述安卓系统通过所述ioctl设备控制接口函数访问所述ufs芯片。

7.根据权利要求6所述的用于测试ufs芯片的测试板，其特征在于，所述ioctl设备控制接口函数包括wellknowlun类函数、normallun类函数、command类函数、buffer类函数中的至少一种或任意组合。

8.根据权利要求6所述的用于测试ufs芯片的测试板，其特征在于，所述ioctl设备控制接口函数还包括iufsdriver类，用于将所述ufs测试命令发送至驱动层。

9.根据权利要求1所述的用于测试ufs芯片的测试板，其特征在于，所述测试板还设置有连接所述访问控制芯片和所述待测ufs芯片的掉电控制模块，所述掉电控制模块用于在所述访问控制芯片的控制下切断和恢复所述待测ufs芯片的电源供应，所述ufs驱动接口还用于在所述待测ufs芯片重新上电后，向所述待测ufs芯片发送所述第一数据和接收所述第二数据。

10.一种用于测试ufs芯片的测试系统，其特征在于，所述测试系统包括电源、上位机以及至少一块如权利要求1～9中任意一项所述的用于测试ufs芯片的测试板。

11.一种ufs芯片的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

技术总结
本说明书实施例提供一种用于测试UFS芯片的测试板、系统及测试方法，其中用于测试UFS芯片的测试板，包括测试板本身以及安装在其上的访问控制芯片，访问控制芯片安装有安卓系统，安卓系统设置有自定义的UFS驱动接口用来初始化及访问待测UFS芯片；在初始化待测UFS芯片后，UFS驱动接口用于向待测UFS芯片发送第一数据和接收第二数据，其中，第一数据包括UFS测试命令，第二数据包括待测UFS芯片对应UFS测试命令生成的反馈信息。利用安卓系统可以同时支持访问控制芯片和UFS芯片的特点，对驱动接口进行自定义改造，使得安装在访问控制芯片中的安卓系统能够访问待测UFS芯片的全部区域，进行数据交互，并允许加入自定义的测试项目，进行充分的白盒测试和黑盒测试。

技术研发人员：赵国杰
受保护的技术使用者：上海江波龙数字技术有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/3/11