太阳能电池组件缺陷检测工艺方法

文档序号:6821577阅读:485来源:国知局
专利名称:太阳能电池组件缺陷检测工艺方法
技术领域
本发明太阳能电池组件缺陷检测工艺方法,涉及的是监测和研究太阳能电池组件生产的技术领域。用于评测太阳能电池组件及电池串参数。
背景技术
在太阳能电池组件生产过程中,经常会发生的是由于员工在操作过程中的重复焊接或者手势不对,造成太阳能电池芯片的过焊、隐裂;另一方面,由于不少太阳能电池芯片在烧结过程中就会出现一些问题,像我们经常用肉眼看不到的隐裂、低功率等现象,这样, 严重影响到太阳能电池组件的使用寿命及电性能。极易造成太阳能电池组件的整体报废

发明内容
本发明的目的在于克服以前的一些缺陷,利用太阳能电池的电致发光亮度正比于少子扩散长度的原理,通过图像的分析,我们可以在短时间内有效的发现太阳能电池芯片、 扩散、钝化、网印及烧结等各个环节可能存在问题的太阳能电池组件缺陷检测工艺方法。其技术是这样实现的设置好输入电流,曝光时间,存储路径等在内,其特征在于置入太阳能电池测试组件,连接出线的正、负极电极,合盖,形成暗室,红外光反射太阳能电池测试组件图象,观察显示图像并作标记的工艺过程;所述的输入电流在1A-10A的范围内;曝光时间在0. ls-25. 5s的范围内。实施该技术后的明显优点和效果是应用太阳能电池电致发光图像直观的展现出太阳能电池扩散长度的分布特征,通过图像的分析,我们可以在短时间内有效地发现太阳能电池芯片、扩散、钝化、网印及烧结等各个环节可能存在的问题的。这样我们就很容易观察到太阳能电池芯片的缺陷,像以前的太阳能电池芯片隐裂、表面污染、 烧结缺陷、材料缺陷、断栅等问题,得到及时的修正,避免了太阳能电池组件的整体报废,尤其在大规模生产中,延长太阳能电池组件的使用寿命,提高了电性能,可以提高产量,增加效益。
具体实施例方式下面是以功率190W,长度为1580mm,宽度808mm的组件为例,对本发明作进一步描述打开测试仪电源开关,设置好输入电流2k,曝光时间0. 2s,设定好计算机内的储存路线后,两人平抬将上道工序叠层好的长1580mm,宽808mm的组件放入太阳能电池组件缺陷检测仪由光学玻璃制成的工作台面上,用鳄鱼夹连接出线电极,红色的电源正极连接电池组件正极,黑色的电源负极连接电池组件负极,夹好后,盖上测试仪顶盖,形成一个暗室;测试时,启动测试仪电源,输给组件正向电流的作用下,发出红外光,红外光图像曝光被反射到显示屏显示,观察显示图像,判断太阳能电池芯片是否有隐裂片、低效片、虚焊点等异常现象,如果有,可以在有缺陷的区域单击鼠标右键进行标记,退回修补,避免了太阳能电池组件的整体报废。
权利要求
1.太阳能电池组件缺陷检测工艺方法,包括设置输入电流,曝光时间,存储在计算机的路径等在内,其特征在于置入太阳能电池测试组件,连接出线的正、负极电极,合盖,形成暗室,红外光反射太阳能电池测试组件图象,观察显示图像并作标记的工艺过程。
2.根据权利要求1所述的太阳能电池组件缺陷检测工艺方法,其特征在于所述的输入电流在1A-10A的范围内。
3.根据权利要求1所述的太阳能电池组件缺陷检测工艺方法,其特征在于曝光时间在0. ls-25. 5s的范围内。
全文摘要
太阳能电池组件缺陷检测工艺方法,置入太阳能电池测试组件,连接出线的正、负极电极,合盖,形成暗室,红外光反射太阳能电池测试组件图象,观察显示图像并作标记的工艺过程。应用太阳能电池电致发光图像直观的展现出太阳能电池扩散长度的分布特征,通过图像的分析,我们可以在短时间内有效地发现太阳能电池测试组件的太阳能电池芯片、扩散、钝化、网印及烧结等各个环节可能存在的问题的。这样我们就很容易观察到太阳能电池芯片的缺陷,像以前的太阳能电池芯片隐裂、表面污染、烧结缺陷、材料缺陷、断栅等问题能得到及时的修正,避免了太阳能电池组件的整体报废,尤其在大规模生产中,延长太阳能电池组件的使用寿命,提高了电性能,可以提高产量,增加效益。
文档编号H01L31/18GK102569496SQ201010599859
公开日2012年7月11日 申请日期2010年12月17日 优先权日2010年12月17日
发明者倪夜光 申请人:上海山晟太阳能科技有限公司
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