固态硬盘的延迟测试方法与流程

1.本技术涉及数据存储技术领域，特别涉及一种固态硬盘的延迟测试方法。


背景技术：

2.固态硬盘(solid state disk)，简称ssd，是一种主要以闪存颗粒(nand flash)作为永久性存储器的计算机存储设备，被广泛应用于笔记本电脑、工控、视频监控、网络监控、网络终端、导航设备等诸多领域。ssd主要由闪存控制器和存储模块组成。
3.ssd在高速读写的时候，由于生产工艺、pcb版型以及nand的不同，导致信号传输延迟会有差异，所以在生产过程中，ssd开卡需要获得当前ssd的信号延迟(延迟时间值)的范围，如果该范围不符合需求，则判定该ssd信号不能满足当前速率工作，反之，如果该范围符合需求，就可从该范围内获取最优信号值。
4.ssd的结构如图1所示，一个闪存控制器120一般与多个存储单元131连接。在获取ssd的信号延迟有效延迟时间范围时，需要对每个闪存颗粒进行多个数值多个循环的测试才能确定每个闪存颗粒的延迟信号有效延迟时间范围，因此，存在测试次数多，用时长，效率低的问题。


技术实现要素：

5.鉴于上述问题，本技术的目的在于提供一种固态硬盘的延迟测试方法，避免了对所有延迟时间值进行循环测试，减少了循环测试次数，提高了固态硬盘的开卡效率。
6.根据本技术的一方面，提供一种固态硬盘的延迟测试方法，包括：将预设的延迟时间范围划分为多个延迟区间，其中，每个延迟区间包括连续的k个延迟时间值；从每个延迟区间中分别选取一个目标延迟时间值对固态硬盘进行测试以得到起始延迟区间和终点延迟区间；对所述起始延迟区间中的每个延迟时间值进行测试得到起始有效值；对所述终点延迟区间中的每个延迟时间值进行测试得到终点有效值；根据所述起始有效值和所述终点有效值确定所述固态硬盘的有效延迟时间范围。
7.可选地，所述固态硬盘包括多个存储单元，使用所述延迟测试方法，对每个所述存储单元进行延迟测试。
8.可选地，从每个延迟区间中分别选取一个目标延迟时间值对固态硬盘进行测试以得到起始延迟区间和终点延迟区间的步骤中，包括：在每个延迟时间值下设置固态硬盘的主控参数，对每个所述存储单元进行多次循环测试；针对各所述存储单元，根据各目标延迟时间值下的多次循环测试结果确定所述起始延迟区间和所述终点延迟区间。
9.可选地，所述根据各目标延迟时间值下的多次循环测试结果确定所述起始延迟区间和所述终点延迟区间，包括：若在当前目标延迟时间值下的多次循环测试结果为成功，则所述目标延迟时间值为有效值；若在当前目标延迟时间值下的多次循环测试结果出现一次失败，则所述目标延迟时间值为无效值；根据所述目标延迟时间值是否为有效值确定所述起始延迟区间和所述终点延迟区间。
10.可选地，所述多次循环测试结果通过如下方式判断：对所述固态硬盘进行写操作；对所述固态硬盘进行读操作，若在所述固态硬盘不进行纠错操作的情况下，所述读操作读取的数据与所述写操作写入的数据相同，则读写操作成功；否则，读写操作失败；当前目标延迟时间值下每次循环测试的读写操作均成功，则当前目标延迟时间值下的多次循环测试结果为成功；否则，失败。
11.可选地，所述目标延迟时间值为每个延迟区间中的第一个延迟时间值或最后一个延迟时间值。
12.可选地，所述目标延迟时间值为每个延迟区间中的第一个延迟时间值时，根据所述目标延迟时间值是否位于所述固态硬盘的有效延迟时间范围内确认所述起始延迟区间的步骤包括：判断第一个出现有效值的延迟区间是否是所述多个延迟区间中的第一个延迟区间；若是，则所述第一个延迟区间为所述起始延迟区间；若否，则第一个出现有效值的延迟区间的前一个延迟区间为所述起始延迟区间。
