一种指令监测方法、装置、设备及存储介质与流程

本申请实施例涉及集成电路，尤其涉及一种芯片性能验证过程中的指令监测方法、装置、设备及存储介质。

背景技术：

1、在芯片设计过程中，需要同步通过芯片性能验证尽量确保芯片设计的正确性。这样，在后续的芯片生产环节中，才能保证生产出来的芯片符合设计目的和预期功能。其中，芯片性能验证指采用验证工具和验证方法，在芯片设计同时，正式流片生产之前，验证芯片设计是否符合硬件工程师对芯片定义的需求规格。

2、相关技术下，芯片性能验证采用系统层级的测试用例，对处理器芯片进行系统级验证，获得系统级验证结果。

3、由于系统级验证结果表征的是处理器芯片在系统层级上是否符合预期结果，因此，当系统级验证出现性能问题时，难以定位出处理器芯片中导致性能问题的具体处理单元，从而影响芯片性能验证的准确性和效率。

技术实现思路

1、本申请实施例提供了一种指令监测方法、装置、设备及存储介质，用于提高芯片性能验证的准确性和效率。

2、一方面，本申请实施例提供了一种指令监测方法，包括：

3、在执行芯片性能验证的测试用例过程中，针对所述测试用例中的多个指令，分别执行以下操作：记录所述多个指令中的一个指令在计算核中的处理过程信息，所述处理过程信息包括：处理所述一个指令的多个处理单元的标识信息以及相应的处理时间信息；

4、将所述多个指令中对应预设指令类型的目标指令的处理过程信息，添加到所述测试用例对应的指令文件中。

5、一方面，本申请实施例提供了一种指令监测装置，包括：

6、记录模块，用于在执行芯片性能验证的测试用例过程中，针对所述测试用例中的多个指令，分别执行以下操作：记录所述多个指令中的一个指令在计算核中的处理过程信息，所述处理过程信息包括：处理所述一个指令的多个处理单元的标识信息以及相应的处理时间信息；

7、输出模块，用于将所述多个指令中对应预设指令类型的目标指令的处理过程信息，添加到所述测试用例对应的指令文件中。

8、可选地，所述记录模块具体用于：

9、针对处理所述一个指令的多个处理单元，分别执行以下操作：

10、监测到所述一个指令在一个处理单元的处理时间信息时，从记录组件中确定与所述一个指令匹配的目标标识；

11、在所述记录组件中，将所述目标标识，与所述一个处理单元的标识信息和相应的处理时间信息关联记录。

12、可选地，所述记录组件按照顺序执行的多个指令的执行顺序，保存相应的指令标识；

13、所述记录模块具体用于：

14、当所述一个处理单元顺序执行所述一个指令时，将所述记录组件中下一个指令标识，作为与所述一个指令匹配的目标标识。

15、可选地，所述记录模块具体用于：

16、当所述一个处理单元乱序执行所述一个指令时，基于所述一个指令的指令标识查询所述记录组件，确定所述记录组件中与所述一个指令的指令标识匹配的目标标识。

17、可选地，所述记录模块具体用于：

18、当所述一个指令在所述一个处理单元中被拆分成多个子指令执行时，基于所述多个子指令的指令标识，确定所述一个指令的指令标识；

19、基于所述一个指令的指令标识查询所述记录组件，确定所述记录组件中与所述一个指令的指令标识匹配的目标标识。

20、可选地，所述记录模块具体用于：

21、基于所述一个指令的指令标识查询所述记录组件，确定未被标记为结束处理，且与所述一个指令的指令标识匹配的目标标识。

22、可选地，所述记录模块还用于：

23、当所述一个指令在所述一个处理单元中被拆分成多个子指令执行时，监测所述多个子指令各自的结束处理时间；

24、将获得的多个结束处理时间中的最晚处理时间，作为所述一个指令在所述一个处理单元的处理时间信息；

25、当所述一个指令在所述一个处理单元中未被拆分成多个子指令执行时，将所述一个指令的结束处理时间，作为所述一个指令在所述一个处理单元的处理时间信息。

26、可选地，所述指令文件中包括所述多个指令的指令信息；

27、所述输出模块具体用于：

28、通过配置所述预设指令类型的脚本，对所述多个指令各自的处理过程信息进行筛选，获得对应所述预设指令类型的目标指令的处理过程信息；

29、在所述指令文件中，将每个目标指令的指令信息与相应的处理过程信息关联保存。

30、一方面，本申请实施例提供了一种计算机设备，包括存储器、处理器芯片及存储在存储器上并可在处理器芯片上运行的计算机程序，所述处理器芯片执行所述程序时实现上述指令监测方法的步骤。

31、一方面，本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质，其存储有可由计算机设备执行的计算机程序，当所述程序在计算机设备上运行时，使得所述计算机设备执行上述指令监测方法的步骤。

32、本申请实施例中，在执行芯片性能验证的测试用例过程中，针对测试用例中的每个指令，记录该指令在计算核中的处理过程信息，其中，处理过程信息包括：处理该指令的多个处理单元的标识信息以及相应的处理时间信息，这样既能实现对计算核进行系统层级测试，获得系统级验证结果；同时，当系统级验证结果不符合预期结果时，基于每个指令在计算核中的处理过程信息，可快速从计算核中定位出导致性能问题的具体处理单元，从而提高了芯片性能验证的准确性和效率。其次，将多个指令中对应预设指令类型的目标指令的处理过程信息，添加到测试用例对应的指令文件中，实现将测试过程中指令的处理过程信息以文本形式输出，便于后续查看以及性能分析。

技术特征：

1.一种指令监测方法，其特征在于，包括：

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述记录所述多个指令中的一个指令在计算核中的处理过程信息，包括：

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述记录组件按照顺序执行的多个指令的执行顺序，保存相应的指令标识；

4.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述从记录组件中确定与所述一个指令匹配的目标标识，包括：

5.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述从记录组件中确定与所述一个指令匹配的目标标识，包括：

6.如权利要求4或5所述的方法，其特征在于，所述基于所述一个指令的指令标识查询所述记录组件，确定所述记录组件中与所述一个指令的指令标识匹配的目标标识，包括：

7.如权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：

8.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述指令文件中包括所述多个指令的指令信息；

9.一种指令监测装置，其特征在于，包括：

10.一种计算机设备，包括存储器、处理器芯片及存储在存储器上并可在处理器芯片上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器芯片执行所述程序时实现权利要求1~8任一所述方法的步骤。

11.一种计算机可读存储介质，其特征在于，其存储有可由计算机设备执行的计算机程序，当所述程序在计算机设备上运行时，使得所述计算机设备执行权利要求1~8任一所述方法的步骤。

技术总结
本申请实施例提供了一种指令监测方法、装置、设备及存储介质，涉及集成电路技术领域，该方法包括：在执行芯片性能验证的测试用例过程中，记录每个指令在计算核中的处理过程信息，处理过程信息包括：处理指令的多个处理单元的标识信息以及相应的处理时间信息，这样实现对计算核进行系统层级测试；当系统级验证结果不符合预期结果时，基于指令在计算核中的处理过程信息，可快速从计算核中定位出导致性能问题的具体处理单元，从而提高了芯片性能验证的准确性和效率。其次，将多个指令中对应预设指令类型的目标指令的处理过程信息，添加到测试用例对应的指令文件中，实现将测试过程中指令的处理过程信息以文本形式输出，便于后续查看以及性能分析。

技术研发人员：请求不公布姓名,请求不公布姓名,请求不公布姓名
受保护的技术使用者：北京壁仞科技开发有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/3/27