一种芯片的测试结果分析方法及相关组件与流程

本发明涉及测试领域，特别是涉及一种芯片的测试结果分析方法及相关组件。

背景技术：

1、在芯片出厂之前，芯片封装前需要在机台上对晶圆进行的测试，芯片封装后需要在机台上对芯片进行的最终测试。机台测试是通过芯片某些输入管脚施加激励，让芯片工作在特定的条件下，通过芯片输出管脚观测芯片在这种工作条件的输出是否正确。在机台上测试，需要提供机台可识别的测试向量。测试向量是通过仿真生成的向量文件，通常周期数非常多，有几十万行，将这个测试向量施加到机台上并传递给芯片，芯片会根据施加向量的输入，进而输出数据。若输出数据与仿真阶段相同，则证明当前测试向量测试对应的功能正常。若输出数据与仿真阶段不同，则可能是芯片实际运行与仿真运行的时间有差别导致输出数据的时间不同，导致数据比对错误。也可能是芯片某些输出与芯片仿真阶段生成的数据确实有差异。芯片输出的错误可能会出现在芯片的许多管脚，也可能会持续几千至几万个周期。将这些周期再通过仿真定位到错误发生的位置是十分庞大且不直观的工作，不利于分析芯片测试的错误。

技术实现思路

1、本发明的目的是提供一种芯片的测试结果分析方法及相关组件，无需用户确定大量的失效结果中的各个失败管脚以及各个失败管脚的持续时间，进行可视化展示便于用于定位故障，测试过程更加简单。

2、为解决上述技术问题，本发明提供了一种芯片的测试结果分析方法，包括：

3、创建测试结果分析脚本；

4、在仿真环境中模拟待测芯片测试，得到所述待测芯片输出的预设结果；

5、运行所述测试结果分析脚本，从所述待测芯片的测试失效文件中提取失败管脚的标识及所述失败管脚的持续周期，所述失败管脚为输出的测试结果与所述预设结果不同的管脚，所述持续周期为所述失败管脚输出的测试结果与所述预设结果不同的时间，所述测试失效文件包括所述当前待测芯片输出的与预设结果不同的测试结果；

6、控制提示模块对所述失败管脚的标识及所述持续周期进行提示。

7、另一方面，所述测试结果分析脚本中包括测试失效文件的存储路径，从所述测试失效文件中提取失败管脚的标识及所述失败管脚的持续周期，包括：

8、根据所述测试失效文件的存储路径从所述测试失效文件中提取失败管脚的标识及所述失败管脚的持续周期。

9、另一方面，控制提示模块对所述失败管脚的标识及所述持续周期进行提示之后，还包括：

10、删除所述当前测试结果分析脚本；

11、在对下一个芯片输出测试文件进行分析时，进入创建包括预设结果的存储路径的测试结果分析脚本的步骤。

12、另一方面，从所述测试失效文件提取失败管脚的标识及所述失败管脚的持续周期，包括：

13、根据管脚关键词及管脚标识号从所述测试失效文件提取失败管脚的标识；

14、按照所述失败管脚的标识的顺序，依次提取各个所述失败管脚的失败结果、失败结果输出的开始时间及失败结果输出的结束时间，所述开始时间至所述结束时间为所述持续周期，所述失败管脚输出的与所述预设结果不同的测试结果为失败结果。