13.可选地，对所述起始延迟区间中的每个延迟时间值进行测试得到起始有效值的步骤中，包括：若第一个出现有效值的延迟区间的前一个延迟区间为所述起始延迟区间，则在所述起始延迟区间中的每个延迟时间值下进行多次循环测试，所述起始延迟区间中第一个出现有效值的延迟时间值为所述起始有效值。
14.可选地，若所述第一个延迟区间为所述起始延迟区间，则所述起始延迟区间中的第一个延迟时间值为所述起始有效值。
15.可选地，根据所述目标延迟时间值是否位于所述固态硬盘的有效延迟时间范围内确认所述终点延迟区间的步骤，包括：最后一个出现有效值的延迟区间为所述终点延迟区间。
16.可选地，对所述终点延迟区间中的每个延迟时间值进行测试得到终点有效值的步骤中，多次循环测试中最后一个不出现读写操作失败的延迟时间值为所述终点有效值。
17.可选地，所述目标延迟时间值为每个延迟区间中的最后一个延迟时间值时，根据所述目标延迟时间值是否位于所述固态硬盘的有效延迟时间范围内确认所述起始延迟区间的步骤包括：第一个出现有效值的延迟区间为所述起始延迟区间。
18.可选地，对所述起始延迟区间中的每个延迟时间值进行测试得到起始有效值的步骤中，包括：在所述起始延迟区间中的每个延迟时间值下进行多次循环测试，所述起始延迟区间中第一个出现有效值的延迟时间值为所述起始有效值。
19.可选地，根据所述目标延迟时间值是否位于所述固态硬盘的有效延迟时间范围内确认所述终点延迟区间的步骤包括：判断最后一个出现有效值的延迟区间是否是所述多个延迟区间中的最后一个延迟区间；若是，则所述最后一个延迟区间为所述终点延迟区间；若否，则最后一个出现有效值的延迟区间的后一个延迟区间为所述终点延迟区间。
20.可选地，对所述终点延迟区间中的每个延迟时间值进行测试得到终点有效值的步骤中，包括：若最后一个出现有效值的延迟区间的后一个延迟区间为所述终点延迟区间，则在所述终点延迟区间中的每个延迟时间值下进行多次循环测试，所述终点延迟区间中最后一个出现有效值的延迟时间值为所述终点有效值。
21.可选地，若所述最后一个延迟区间为所述终点延迟区间，则所述终点延迟区间中的最后一个延迟时间值为所述终点有效值。
22.可选地，所述k的大小与所述固态硬盘的读写速率相关。
23.根据本技术的另一方面，提供一种固态硬盘的延迟测试装置，包括：串行接口，与主机连接，用于接收主机下发的操作命令；闪存控制器，与串行接口连接，用于执行操作命令；存储模块，与闪存控制器连接，用于存储数据；测试模块，分别与闪存控制器和存储模块连接，用于对固态硬盘的延迟时间范围进行划分，其中，所述测试模块将固态硬盘的延迟时间范围划分为多个延迟区间，每个延迟区间包括连续的k个延迟时间值。
24.本技术提供的固态硬盘的延迟测试方法，将固态硬盘预设的延迟时间范围通过划分、粗调和细调，确认有效延迟时间范围的起始有效值和终点有效值，从而得到该有效延迟时间范围，避免了对所有延迟时间值进行循环测试，减少了循环测试次数，提高了固态硬盘的开卡效率，进而提高了固态硬盘的生产效率。通过将预设的延迟时间范围划分为多个延迟区间，对延迟区间的一个延迟时间值做测试确定起始延迟区间和终点延迟区间，
25.进一步地，本技术提供的固态硬盘的延迟测试方法，在将预设的延迟时间范围划分为多个延迟区间时，每个延迟区间包括连续的k个延迟时间值，可以根据固态硬盘的读写速率要求的最低读写信号范围值确定k值并进行划分，从而可以在得到有效延迟时间范围的基础上，循环次数最少。同时根据不同读写速率设定不同参数k，可在生产过程中，不失灵活性的快速定位固态硬盘的有效延迟时间范围以及有效延迟时间范围是够满足需求。
附图说明
26.通过以下参照附图对本技术实施例的描述，本技术的上述以及其他目的、特征和优点将更为清楚，在附图中：
