基于目标缺陷的处理方法、装置及计算机可读存储介质与流程

本申请实施例涉及数据处理领域，具体涉及一种基于目标缺陷的处理方法、装置及计算机可读存储介质。

背景技术：

1、产品从最初研发到批量交付生产，检测过程中产生的产品缺陷种类和数量会随着研发技术的完善逐渐减少，检测报告中所呈现出来的缺陷信息也随之减少。

2、产品缺陷分为abcd类，对应是致命缺陷、严重缺陷、一般缺陷和轻微缺陷。其中，cd类缺陷大多是轻微缺陷，对整体性能影响不大，轻度影响产品功能，在实际检测过程中可对其进行忽略。由于检测过程中存在较多轻微缺陷时，容易掩盖较为严重的缺陷，且使得整个产品检测过程的分析处理时间较长。

技术实现思路

1、鉴于上述问题，本申请实施例提供了一种目标缺陷的处理方法、装置及计算机可读存储介质，以缩短产品检测过程中的分析处理时长。

2、根据本申请实施例的一个方面，提供了一种基于目标缺陷的处理方法，所述处理方法包括：获取当前批次的产品总数量和当前批次中存在目标缺陷的产品数量；若检测到所述产品总数量大于或等于预设第一数量，且所述存在目标缺陷的产品数量小于或等于预设第二数量，则根据所述产品总数量和所述存在目标缺陷的产品数量，计算得到所述目标缺陷对应的缺陷概率；根据所述缺陷概率与预设概率区间的匹配结果，确定是否对连续累计次数进行累加操作；若检测到所述连续累计次数大于或等于预设次数，则对所述目标缺陷进行降级处理。

3、在一种可选的方式中，所述处理方法还包括：检测所述产品总数量是否大于或等于所述预设第一数量，以及检测所述存在目标缺陷的产品数量是否小于或等于所述预设第二数量；若检测到所述产品总数量小于所述预设第一数量，或者检测到所述存在目标缺陷的产品数量大于所述预设第二数量，则对所述连续累计次数进行重置操作，以使所述连续累计次数重置为初始连续累计次数。

4、在一种可选的方式中，所述根据所述产品总数量和所述存在目标缺陷的产品数量，计算得到所述目标缺陷对应的缺陷概率，进一步包括：将所述存在目标缺陷的产品数量与所述产品总数量进行求商值运算，计算得到商值；将所述商值作为所述目标缺陷对应的缺陷概率。

5、在一种可选的方式中，所述根据所述缺陷概率与预设概率区间的匹配结果，确定是否对连续累计次数进行累加操作，进一步包括：若所述匹配结果表征所述缺陷概率与预设概率区间匹配成功，则确定对连续累计次数进行累加操作；若所述匹配结果表征所述缺陷概率与所述预设概率区间匹配失败，则对所述连续累计次数进行重置操作，以使所述连续累计次数重置为初始连续累计次数。

6、在一种可选的方式中，所述处理方法还包括：检测所述连续累计次数是否大于或等于所述预设次数；若检测到所述连续累计次数小于所述预设次数，则执行获取当前批次的产品总数量和当前批次中存在目标缺陷的产品数量的步骤。

7、在一种可选的方式中，所述处理方法还包括：将降级处理后的目标缺陷发送至数据库，以使所述数据库更新存储的原有缺陷策略，以获得数据库发送的更新后的缺陷策略；根据所述更新后的缺陷策略进行车辆缺陷诊断。

8、在一种可选的方式中，所述根据所述更新后的缺陷策略进行车辆缺陷诊断，进一步包括：获取车辆的报文信息；其中，所述报文信息包括报文编码；将所述报文编码与所述更新后的缺陷策略中的故障编码进行匹配操作，并根据匹配结果确定所述车辆是否发生故障。

