一种半导体集成电路自动测试机测试数据处理方法与流程

本申请涉及数据处理，尤其涉及一种半导体集成电路自动测试机测试数据处理方法。

背景技术：

1、现有的自动测试机测试数据通常存储为一个文件，包含所有器件的测试结果，为使测试结果与器件编号一一对应，需要制作器件编号和测试编号对应表，而且每只器件原始测试数据相互独立，并且包含较多冗余数据，难以获得有效信息，更难实现数据比对分析，不利于发现半导体集成电路个体及批次间差异。人工逐份处理数据效率低且容易出错。

技术实现思路

1、有鉴于此，本申请的目的在于提出一种半导体集成电路自动测试机测试数据处理方法，以解决数据处理效率低易出错的问题。

2、基于上述目的，本申请提供了一种半导体集成电路自动测试机测试数据处理方法，包括：

3、调取预存储的多个测试文件至表格的多个工作表，所述多个测试文件与所述多个工作表一一对应，每一所述测试文件包括多个测试数据；

4、在所述多个工作表中确定一目标工作表，对所述目标工作表中的数据进行处理，并存储该处理过程，其中所述处理过程包括：在所述目标工作表中的多个所述测试数据中提取多个目标数据，对多个目标数据进行计算，得到所述目标工作表的有效测试数据；

5、调用所述处理过程，对其余工作表中的数据进行处理，得到其余工作表的有效测试数据。

6、进一步的，所述测试文件的预存储过程，包括：

7、获取测试文件，所述测试文件由自动测试机测试待测试器件获得；

8、将所述测试文件保存至文件夹内，所述测试文件的名称为所述待测试器件的编号，所述文件夹的名称为所述测试文件的测试类型。

9、进一步的，所述调取预存储的多个测试文件至表格的多个工作表，所述多个测试文件与所述多个工作表一一对应，每一所述测试文件包括多个测试数据，包括：

10、将预存储的多个测试文件均转换为csv格式，得到多个csv测试文件；

11、在表格中批量打开多个csv测试文件，每一所述csv测试文件中的多个测试数据在表格的一工作表中显示。

12、进一步的，所述将预存储的多个测试文件转换为csv格式，得到多个csv测试文件，包括：

13、基于所述多个测试文件建立cmd文件，其中，所述cmd文件的内容为“ren*.**.csv”；

14、运行所述cmd文件，将所述多个测试文件转为csv格式，得到csv测试文件。

15、进一步的，每一所述目标数据对应一类别标签；

16、所述对多个目标数据进行计算，得到所述目标工作表的有效测试数据，包括：

17、对每一类别标签的多个目标数据进行计算，得到该类别标签对应的有效测试数据。

18、进一步的，所述对多个目标数据进行计算，包括：

19、对多个目标数据进行取最大、取最小、取和、取绝对值或取倍数计算。

20、进一步的，所述在表格中批量打开多个csv测试文件，包括：

21、建立表格；

22、在所述表格的开发工具功能区建立合并模块；

23、运行所述合并模块，以在所述表格中打开所述多个csv测试文件。

24、进一步的，所述在所述目标工作表中的多个所述测试数据中提取多个目标数据，之前还包括：

25、对所述目标工作表中包含多个测试数据的单元格进行分列处理，使得每一测试数据位于一单元格中。

26、进一步的，所述处理方法还包括，将多个工作表中的多个有效测试数据进行汇总显示。

27、进一步的，所述将多个工作表中的多个有效测试数据进行汇总显示，包括：

28、在所述表格中建立一汇总工作表；

29、在所述汇总工作表的第一单元格内建立第一函数，并在与所述第一单元格纵向连续的多个第一延续单元格内扩展所述第一函数，以批量提取多个工作表的名称；

30、在所述第二单元格内建立第二函数，并在与所述第二单元格纵向连续的多个第二延续单元格内扩展所述第二函数，以批量提取多个工作表中的多个有效测试数据；

31、其中，所述第一单元格与所述第二单元格横向对应设置，所述多个第一延续单元格与所述多个第二延续单元格一一横向对应设置。

32、从上面所述可以看出，本申请提供的一种半导体集成电路自动测试机测试数据处理方法，将多个测试文件在表格内批量打开，并在表格内对多个测试文件包含的多个测试数据批量进行目标数据提取和计算得到有效测试数据，实现了批量计算有效测试数据的目的，且在提高数据处理准确性的基础上提高了数据处理的工作效率。

技术特征：

1.一种半导体集成电路自动测试机测试数据处理方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的一种半导体集成电路自动测试机测试数据处理方法，其特征在于，所述测试文件的预存储过程，包括：

3.根据权利要求1所述的一种半导体集成电路自动测试机测试数据处理方法，其特征在于，所述调取预存储的多个测试文件至表格的多个工作表，所述多个测试文件与所述多个工作表一一对应，每一所述测试文件包括多个测试数据，包括：

4.根据权利要求3所述的一种半导体集成电路自动测试机测试数据处理方法，其特征在于，所述将预存储的多个测试文件转换为csv格式，得到多个csv测试文件，包括：

5.根据权利要求1所述的一种半导体集成电路自动测试机测试数据处理方法，其特征在于，每一所述目标数据对应一类别标签；

6.根据权利要求1所述的一种半导体集成电路自动测试机测试数据处理方法，其特征在于，所述对多个目标数据进行计算，包括：

7.根据权利要求3所述的一种半导体集成电路自动测试机测试数据处理方法，其特征在于，所述在表格中批量打开多个csv测试文件，包括：

8.根据权利要求1所述的一种半导体集成电路自动测试机测试数据处理方法，其特征在于，所述在所述目标工作表中的多个所述测试数据中提取多个目标数据，之前还包括：

9.根据权利要求1所述的一种半导体集成电路自动测试机测试数据处理方法，其特征在于，还包括，将多个工作表中的多个有效测试数据进行汇总显示。

10.根据权利要求9所述的一种半导体集成电路自动测试机测试数据处理方法，其特征在于，所述将多个工作表中的多个有效测试数据进行汇总显示，包括：

技术总结
本申请提供一种半导体集成电路自动测试机测试数据处理方法，包括：调取预存储的多个测试文件至表格的多个工作表，所述多个测试文件与所述多个工作表一一对应，每一所述测试文件包括多个测试数据；在所述多个工作表中确定一目标工作表，对所述目标工作表中的数据进行处理，并存储该处理过程，其中所述处理过程包括：在所述目标工作表中的多个所述测试数据中提取多个目标数据，对多个目标数据进行计算，得到所述目标工作表的有效测试数据；调用所述处理过程，对其余工作表中的数据进行处理，得到其余工作表的有效测试数据。本申请在表格中实现批量处理多个测试数据得到有效测试数据，提高了数据处理效率的同时提高了数据准确性。

技术研发人员：沈郁博,郭晗,常成,席雨,陆涛,王宁,孙铮
受保护的技术使用者：航天科工防御技术研究试验中心
技术研发日：
技术公布日：2024/1/12