27.图1示出了根据现有技术的固态硬盘的结构图；
28.图2示出了根据本技术实施例的固态硬盘的延迟测试方法；
29.图3示出了根据本技术实施例的固态硬盘的延迟测试方法中步骤s20的第一种具体步骤；
30.图4示出了根据本技术实施例的固态硬盘的延迟测试方法中步骤s20的第二种具体步骤；
31.图5示出了根据本技术实施例的固态硬盘的延迟测试装置。
具体实施方式
32.以下将参照附图更详细地描述本技术。在各个附图中，相同的元件采用类似的附图标记来表示。为了清楚起见，附图中的各个部分没有按比例绘制。此外，可能未示出某些公知的部分。为了简明起见，可以在一幅图中描述经过数个步骤后获得的半导体结构。
33.应当理解，在描述器件的结构时，当将一层、一个区域称为位于另一层、另一个区域“上面”或“上方”时，可以指直接位于另一层、另一个区域上面，或者在其与另一层、另一个区域之间还包含其它的层或区域。并且，如果将器件翻转，该一层、一个区域将位于另一层、另一区域“下面”或“下方”。
34.如果为了描述直接位于另一层、另一区域上面的情形，本文将采用“直接在
……
上面”或“在
……
上面并与之邻接”的表述方式。
35.图1示出了根据现有技术的固态硬盘的结构图。
36.参考图1，现有技术的固态硬盘100包括串行接口110，与串行接口110连接的闪存控制器120以及与闪存控制器120连接的存储模块130。
37.其中，串行接口110例如为sata接口或pcie接口，sata是serial ata的缩写，即串行ata接口，主要功能是用作主板和大量存储设备(如硬盘及光盘驱动器)之间的数据传输，采用串行方式传输数据；pcie(peripheral component interconnect express)是一种高速串行计算机扩展总线标准，属于高速串行点对点双通道高带宽传输接口。在该实施例中，固态硬盘100通过串行接口110与计算机cpu连接，接收主机发送的读取/写入命令。
38.闪存控制器120是一种嵌入式微芯片，其功能就像命令中心，它接受从计算机cpu发出的所有操作请求，对存储模块130进行数据的读取和写入，并执行垃圾回收和耗损均衡算法等，以保证ssd的速度和寿命。可以说闪存控制器120是ssd的大脑中枢。
39.存储模块130中包括多个存储单元131(die)，图1中例如示出了一个具有16个存储单元131的固态硬盘100。固态硬盘100开卡需要获得当前固态硬盘100的信号延迟(延迟时间值)的有效延迟时间范围，如果该范围不符合需求，则判定该ssd信号不能满足当前读写速率工作，反之，如果该范围符合需求，就可从该范围内获取最优信号值。
40.以图1所示的固态硬盘100为例，在测试其有效延迟时间范围时，其步骤包括：
41.(1)设定当前ssd读写信号的延迟时间范围的可调区间为0～m，循环(loop)次数n为4，在测试过程中，将每个存储单元131对应的延迟时间值从0～m依次设定；
42.(2)每设定一个延迟时间值，就对每个存储单元131设定对应的读写测试速率，并依次进行读写操作，共进行n个循环，在这n个循环中若有一次在当前延迟时间值出现读写操作失败，则判定当前延迟时间值不在有效延迟时间范围内。
43.例如下表一的测试结果(纵向为当前延迟时间值的测试结果，横向表示每个loop的所有测试结果)，当前存储单元的有效延迟时间范围为6～11。
44.表一：存储单元的测试结果
[0045] 01234567891011121314
……
mloop1
××××
√√√√√√√√√√
×××
loop2
×××××
√√√√√√√√√
