一种屏幕缺陷检测方法、装置、终端设备及存储介质与流程

文档序号:36490614发布日期:2023-12-26 18:36阅读:70来源:国知局
一种屏幕缺陷检测方法与流程

本申请属于缺陷检测,尤其涉及一种屏幕缺陷检测方法、装置、终端设备及计算机可读存储介质。


背景技术:

1、随着电子技术的快速发展,如映像管显示屏(cathode ray tube,crt)和液晶显示屏(liquidcrystaldisplay,lcd)等显示屏在各类电子设备中得到了广泛应用,几乎已成为电子设备的标配。在大批量生产显示屏的过程中,由于生产工艺、生产环境等问题,不可避免地会导致部分显示屏出现如暗影、亮点或者杂质等缺陷。

2、目前,通常需要在生产线上人工检测显示屏存在的缺陷,且人工检测时,需要长时间检测点亮的显示屏,容易造成眼睛疲劳,出现较多误检和漏检的情况,检测效率低且准确性低。


技术实现思路

1、本申请实施例提供了一种屏幕缺陷检测方法、装置、终端设备及存储介质,可以解决现有技术中,检测显示屏的缺陷的准确率及效率较低的问题。

2、第一方面,本申请实施例提供了一种屏幕缺陷检测方法,包括:

3、获取待测显示屏的图像,得到待测图像;

4、根据所述待测图像中的像素点的值与标准图像中对应的像素点的值,确定至少两个第一差值,其中,所述标准图像为不存在缺陷的显示屏的图像,所述第一差值根据所述待测图像和所述标准图像的多个所述像素点的值的差异确定;

5、在各个所述第一差值中存在大于或等于第一阈值的所述第一差值的情况下,判定所述待测显示屏存在缺陷。

6、第二方面,本申请实施例提供了一种屏幕缺陷检测装置,包括:

7、待测图像获取模块,用于获取待测显示屏的图像,得到待测图像;

8、第一差值获取模块,用于根据所述待测图像中的像素点的值与标准图像中对应的像素点的值,确定至少两个第一差值,其中,所述标准图像为不存在缺陷的显示屏的图像,所述第一差值根据所述待测图像和所述标准图像的多个所述像素点的值的差异确定;

9、缺陷检测模块,用于在各个所述第一差值中存在大于或等于第一阈值的所述第一差值的情况下,判定所述待测显示屏存在缺陷。

10、第三方面,本申请实施例提供了一种终端设备,包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现上述第一方面所述的屏幕缺陷检测方法的步骤。

11、第四方面,本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质,所述计算机存储介质存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现上述第一方面中所述的屏幕缺陷检测方法的步骤。

12、第五方面,本申请实施例提供了一种计算机程序产品,当计算机程序产品在终端设备上运行时,使得终端设备执行上述第一方面中任一项所述的屏幕缺陷检测方法。

13、本申请实施例与现有技术相比存在的有益效果是:

14、本申请实施例中,根据待测图像中的像素点的值与标准图像中对应的像素点的值确定第一差值,由于标准图像为不存在缺陷的显示屏对应的图像,因此,得到的各个第一差值能够反映待测图像与标准图像之间的差异,即,反映待测显示屏与不包含缺陷的显示屏之间的差异。此外,由于只有差异较大时才表明待测显示屏存在缺陷,因此,存在大于或等于第一阈值的第一差值的情况下,判定待测显示屏存在缺陷,能够较为准确地实现待测显示屏的自动检测,且不需要人工来长时间面对显示屏进行检测,在减少人工成本的同时能够提高检测结果的准确性。并且,由于缺陷在显示屏中的占比通常较小,使得显示屏与不存在缺陷的显示屏的整体差异不明显,因此,根据待测图像中的像素点的值与标准图像中对应的像素点的值确定至少两个第一差值,第一差值根据多个像素点的差异确定,即,根据待测图像中不同区域的像素点的差异确定多个第一差值,基于多个第一差值判断待测显示屏的不同区域是否存在缺陷,能够进一步提高显示屏的缺陷检测的准确性。



技术特征:

1.一种屏幕缺陷检测方法,其特征在于,包括:

2.如权利要求1所述的屏幕缺陷检测方法,其特征在于,在所述判定所述待测显示屏存在缺陷之后,还包括:

3.如权利要求2所述的屏幕缺陷检测方法,其特征在于,所述基于至少一个第二区域中的所述像素点的值验证所述第一区域中是否存在所述缺陷,包括:

4.如权利要求2所述的屏幕缺陷检测方法,其特征在于,所述在判定所述第一区域中存在所述缺陷的情况下,根据所述第一区域确定缺陷信息,包括:

5.如权利要求1所述的屏幕缺陷检测方法,其特征在于,在所述根据所述待测图像中的像素点的值与标准图像中对应的像素点的值,确定至少两个第一差值之后,还包括:

6.如权利要求1所述的屏幕缺陷检测方法,其特征在于,所述根据所述待测图像中的像素点的值与标准图像中对应的像素点的值,确定至少两个第一差值,包括:

7.如权利要求1至6任一项所述的屏幕缺陷检测方法,其特征在于,所述像素点的值为灰度值,所述获取待测显示屏的图像,得到待测图像,包括:

8.一种屏幕缺陷检测装置,其特征在于,包括:

9.一种终端设备,包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至7任一项所述的方法。

10.一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述的方法。


技术总结
本申请适用于缺陷检测技术领域,提供了屏幕缺陷检测方法、装置、终端设备及存储介质,包括:获取待测显示屏的图像,得到待测图像;根据所述待测图像中的像素点的值与标准图像中对应的像素点的值,确定至少两个第一差值,其中,所述标准图像为不存在缺陷的显示屏的图像,所述第一差值根据所述待测图像和所述标准图像的多个所述像素点的值的差异确定;在各个所述第一差值中存在大于或等于第一阈值的所述第一差值的情况下,判定所述待测显示屏存在缺陷。本申请可以提高屏幕的缺陷检测的效率以及准确率。

技术研发人员:孙煜,朱合军,陈志列,陈超
受保护的技术使用者:深圳市前海研祥亚太电子装备技术有限公司
技术研发日:
技术公布日:2024/1/15
网友询问留言 已有0条留言
  • 还没有人留言评论。精彩留言会获得点赞!
1