设计电路的测试方法、装置、设备及介质与流程

本申请涉及设计电路测试，尤其涉及一种设计电路的测试方法、装置、设备及介质。

背景技术：

1、在使用硬件描述语言（verilog hardware description language，verilog hdl）设计电路时，需要对设计电路的性能进行测试。

2、在先技术中能够，基于verilog语言进行设计电路的性能测试，或者基于python语言进行设计电路的性能测试。

3、但是，verilog语言主要用于进行硬件描述，在对专用集成电路（applicationspecific integrated circuit）等设计电路进行性能测试时，存在测试效率低的问题。而python语言是一种底层复杂的脚本语言，在进行设计电路性能测试时，会影响设计电路的仿真速度，从而导致测试效率低的问题。

技术实现思路

1、本申请实施例提供一种设计电路的测试方法、装置、设备及介质，以解决在先技术中设计电路的测试效率低的问题。

2、第一方面，本申请实施例提供了设计电路的测试方法，所述方法包括：

3、获取待测试文件及测试用例；所述测试用例包括电路输入数据，所述测试用例是通过lua语言对所述设计电路的测试任务进行描述所得到的用例；将所述待测试文件输入所述测试用例，并基于所述测试用例中的电路输入数据和测试任务，执行所述待测试文件，获取针对所述设计电路的仿真输出结果；根据所述仿真输出结果获取所述设计电路的测试结果。

4、第二方面，本申请实施例提供了一种设计电路的测试装置，所述装置包括：

5、第一获取模块，用于获取待测试文件及测试用例；所述测试用例包括电路输入数据，所述测试用例是通过lua语言对所述设计电路的测试任务进行描述所得到的用例；第二获取模块，用于将所述待测试文件输入所述测试用例，并基于所述测试用例中的电路输入数据和测试任务，执行所述待测试文件，获取针对所述设计电路的仿真输出结果；第三获取模块，用于根据所述仿真输出结果获取所述设计电路的测试结果。

6、第三方面，本申请实施例还提供了一种电子设备，包括处理器；

7、用于存储所述处理器可执行指令的存储器；

8、其中，所述处理器被配置为执行所述指令，以实现所述第一方面的方法。

9、第四方面，本申请实施例还提供了一种计算机可读存储介质，当所述计算机可读存储介质中的指令由电子设备的处理器执行时，使得所述电子设备能够执行所述第一方面的方法。

10、在本申请实施例中，获取待测试文件，以及通过lua语言对设计电路的测试任务进行描述得到的测试用例，将待测试文件输入测试用例，并基于测试用例中的电路输入数据和测试任务，执行待测试文件，获取针对设计电路的仿真输出结果，根据仿真输出结果获取设计电路的测试结果。方案采用lua语言对设计电路的测试任务进行描述以得到测试用例，基于lua语言描述的测试用例对待测试文件的设计电路进行测试，在设计电路的测试过程中，提高了设计电路的测试效率，解决了相关技术中设计电路测试效率低的问题。

11、上述说明仅是本申请技术方案的概述，为了能够更清楚了解本申请的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本申请的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本申请的具体实施方式。

技术特征：

1.一种设计电路的测试方法，其特征在于，所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，将所述待测试文件输入所述测试用例，并基于所述测试用例中的电路输入数据和测试任务，执行所述待测试文件，获取针对所述设计电路的仿真输出结果，包括：

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在通过仿真器获取仿真输出结果之后，还包括：

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，在通过lua调度器触发所述测试用例中预设的任务移交事件之后，还包括：

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述回调函数生成指令包括所述测试用例的标识信息；

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在测试用例为多个，且测试用例为协程的情况下，所述执行所述待测试文件，获取针对所述设计电路的仿真输出结果，包括：

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在根据所述仿真输出结果获取所述设计电路的测试结果之前，还包括：

8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在执行所述待测试文件，获取针对所述设计电路的仿真输出结果之后，还包括：

9.根据权利要求1至8任一项所述的方法，其特征在于，所述根据所述仿真输出结果获取所述设计电路的测试结果，包括：

10.一种设计电路的测试装置，其特征在于，所述装置包括：

11.一种电子设备，其特征在于，包括：处理器；

12.一种计算机可读存储介质，其特征在于，当所述计算机可读存储介质中的指令由电子设备的处理器执行时，使得所述电子设备能够执行如权利要求1至9中任一项所述的方法。

技术总结
本申请提供了一种设计电路的测试方法、装置、设备及介质，涉及电路测试技术领域，包括：获取待测试文件及测试用例；测试用例包括电路输入数据，测试用例是通过Lua语言对设计电路的测试任务进行描述所得到的用例；将待测试文件输入测试用例，并基于测试用例中的电路输入数据和测试任务，执行待测试文件，获取针对设计电路的仿真输出结果；根据仿真输出结果获取设计电路的测试结果。基于Lua语言描述的测试用例对待测试文件的设计电路进行测试，提高了设计电路的测试效率。

技术研发人员：郑楚育,何伟,唐丹,包云岗
受保护的技术使用者：北京开源芯片研究院
技术研发日：
技术公布日：2024/1/15