×××
loop3
×××
√√√√√√√√√√
××××
loop4
××××××
√√√√√√
×××××
[0046]
现有获取信号延迟有效延迟时间范围的方法，其劣势在于，由于延迟时间值的范围的不确定性，会给测试的时间带来一定不可估量的消耗，从而影响生产效率。假如当前ssd共16个存储单元131，且m＝511，loop＝20，则一次读测试的最小次数是16die*512delay*20loop≈160k，这个数字再叠算命令执行的时间，以及程序执行过程中的消耗，其带来的时间损失明显是不可忽略的，从而导致开卡效率较低。
[0047]
下面结合附图和实施例，对本技术的具体实施方式作进一步详细描述。
[0048]
图2示出了根据本技术实施例的固态硬盘的延迟测试方法；图3示出了根据本技术实施例的固态硬盘的延迟测试方法中步骤s20的第一种具体步骤；图4示出了根据本技术实施例的固态硬盘的延迟测试方法中步骤s20的第二种具体步骤。
[0049]
参考图2，在该实施例中，最终测试的目的是获得固态硬盘的有效延迟时间范围，该有效延迟时间范围肯定是一段连续的区间，为避开对所有延迟时间值进行测试，最终获
得有效延迟时间范围，本技术提出一种固态硬盘的延迟测试方法，包括以下步骤：
[0050]
步骤s10：将预设的延迟时间范围划分为多个延迟区间，其中，每个延迟区间包括连续的k个延迟时间值。
[0051]
在该实施例中，将延迟时间范围(包括多个延迟时间值)0～m按照参数k进行等分，可以得到t＝(m+1)/k个延迟区间，t是大于1的整数，依次记为t0、t1、t2、
……
t(t-1)，对应的延迟时间值的范围依次是0～(k-1)，k～(2k-1)，2k～(3k-1)，
……
，((t-1)*k)～m。
[0052]
在该实施例中，若m＝511，k＝16，则延迟时间范围中的各延迟时间值在t个延迟区间的分布如下表二。
[0053]
表二：延迟时间范围和延迟区间的对应关系
[0054][0055][0056]
在该实施例中，由于对延迟时间范围进行等分得到多个延迟区间t，可以取每个延迟区间t中的一个延迟时间值作为代表进行测试，从而获得代表该延迟区间t的测试结果。在本技术中，例如设置每个延迟区间t的第一个延迟时间值或者最后一个延迟时间值作为延迟区间t的代表进行测试，从而可以大大减少每个存储单元的测试次数。
[0057]
在该实施例中，参数k例如根据固态硬盘100的读写速率进行设置，本领域的技术人员也可以根据实验或经验进行设置。优选地，参数k对应固态硬盘的读写速率进行设置，优选为当前读写速率要求的最低读写信号范围值。
[0058]
步骤s20：从每个延迟区间中分别选取一个目标延迟时间值对固态硬盘进行测试以得到起始延迟区间和终点延迟区间。
[0059]
在该步骤中，在划分后的延迟区间t内选取一个目标延迟时间值进行测试，目标延迟时间值可以为每个延迟区间t中的任意一个延迟时间值。在本技术中，为了测试方便快速，可以选择每个延迟区间t中的第一个延迟时间值作为目标延迟时间值，即0，k，2k，
……
，xk，～，(t-1)k作为目标延迟时间值依次给每个存储单元设定，然后设定读写速率，对存储单元的多个目标延迟时间值多次循环测试，即进行读写操作，共进行n个循环。在另一个实施例中，为了测试方便快速也可以选择每个延迟区间t中的最后一个延迟时间值作为目标延迟时间值。
[0060]
在该实施例中，根据延迟区间内的目标延迟时间值的选取不同，步骤s20具有两种
不同的粗调方式。
[0061]
如图3所示的第一种实施例，目标延迟时间值为每个延迟区间内的第一个延迟时间值，该实施例的具体步骤如下：
[0062]