15、另一方面，根据所述预设结果确定将所述测试失效文件中所述失败管脚的标识及所述失败管脚的持续周期标记在所述预设结果中之后，还包括：

16、将标有所述失败管脚的标识及所述失败管脚的持续周期的预设结果转换为vcd格式；

17、其中，所述失败结果包括0、1、h、l、x及z，0或1表征输入0或1，h或l表征输出1或0，x表征方向未知，z表征高阻态。

18、另一方面，创建测试结果分析脚本，包括：

19、创建包括预设结果的存储路径的测试结果分析脚本；

20、从所述测试失效文件提取失败管脚的标识及所述失败管脚的持续周期之后，还包括：

21、运行所述测试结果分析脚本，基于所述预设结果的存储路径确定所述预设结果；

22、根据所述预设结果确定将所述测试失效文件中所述失败管脚的标识及所述失败管脚的持续周期标记在所述预设结果中。

23、另一方面，控制提示模块对所述失败管脚的标识及所述持续周期进行提示，包括：

24、控制提示模块在失败管脚的波形中，对所述持续周期对应的位置增加标注。

25、为解决上述技术问题，本发明还提供了一种芯片的测试结果分析系统，包括：

26、测试脚本创建单元，由于创建测试结果分析脚本；

27、测试单元，用于在仿真环境中模拟待测芯片测试，得到所述待测芯片输出的预设结果；

28、提取单元，用于运行所述测试结果分析脚本，从所述待测芯片的测试失效文件中提取失败管脚的标识及所述失败管脚的持续周期，所述失败管脚为输出的测试结果与所述预设结果不同的管脚，所述持续周期为所述失败管脚输出的测试结果与所述预设结果不同的时间，所述测试失效文件包括所述当前待测芯片输出的与预设结果不同的测试结果；

29、提示单元，用于控制提示模块对所述失败管脚的标识及所述持续周期进行提示。

30、为解决上述技术问题，本发明还提供了一种芯片的测试结果分析装置，包括：

31、存储器，用于存储计算机程序；

32、处理器，用于执行所述计算机程序时实现上述的芯片的测试结果分析方法的步骤。

33、为解决上述技术问题，本发明还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述的芯片的测试结果分析方法的步骤。

34、本发明公开了一种芯片的测试结果分析方法及相关组件，涉及测试领域，包括创建测试结果分析脚本；在仿真环境中模拟待测芯片测试，得到待测芯片输出的预设结果；运行测试结果分析脚本，从待测芯片的测试失效文件中提取失败管脚的标识及失败管脚的持续周期；控制提示模块对失败管脚的标识及持续周期进行提示。得到芯片输出的测试结果，与预期结果不同的测试结果即为测试失效文件，从测试失效文件中提取到出现问题的失败管脚以及出现问题的持续周期。无需用户确定大量的失效结果中的各个失败管脚以及各个失败管脚的持续时间，提示模块进行提示便于用户定位故障，测试过程更加简单。

技术特征：

1.一种芯片的测试结果分析方法，其特征在于，包括：

2.如权利要求1所述的芯片的测试结果分析方法，其特征在于，所述测试结果分析脚本中包括测试失效文件的存储路径，从所述测试失效文件中提取失败管脚的标识及所述失败管脚的持续周期，包括：

3.如权利要求1所述的芯片的测试结果分析方法，其特征在于，控制提示模块对所述失败管脚的标识及所述持续周期进行提示之后，还包括：

4.如权利要求1所述的芯片的测试结果分析方法，其特征在于，从所述测试失效文件提取失败管脚的标识及所述失败管脚的持续周期，包括：

5.如权利要求4所述的芯片的测试结果分析方法，其特征在于，根据所述预设结果确定将所述测试失效文件中所述失败管脚的标识及所述失败管脚的持续周期标记在所述预设结果中之后，还包括：

6.如权利要求1所述的芯片的测试结果分析方法，其特征在于，创建测试结果分析脚本，包括：

7.如权利要求1至6任一项所述的芯片的测试结果分析方法，其特征在于，控制提示模块对所述失败管脚的标识及所述持续周期进行提示，包括：

8.一种芯片的测试结果分析系统，其特征在于，包括：

9.一种芯片的测试结果分析装置，其特征在于，包括：

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述的芯片的测试结果分析方法的步骤。

技术总结
本发明公开了一种芯片的测试结果分析方法及相关组件，涉及测试领域，包括创建测试结果分析脚本；在仿真环境中模拟待测芯片测试，得到待测芯片输出的预期结果；运行测试结果分析脚本，从待测芯片的测试失效文件中提取失败管脚的标识及失败管脚的持续周期；控制提示模块对失败管脚的标识及持续周期进行提示。得到芯片输出的测试结果，与预期结果不同的测试结果即为测试失效文件，从测试失效文件中提取到出现问题的失败管脚以及出现问题的持续周期。无需用户确定大量的失效结果中的各个失败管脚以及各个失败管脚的持续时间，提示模块进行提示便于用户定位故障，测试过程更加简单。

技术研发人员：肖佐楠,储豪杰,沈贽,郑茳,匡启和
受保护的技术使用者：苏州国芯科技股份有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/3/11