检测方法、检测装置、检测设备和计算机可读存储介质与流程

本申请涉及检测，更具体而言，涉及一种检测方法、检测装置、检测设备和非易失性计算机可读存储介质。

背景技术：

1、为了严格把控工厂生产的产品的质量，工厂在将产品生产出来后，都需要对生产出来的产品进行缺陷检测。常常采用的方法是通过人工对产品进行缺陷检测，而人工检测容易出现缺陷漏检的情况。

技术实现思路

1、本申请实施方式提供一种检测方法、检测装置、检测设备和非易失性计算机可读存储介质，以此解决人工检测容易出现缺陷漏检的情况。

2、本申请实施方式的检测方法包括获取原始图像；基于预设的轮询框遍历所述原始图像，以获取多个待测图像；根据多个所述待测图像的像素值及预设模型，确定所述待测图像是否包含缺陷，所述预设模型根据多个模板图像生成，多个所述模板图像根据所述轮询框遍历无缺陷的预设样本图像获取。

3、本申请实施方式的检测装置包括第一获取模块、第二获取模块和第一确定模块。所述第一获取模块用于获取原始图像；所述第二获取模块用于基于预设的轮询框遍历所述原始图像，以获取多个待测图像；所述第一确定模块用于根据多个所述待测图像的像素值及预设模型，确定所述待测图像是否包含缺陷，所述预设模型根据多个模板图像生成，多个所述模板图像根据所述轮询框遍历无缺陷的预设样本图像获取。

4、本申请实施方式的检测设备包括处理器。所述处理器用于获取原始图像；基于预设的轮询框遍历所述原始图像，以获取多个待测图像；根据多个所述待测图像的像素值及预设模型，确定所述待测图像是否包含缺陷，所述预设模型根据多个模板图像生成，多个所述模板图像根据所述轮询框遍历无缺陷的预设样本图像获取。

5、本申请实施方式的计算机可读存储介质包括计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时，使得所述处理器执行所述检测方法。所述检测方法包括获取原始图像；基于预设的轮询框遍历所述原始图像，以获取多个待测图像；根据多个所述待测图像的像素值及预设模型，确定所述待测图像是否包含缺陷，所述预设模型根据多个模板图像生成，多个所述模板图像根据所述轮询框遍历无缺陷的预设样本图像获取。

6、本申请实施方式的检测方法、检测装置、检测设备和非易失性计算机可读存储介质，首先通过轮询框遍历无缺陷的预设样本图像，来获取多个模板图像，并基于多个模板图像生成预设模型，然后通过相机拍摄待测件从而获取原始图像，并通过轮询框遍历整个原始图像来得到多个待测图像，最后将可能存在缺陷的待测图像输入，以根据预设模型对待测图像进行缺陷检测，从而在检测时无需人工参与，只需输入原始图像，然后结合预设模型即可自动实现缺陷检测。

7、本申请的实施方式的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本申请的实施方式的实践了解到。

技术特征：

1.一种检测方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述预设模型为正态分布模型。

3.根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，标准差为多个所述模板图像的像素值均值的标准差，所述检测方法还包括：

4.根据权利要求3所述的检测方法，其特征在于，所述正态分布模型包括样本均值和标准差，所述样本均值为多个所述模板图像的像素值均值的均值，所述根据多个所述待测图像的像素值及预设模型，确定所述待测图像是否包含缺陷，包括：

5.根据权利要求3所述的检测方法，其特征在于，所述样本均值为多个所述模板图像的梯度均值的均值，所述标准差为多个所述模板图像的梯度均值的标准差，所述基于预设的轮询框遍历所述原始图像，以获取多个待测图像，包括：

6.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述基于预设的轮询框遍历所述原始图像，以获取多个待测图像，包括：

7.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，还包括：

8.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述基于预设的轮询框遍历所述原始图像，以获取多个待测图像，包括：

9.根据权利要求8所述的检测方法，其特征在于，还包括：

10.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述预设样本图像和所述原始图像的拍摄场景相同。

11.一种检测装置，其特征在于，包括：

12.一种检测设备，其特征在于，包括处理器，所述处理器用于获取原始图像；基于预设的轮询框遍历所述原始图像，以获取多个待测图像；根据多个所述待测图像的像素值及预设模型，确定所述待测图像是否包含缺陷，所述预设模型根据多个模板图像生成，多个所述模板图像根据所述轮询框遍历无缺陷的预设样本图像获取。

13.一种包含计算机程序的非易失性计算机可读存储介质，所述计算机程序被处理器执行时，使得所述处理器执行权利要求1-10任意一项所述的检测方法。

技术总结
本申请公开一种检测方法、检测装置、检测设备和非易失性计算机可读存储介质。检测方法包括获取原始图像；基于预设的轮询框遍历所述原始图像，以获取多个待测图像；根据多个所述待测图像的像素值及预设模型，确定所述待测图像是否包含缺陷，所述预设模型根据多个模板图像生成，多个所述模板图像根据所述轮询框遍历无缺陷的预设样本图像获取。如此，在检测时无需人工参与，只需输入原始图像，然后结合预设模型即可自动实现缺陷检测。

技术研发人员：陆佳磊,李宝同,包振健
受保护的技术使用者：凌云光技术股份有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/12