本发明属于内存条高低温测试，特别涉及一种基于cxl的测试板与存储模组高低温测试连接结构。
背景技术：
1、在存储模组的高低温可靠性测试中，普遍采用将测试主板通过硬件转接板直接、紧密连接至被测模组的方式。而传统存储模组（如ddr dimm）采用并行信号传输，对信号完整性极其敏感，迫使测试板与被测模组的物理距离必须极近。
2、然而这就导致了现有的测试主板为了连接一般整体置于高低温试验箱内，其上的精密电子元器件直接承受剧烈的温度循环应力和冷凝风险，加速老化、故障率高；并且测试主板也需要大量线缆穿越箱壁进行连接，从而还会破坏箱体内的绝热密封性，导致能量泄漏，不仅增加温控能耗，更难以维持箱内温度场的均匀与稳定，影响测试条件的准确性与一致性。而且测试主板的更换、升级或维修必须开启试验箱，中断测试环境，流程繁琐且停机时间长，因此成本较高。
技术实现思路
1、本发明的目的在于针对一种基于cxl的测试板与存储模组高低温测试连接结构，其优点是测试主板置于温和的室外环境，免受温变应力与凝露威胁，寿命大幅延长；仅需对cxl线缆进行简单密封，降低了腔体泄漏风险与能耗；测试主板的维护、升级无需中断腔体内的测试环境，实现了热插拔式维护。
2、本发明的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的：一种基于cxl的测试板与存储模组高低温测试连接结构，包括整体机身，所述整体机身的内部开设有高低温腔体，所述整体机身的一侧设置有测试主板，所述高低温腔体内部的一侧以及测试主板靠近整体机身的一侧均安装有cxl接口板，两个所述cxl接口板之间电连接有连接线。
3、采用上述技术方案：通过将核心测试主板置于温和的常温环境中，使其彻底规避了高低温循环应力、凝露等恶劣条件的直接侵害，大幅延长了关键、昂贵的主测试设备的使用寿命，降低了系统整体故障率；而且仅需对少数cxl高速复合线缆进行简单可靠的密封处理，极大减少了穿墙开口，有效维持了试验箱的气密性。这不仅降低了温控能耗，更重要的是确保了箱内温度场的高度均匀与稳定，从而提升了测试条件的精度和结果的可比性；同时测试主板的维护、升级或软件调试均在箱外进行，实现了“热插拔”式维护，无需中断箱内的测试任务，显著减少了停机时间。并通过设计可更换的标准化接口板，同一套外部测试主板可灵活适配ddr, lpddr、cxl内存模块，显著提高了测试设备的通用性。
4、本发明进一步设置为，所述测试主板的内部集成有cxl主机控制器，所述高低温腔体内腔一侧cxl接口板的内部集成有主机控制器cxl设备控制器，所述cxl设备控制器通过导热硅胶垫高热容的金属基板紧贴，且基板再通过低热导率支架固定在高低温腔体内部。
5、采用上述技术方案：使cxl设备控制器产生的热量被热沉吸收并缓慢释放，减少对腔内瞬态温度场的冲击；同时通过低热导率支架隔热减少了通过接口板向外的热传导。
6、本发明进一步设置为，所述测试主板的内部还安装有可编程延迟补偿模块以及链路健康度监测单元。
7、采用上述技术方案：可编程延迟补偿模块通过定期发送时间戳校准包，测量并补偿cxl链路在变温环境下产生的传输延迟抖动，保证测试命令与采样时钟之间的精确同步，而链路健康度监测单元则用于实时监测误码率、信号幅值等参数。
8、本发明进一步设置为，所述连接线分别为用于两个cxl接口板供电的电源线和用于读取cxl接口板上的温度传感器、监控电源状态的低速控制与监测线。
9、采用上述技术方案：连接线可从两个cxl接口板之间进行拔插拆卸，从而能通过更换不同类型的cxl接口板和连接线，灵活适配ddr、lpddr、cxl内存模块等多种存储器件。
