一种触控面板触控走线结构的制作方法

本技术涉及触控面板触控走线，尤其涉及一种触控面板触控走线结构。

背景技术：

1、目前触摸屏使用touch in cell(tic)结构面板。tic ng(区块性触摸屏异常)在业界为常态性不良，因其va开洞不规则、bc净空的特殊设计，导致在阵列的制程站点中无法有效监控到缺陷进行修补，造成实质上的良率损失。

2、目前在触控面板触控走线中，触控线(cm)1分出两条支线2，如图1所示，触控面板出现tic ng不良，通常是触控线短路引起的。a/p检(即点灯验证)后虽然可以拦检tic ng，但是因tic特殊性，且由于触控线分出支线，想要找到实质性的缺陷进行修补不仅耗时耗力且成功率极低。

技术实现思路

1、本实用新型要解决的技术问题，在于提供一种触控面板触控走线结构，在触控面板出现tic ng不良时，能够提升修补的成功率，提高生产效益。

2、本实用新型是这样实现的：

3、第一方面，本实用新型提供了一种触控面板触控走线结构，所述触控面板分为显示区和扇出区，所述触控面板包括有触控线层和sd层，所述触控线层包括有触控主线以及从触控主线延伸出的触控支线，所述触控主控至少有部分位于扇出区内，所述触控支线位于显示区内，且其中一所述触控支线连接有修补线，所述修补线延伸到扇出区内；

4、在所述sd层内设置有导电部，所述导电部位于扇出区内，且在垂直于所述触控面板的方向上，所述导电部与修补线和触控主线重叠。

5、进一步地，所述导电部与sd层的其余金属部不相连。

6、进一步地，在所述触控线层和sd层之间设置有绝缘层pv。

7、进一步地，所述触控主线包括有横向部和连接在横向部中部的竖向部，所述两条所述触控支线分别连接在横向部的两端，在垂直于所述触控面板的方向上，所述导电部与竖向部重叠。

8、第二方面，本实用新型提供了一种触控面板触控走线结构的制作方法，包括有如下步骤：

9、s1、在触控面板sd层的制程过程中，在扇出区沉积一导电部，所述导电部与sd层的其余金属部不相连；

10、s2、在sd层的顶部覆盖绝缘层pv；

11、s3、在绝缘层pv的顶部沉积触控主线、触控支线和修补线，形成触控线层。

12、第三方面，本实用新型提供了一种触控面板触控走线结构的修补方法，包括有如下步骤：

13、s1、切断其中一所述触控支线与竖向部的连接后，重新对触控面板进行点灯验证；

14、s2、在所述步骤s1中，若点灯验证仍存在异常，则切断另一所述触控支线与竖向部的连接；并通过镭射熔接导电部与修补线和竖向部的重叠部位，使导电部与竖向部和修补线连接。

15、进一步地，在所述步骤s1中，先切断与修补线相连的触控支线与竖向部的连接。

16、本实用新型的优点在于：当点灯验证拦检到tic ng时，可直接先对与修补线相连接的触控支线进行镭射切断，然后进行点灯验证，若异常仍在则切断另一根，使用镭射将导电部与竖向部和修补线熔融短路即可完成修补；本结构无需实际定位cm异常缺陷，大幅度提高了工作效率，避开了tic面板在a/p检后难以修补的困境，极大程度降低tic ng概率。

技术特征：

1.一种触控面板触控走线结构，所述触控面板分为显示区和扇出区，其特征在于：所述触控面板包括有触控线层和sd层，所述触控线层包括有触控主线以及从触控主线延伸出的触控支线，所述触控主控至少有部分位于扇出区内，所述触控支线位于显示区内，且其中一所述触控支线连接有修补线，所述修补线延伸到扇出区内；

2.如权利要求1所述的一种触控面板触控走线结构，其特征在于：所述导电部与sd层的其余金属部不相连。

3.如权利要求1所述的一种触控面板触控走线结构，其特征在于：在所述触控线层和sd层之间设置有绝缘层pv。

4.如权利要求1所述的一种触控面板触控走线结构，其特征在于：所述触控主线包括有横向部和连接在横向部中部的竖向部，所述两条所述触控支线分别连接在横向部的两端，在垂直于所述触控面板的方向上，所述导电部与竖向部重叠。

技术总结
本技术提供一种触控面板触控走线结构，触控面板分为显示区和扇出区，触控面板包括有触控线层和SD层，触控线层包括有触控主线以及从触控主线延伸出的触控支线，触控主控至少有部分位于扇出区内，触控支线位于显示区内，且其中一触控支线连接有修补线，修补线延伸到扇出区内；在SD层内设置有导电部，导电部位于扇出区内，且在垂直于触控面板的方向上，导电部与修补线和触控主线重叠。当点灯验证拦检到TIC NG时，本结构无需实际定位CM异常缺陷，大幅度提高了工作效率，避开了TIC面板在A/P检后难以修补的困境，极大程度降低TIC NG概率。

技术研发人员：曾智聪,王聪智,郑剑峰,林军,林斯婧,李长侠,谢子良
受保护的技术使用者：福建华佳彩有限公司
技术研发日：20231219
技术公布日：2024/11/7