一种α型半水石膏性能测试方法及系统与流程

文档序号:36420698发布日期:2023-12-20 09:47阅读:41来源:国知局
一种的制作方法

本发明涉及石膏性能检测,具体涉及一种α型半水石膏性能测试方法及系统。


背景技术:

1、α型半水石膏是一种重要的工业原料,广泛应用于建筑、陶瓷、玻璃、医药等多个领域。由于其具有高强度、高耐水性等优点,因此备受关注。在生产和使用过程中,α型半水石膏的性能指标如结晶度、密度、含水率等对其品质和使用效果具有重要影响。然而,传统的性能测试方法存在着操作繁琐、精度低、测试周期长等问题,不能满足现代工业生产的需求。因此,一种能够快速、准确、简便地测定α型半水石膏性能指标的方法具有重要意义。通过该方法及系统,可以实现对α型半水石膏性能指标的准确检测,提高生产效率,保证产品质量,降低生产成本,推动相关产业的发展。

2、现有技术中存在的石膏性能检测工作由于完备性不足和全检而导致检测成本高、异常检出效率差的问题,使得最终关于石膏性能检测工作无法提高异常检出效率。


技术实现思路

1、本申请提供了一种α型半水石膏性能测试方法及系统,解决了现有技术中存在的石膏性能检测工作由于完备性不足和全检而导致检测成本高、异常检出效率差的问题,实现了关于石膏性能检测工作中异常检出效率的提高。

2、鉴于上述问题,本申请提供了一种α型半水石膏性能测试方法。

3、第一方面,本申请提供了一种α型半水石膏性能测试方法,方法包括:基于α型半水石膏生产标准表,下载第一性能指标期望区间;联网对所述第一性能指标期望区间进行调整,生成第二性能指标期望区间;接收α型半水石膏生产参数和α型半水石膏生产工艺类型;根据所述α型半水石膏生产工艺类型选择性激活α型半水石膏映射组件,对所述α型半水石膏生产参数进行处理,生成性能指标映射值;调取所述第二性能指标期望区间对所述性能指标映射值进行偏离性分析,生成性能指标偏离系数;提取所述性能指标偏离系数大于或等于性能指标偏离系数阈值的性能指标集进行序列化调整,生成性能指标集序列;按照所述性能指标集序列对所述性能指标集进行检测,获得α型半水石膏性能测试结果。

4、第二方面,本申请提供了一种α型半水石膏性能测试系统,系统包括:期望区间模块:基于α型半水石膏生产标准表,下载第一性能指标期望区间;区间调整模块:联网对所述第一性能指标期望区间进行调整,生成第二性能指标期望区间;生产参数模块:接收α型半水石膏生产参数和α型半水石膏生产工艺类型;组件激活模块:根据所述α型半水石膏生产工艺类型选择性激活α型半水石膏映射组件,对所述α型半水石膏生产参数进行处理,生成性能指标映射值;偏离系数模块:调取所述第二性能指标期望区间对所述性能指标映射值进行偏离性分析,生成性能指标偏离系数;性能指标模块:提取所述性能指标偏离系数大于或等于性能指标偏离系数阈值的性能指标集进行序列化调整,生成性能指标集序列;测试结果模块:按照所述性能指标集序列对所述性能指标集进行检测,获得α型半水石膏性能测试结果。

5、本申请中提供的一个或多个技术方案,至少具有如下技术效果或优点:

6、本申请实施例提供的一种α型半水石膏性能测试方法及系统,基于α型半水石膏生产标准表,下载第一性能指标期望区间,再对第一性能指标期望区间进行调整,生成第二性能指标期望区间,然后接收α型半水石膏生产参数和α型半水石膏生产工艺类型,并选择性激活α型半水石膏映射组件,对α型半水石膏生产参数进行处理,生成性能指标映射值,调取第二性能指标期望区间对性能指标映射值进行偏离性分析,生成性能指标偏离系数,最后提取性能指标偏离系数大于或等于性能指标偏离系数阈值的性能指标集进行序列化调整,生成性能指标集序列,并对性能指标集进行检测,获得α型半水石膏性能测试结果,解决了现有技术中存在的石膏性能检测工作由于完备性不足和全检而导致检测成本高、异常检出效率差的问题,实现了关于石膏性能检测工作中异常检出效率的提高。



技术特征:

1.一种α型半水石膏性能测试方法,其特征在于,包括:

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,联网对所述第一性能指标期望区间进行调整,生成第二性能指标期望区间,包括:

3.如权利要求2所述的方法,其特征在于,对所述正样本α型半水石膏生产记录进行基线分析,生成性能指标基线区间,包括:

4.如权利要求1所述的方法,其特征在于,根据所述α型半水石膏生产工艺类型选择性激活α型半水石膏映射组件,对所述α型半水石膏生产参数进行处理,生成性能指标映射值,包括:

5.如权利要求4所述的方法,其特征在于,遍历预设生产工艺类型,利用残差梯度下降算法,训练多个α型半水石膏映射组件,包括:

6.如权利要求5所述的方法,其特征在于,当第一叶子节点的所述叶子节点输出偏差的绝对值大于或等于预设偏差值,以所述第一叶子节点为次级根节点,训练第二决策树,其中,所述第二决策树的输入为所述第一叶子节点的所述叶子节点输出偏差和所述叶子节点输出值,所述第二决策树的监督数据和所述第一叶子节点的监督数据相同,包括:

7.如权利要求1所述的方法,其特征在于,调取所述第二性能指标期望区间对所述性能指标映射值进行偏离性分析,生成性能指标偏离系数,包括:

8.一种α型半水石膏性能测试系统,其特征在于,所述系统包括:


技术总结
本发明公开了一种α型半水石膏性能测试方法及系统,涉及石膏性能检测技术领域,方法包括:基于α型半水石膏生产标准表,下载第一性能指标期望区间;生成第二性能指标期望区间;接收α型半水石膏生产参数和α型半水石膏生产工艺类型;对所述α型半水石膏生产参数进行处理,生成性能指标映射值;对所述性能指标映射值进行偏离性分析,生成性能指标偏离系数;提取所述性能指标偏离系数进行序列化调整,生成性能指标集序列;对所述性能指标集进行检测,获得α型半水石膏性能测试结果,解决了现有技术中存在的石膏性能检测工作由于完备性不足和全检而导致异常检出效率差的问题,实现了关于石膏性能检测工作中异常检出效率的提高。

技术研发人员:孟醒,马红青,唐永波,侯沛欣,王婷
受保护的技术使用者:一夫科技股份有限公司
技术研发日:
技术公布日:2024/1/15
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