本公开的实施例涉及一种存储器操作方法、存储器、电子设备及存储介质。、随着现代计算机系统对存储器的访问需求持续增长，存储器中的存储颗粒长期处在严苛的环境中高负载运行，十分容易因老化等原因发生失效。存储器发生的失效会导致计算机系统的稳定性下降，并且若不能对存储器发生失效的部分进行及时的修复，甚...

本技术涉及硬盘壳散热，具体为一种自带导热散热结构的硬盘壳。、硬盘是一种存储设备。绝大多数硬盘都是固定硬盘，被永久性地密封固定在硬盘驱动器中。早期的硬盘存储媒介是可替换的，不过今日典型的硬盘是固定的存储媒介，被封在硬盘里(除了一个过滤孔，用来平衡空气压力)。随着科技的发展，可移动硬盘也出现了...

本申请涉及散热，尤其涉及固态硬盘及电子设备。、固态硬盘包括主控芯片、存储部件(比如nand闪存颗粒)和散热器。散热器由铝型材一体加工成型。、在实际测试读写过程中，固态硬盘的主控芯片的温度远高于存储部件的问题，二者的温差在裸盘状态下互不影响。因为散热器为一体式，它会同时覆盖主控芯片和存储部件...

本技术涉及数据保护内的存储器数据延时保护电路。、大数据中心为公安系统的基层单位提供了强大的数据支撑能力，使得工作效率得到了提升。而在大数据中心的控制系统中，由于芯片内存容量十分有限，常常要进行数据存储器和程序存储器的扩展，无论是易失性存储器还是非易失性存储器，在断电时需要对计算机应用系统的...

本申请涉及存储，尤其涉及译码方法、装置、电子设备、存储介质，以及程序产品。、在存储中，随着闪存技术的不断发展，闪存中存储单元密度在不断提升，也即存储单元之间的距离变得更近，导致编程或读取一个单元时可能会影响到其邻近单元的状态，增加误码率。因此，为保证读写数据的可靠性，需要在数据读写...

本技术涉及存储设备，特别涉及一种硬盘柜。、硬盘柜用于插接多个硬盘，并使用接口与计算机连接，供计算机对该硬盘进行读写等操作。硬盘主要分为机械硬盘和固态硬盘，机械硬盘通常自带一个坚固的保护外壳，而固态硬盘中，一部分固态硬盘(如m.硬盘)往往没有额外的外壳保护。、传统的硬盘柜一般设置为柜体和托盘...

本发明涉及数据存储，特别涉及一种nand flash编程电压的控制方法、装置和存储介质。、nand flash(nand flash，闪存)是一种常见的非易失性存储器。nand flash的存储单元由衬底、介质和浮栅构成。在对nand flash进行编程操作时，是对nand flash施加...

本公开的实施例大体上涉及存储器子系统，且更具体来说，涉及存储器子系统的存储器装置中的三维非易失性存储器阵列上方的动态锁存器。、存储器子系统可包含存储数据的一或多个存储器装置。存储器装置可为例如非易失性存储器装置及易失性存储器装置。一般来说，主机系统可利用存储器子系统来将数据存储在存储器装置...

本发明涉及数据存储，特别涉及一种蓝光存储设备的纠删存储方法、系统、设备与介质。、蓝光存储设备可以把需要长期保存的数据从在线存储（如基于磁盘介质的分布式存储系统）中迁移到只读、可离线的光盘介质上，并长期保存，因此在现代大容量长期安全数据存储体系中起到了关键作用。、现有的蓝光存储管理技术，一般...

本发明涉及硬盘质量检测，尤其涉及一种多通道扩展的硬盘自动测试装置和方法。、本部分的陈述仅仅是提供了与本发明相关的信息，不必然构成在先技术。、数据作为数字经济的核心生产要素，在推动产业升级、优化经济结构和创造经济增长点方面具有战略性作用。而在数据存储方面，sata/sas/pcie接...

本发明是有关于一种存储器装置的操作方法，且特别是有关于一种存储器装置及其编程方法。、编程干扰在克服nand存储单元尺度问题上是一个挑战关键。结漏电(junctionleakage)与通道升压比(channel boosting ratio，cbr)被认为是限制编程干扰的两个主要构成。目前有...

本发明涉及一种存储器装置，尤其涉及一种用以减少擦除操作所花费的擦除时间的闪存装置及其擦除方法。、闪存装置可执行写入操作、擦除操作与读取操作，其中擦除操作所花费的时间最久。因此，擦除操作所需的时间长短可以说是主导了闪存的效能。一般而言，在闪存装置的擦除操作期间，包括施加预编程(pre-pro...

、本公开大体涉及半导体装置，且更具体来说，涉及半导体存储器装置。特定来说，本公开涉及易失性存储器，例如动态随机存取存储器(dram)。信息可作为物理信号(例如，电容元件上的电荷)存储在存储器的个别存储器单元上。在存取操作期间，可连同指定应存取哪些存储器单元的地址信息一起接收存取命令。、人们...

本申请的实施例涉及储存器件及其操作方法。、集成电路(ic)小型化的最新趋势导致了更小的器件，这些器件消耗更少的功率，但以更高的速度提供更多的功能。小型化过程也导致了更严格的设计和制造规范以及可靠性挑战。各种电子设计自动化(eda)工具生成、优化和验证集成电路的标准单元布局设计，同时确保满足...

本发明涉及电子设备领域，具体而言，涉及一种电压保持电路与片上系统。、在待机模式(又称为sleep模式或standby mode)下，电子设备会降低功耗以延长电池的待机时长。电子设备中通常设置有闪存(flash存储器)，而由于闪存的工作特性，闪存在较低电压下可能无法正常执行读写操作。当需要从...

本发明涉及一种存储器测试技术，尤其涉及一种半导体存储器装置及其所采用的测试方法。、字线漏电流(包括字线至字线、字线至位线及字线至存储电容的漏电流)是在动态随机存取存储器(dynamic random access memory，dram)的制造过程中常见的缺陷，容易产生质量上的问题。相较于...

本发明实施例涉及半导体制造领域，尤其涉及一种存算一体电路及sram存储器。、存算一体(cim)将积和累积(mac)计算并行化，并减少片外权重访问，以减少能耗和延迟，特别是针对ai边缘设备。先前的cim方法在面积、噪声裕度、工艺变化和权重精度方面进行了权衡。t sram为cim提供了最小的单...

本公开涉及半导体电路设计领域，特别涉及一种控制电路及存储器。、随着集成电路的发展，集成电路的密度越来越高、速度越来越快；对于动态随机存取存储器(dynamic random access memory，dram)而言，电路复杂性迅速提高，存储器的容量越来越大。、对于dram而言，dram内...

本发明涉及数字集成电路电子设计自动化(eda)，特别涉及一种基于贪心算法组合模拟退火算法的针对存储器内建自测试电路的自动规划分组方法。、存储器内建自测试电路(memory built-in self-test，mbist)是一种广泛应用于芯片设计中的测试技术，用于验证集成电路中存储器模块的...

本发明涉及存储领域，具体是一种分析ssd内因nand flash特性导致的读出错误数高的方法、装置及介质。、nand flash是非易失性存储器，掉电数据不丢失，体积小，可以实现廉价高效的大容量存储，因此受到广泛应用。、一般而言，一片nand flash是有多个片选信号（ce），每个片选信...