工控芯片产品的量产信息烧码方法、装置和计算机设备与流程

本发明涉及固态硬盘，特别是涉及一种工控芯片产品的量产信息烧码方法、装置、计算机设备和存储介质。

背景技术：

1、工控芯片在封装产品后需要进行ft(function test)测试，就是在每颗ic封装后对ic的功能还有其规定标准进行测试，以检测该ic是否符合出厂要求。对测试合格的产品会进行量产信息的记录，一般会采用数据烧码的形式记录在产品内部。

2、目前，传统的产品数据烧码方法是将量产信息写入到芯片内部的otp(one timeprogrammable)或者efuse模块中，其中，待烧码数据需要按照模块规定的烧写时序才可写入模块内，并且对烧码数据进行校验时，也需要按照模块规定的读时序才能正确读出数据，增加了产品成本，写入量产信息的操作也复杂。

技术实现思路

1、基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种工控芯片产品的量产信息烧码方法、装置、计算机设备和存储介质。

2、一种工控芯片产品的量产信息烧码方法，所述方法包括：

3、下载工控芯片的量产测试程序，所述量产测试程序中包括多个测试项目；

4、对待测工控芯片依次进行每个测试项目的测试；

5、对于通过所有测试项目的工控芯片，将测试过程中的量产信息数据写入工控芯片内部的nor flash存储介质的security register区域中，其中，所述security register区域需要特殊命令才可访问；

6、待量产信息数据写入完成后，擦除所述量产测试程序。

7、在其中一个实施例中，所述量产信息数据包括：量产固件版本号、生产批次、生产日期、bin标记以及芯片id。

8、在其中一个实施例中，所述对待测工控芯片依次进行每个测试项目的测试的步骤之后还包括：

9、当工控芯片有任一项测试不通过时，则直接擦除量产测试程序。

10、在其中一个实施例中，所述方法还包括：

11、当应用程序需要读取工控芯片的量产信息时，通过nor flash存储介质厂商提供的security register读命令将security register区域内存储的数据读出供应用程序解析。

12、一种工控芯片产品的量产信息烧码装置，所述装置包括：

13、程序下载模块，所述程序下载模块用于下载工控芯片的量产测试程序，所述量产测试程序中包括多个测试项目；

14、芯片测试模块，芯片测试模块用于对待测工控芯片依次进行每个测试项目的测试；

15、信息写入模块，所述信息写入模块用于对于通过所有测试项目的工控芯片，将测试过程中的量产信息数据写入工控芯片内部的nor flash存储介质的security register区域中，其中，所述security register区域需要特殊命令才可访问；

16、程序擦除模块，所述程序擦除模块用于待量产信息数据写入完成后，擦除所述量产测试程序。

17、在其中一个实施例中，所述量产信息数据包括：量产固件版本号、生产批次、生产日期、bin标记以及芯片id。

18、在其中一个实施例中，所述芯片测试模块还用于：

19、当工控芯片有任一项测试不通过时，则直接擦除量产测试程序。

20、在其中一个实施例中，所述装置还包括：

21、信息读取模块，所述信息读取模块用于当应用程序需要读取工控芯片的量产信息时，通过nor flash存储介质厂商提供的security register读命令将security register区域内存储的数据读出供应用程序解析。

22、一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述任意一项方法的步骤。

23、一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述任意一项方法的步骤。

24、上述工控芯片产品的量产信息烧码方法、装置、计算机设备和存储介质，通过下载工控芯片的量产测试程序，所述量产测试程序中包括多个测试项目；对待测工控芯片依次进行每个测试项目的测试；对于通过所有测试项目的工控芯片，将测试过程中的量产信息数据写入工控芯片内部的nor flash存储介质的security register区域中，其中，所述security register区域需要特殊命令才可访问；待量产信息数据写入完成后，擦除所述量产测试程序。本发明将量产信息存储在芯片内已集成的nor flash的security register区域，芯片不需要再额外集成otp或efuse模块，实现同样效果的同时可降低产品成本，且读出以及写入量产信息的操作更为简单。

技术特征：

1.一种工控芯片产品的量产信息烧码方法，所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的工控芯片产品的量产信息烧码方法，其特征在于，所述量产信息数据包括：量产固件版本号、生产批次、生产日期、bin标记以及芯片id。

3.根据权利要求2所述的工控芯片产品的量产信息烧码方法，其特征在于，所述对待测工控芯片依次进行每个测试项目的测试的步骤之后还包括：

4.根据权利要求1-3任一项所述的工控芯片产品的量产信息烧码方法，其特征在于，所述方法还包括：

5.一种工控芯片产品的量产信息烧码装置，其特征在于，所述装置包括：

6.根据权利要求5所述的工控芯片产品的量产信息烧码装置，其特征在于，所述量产信息数据包括：量产固件版本号、生产批次、生产日期、bin标记以及芯片id。

7.根据权利要求6所述的工控芯片产品的量产信息烧码装置，其特征在于，所述芯片测试模块还用于：

8.根据权利要求5-7任一项所述的工控芯片产品的量产信息烧码装置，其特征在于，所述装置还包括：

9.一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至4中任一项所述方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至4中任一项所述的方法的步骤。

技术总结
本申请涉及一种工控芯片产品的量产信息烧码方法、装置、计算机设备和存储介质，其中该方法包括：下载工控芯片的量产测试程序，所述量产测试程序中包括多个测试项目；对待测工控芯片依次进行每个测试项目的测试；对于通过所有测试项目的工控芯片，将测试过程中的量产信息数据写入工控芯片内部的Nor Flash存储介质的Security Register区域中，其中，所述Security Register区域需要特殊命令才可访问；待量产信息数据写入完成后，擦除所述量产测试程序。本发明将量产信息存储在芯片内已集成的Nor Flash的Security Register区域，芯片不需要再额外集成OTP或EFUSE模块，实现同样效果的同时可降低产品成本，且读出以及写入量产信息的操作更为简单。

技术研发人员：李华赛,程曼,臧鑫
受保护的技术使用者：苏州忆联信息系统有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/15