芯片设计的仿真验证方法、装置、计算机设备及存储介质与流程

本申请实施例涉及芯片设计，尤其涉及一种芯片设计的仿真验证方法、装置、计算机设备及存储介质。

背景技术：

1、芯片设计是指用于asic(application specific integrated circuit，专用集成电路)、soc(system-on-chip，片上系统芯片)等集成电路的设计。为验证芯片设计是否符合预期，需要对芯片设计进行仿真验证；例如，构建并利用验证环境对芯片设计的测试数据进行验证，从而验证芯片设计的功能是否符合预期。

2、随着芯片设计的规模越来越大、功能越来越复杂，芯片设计所需仿真验证的测试数据中，所包括的不同芯片设计功能对应的测试数据量越来越多，这导致芯片设计的仿真验证速度越来越慢。在此背景下，如何提高芯片设计的仿真验证效率，成为了本领域技术人员亟需解决的技术问题。

技术实现思路

1、本申请实施例解决的技术问题是如何提高芯片设计的仿真验证效率。

2、为解决上述问题，本申请实施例提供如下技术方案。

3、第一方面，本发明实施例提供一种芯片设计的仿真验证方法，包括：

4、获取芯片设计在测试场景需验证的多个设计模块；

5、确定所述多个设计模块中的第一设计模块和第二设计模块，所述第一设计模块与所述第二设计模块不同，所述第二设计模块与所述测试场景的测试目标相关联；

6、从空壳库中调用所述第一设计模块对应的空壳文件，根据所述第一设计模块对应的空壳文件，在所述测试场景的验证环境中实例化所述第一设计模块，以使得所述第一设计模块实例化为空壳模块；以及，在所述验证环境中实例化所述第二设计模块；

7、对验证环境中实例化的第一设计模块和第二设计模块进行验证；

8、其中，所述空壳库至少存储有与芯片设计的测试目标不存在关联的设计模块的空壳文件，设计模块的空壳文件为设计模块的输入功能和输出功能对应的模块文件。

9、第二方面，本发明实施例提供一种芯片设计的仿真验证装置，包括：

10、芯片设计获取模块，用于获取芯片设计在测试场景需验证的多个设计模块；

11、实例化模块，用于确定所述多个设计模块中的第一设计模块和第二设计模块，所述第一设计模块与所述第二设计模块不同，所述第二设计模块与所述测试场景的测试目标相关联；从空壳库中调用所述第一设计模块对应的空壳文件，根据所述第一设计模块对应的空壳文件，在所述测试场景的验证环境中实例化所述第一设计模块，以使得所述第一设计模块实例化为空壳模块；以及，在所述验证环境中实例化所述第二设计模块；

12、仿真验证模块，用于对验证环境中实例化的第一设计模块和第二设计模块进行验证；

13、其中，所述空壳库至少存储有与芯片设计的测试目标不存在关联的设计模块的空壳文件，设计模块的空壳文件为设计模块的输入功能和输出功能对应的模块文件。

14、第三方面，本发明实施例还提供了一种计算机设备，包括存储器，处理器，所述存储器存储有如第一方面所述的芯片设计的仿真验证方法的程序，所述处理器调用所述存储器中存储的程序。

15、第四方面，本发明实施例还提供了一种存储介质，存储有计算机程序，所述计算机程序执行时实现如第一方面所述的芯片设计的仿真验证方法。

16、在本发明实施例提供的芯片设计的仿真验证方法，通过获取芯片设计在测试场景需验证的多个设计模块；确定多个设计模块中的第一设计模块和第二设计模块，所述第一设计模块与所述第二设计模块不同，所述第二设计模块与所述测试场景的测试目标相关联；然后进行设计模块的实例化，在所述测试场景的验证环境实例化设计模块时，从空壳库中调用所述第一设计模块对应的空壳文件，根据所述第一设计模块对应的空壳文件，在所述测试场景的验证环境中实例化所述第一设计模块，以使得所述第一设计模块实例化为空壳模块；以及，在所述验证环境中实例化所述第二设计模块；最后对验证环境中实例化的第一设计模块和第二设计模块进行验证；其中，所述空壳库至少存储有与芯片设计的测试目标不存在关联的设计模块的空壳文件，设计模块的空壳文件为设计模块的输入功能和输出功能对应的模块文件。

17、可见，本发明实施例所提供的技术方案，通过在进行芯片设计的验证时，对芯片设计中的多个设计模块进行分析，确定与测试场景的测试目标相关联的设计模块定义为第二设计模块，并将与第二设计模块不同的设计模块定义为第一设计模块；然后在对设计模块进行实例化的过程中，可以从空壳库中调用第一设计模块对应的空壳文件；由于空壳文件是设计模块的输出功能和输入功能对应的模块文件，且第一设计模块是与第二设计模块不同的，即第一设计模块是与测试场景的测试目标不存在关联的设计模块；从而在调用第一设计模块对应的空壳文件并完成第一设计模块的实例化，得到第一设计模块实例化之后的空壳模块时，能够在不影响芯片设计的仿真验证的基础上，可以降低对芯片设计的仿真验证时，实例化与测试场景的测试目标不存在关联的第一设计模块所需的时间，进而降低仿真验证芯片设计的整体时间，提高芯片设计的仿真验证效率。

