芯片的通用验证方法、装置、电子设备及存储介质与流程

本发明涉及芯片验证，尤其涉及一种芯片的通用验证方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术：

1、在芯片的验证环节，寄存器传输级的仿真测试可以完成主要的功能性验证。同时，一般需要再结合硬件加速器进行模拟测试来加速功能性的验证和性能性的验证。这两类测试流程通常需要各自提供一套独立的测试环境。

2、目前，在进行上述各测试环境的设计过程中，会出现如下问题：1、验证平台的设计不统一，需要维护两套验证平台，增加了维护成本；2、验证平台的扩展性能差，特别的，当用户更换硬件加速器产品时，可能需要调整原有的验证平台的底层设计，增加验证平台调试工作量且降低验证平台的交付质量；3、测试用例实现不统一，两种测试环境可能因使用了不同的vip（verification ip，验证知识产权核）导致相同测试目的的测试用例的实现方式不同，不利于测试用例的后续维护和更新。

技术实现思路

1、本发明实施例提供了一种芯片的通用验证方法、装置、电子设备及存储介质，以满足人们日益增长的个性化、便捷化的芯片通用验证需求。

2、根据本发明实施例的一方面，提供了一种芯片的通用验证方法，包括：

3、构建与待测芯片匹配的统一验证平台框架；

4、其中，统一验证平台框架中包括至少一个不依赖测试环境的通用组件和至少一个依赖测试环境的标准特性组件，各通用组件和各标准特性组件的输入输出接口预先遵循统一的标准数据格式建立连接关系；

5、按照待测芯片的测试类型，对各标准特性组件进行实例化处理，以在统一验证平台框架中实现与测试类型匹配的特性层测试环境，测试类型包括仿真类型或模拟类型；

6、获取与待测芯片的测试类型匹配的目标测试用例，并将目标测试用例注入至统一验证平台框架中，以完成对待测芯片的验证。

7、根据本发明实施例的另一方面，提供了一种芯片的通用验证装置，包括：

8、基础层测试环境构建模块，用于构建与待测芯片匹配的统一验证平台框架；

9、其中，统一验证平台框架中包括至少一个不依赖测试环境的通用组件和至少一个依赖测试环境的标准特性组件，各通用组件和各标准特性组件的输入输出接口预先遵循统一的标准数据格式建立连接关系；

10、特性层测试环境构建模块，用于按照待测芯片的测试类型，对各标准特性组件进行实例化处理，以在统一验证平台框架中实现与测试类型匹配的特性层测试环境，测试类型包括仿真类型或模拟类型；

11、测试用例注入模块，用于获取与待测芯片的测试类型匹配的目标测试用例，并将目标测试用例注入至统一验证平台框架中，以完成对待测芯片的验证。

12、根据本发明实施例的另一方面，还提供了一种电子设备，所述电子设备包括：

13、至少一个处理器；以及

14、与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，

15、所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的计算机程序，所述计算机程序被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行本发明任一实施例所述的芯片的通用验证方法。

16、根据本发明实施例的另一方面，还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使处理器执行时实现本发明任一实施例所述的芯片的通用验证方法。

17、本发明实施例的技术方案，首先构建与待测芯片匹配的统一验证平台框架，并在该统一验证平台框架中设置各不依赖测试环境的通用组件和各依赖测试环境的标准特性组件的输入输出接口之间的标准化连接关系；按照待测芯片的测试类型，对各标准特性组件进行实例化处理，以在统一验证平台框架中实现与测试类型匹配的特性层测试环境；获取与待测芯片的测试类型匹配的目标测试用例，并将目标测试用例注入至统一验证平台框架中，以完成对待测芯片的验证的技术手段，验证人员可以在一个预先实现通用组件、标准特性组件，以及上述两者之间的标准连接关系的统一验证平台中同时实现仿真测试以及模拟测试，无论在何种测试环境下，均可以使用相同的方法驱动统一验证平台完成对芯片设计的验证。简化了芯片验证流程，提高了芯片验证效率，并可以提高芯片验证结果的准确性，同时，降低了芯片验证的成本，缩短了芯片上市的时间，可以有效提高芯片质量和用户满意度。

18、应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本发明的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本发明的范围。本发明的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。

技术特征：

1.一种芯片的通用验证方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，标准特性组件包括待实例化的标准功能模型以及输入输出接口，其中，标准功能模型和输入输出接口之间未建立连接关系；

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，建立各实例化的标准功能模型与各标准特性组件中的输入输出接口之间的连接关系，包括：

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，建立各实例化的标准功能模型与各标准特性组件中的输入输出接口之间的连接关系，包括：

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，统一验证平台框架中包括的各通用组件和各标准特性组件基于通用验证方法学uvm架构实现。

6.根据权利要求1-5任一项所述的方法，其特征在于，获取与待测芯片的测试类型匹配的目标测试用例，包括：

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，响应于用户的用例配置操作，生成备选测试用例，包括下述至少一项：

8.一种芯片的通用验证装置，其特征在于，包括：

9.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括：

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使处理器执行时实现权利要求1-7中任一项所述的芯片的通用验证方法。

技术总结
本发明公开了一种芯片的通用验证方法、装置、电子设备及存储介质。该方法包括：构建与待测芯片匹配的统一验证平台框架；按照待测芯片的测试类型，对各标准特性组件进行实例化处理，以在统一验证平台框架中实现与测试类型匹配的特性层测试环境；获取与待测芯片的测试类型匹配的目标测试用例，并将目标测试用例注入至统一验证平台框架中，以完成对待测芯片的验证。本发明实施例的技术方案简化了芯片验证流程，提高了芯片验证效率，并可以提高芯片验证结果的准确性，同时，降低了芯片验证的成本，缩短了芯片上市的时间，可以有效提高芯片质量和用户满意度。

技术研发人员：金鑫,周峰,张亚林
受保护的技术使用者：上海燧原科技有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/15