一种针对封装光伏组件调质试验装置及方法与流程

本发明涉及检测领域，特别涉及一种针对封装光伏组件调质试验装置及方法。

背景技术：

1、调质处理是指在进行最后加工完善以前进行的准备过程，在太阳能光伏发电领域内，紫外试验机用于太阳能光伏组件的测试，用于评估eva聚合物(eva聚合物为乙烯-醋酸乙烯酯共聚物)和保护层等材料抗紫外辐照能力，但目前并没有针对贴片式封装器件的产品模块进行调质处理试验的装置及方法。

技术实现思路

1、有鉴于此，本发明的目的在于提供一种针对封装光伏组件调质试验装置及方法，解决了现有技术中没有针对贴片式封装器件的产品模块进行调质处理试验的问题。

2、为解决上述技术问题，本发明提供了一种针对封装光伏组件调质试验装置，包括：

3、温控测试腔室、紫外光照射部件、紫外光辐照度检测仪和温度检测部件；所述紫外光照射部件包括紫外光源，以及与所述紫外光源连接的紫外线发生器；

4、所述温控测试腔室中设置有待测组件放置区域，且所述紫外光源与所述待测组件放置区域对应设置，以使所述紫外光源发射出的紫外光照射待测区域；所述待测区域至少包括所述待测组件放置区域中，靠向所述紫外光源的区域外轮廓；

5、所述紫外光辐照度检测仪和所述温度检测部件设置在所述温控测试腔室的内部，以对所述待测区域的温度和紫外光辐照度进行检测。

6、可选的，所述待测区域包括沿所述区域外轮廓，分别向两侧延伸预设距离形成的区域。

7、可选的，所述温度检测部件为红外热电感应成像仪。

8、可选的，所述紫外光源设置在所述温控测试腔室的内部。

9、可选的，所述温度检测部件设置在所述紫外光源的旁侧，以使所述温度检测部件和所述紫外光源均正对所述待测区域。

10、可选的，所述紫外光辐照度检测仪设置在所述紫外光源的旁侧，以使所述紫外光辐照度检测仪和所述紫外光源均正对所述待测区域。

11、本发明还提供了一种针对封装光伏组件调质试验方法，包括：

12、将所述待测组件放置在温控测试腔室中的待测组件放置区域；

13、利用设置在所述温控测试腔室内部的温度检测部件检测待测区域的温度，根据所述温度检测部件检测的温度，将所述待测区域的温度调整在指定温度；所述待测区域至少包括所述待测组件靠向紫外光源的外轮廓；所述待测组件与所述紫外光源对应设置；

14、打开紫外线发生器，以使所述紫外光源发射出的紫外光，以预设波长照射所述待测区域；所述紫外光源与所述紫外线发生器连接；

15、开启设置在所述温控测试腔室内部的紫外光辐照度检测仪，对所述待测区域的紫外光辐照度进行检测，得到紫外光辐照度检测结果；

16、利用所述紫外光线发生器根据所述紫外光辐照度检测结果，调整所述紫外光源的紫外光辐照度；

17、在所述指定温度条件下，利用调整紫外光辐照度后的预设波长的紫外光，照射所述待测组件靠向所述紫外光源的外轮廓，完成所述待测组件的调质试验。

18、可选的，所述预设波长为280纳米至400纳米。

19、可选的，所述打开紫外线发生器，以使所述紫外光源发射出的紫外光，以预设波长照射所述待测区域，包括：

20、打开所述紫外线发生器，以使所述紫外光源发射出的紫外光中处于280纳米至320纳米范围内的紫外光占比小于或等于百分之十，使所述紫外光源发射出的紫外光中处于280纳米至400纳米范围内的紫外光占比大于或等于百分之三。

21、可见，本发明提供的针对封装光伏组件调质试验装置，包括温控测试腔室、紫外光照射部件、紫外光辐照度检测仪和温度检测部件，紫外光照射部件包括紫外光源，以及与紫外光源连接的紫外线发生器，温控测试腔室中设置有待测组件放置区域，且紫外光源与待测组件放置区域对应设置，以使紫外光源发射出的紫外光照射待测区域，待测区域至少包括待测组件放置区域中，靠向紫外光照射部件的区域外轮廓，紫外光辐照度检测仪和温度检测部件设置在温控测试腔室的内部，以对待测区域的温度和紫外光辐照度进行检测。本发明通过设置一温控测试腔室，并在该温控测试腔室内设置待测组件放置区域，且将紫外光源与待测组件放置区域对应设置，以及设置紫外光辐照度检测仪和温度检测部件，能够提高对贴片式封装光伏组件进行调质试验，尤其进行抗紫外线性质检测的便捷性，进而保证封装光伏组件的使用寿命。

22、此外，本发明还提供了一种针对封装光伏组件调质试验方法，同样具有上述有益效果。

技术特征：

1.一种针对封装光伏组件调质试验装置，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的针对封装光伏组件调质试验装置，其特征在于，所述待测区域包括沿所述区域外轮廓，分别向两侧延伸预设距离形成的区域。

3.根据权利要求1所述的针对封装光伏组件调质试验装置，其特征在于，所述温度检测部件为红外热电感应成像仪。

4.根据权利要求1所述的针对封装光伏组件调质试验装置，其特征在于，所述紫外光源设置在所述温控测试腔室的内部。

5.根据权利要求4所述的针对封装光伏组件调质试验装置，其特征在于，所述温度检测部件设置在所述紫外光源的旁侧，以使所述温度检测部件和所述紫外光源均正对所述待测区域。

6.根据权利要求5所述的针对封装光伏组件调质试验装置，其特征在于，所述紫外光辐照度检测仪设置在所述紫外光源的旁侧，以使所述紫外光辐照度检测仪和所述紫外光源均正对所述待测区域。

7.一种针对封装光伏组件调质试验方法，其特征在于，包括：

8.根据权利要求7所述的针对封装光伏组件调质试验方法，其特征在于，所述预设波长为280纳米至400纳米。

9.根据权利要求8所述的针对封装光伏组件调质试验方法，其特征在于，所述打开紫外线发生器，以使所述紫外光源发射出的紫外光，以预设波长照射所述待测区域，包括：

技术总结
本发明公开了一种针对封装光伏组件调质试验装置及方法，应用于检测领域，该装置包括：温控测试腔室、紫外光照射部件、紫外光辐照度检测仪和温度检测部件；紫外光照射部件包括紫外光源，以及与紫外光源连接的紫外线发生器；温控测试腔室中设置有待测组件放置区域，且紫外光源与待测组件放置区域对应设置；紫外光辐照度检测仪和温度检测部件设置在温控测试腔室的内部。本发明通过设置温控测试腔室，并在该温控测试腔室内设置待测组件放置区域，且将紫外光源与待测组件放置区域对应设置，以及设置紫外光辐照度检测仪和温度检测部件，能够提高对贴片式封装光伏组件进行调质试验，尤其进行抗紫外线性质检测的便捷性，进而保证封装光伏组件的使用寿命。

技术研发人员：徐国强,张伟,张士龙,刘保松
受保护的技术使用者：杭州华电工程咨询有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/3/11