一种基于sigxp仿真进阶到参数自动优化的仿真方法与流程

本发明涉及电路设计领域，具体的说，是涉及一种基于sigxp仿真进阶到参数自动优化的仿真方法。

背景技术：

1、印制电路板(printed circuit board，pcb板)又称印刷电路板，印刷线路板，是电子产品物理支撑以及信号传输的重要组成部分，其中ddr(double data rate sdram)称为双倍速率同步动态随机存储器。ddr系统的应用非常广泛，运行的速率也越来越高，精确仿真ddr系统的电路成为业界热议的话题，尤其是对一拖多的拓扑进行每段走线长度扫描甚至自动优化的仿真方法，更是受到了行业内的关注。

2、sigxp(即sigxplore)软件支持提取走线拓扑的功能，但是该软件本身无法进行参数自动优化的功能；sigrity topology explorer软件支持自动参数优化，但是又无法提取走线细节的拓扑。于是，现有设计人员要么利用前款软件进行拓扑提取，然后在提取出来的模型中手动优化，存在效率低的问题；要么利用后款软件，先根据实际电路进行电路搭建，再自动优化，而电路搭建也耗时费力，且容易出错。

3、因此，如何把sigxp从pcb设计上提取出来的走线拓扑参数，巧妙转换到sigritytopology explorer软件里，得以快速、高效地进行参数自动优化，成为业内亟待解决的问题。

技术实现思路

1、为了克服现有的技术的不足，本发明提供一种基于sigxp仿真进阶到参数自动优化的仿真方法。

2、本发明技术方案如下所述：

3、一种基于sigxp仿真进阶到参数自动优化的仿真方法，包括：

4、步骤1、选取电路板上需要仿真的地址信号，使用电路提取软件进行拓扑提取，得到链路拓扑模型；

5、步骤2、将链路拓扑模型的文件导入自动优化软件；

6、步骤3、在自动优化软件中，替换不兼容拓扑模型中无法识别的主控芯片模型和无法识别的颗粒模型，得到完整拓扑模型；

7、步骤4、在自动优化软件中，对完整拓扑模型中的若干走线模型的线长值进行扫描，仿真得到眼图；

8、步骤5、以眼图达到最大眼高为目标，完成优化并确定若干所述走线模型的线长值；

9、步骤6、将仿真得到的若干线长值代入链路拓扑模型，使模型得到优化。

10、根据上述方案的本发明，所述步骤1中，所述链路拓扑模型包括主控芯片模型、若干颗粒模型、过孔模型，以及若干走线模型。

11、根据上述方案的本发明，所述步骤3中，不兼容拓扑模型包括若干走线模型、过孔模型，还包括自动优化软件无法识别的主控芯片模型和无法识别的若干颗粒模型。

12、根据上述方案的本发明，所述步骤3中，完整拓扑模型包括若干走线模型、过孔模型，还包括自动优化软件可识别的主控芯片模型和可识别的若干颗粒模型。

13、根据上述方案的本发明，所述步骤4包括以下步骤：

14、步骤401、选择若干位于颗粒间的走线模型；

15、步骤402、将选中的走线模型的线长作为变量；

16、步骤403、设置误码率眼高为目标；

17、步骤404、自动扫描优化，并仿真眼图。

18、进一步的，所述步骤402中，线长的变化范围为400mil到1000mil。

19、进一步的，所述步骤403中，在设置误码率眼高为目标时，将误码率眼高的倒数填入参数表的目标项的公式栏中。

20、根据上述方案的本发明，仿真方法还包括步骤：对优化后的模型仿真，观察包含所有颗粒模型的综合眼图。

21、可选的，所述电路提取软件为sigxp软件。

22、可选的，所述自动优化软件为sigrity topology explorer软件。

23、根据上述方案的本发明，其有益效果在于：

24、本发明先通过电路提取软件提取出带走线的链路拓扑模型，然后转到自动优化软件中，重新赋予收、发芯片的模型，以符合自动优化软件的模型格式要求，保留电路提取软件的走线拓扑，以便在自动优化软件进行参数化设置，然后利用自动优化软件的通道仿真和自动优化功能，找到最佳的走线长度值，以满足最大的眼高要求；故本发明提供了一种高效的仿真方法，为设计人员的电路设计工作提供了便利；

25、而且本发明能够保证优化后的走线拓扑，眼图结果最差的颗粒也满足眼高要求，从而保证所有颗粒的眼高都满足设计要求。

技术特征：

1.一种基于sigxp仿真进阶到参数自动优化的仿真方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的基于sigxp仿真进阶到参数自动优化的仿真方法，其特征在于，步骤1中，所述链路拓扑模型包括主控芯片模型、若干颗粒模型、过孔模型，以及若干走线模型。

3.根据权利要求1所述的基于sigxp仿真进阶到参数自动优化的仿真方法，其特征在于，步骤3中，不兼容拓扑模型包括若干走线模型、过孔模型，还包括自动优化软件无法识别的主控芯片模型和无法识别的若干颗粒模型。

4.根据权利要求1或3所述的基于sigxp仿真进阶到参数自动优化的仿真方法，其特征在于，步骤3中，完整拓扑模型包括若干走线模型、过孔模型，还包括自动优化软件可识别的主控芯片模型和可识别的若干颗粒模型。

5.根据权利要求1所述的基于sigxp仿真进阶到参数自动优化的仿真方法，其特征在于，所述步骤4包括以下步骤：

6.根据权利要求5所述的基于sigxp仿真进阶到参数自动优化的仿真方法，其特征在于，所述步骤402中，线长的变化范围为400mil到1000mil。

7.根据权利要求5所述的基于sigxp仿真进阶到参数自动优化的仿真方法，其特征在于，所述步骤403中，在设置误码率眼高为目标时，将误码率眼高的倒数填入参数表的目标项的公式栏中。

8.根据权利要求1所述的基于sigxp仿真进阶到参数自动优化的仿真方法，其特征在于，还包括步骤：对优化后的模型仿真，观察包含所有颗粒模型的综合眼图。

9.根据权利要求1所述的基于sigxp仿真进阶到参数自动优化的仿真方法，其特征在于，所述电路提取软件为sigxp软件。

10.根据权利要求1所述的基于sigxp仿真进阶到参数自动优化的仿真方法，其特征在于，所述自动优化软件为sigrity topology explorer软件。

技术总结
本发明涉及一种基于sigxp仿真进阶到参数自动优化的仿真方法，电路提取软件提取出带走线的链路拓扑模型，然后转到自动优化软件中，重新赋予收、发芯片的模型，保留电路提取软件的走线拓扑，以便在自动优化软件进行参数化设置，然后利用自动优化软件的通道仿真和自动优化功能，找到最佳的走线长度值，以满足最大的眼高要求。本发明提供了一种高效的仿真方法，为设计人员的电路设计工作提供了便利；且本发明能够保证优化后的走线拓扑中，眼图结果最差的颗粒也满足眼高要求，从而保证所有颗粒的眼高都满足设计要求。

技术研发人员：黄刚,吴均
受保护的技术使用者：深圳市一博科技股份有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/2/29