本申请涉及数据处理，尤其涉及rrt参数的更新方法、设备及可读存储介质。
背景技术：
：：1、厂商生产出的固态存储装置的rrt(read retry table，读取重试表)参数都是固定的，这个固定的rrt参数跟厂家生产时的预估的出错趋势和出错类型有关。2、但是，固态存储装置被实际使用过程中出现的错误，不可能和预估出现的错误完全相同，因此，出厂时固定的rrt参数难以完全贴合实际应用场景。3、上述内容仅用于辅助理解本申请的技术方案，并不代表承认上述内容是现有技术。技术实现思路1、本申请的主要目的在于提供一种rrt参数的更新方法、设备及可读存储介质，旨在解决出厂时固定的rrt参数难以完全贴合实际应用场景，来做到最小化ssd读数出错率的技术问题。2、为实现上述目的，本申请提供一种rrt参数的更新方法，所述rrt参数的更新方法包括以下步骤：3、监测到读取性能指标超过预设阈值，基于当前配置的rrt参数读取用户数据；4、获取与所述当前配置的rrt参数关联的预训练的出错预测模型，所述出错预测模型用于预测最优rrt参数；5、输入所述用户数据至所述出错预测模型，其中，所述出错预测模型基于所述用户数据进行再学习，并输出目标rrt参数；6、获取所述目标rrt参数，并根据所述目标rrt参数更新所述存储装置的配置。7、可选地，所述监测到读取性能指标超过预设阈值的步骤之后，还包括：8、获取存储装置的环境数据和/或主机操作数据；9、所述输入所述用户数据至所述出错预测模型的步骤之后包括：10、输出所述环境数据和/或所述主机操作数据至所述出错预测模型，其中，所述出错预测模型基于所述用户数据、所述环境数据和/或所述主机操作数据，输出目标rrt参数。11、可选地，所述监测到读取性能指标超过预设阈值，基于当前配置的rrt参数读取用户数据的步骤包括：12、监测到读取性能指标超过预设阈值，基于当前配置的rrt参数以及预存储的rrt组表预读取到待选用户数据；13、选定读取错误率最低的所述待选用户数据为用户数据；14、根据所述用户数据关联的rrt参数更新所述存储装置的配置。15、可选地，所述基于当前配置的rrt参数读取用户数据的步骤之前包括：16、获取存储装置的环境数据和/或主机操作数据；17、根据所述环境数据和/或所述主机操作数据，确定所述存储设备的实际应用场景；18、检测到所述实际应用场景与当前配置的rrt参数关联的应用场景不匹配，则基于预存储的rrt组表，确定所述实际应用场景的关联rrt参数，并根据所述关联rrt参数更新所述存储装置的配置。19、可选地，所述监测到读取性能指标超过预设阈值的步骤之前包括：20、获取所述存储装置闪存颗粒的待测电压分布数据，所述待测电压分布数据是所述存储装置出厂前的电压分布数据；21、将所述待测电压分布数据输入预先训练的出错预测模型，其中，所述出错预测模型包括至少一个子模型，不同子模型对应不同的测试条件；22、获取所述出错预测模型中各个所述子模型输出的预测电压分布数据，并基于各个所述子模型的预测电压分布数据，确定各个所述子模型关联的rrt参数；23、将各个所述子模型和各个所述子模型关联的rrt参数存储至所述存储装置的存储空间。24、可选地，所述将所述待测电压分布数据输入预先训练的出错预测模型，其中，所述出错预测模型包括至少一个子模型，不同子模型对应不同的测试条件的步骤之前包括：25、获取预设数量的存储装置样片，以及所述存储装置样片闪存颗粒的初始电压分布数据；26、根据各个所述测试条件，分别对所述存储装置样片闪存颗粒进行测试；27、在各个测试过程中，基于预设间隔提取所述存储装置样片闪存颗粒的实际电压分布数据；28、基于所述初始电压分布数据和所述实际电压分布数据，训练得到各个所述测试条件对应的子模型。29、可选地，所述获取所述出错预测模型中各个所述子模型输出的预测电压分布数据，并基于各个所述子模型的预测电压分布数据，确定各个所述子模型关联的rrt参数的步骤之后包括：30、接收到所述存储装置的rrt参数配置指令，获取所述存储装置的关联订单号；31、拉取所述关联订单号的订单内容，并根据所述订单内容确定所述存储装置的待应用场景；32、根据预设场景-测试条件映射表，确定所述待应用场景的关联子模型；33、获取所述关联子模型关联的rrt参数，并根据所述关联子模型关联的rrt参数更新所述存储装置的配置。