背景技术：
1、包括接近传感器设备（例如，触摸垫或触摸传感器设备）的输入设备广泛地在各种各样的电子系统中使用。接近传感器设备典型地包括通常由表面区分的感测区域，其中接近传感器设备确定一个或多个输入对象的存在、位置或运动。接近传感器设备可以用于为电子系统提供接口。例如，接近传感器设备通常用作用于较大的计算系统的输入设备（诸如，集成于笔记本或台式计算机中或在笔记本或台式计算机外围的不透明触摸垫）。接近传感器设备通常与显示设备组合以作为输入-显示设备（诸如，集成于蜂窝电话中的触摸屏）操作。
2、一些接近传感器设备配置成检测电容笔信号。响应于电容笔检测到来自接近传感器设备的上行链路信号，电容笔发射电容笔信号。接近传感器设备发射电容笔的尖端中的传感器检测到的上行链路信号。电容笔中的检测电路使用电容笔的主体作为参考。即，检测电路基于来自电容笔尖端的信号与来自电容笔主体的信号之间的差异而检测上行链路信号。然而，当接近传感器设备发射上行链路信号并且用户的手掌在感测区域中时，用户的手的手掌和电容笔尖端两者接收相同信号。因此，用户的手掌使相同的上行链路信号耦合到电容笔主体，使得电容笔主体和电容笔尖端两者接收相同信号。在此情况下，该差异将为零，因此检测电路不检测上行链路信号。因此，电容笔不发射电容笔信号，并且接近传感器设备不检测电容笔。
技术实现思路
1、 一般地，本公开的目的是描述一种处理系统，其配置成检测接近处理系统的输入对象。在示例性实施例中，处理系统包括传感器电路系统，传感器电路系统配置成当处理系统处于低接地质量（low ground mass）（lgm）状态时，作出大对象接近处理系统的传感器电极的确定。传感器电路系统进一步配置成响应于当处理系统处于lgm状态时大对象接近传感器电极的确定，利用反转信号或非反转信号中的一个来驱动传感器电极的第一群组，并且利用静态dc电压来驱动传感器电极的第二群组。
2、本公开的另一目的是描述一种检测接近处理系统的输入对象的方法。该方法包括：i）作出处理系统处于低接地质量（lgm）状态的确定；以及ii）作出大对象接近处理系统的传感器电极的确定。响应于处理系统处于lgm状态并且大对象接近处理系统的传感器电极的确定，该方法还包括利用反转信号或非反转信号中的一个来驱动传感器电极的第一群组并且利用静态dc电压来驱动传感器电极的第二群组。
3、本公开的另一目的是描述一种输入设备，其配置成检测接近输入设备的输入对象。输入设备包括：传感器电极，其配置成将上行链路信号发射到输入对象；和处理系统，其耦合到传感器电极。处理系统配置成作出输入设备处于低接地质量（lgm）状态的确定并且作出大对象接近传感器电极的确定。响应于输入设备处于lgm状态并且大对象接近传感器电极的确定，处理系统利用反转信号或非反转信号中的一个来驱动传感器电极的第一群组并且利用静态dc电压来驱动传感器电极的第二群组。
4、本公开的其他方面将从以下的描述和所附权利要求明显可见。
1.一种处理系统，其配置成检测接近所述处理系统的输入对象，包括：
2.根据权利要求1所述的处理系统，其中所述静态dc电压是系统接地电压。
3.根据权利要求1所述的处理系统，其中所述多个传感器电极布置成传感器电极列和传感器电极行，其中所述传感器电极列与所述传感器电极行基本上正交，并且其中所述传感器电路系统配置成独立于所述传感器电极行而驱动所述传感器电极列。
4.根据权利要求3所述的处理系统，其中所述多个传感器电极的所述第一群组包括与其中所述大对象接近所述多个传感器电极的位置相交的至少一个传感器电极行。
5.根据权利要求4所述的处理系统，其中所述多个传感器电极的所述第一群组包括与其中所述大对象接近所述多个传感器电极的所述位置相交的至少一个传感器电极列。
6.根据权利要求5所述的处理系统，其中所述多个传感器电极的所述第二群组包括不与其中所述大对象接近所述多个传感器电极的所述位置相交的至少一个传感器电极行。
7.根据权利要求6所述的处理系统，其中所述多个传感器电极的所述第二群组包括不与其中所述大对象接近所述多个传感器电极的所述位置相交的至少一个传感器电极列。
8.一种检测接近处理系统的输入对象的方法，包括：
9.根据权利要求8所述的方法，其中所述静态dc电压是系统接地电压。
10.根据权利要求9所述的方法，其中所述多个传感器电极布置成传感器电极列和传感器电极行，其中所述传感器电极列与所述传感器电极行基本上正交，并且其中驱动所述第一群组独立于驱动所述第二群组。
11.根据权利要求10所述的方法，其中所述多个传感器电极的所述第一群组包括与其中所述大对象接近所述多个传感器电极的位置相交的至少一个传感器电极行。
12.根据权利要求11所述的方法，其中所述多个传感器电极的所述第一群组包括与其中所述大对象接近所述多个传感器电极的所述位置相交的至少一个传感器电极列。
13.根据权利要求12所述的方法，其中所述多个传感器电极的所述第二群组包括不与其中所述大对象接近所述多个传感器电极的所述位置相交的至少一个传感器电极行。
14.根据权利要求13所述的方法，其中所述多个传感器电极的所述第二群组包括不与其中所述大对象接近所述多个传感器电极的所述位置相交的至少一个传感器电极列。
15. 一种输入设备，其配置成检测接近所述输入设备的输入对象，所述输入设备包括：
16.根据权利要求15所述的输入设备，其中所述静态dc电压是系统接地电压。
17.根据权利要求15所述的输入设备，其中所述多个传感器电极布置成传感器电极列和传感器电极行，其中所述传感器电极列与所述传感器电极行基本上正交，并且其中所述处理系统配置成独立于所述传感器电极行而驱动所述传感器电极列。
18.根据权利要求17所述的输入设备，其中所述多个传感器电极的所述第一群组包括与其中所述大对象接近所述多个传感器电极的位置相交的至少一个传感器电极行。
19.根据权利要求18所述的输入设备，其中所述多个传感器电极的所述第一群组包括与其中所述大对象接近所述多个传感器电极的所述位置相交的至少一个传感器电极列。
20. 根据权利要求19所述的输入设备，其中所述多个传感器电极的所述第二群组包括：