技术特征：

1.一种芯片设计的仿真验证方法，其特征在于，包括：

2.如权利要求1所述的芯片设计的仿真验证方法，其特征在于，还包括：

3.如权利要求2所述的芯片设计的仿真验证方法，其特征在于，所述至少确定所述芯片设计中与测试目标不存在关联的设计模块，包括：

4.如权利要求3所述的芯片设计的仿真验证方法，其特征在于，所述至少确定所述芯片设计中与测试目标不存在关联的设计模块包括：

5.如权利要求3所述的芯片设计的仿真验证方法，其特征在于，所述针对所述芯片设计的测试用例，至少确定测试用例中与对应的测试场景目标不存在关联的设计模块，以得到测试用例中与测试目标不存在关联的设计模块，包括：

6.如权利要求2所述的芯片设计的仿真验证方法，其特征在于，还包括：

7.如权利要求6所述的芯片设计的仿真验证方法，其特征在于，所述空壳文件中的输出功能和所述实体文件中的输出功能的激励信号均采用弱驱动的赋值方式进行设置。

8.如权利要求1所述的芯片设计的仿真验证方法，其特征在于，所述确定述多个设计模块中的第一设计模块和第二设计模块，包括：

9.如权利要求8所述的芯片设计的仿真验证方法，其特征在于，所述控制指令为控制指令参数，所述控制指令参数通过仿真工具的控制界面进行输入；其中，所述控制界面为将芯片设计中与测试目标不存在关联的设计模块，编译为空壳模块的操作界面；

10.如权利要求9所述的芯片设计的仿真验证方法，其特征在于，所述获取仿真工具的控制指令的步骤之前，还包括：

11.如权利要求10所述的芯片设计的仿真验证方法，其特征在于，还包括：

12.如权利要求1-11任一项所述的芯片设计的仿真验证方法，其特征在于，所述对验证环境中实例化的第一设计模块和第二设计模块进行验证的步骤之后，还包括：

13.一种芯片设计的仿真验证装置，其特征在于，包括：

14.如权利要求13所述的芯片设计的仿真验证装置，其特征在于，还包括：

15.如权利要求14所述的芯片设计的仿真验证装置，其特征在于，所述文件库设置模块，还用于确定所述芯片设计中与测试目标相关联的设计模块；针对所确定的设计模块，根据设计模块的各个逻辑功能、输入功能和输出功能定义设计模块的实体文件，将定义的设计模块的实体文件，编译到实体库中；其中所述空壳文件与所述实体文件的文件名称相同，且所述空壳库和所述实体库为相互独立的文件库。

16.如权利要求15所述的芯片设计的仿真验证装置，其特征在于，所述空壳文件的输出功能和所述实体文件的输出功能的激励信号均采用弱驱动的赋值方式进行设置。

17.如权利要求13所述的芯片设计的仿真验证装置，其特征在于，所述实例化模块，用于确定所述多个设计模块中的第一设计模块和第二设计模块，包括：

18.如权利要求17所述的芯片设计的仿真验证装置，其特征在于，所述控制指令为控制指令参数，所述控制指令参数通过仿真工具的控制界面进行输入；其中，所述控制界面为将芯片设计中与测试目标不存在关联的设计模块，编译为空壳模块的选项；

19.如权利要求13-18任一项所述的设计的仿真验证装置，其特征在于，还包括：

20.一种计算机设备，其特征在于，包括存储器，处理器，所述存储器存储有如权利要求1-12任一项所述的芯片设计的仿真验证方法的程序，所述处理器调用所述存储器中存储的程序。

21.一种存储介质，其特征在于，存储有计算机程序，所述计算机程序执行时实现如权利要求1-12任一项所述的芯片设计的仿真验证方法。

技术总结
本发明实施例提供一种芯片设计的仿真验证方法、装置、计算机设备及存储介质，其中，所述方法包括：获取芯片设计在测试场景需验证的多个设计模块；确定多个设计模块中的第一设计模块和第二设计模块，第一设计模块与第二设计模块不同，第二设计模块与测试场景的测试目标相关联；从空壳库中调用第一设计模块对应的空壳文件，以在测试场景的验证环境中实例化第一设计模块为空壳模块；在验证环境中实例化第二设计模块；验证实例化的第一设计模块和第二设计模块，空壳库至少存储有与测试目标不存在关联的设计模块的空壳文件，空壳文件为设计模块的输入功能和输出功能对应的模块文件。本申请实施例提供的技术方案，可提高芯片设计的仿真验证效率。

技术研发人员：王周陆
受保护的技术使用者：成都海光集成电路设计有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/12