步骤s21a：从每个延迟区间中分别选取第一个延迟时间值对固态硬盘进行测试。
[0063]
在该实施例中，通过对每个存储单元进行多次循环测试，根据多次循环测试的结果判断延迟区间是否为起始延迟区间和终点延迟区间。
[0064]
其中，对固态硬盘进行测试时，通过对固态硬盘的主控中的参数进行设置，从而获得不同的目标延迟时间值，在设置好目标延迟时间值后，对固态硬盘进行写操作；对固态硬盘进行读操作，若在固态硬盘不进行纠错操作的情况下，读操作读取的数据与写操作写入的数据相同，则读写操作成功；否则，读写操作失败；当前目标延迟时间值下每次循环测试的读写操作均成功，则当前目标延迟时间值下的多次循环测试结果为成功；否则，失败。下表三示意性地示出了对延迟区间t进行测试的表格。
[0065]
表三：延迟区间t的测试结果
[0066][0067]
如上表所示，在n个循环中，若有一次在当前目标延迟时间值出现读写失败，则判定在当前目标延迟时间值不是有效延迟时间范围内的数值，该目标延迟时间值为无效值。在该实施例中，参考表三，由于在目标延迟时间值为6k、7k、8k、9k、10k和11k时的延迟时间值在多次的循环测试中都读写成功，即目标延迟时间值6k、7k、8k、9k、10k和11k均位于有效延迟时间范围内，它们都属于有效值，可以判定目标延迟时间值6k对应的延迟区间t6和目标延迟时间值11k对应的延迟区间t11与起始延迟区间和终点延迟区间有关。
[0068]
步骤s22a：判断是否获取到起始有效值。
[0069]
在该实施例中，选取每个延迟区间中的第一个延迟时间值对固态硬盘进行测试时，若第一个出现多次循环测试成功的有效值所在的延迟区间是多个延迟区间中的第一个延迟区间t0，则延迟区间t0即为起始延迟区间ts，延迟区间t0的第一个延迟时间值0即为有效延迟时间范围的起始有效值，并后续执行步骤s24a；否则执行步骤s23a。
[0070]
在本技术中，为了描述方便，采用“出现有效值的延迟区间”来描述步骤s21a中多次循环测试成功的目标延迟时间值所在的延迟区间，则“第一个出现有效值的延迟区间”可
以参考表三中的延迟区间t6，“最后一个出现有效值的延迟区间”可以参考表三中的延迟区间t11。进一步地，图3所示的流程图中，由于目标延迟时间值为延迟区间内的第一个延迟时间值，则“第一个出现有效值的延迟区间”也可以表述为“第一个出现
‘
第一个延迟时间值是有效值’的延迟区间”；若目标延迟时间值为延迟区间内的最后一个延迟时间值，则“第一个出现有效值的延迟区间”也可以表述为“第一个出现
‘
最后一个延迟时间值是有效值’的延迟区间”；“最后一个出现有效值的延迟区间”的表述以此类推。
[0071]
步骤s23a：确定第一个出现多次循环测试成功的有效值所在的延迟区间的前一个延迟区间为起始延迟区间。
[0072]
在另一种实施例中，第一个出现多次循环测试成功的有效值所在的延迟区间为延迟区间t1或其后的延迟区间，判定起始延迟区间ts为第一个出现多次循环测试成功的延迟区间的前一个延迟区间。
[0073]
步骤s24a：确定终点延迟区间。
[0074]
在该步骤中，测试的目标延迟时间值为延迟区间的第一个延迟时间值，最后一个出现多次循环测试成功的有效值所在的延迟区间为终点延迟区间te。
[0075]
参考表三，本实施例可以判定起始延迟区间为目标延迟时间值6k对应的延迟区间t6的前一个延迟区间t5；终点延迟区间为目标延迟时间值11k对应的延迟区间t11。
[0076]
步骤s25a：确认是否获得起始延迟区间和终点延迟区间。
[0077]
由于测试时的各种问题，可能会出现多个延迟区间t均没有位于有效延迟时间范围的情况。因此，需要判断是否获得起始延迟区间ts，终点延迟区间te，以便于后续步骤。