10、本发明进一步设置为，所述cxl接口板采用低功耗的cxl设备控制器芯片并优化电源电路形成的被动散热设计。
11、采用上述技术方案：通过选用低功耗的cxl设备控制器芯片并优化电源电路，确保其自身发热不会对高低温腔内的温度场均匀性造成实质性干扰。
12、本发明进一步设置为，所述高低温腔体内腔一侧cxl接口板采用密封法兰与整体机身一侧螺栓连接，所述密封法兰内部集成有帕尔贴效应温控模块。
13、采用上述技术方案：确保连接器触点区域温度始终维持在露点以上和器件额定工作温度范围内，防止凝露和极端温度导致性能劣化。
14、本发明进一步设置为，所述cxl接口板内部采用低esr的宽温陶瓷电容和钽电容组合。
15、采用上述技术方案：用于应对温度循环下电容容值的变化，确保为cxl芯片和高速存储模组提供瞬间响应能力强的稳定电源。
16、综上所述，本发明具有以下有益效果：
17、1、通过将核心测试主板置于温和的常温环境中，使其彻底规避了高低温循环应力、凝露等恶劣条件的直接侵害，大幅延长了关键、昂贵的主测试设备的使用寿命，降低了系统整体故障率；而且仅需对少数cxl高速复合线缆进行简单可靠的密封处理，极大减少了穿墙开口，有效维持了试验箱的气密性。这不仅降低了温控能耗，更重要的是确保了箱内温度场的高度均匀与稳定，从而提升了测试条件的精度和结果的可比性；
18、2、同时测试主板的维护、升级或软件调试均在箱外进行，实现了“热插拔”式维护，无需中断箱内的测试任务，显著减少了停机时间。并通过设计可更换的标准化接口板，同一套外部测试主板可灵活适配ddr, lpddr、cxl内存模块，显著提高了测试设备的通用性。
1.一种基于cxl的测试板与存储模组高低温测试连接结构，包括整体机身（1），其特征在于：所述整体机身（1）的内部开设有高低温腔体（3），所述整体机身（1）的一侧设置有测试主板（2），所述高低温腔体（3）内部的一侧以及测试主板（2）靠近整体机身（1）的一侧均安装有cxl接口板（4），两个所述cxl接口板（4）之间电连接有连接线（5）。
2.根据权利要求1所述的一种基于cxl的测试板与存储模组高低温测试连接结构，其特征在于：所述测试主板（2）的内部集成有cxl主机控制器，所述高低温腔体（3）内腔一侧cxl接口板（4）的内部集成有主机控制器cxl设备控制器，所述cxl设备控制器通过导热硅胶垫高热容的金属基板紧贴，且基板再通过低热导率支架固定在高低温腔体（3）内部。
3.根据权利要求1所述的一种基于cxl的测试板与存储模组高低温测试连接结构，其特征在于：所述测试主板（2）的内部还安装有可编程延迟补偿模块以及链路健康度监测单元。
4.根据权利要求1所述的一种基于cxl的测试板与存储模组高低温测试连接结构，其特征在于：所述连接线（5）分别为用于两个cxl接口板（4）供电的电源线和用于读取cxl接口板（4）上的温度传感器、监控电源状态的低速控制与监测线。
5.根据权利要求1所述的一种基于cxl的测试板与存储模组高低温测试连接结构，其特征在于：所述cxl接口板（4）采用低功耗的cxl设备控制器芯片并优化电源电路形成的被动散热设计。
6.根据权利要求1所述的一种基于cxl的测试板与存储模组高低温测试连接结构，其特征在于：所述高低温腔体（3）内腔一侧cxl接口板（4）采用密封法兰与整体机身（1）一侧螺栓连接，所述密封法兰内部集成有帕尔贴效应温控模块。
7.根据权利要求1所述的一种基于cxl的测试板与存储模组高低温测试连接结构，其特征在于：所述cxl接口板（4）内部采用低esr的宽温陶瓷电容和钽电容组合。