专利名称：公差与配合速查尺的制作方法
技术领域：
本实用新型属机械设计、机械制造、加工、教学用工具。
国家于1980年颁布了公差与配合标准GB1801－79GB1802－79、GB1804－79等，供机械工程设计、加工人员教学人员使用。这些标准均是合编在机械设计手册或同类手册中。一般设计手册都在100万字600页以上。使用时必须翻查手册，先查表选好配合种类，再查孔的极限偏差，后查轴的极限偏差。几十页篇幅翻来复去，很不方便。基本尺寸分档与公差等级偏差统统列在一个表内，易造成查阅错误。一本厚书放在绘图板上或工作台上，会使操作困难。机加工人员翻阅易造成字迹污染、辨认不清，降低工效，发生不必要的失误。
本实用新型之目的在于废除上述繁杂过程，由一把简易的速查尺代替，提高工效、减少失误。
本实用新型是通过下列方案实现的由母尺(52)和子尺(51)组成的本技术方案，其与众不同之处在于子尺(51)安装在母尺(52)内部，两者滑动配合。母尺(52)上制有国标规定的常用基孔制及其相配合的轴公差等级代号(3、4、5、6)和常用基轴制及其相配合的孔公差等级代号(16、17、18、19)。子尺(51)上制有国标规定的常用基孔制及其相配合的轴公差数值(36、37、38、39)和常用基轴制及其相配合的孔公差数值(42、43、44、45)。母尺(52)上在基孔制公差代号(3、4、5、6)和基轴制公差代号(16、17、18、19)侧与子尺(51)上基孔制公差数值(36、37、38、39)和基轴制的公差数值(42、43、44、45)相对应的位置处制有检索窗(7、8、9、10、20、21、22、23)。
母尺(52)上制有基孔制及其相配合的轴和基轴制及其相配合的孔的基本偏差表(11、12)和未注公差尺寸的极限偏表(13)。
本实用新型的优点是用于进行机械工程设计或机加工查阅公差与配合时，不需要查各种标准手册的繁杂过程，只需拉动滑动子尺即刻可以完成，工作迅速、方便，可避免因繁锁查阅而引起的失误。本实用新型结构简单，制造方便。
下面结合说明书附图对本实用新型详细说明图1为本实用新型母尺的正面示意图；图2为本实用新型母尺的反面示意图；图3为本实用新型子尺的正面示意图；图4为本实用新型子尺的反面示意图；图5为本实用新型断面示意图。
图1中1是基孔制基本尺寸(至500mm)分档稍大的一组的检索 窗，2是其分档较小的一组的检索 窗；3、4、5、6是基孔制常用公差配合各种类公差等级代号按顺序排列，其中6是对基本尺寸分档要求较小的公差带代号，这些代号中有在其右上角标△符合的为优先选择者；7、8、9、10是刻成的分档检索窗 分别用于检索3、4、5、6处公差代号的公差数值，其中10上用于检索2处基本尺寸的公差数值；11、12分别是基本尺寸3150－10000mm轴、孔基本偏差，11是基本尺寸分档较大的一组，12是基本尺寸分档较小的一组；13是未注公差尺寸的极限偏差。
图2中14、15是基轴制基本尺寸(至500mm)分档长方形检索窗，15是分档较小的一组的检索窗；16、17、18、19是基轴制常用公差配合种类公差等级代号，其中19是对基本尺寸分档较小的一组即15空格的公差带代号其代号右上角带△符号的为优先选择者。
20、21、22、23均是长方形检索窗，分别用检索16、17、18、19几处的各公差代号的数值，其中20、23两处检索窗下方正对着14、15长方格，23只用于检索15基本尺寸的公差数值，20、21、22用于检索14基本尺寸公差数值；
24是基轴制基本尺寸500－3150mm分档长方形检索窗25、26、27、28是基轴制基本尺寸500－3150mm常用公差与配合种类代号；按顺序排列29、30、31、32是相应于25、26、27、28的公差代号数值长方形检索窗，其中29格正对24窗下方；33是本速查尺的使用说明；图3中34、35是相应于1、2的基孔制基本尺寸(至500mm)分档不同的两组数字，当拉动滑动子尺时34、35两组数字分别在1、2窗内出现，就可以该基本尺寸的各公差带数值；36、37、38、39是通过滑动分别可以在7、8、9、10窗处读出的各公差数值；图4中40、41是相应于14、15的基轴制基本尺寸(至500mm)分档不同的两组数字，当拉动滑动子尺时40、41处的数字将在14、15窗内出现，这时就可以检索该基本尺寸的各公差数值。