9、根据本申请实施例的另一方面，提供了一种基于目标缺陷的处理装置，所述处理装置包括：获取模块，用于获取当前批次的产品总数量和当前批次中存在目标缺陷的产品数量；计算模块，用于若检测到所述产品总数量大于或等于预设第一数量，且所述存在目标缺陷的产品数量小于或等于预设第二数量，则根据所述产品总数量和所述存在目标缺陷的产品数量，计算得到所述目标缺陷对应的缺陷概率；确定模块，用于根据所述缺陷概率与预设概率区间的匹配结果，确定是否对连续累计次数进行累加操作；处理模块，用于若检测到所述连续累计次数大于或等于预设次数，则对所述目标缺陷进行降级处理。

10、根据本申请实施例的一个方面，提供了一种电子设备，包括：控制器；存储器，用于存储一个或多个程序，当一个或多个程序被所述控制器执行时，以执行上述的处理方法。

11、根据本申请实施例的一个方面，还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机可读指令，当所述计算机可读指令被计算机的处理器执行时，使计算机执行上述的处理方法。

12、根据本申请实施例的一个方面，还提供了一种计算机程序产品或计算机程序，该计算机程序产品或计算机程序包括计算机指令，该计算机指令存储在计算机可读存储介质中。计算机设备的处理器从计算机可读存储介质读取该计算机指令，处理器执行该计算机指令，使得该计算机设备执行上述的处理方法。

13、本申请实施例通过获取当前批次的产品总数量和当前批次中存在目标缺陷的产品数量；若检测到产品总数量大于或等于预设第一数量，且存在目标缺陷的产品数量小于或等于预设第二数量，表征获取到的两个样本符合样本需求，则根据产品总数量和存在目标缺陷的产品数量，计算得到目标缺陷对应的缺陷概率，即只有符合样本需求的参数才能作为计算参数进行计算，从而保证了计算参数的准确性；根据缺陷概率与预设概率区间的匹配结果，确定是否对连续累计次数进行累加操作；若检测到连续累计次数大于或等于预设次数，则对目标缺陷进行降级处理，放宽目标缺陷的检测条件，逐步减少相关缺陷，以缩短产品检测过程中的分析处理时长。

14、上述说明仅是本申请实施例技术方案的概述，为了能够更清楚了解本申请实施例的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本申请实施例的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本申请的具体实施方式。

技术特征：

1.一种基于目标缺陷的处理方法，其特征在于，所述处理方法包括：

2.根据权利要求1所述的处理方法，其特征在于，所述处理方法还包括：

3.根据权利要求1所述的处理方法，其特征在于，所述根据所述产品总数量和所述存在目标缺陷的产品数量，计算得到所述目标缺陷对应的缺陷概率，进一步包括：

4.根据权利要求1所述的处理方法，其特征在于，所述根据所述缺陷概率与预设概率区间的匹配结果，确定是否对连续累计次数进行累加操作，进一步包括：

5.根据权利要求1所述的处理方法，其特征在于，所述处理方法还包括：

6.根据权利要求1至5中任一项所述的处理方法，所述处理方法应用于处理引擎，其特征在于，所述处理方法还包括：

7.根据权利要求6所述的处理方法，其特征在于，所述根据所述更新后的缺陷策略进行车辆缺陷诊断，进一步包括：

8.一种基于目标缺陷的处理装置，其特征在于，所述处理装置包括：

9.一种电子设备，其特征在于，包括：

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，其上存储有计算机可读指令，当计算机可读指令被计算机的处理器执行时，使计算机执行权利要求1至7中任一项所述的处理方法。

技术总结
本申请实施例涉及数据处理领域，公开了一种基于目标缺陷的处理方法、装置及计算机可读存储介质，方法包括：获取当前批次的产品总数量和当前批次中存在目标缺陷的产品数量；若检测到产品总数量大于或等于预设第一数量，且存在目标缺陷的产品数量小于或等于预设第二数量，则根据产品总数量和存在目标缺陷的产品数量，计算得到目标缺陷对应的缺陷概率；根据缺陷概率与预设概率区间的匹配结果，确定是否对连续累计次数进行累加操作；若检测到连续累计次数大于或等于预设次数，则对目标缺陷进行降级处理。本申请通过放宽目标缺陷的检测条件，逐步减少相关缺陷，以缩短产品检测过程中的分析处理时长。

技术研发人员：陈继钢,陈博,陈俊佚
受保护的技术使用者：赛力斯汽车有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/15