[0078]
其中，若获得起始延迟区间ts，终点延迟区间te，则执行图2中的步骤s30；若没有获得起始延迟区间ts，终点延迟区间te，则结束本次测试。没有获得起始延迟区间ts，终点延迟区间te的原因包括两种，一是当前固态硬盘ssd的信号真的很差，二是因为设定的参数k太大，导致延迟信号的有效延迟时间范围在同一区间内，需要降低参数k并重新从步骤s10开始执行。若k对应当前读写速率要求的最低读写信号范围值，则可以判定没有获得起始延迟区间ts和终点延迟区间te的原因是当前固态硬盘ssd的信号很差，不能在当前速率工作。
[0079]
优选地，在步骤s10前将k设置为对应当前读写速率要求的最低读写信号范围值，可以进一步减少循环测试次数，进而提高固态硬盘的开卡效率。
[0080]
进一步地，图4示出了步骤s20的第二种实施例，目标延迟时间值为每个延迟区间内的最后一个延迟时间值，该实施例的具体步骤如下：
[0081]
步骤s21b：从每个延迟区间中分别选取最后一个延迟时间值对固态硬盘进行测试。
[0082]
在该实施例中，每个延迟区间选取最后一个延迟时间值作为目标延迟时间值进行多次循环测试，以获得起始延迟区间和终点延迟区间。
[0083]
步骤s22b：是否获取到终点有效值。
[0084]
在该实施例中，由于目标延迟时间值为每个延迟区间的最后一个延迟时间值，因此，若最后一个出现多次循环测试成功的有效值所在的延迟区间是多个延迟区间中的最后一个延迟区间t(t-1)，则延迟区间t(t-1)即为终点延迟区间te，延迟区间t(t-1)的最后一个延迟时间值511(参见表二)即为有效延迟时间范围的终点有效值，并后续执行步骤s24b；否则执行步骤s23a。
[0085]
步骤s23b：确定最后一个出现多次循环测试成功的有效值所在的延迟区间的后一个延迟区间为终点延迟区间。
[0086]
在另一种实施例中，最后一个出现多次循环测试成功的有效值所在的延迟区间为延迟区间t(t-1)之前的延迟区间(不包括延迟区间t(t-1))，判定终点延迟区间te为最后一个出现多次循环测试成功的延迟区间的后一个延迟区间。
[0087]
步骤s24b：确定起始延迟区间。
[0088]
在该步骤中，测试的目标延迟时间值为延迟区间的最后一个延迟时间值，第一个出现多次循环测试成功的有效值所在的延迟区间为起始延迟区间ts。
[0089]
参考表三，本实施例可以判定起始延迟区间为目标延迟时间值6k对应的延迟区间t6；终点延迟区间为目标延迟时间值11k对应的延迟区间t11的后一个延迟区间t12。
[0090]
步骤s25b：判断是否获得起始延迟区间和终点延迟区间。
[0091]
进一步地，在确定起始延迟区间和终点延迟区间后，执行图2中所示的步骤s30及之后的步骤，通过细调以获得有效延迟时间范围起始有效值和终点有效值。
[0092]
步骤s30：对起始延迟区间中的每个延迟时间值进行测试得到起始有效值。
[0093]
在该实施例中，在测试的目标延迟时间值为延迟区间的第一个延迟时间值的情况下，当起始延迟区间不是多个延迟区间中的第一个延迟区间t0，需要对该起始延迟区间内的每个延迟时间值进行多次循环测试以获得起始有效值。将起始延迟区间内第一个不出现读写失败的延迟时间值作为起始有效值，多次循环测试获得起始有效值的步骤可以参考步骤s21a。当起始延迟区间是多个延迟区间中的第一个延迟区间t0，第一个延迟区间t0的第一个延迟时间值0即为起始有效值，无需循环测试。
[0094]