42、43、44、45是分别可以在20、21、22、23处读出的各公差数值。
46是对应24的基孔制基本尺寸500－3150mm的分档数值；
47、48、49、50是该组常用基孔制公差数值当滑动子尺滑动时可以分别在29、30、31、32中检索到。
图5中51是滑动子尺，52是母尺。
本实用新型由母尺(52)和子尺(51)构成，均由塑料一次加工成型，子尺(51)安装在母尺(52)内，可在母尺(52)中滑动。母尺(52)和子尺(51)上的数字和代号等字符均成凹状。
母尺(52)的正面下方制有基孔制基本尺寸至500mm分档检索窗(1、2)，左半部为常用基孔制的孔及与其配合的轴公差等级代号(3、4、5)，这些代号按顺序分三列依次排列，在每一列代号的右侧分别制有检查窗(7、8、9)。检索窗(7)正下方是基孔制基本尺寸至500mm分档稍大的一组的检索窗(1)，检索窗(2)是用于对基孔制基本尺寸至500mm分档稍小的一组的检索窗，其正上方的检索窗(10)是用于对基孔制基本尺寸至500mm分档稍小的一组的公差数值，检索窗(10)的左侧为基孔制基本尺寸分档较小的部分的公差代号(6)。母尺(52)正面右半部上制有未注公差尺寸的极限偏差(13)，位于母尺(52)左半部的检索窗(7)和代号(4)及检索窗(8)和代号(5)之间制有基本尺寸孔、轴的公差基本偏差(11、12)。母尺(52)的反面是基轴制部分，其下部制基本尺寸至500mm的分档检索窗(14、15)，上部是基轴制基本尺寸500－3150mm的检索窗(24)母尺(52)反面上制有基轴制常用公差配合种类，公差等级代号组(16、17、18、19)，各代号组的右侧制有用以检索各代号对应的公差与配合数值的检索窗(20、21、22、23)。代号(19)为基本尺寸至500mm分档较小的一组即检索窗(15)对应的公差代号，检索窗(20、23)正下方正对着检索窗(14、15)。检索窗(23)用于检索检索窗(15)对应的基本尺寸的公差数值(45)。检索窗(20、21、22)用于检索检索窗(14)对应的基本尺寸的公差数值(42、43、44)。母尺(52)上部依次排列制有基轴制基本尺寸500－3150mm常用公差与配合种类代号(25、26、27、28)，各代号组右侧制与其配合使用的检索窗(29、30、31、32)，其中检索窗(29)位于检索窗(24)。
子尺(51)正面在母尺(52)基孔制基本尺寸检索窗(1、2)的对应位置处列有其基本尺寸数值(34、35)，在分档数值(34、35)上方的对应位置上制有各分档数值的公差与配合数值(36、37、38、39)。各组公差与配合数值与母尺(52)上的各检索窗位置相对应，子尺(51)的反面的各组数值与母尺(52)反面上的各组代号和检索窗位置相对应。
实施例
如查基孔制φ80H7／K6，在母尺上找基孔制(基本尺寸－500mm)，拉动子尺，使基本尺寸检索窗出现大于50至80字样，在其上方或右上方母尺上找到H7和R6，这时H7R6对应右边检索窗上子尺显示出的数字
和
即是H7及R6的极限偏差。如滑动子尺表格上出现★，则需另查同面右下角的★基孔制(基本尺寸－500mm)，方法同上。
查基轴制及基本尺寸(500－3150mm)的基孔制的公差与配合在其背面，方法同基孔制。
权利要求1.一种公差与配合速查尺，由母尺和子尺组成，其特征在于子尺安装在母尺内部，两者滑动配合，母尺的外表面上制有国标规定的常用基孔制及其相配合的轴公差等级代号和常用基轴制及其相配合的孔公差等级代号，子尺的外表面上制有国标规定的常用基孔制及其相配合的轴公差数值和常用基轴制及相配合的孔公差数值，母尺上在基孔制及其相配合的轴和基轴制及其相配合的孔的公差等级代号处制有用于检索各代号公差数值的检索窗。
2.根据权利要求1所述的公差与配合速查尺，其特征在于母尺上制有基孔制及其相配合的轴和基轴制及其相配合的孔的基本偏差表和未注公差尺寸的极限偏差。
专利摘要一种公差与配合速查尺，由母尺和子尺构成，其特点是子尺位于母尺内，并可滑动，在尺面上制有基孔制和基轴制的公差与配合代号，数值及用于检索各孔、轴公差与配合数值的检索窗。本实用新型结构简单、使用方便，不需要查各种标准手册的繁杂过程。
文档编号G06G1/10GK2146742SQ9323012
公开日1993年11月17日 申请日期1993年1月28日 优先权日1993年1月28日
发明者蔡德元 申请人:蔡德元