本申请涉及电子芯片，特别涉及一种数据搬移方法、控制器、介质及产品。
背景技术：
1、在相关技术中，nand flash是现如今广泛使用的存储产品，具有速度快，非易失等优良特性。其内部实际上以存储电荷的形式来表示数据，一些内外部环境变化会导致电荷数量变化进而导致闪存数据错误比特产生。
2、在实际的闪存模组产品应用中，为了保证闪存数据安全，当发现闪存物理块中数据误码率上升到一定程度时，会将该物理块数据搬移到新的物理块中，从而降低闪存数据误码率，保证闪存数据安全；然而，选择闪存的默认读电压下的误码率作为闪存数据搬移的标准，随着闪存堆叠层数的增加，即使在寿命前期和短时间内数据保持的情况下，闪存也可能出现在默认电压下误码率过高而数据无法纠正的情况；即使用默认读电压下的误码率作为数据搬移的标准会导致闪存数据过早搬移，增加写放大，降低了闪存模组的读写性能。
技术实现思路
1、本申请旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本申请提出一种数据搬移方法、控制器、介质及产品，旨在避免闪存数据过早搬移，提高闪存模组的读写性能。
2、第一方面，本申请实施例提供了数据搬移方法，所述方法包括：
3、获取多组闪存样片；
4、分别对多组所述闪存样片进行对应次数的擦写操作，得到擦写操作后的多组所述闪存样片；
5、将多组所述闪存样片在预设温度下放置，并在预设周期下对多组所述闪存样片进行多组重读测试，以统计每组重读测试对应的误码率；
6、根据所述误码率进行分析，得到分析结果，并根据所述分析结果对所述闪存样片进行数据搬移。
7、根据本申请的一些实施例，所述预设温度包括第一预设温度和第二预设温度，所述预设周期包括第一预设周期和第二预设周期，所述将多组所述闪存样片在预设温度下放置，并在预设周期下对多组所述闪存样片进行多组重读测试，以统计每组重读测试对应的误码率，包括：
8、将多组所述闪存样片在第一预设温度下放置，并在第一预设周期下对多组所述闪存样片进行多组重读测试；
9、在多组所述闪存样片在所述第一预设温度下放置预设时间后，将所述第一预设温度调节至所述第二预设温度，并在第二预设周期下对多组所述闪存样片进行多组重读测试。
10、根据本申请的一些实施例，所述在第一预设周期下对多组所述闪存样片进行多组重读测试，包括：
11、在第一预设周期下，采用不同参考电压或不同读取时序的重读参数组对多组所述闪存样片进行读取测试。
12、根据本申请的一些实施例，所述在第二预设周期下对多组所述闪存样片进行多组重读测试，包括：
13、在第二预设周期下，采用不同参考电压或不同读取时序的重读参数组对多组所述闪存样片进行读取测试。
14、根据本申请的一些实施例，所述根据所述误码率进行分析，得到分析结果，并根据所述分析结果对所述闪存样片进行数据搬移，包括：
15、在单一所述重读参数组或至少两个所述重读参数组对应的误码率低于预设误码率阈值的情况下，根据单一所述重读参数组或至少两个所述重读参数组进行数据纠正，得到纠正结果；
16、根据所述纠正结果进行数据搬移。
17、根据本申请的一些实施例，所述根据所述纠正结果进行数据搬移，包括：
18、当单一所述重读参数组或至少两个所述重读参数组能数据纠正，则不搬移单一所述重读参数组或至少两个所述重读参数组；
19、当单一所述重读参数组或至少两个所述重读参数组不能数据纠正，则搬移单一所述重读参数组或至少两个所述重读参数组。
20、根据本申请的一些实施例，在所述统计每组重读测试对应的误码率之后，还包括：
21、按照预设编码规则表示，根据所述误码率进行表格构建，得到统计表格，以基于所述统计表格进行误码率分析。
22、第二方面，本申请实施例提供了一种控制器，包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器运行所述计算机程序时执行上述第一方面的数据搬移方法。
23、第三方面，本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质，存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令用于执行如上述第一方面的数据搬移方法。
24、第四方面，本申请实施例提供了一种计算机程序产品，包括计算机程序或计算机指令，其特征在于，所述计算机程序或所述计算机指令存储在计算机可读存储介质中，计算机设备的处理器从所述计算机可读存储介质读取所述计算机程序或所述计算机指令，所述处理器执行所述计算机程序或所述计算机指令，使得所述计算机设备执行如上述第一方面的数据搬移方法。
25、根据本申请实施例的技术方案，至少具有如下有益效果：本申请提出一种数据搬移方法、控制器、介质及产品，应用于电子芯片技术领域，方法包括：获取多组闪存样片；分别对多组所述闪存样片进行对应次数的擦写操作，得到擦写操作后的多组所述闪存样片；将多组所述闪存样片在预设温度下放置，并在预设周期下对多组所述闪存样片进行多组重读测试，以统计每组重读测试对应的误码率；根据所述误码率进行分析，得到分析结果，并根据所述分析结果对所述闪存样片进行数据搬移。本申请通过对多组闪存样片进行多组重读测试统计的误码率进行分析，以根据分析结果对闪存样品进行数据搬移，能够避免闪存数据过早搬移，提高闪存模组的读写性能。
26、本申请的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本申请的实践了解到。
1.一种数据搬移方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预设温度包括第一预设温度和第二预设温度，所述预设周期包括第一预设周期和第二预设周期，所述将多组所述闪存样片在预设温度下放置，并在预设周期下对多组所述闪存样片进行多组重读测试，以统计每组重读测试对应的误码率，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述在第一预设周期下对多组所述闪存样片进行多组重读测试，包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述在第二预设周期下对多组所述闪存样片进行多组重读测试，包括：
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据所述误码率进行分析，得到分析结果，并根据所述分析结果对所述闪存样片进行数据搬移，包括：
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述根据所述纠正结果进行数据搬移，包括：
7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述统计每组重读测试对应的误码率之后，还包括：
8.一种控制器，其特征在于，包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器运行所述计算机程序时执行如权利要求1至7中任意一项所述的数据搬移方法。
9.一种计算机可读存储介质，其特征在于：存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令用于执行如权利要求1至7中任意一项所述的数据搬移方法。
10.一种计算机程序产品，包括计算机程序或计算机指令，其特征在于，所述计算机程序或所述计算机指令存储在计算机可读存储介质中，计算机设备的处理器从所述计算机可读存储介质读取所述计算机程序或所述计算机指令，所述处理器执行所述计算机程序或所述计算机指令，使得所述计算机设备执行如权利要求1至7中任意一项所述的数据搬移方法。