在另一个实施例中，在测试的目标延迟时间值为延迟区间的最后一个延迟时间值的情况下，则无论起始延迟区间是否是延迟区间t0，都需要对起始延迟区间内的所有延迟时间值进行循环测试，以便获得起始有效值。
[0095]
步骤s40：对终点延迟区间中的每个延迟时间值进行测试得到终点有效值。
[0096]
在该实施例中，在测试的目标延迟时间值为延迟区间的第一个延迟时间值的情况下，无论终点延迟区间是否是多个延迟区间中的最后一个延迟区间t(t-1)，都需要对终点延迟区间内的所有延迟时间值进行循环测试，以便获得终点有效值。
[0097]
在该步骤中，在测试的目标延迟时间值为延迟区间的最后一个延迟时间值的情况下，当终点延迟区间不是多个延迟区间中的最后一个延迟区间t(t-1)，需要对终点延迟区间内的所有延迟时间值进行循环测试，取终点延迟区间内最后一个不出现读写失败的延迟时间值作为终点有效值。当终点延迟区间为多个延迟区间中的最后一个延迟区间，则判定延迟区间t(t-1)的目标延迟时间值m为终点有效值，无需循环测试。在该实施例中，根据终点延迟区间获得终点有效值的步骤可以参考步骤s21a。
[0098]
步骤s50：根据所述起始有效值和所述终点有效值获取所述固态硬盘的有效延迟时间范围。
[0099]
在该步骤中，起始有效值至终点有效值的范围即为固态硬盘的有效延迟时间范围。
[0100]
进一步地，图5示出了根据本技术实施例的固态硬盘的延迟测试装置。
[0101]
参考图5，本技术实施例的固态硬盘的延迟测试装置包括主机400和固态硬盘300。
其中，固态硬盘300包括串行接口310，闪存控制器320，测试模块340和存储模块330。
[0102]
串行接口310，与主机连接，用于接收主机下发的操作指令。在该实施例中，例如用于接收延迟测试时的写命令和/或读命令。
[0103]
闪存控制器320与串行接口310连接，用于执行串行接口接收的操作命令。
[0104]
测试模块340，与闪存控制器320连接，用于根据参数k对固态硬盘的延迟时间范围进行粗调、细调等，以调整闪存控制器320对存储模块330进行循环测试操作时对应的不同延迟时间值。
[0105]
存储模块330，与闪存控制器320和测试模块340连接，用于存储数据。
[0106]
本技术提供的固态硬盘的延迟测试方法，将固态硬盘预设的延迟时间范围通过划分、粗调和细调，通过粗调确认起始延迟区间和终点延迟区间，可以缩小用以确认起始有效值和终点有效值的测试范围，减少测试次数，确认有效延迟时间范围的起始有效值和终点有效值，从而得到该有效延迟时间范围，避免了对所有延迟时间值进行循环测试，减少了循环测试次数，提高了固态硬盘的开卡效率，进而提高了固态硬盘的生产效率。通过将预设的延迟时间范围划分为多个延迟区间，对延迟区间的一个延迟时间值做测试确定起始延迟区间和终点延迟区间，
[0107]
进一步地，本技术提供的固态硬盘的延迟测试方法，在将预设的延迟时间范围划分为多个延迟区间时，每个延迟区间包括连续的k个延迟时间值，可以根据固态硬盘的读写速率要求的最低读写信号范围值确定k值并进行划分，从而可以在得到有效延迟时间范围的基础上，循环次数最少。同时根据不同读写速率设定不同参数k，可在生产过程中，不失灵活性的快速定位固态硬盘的有效延迟时间范围以及有效延迟时间范围是够满足需求。
[0108]
依照本技术的实施例如上文所述，这些实施例并没有详尽叙述所有的细节，也不限制该发明仅为所述的具体实施例。显然，根据以上描述，可作很多的修改和变化。本说明书选取并具体描述这些实施例，是为了更好地解释本技术的原理和实际应用，从而使所属技术领域技术人员能很好地利用本技术以及在本技术基础上的修改使用。本技术仅受权利要求书及其全部范围和等效物的限制。