34、此外，为实现上述目的，本申请还提供一种rrt参数的更新设备，所述设备包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的rrt参数的更新程序，所述rrt参数的更新程序配置为实现上述的rrt参数的更新方法的步骤。35、此外，为实现上述目的，本申请还提供一种可读存储介质，所述可读存储介质上存储有rrt参数的更新程序，所述rrt参数的更新程序被处理器执行时实现上述的rrt参数的更新方法的步骤。36、在本申请中，为了解决出厂时固定的rrt参数难以完全贴合实际应用场景，来做到最小化ssd读数出错率的技术问题，本申请通过监测到读取性能指标超过预设阈值，基于当前配置的rrt参数读取用户数据；获取与所述当前配置的rrt参数关联的预训练的出错预测模型，所述出错预测模型用于预测最优rrt参数；输入所述用户数据至所述出错预测模型，其中，所述出错预测模型基于所述用户数据进行再学习，并输出目标rrt参数；获取所述目标rrt参数，并根据所述目标rrt参数更新所述存储装置的配置。能够在存储设备的读取性能下降到阈值时，根据实际读取到的用户数据，实时更新能够实现最佳的读取性能的rrt参数，以提高存储设备的寿命。技术特征：1.一种rrt参数的更新方法，其特征在于，所述rrt参数的更新方法包括以下步骤：2.如权利要求1所述的rrt参数的更新方法，其特征在于，所述监测到读取性能指标超过预设阈值的步骤之后，还包括：3.如权利要求1所述的rrt参数的更新方法，其特征在于，所述监测到读取性能指标超过预设阈值，基于当前配置的rrt参数读取用户数据的步骤包括：4.如权利要求1所述的rrt参数的更新方法，其特征在于，所述基于当前配置的rrt参数读取用户数据的步骤之前包括：5.如权利要求4所述的rrt参数的更新方法，其特征在于，所述监测到读取性能指标超过预设阈值的步骤之前包括：6.如权利要求5所述的rrt参数的更新方法，其特征在于，所述将所述待测电压分布数据输入预先训练的出错预测模型，其中，所述出错预测模型包括至少一个子模型，不同子模型对应不同的测试条件的步骤之前包括：7.如权利要求5所述的rrt参数的更新方法，其特征在于，所述获取所述出错预测模型中各个所述子模型输出的预测电压分布数据，并基于各个所述子模型的预测电压分布数据，确定各个所述子模型关联的rrt参数的步骤之后包括：8.一种rrt参数的更新设备，其特征在于，所述设备包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的rrt参数的更新程序，所述rrt参数的更新程序配置为实现如权利要求1至7中任一项所述的rrt参数的更新方法的步骤。9.一种可读存储介质，其特征在于，所述可读存储介质上存储有rrt参数的更新程序，所述rrt参数的更新程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述的rrt参数的更新方法的步骤。技术总结本申请公开了一种RRT参数的更新方法、设备及可读存储介质，属于数据处理
技术领域：
：。本申请通过监测到读取性能指标超过预设阈值，基于当前配置的RRT参数读取用户数据；获取与所述当前配置的RRT参数关联的预训练的出错预测模型，所述出错预测模型用于预测最优RRT参数；输入所述用户数据至所述出错预测模型，其中，所述出错预测模型基于所述用户数据进行再学习，并输出目标RRT参数；获取所述目标RRT参数，并根据所述目标RRT参数更新所述存储装置的配置。能够在存储设备的读取性能下降到阈值时，根据实际读取到的用户数据，实时更新能够实现最佳的读取性能的RRT参数，以提高存储设备的寿命。技术研发人员：林寅,吴大畏,李晓强受保护的技术使用者：得一微电子股份有限公司技术研发日：技术公布日：2024/4/17