专利名称：全展宽电路和电平检测电路的制作方法
技术领域：
本发明涉及电视机中使白色变鲜明的全展宽电路，特别涉及配有可使用一个基准电源来判别输入信号的电平在基准电源的基准电平的规定范围内的电平检测电路的全展宽电路。
背景技术：
在电视机进行白色显示时，有时会观察到画面上颜色不鲜明的白色而成为发黄的白色。这样的情况下，已知在R(红)、G(绿)、B(蓝)的基色信号内增强蓝色进行画面显示，来消除黄色，可观察到鲜明的白色。
因此，开始采用自动地检测接收的信号为白色的情况而增强蓝色的全展宽电路。可以提高进行蓝色信号放大的B驱动电路的放大率来增强蓝色。
但是，现有的全展宽电路存在以下问题没有简单地检测到来的色度信号为白色的方法。此外，如果用信号电平来判别白色信号，则需要进行正确的电平检测，但难以用简单的结构获得适合IC(集成电路)化的电平检测电路。
发明内容
本发明的全展宽电路的特征在于包括电压检测电路，检测第1和第2色差信号的大小在规定范围内的情况；以及放大部件，按照该电压检测电路的输出信号来增大蓝色信号的电平。
此外，本发明的全展宽电路的特征在于包括电压检测电路，检测第1和第2色差信号的大小在规定范围内的情况；全展宽控制电路，按照该电压检测电路的输出信号和亮度信号的电平来产生全展宽控制信号；以及放大电路，按照该全展宽控制电路的输出信号来增大蓝色信号的电平。
而且，本发明的电平检测电路使用一个基准电源来判别输入信号的电平在基准电源的基准电平的规定范围内的情况，其特征在于，它包括第1比较单元，在所述输入信号的电平比基准电源的基准电平小时产生判别输出信号；以及第2比较单元，在所述输入信号的电平比基准电源的基准电平大时产生判别输出信号。
图1是本发明实施方式的全展宽电路的方框图。
图2是本发明实施方式的色差信号的矢量图。
图3是表示本发明实施方式的色差信号波形和电平检测范围的关系的图。
图4是表示图1的电压检测电路5的内部方框图。
图5是表示图4的电压检测电路的具体电路例的图。
图6是表示图5的电压检测电路的输出电流波形的图。
图7是将图6的输出电流波形描绘为色度的波形图。
具体实施例方式
以下，参照图1来说明本发明的实施方式。图1表示配置于电视机的色信号处理电路中的本发明的全展宽电路。
1是放大来自输入端子2的色度信号的色度放大器，3是根据来自色度放大器1的色度信号来对B-Y信号分量进行解调的B-Y解调器，4是根据来自色度放大器1的色度信号来对R-Y信号分量进行解调的R-Y解调器。
5是检测色度信号是应施加展宽的白色信号的电压检测电路，该电压检测电路包括第1电压检测电路6(未图示)，检测来自B-Y解调器3的B-Y信号在规定电平以下的情况；以及第2电压检测电路7(未图示)，检测来自R-Y解调器的R-Y信号在规定电平以下的情况；8是按照电压检测电路5的输出信号和来自端子9的亮度信号(Y)来产生展宽控制信号的全展宽控制电路。
10是进行来自输入端子11的亮度信号(Y)的放大和清晰度调整的亮度信号处理电路，12是根据R-Y信号和B-Y信号来形成G-Y信号，同时输出R-Y信号、B-Y信号的矩阵电路，13是根据来自亮度信号处理电路10的亮度信号和来自矩阵电路12的G-Y信号、R-Y信号、B-Y信号来形成RGB三个基色信号的混合电路。
14是进行RGB三个基色信号的对比度调整的对比度电路，15至17是进行对比度调整后的RGB三个基色信号的功率放大的R、G、B驱动电路。
下面，说明图1所示电路的工作。解调载波发生电路18使用90度移相器19在B-Y解调器3和R-Y解调器4上施加相位相差90的载波信号。因此，B-Y解调器3和R-Y解调器4对各个色差信号进行解调，将解调输出(B-Y信号、R-Y信号)施加在电压检测电路5上。电压检测电路5按照B-Y信号和R-Y信号的电平来判别接收信号是白色信号的情况。
下面使用图2和图3来说明该动作。图2是使用了B-Y信号轴和R-Y信号轴的色差信号的矢量图。在本发明中，将图2的斜线部分检测为白色信号区域。因此，可检测图3(a)中实线所示的B-Y信号内为点划线区域内的电平信号，并且可检测图3(b)实线所示的R-Y信号内点划线区域内的电平信号。如图4所示，该电压检测电路5包括第1电压检测电路6，检测R-Y信号在点划线电平以下的情况；第2电压检测电路7，检测R-Y信号在点划线电平以下的情况；“与”门电路25，取得第1电压检测电路6和第2电压检测电路7的反转输出信号的逻辑积；以及基准电源26，确定所述电压检测电路6、7的基准电平。
如果B-Y信号与基准电源26的电压Vref相比在±α的范围内，则第1电压检测电路6产生L电平。该±α的范围与图3的点划线区域相同。第2电压检测电路7也按相同的动作产生L电平。
因此，如果图2的斜线部分的信号到来，则由“与”门电路25在输出端子27上产生H电平的控制信号。图2的斜线是正方形，所以将基准电源26的电压施加在电压检测电路6、7上，但如果为长方形，则也可以准备不同电平的两个基准电源，施加在电压检测电路6、7上。
因此，根据图1的电压检测电路5，可进行白色信号的检测。
来自图1的电压检测电路5的H电平的信号被施加在全展宽控制电路8上。如果全展宽控制电路8在亮度信号的电平为4OIRE以上时，判断为从电压检测电路5施加了H电平的信号和进行全展宽，则提高B驱动电路17的放大率。
另一方面，亮度信号(Y)通过亮度信号处理电路10、混合电路13被变换成RGB的基色信号，通过对比度电路14施加在R、G、B驱动电路15至17上。其结果，如果使用输出端子30、31、32的基色信号，则可以通过全展宽功能将鲜明的白色显示在画面上。
图5表示第1电压检测电路6和第2电压检测电路7的具体电路例。第1电压检测电路6和第2电压检测电路7在与基准电源26的电压Vref相比稍稍偏差±α的范围内进行检测。因此，需要判别灵敏度非常高的电压检测电路。该电压检测电路在某个范围内进行检测，所以一般考虑按使用两个基准电压来使用限幅比较器。但是，如果判别灵敏度高，则在正确地形成两个独立的基准电源的电平上需要花工夫。因此，在本发明中，考虑使用单一的基准电源在比电压Vref稍稍偏差±α的范围内进行检测。
图5表示某个电压的电平检测电路的具体电路例。该电路包括将输入信号施加在基极上、发射极连接在一起的第1和第2晶体管40、41；将基准电源26的基准电压Vref施加在基极上、发射极公用连接的第3和第4晶体管42、43；使电流流过上述第1至第4晶体管40至43的发射极的电流源44；集电极连接到上述第1晶体管40的集电极的二极管连接型的第5晶体管45；基极连接到上述第5晶体管45的基极、发射极连接到上述第3晶体管42的集电极的第6晶体管46；集电极连接到上述第4晶体管43的集电极的二极管连接型的第7晶体管47；以及基极连接到上述第7晶体管47的基极、发射极连接到上述第2晶体管41的集电极的第8晶体管48；是从连接到第6和第8晶体管46、48的集电极的输出端子49获得输出信号的结构。下面参照图6的表示输入电压Vin和输出电流I的关系的特性图来说明图5的电路工作。图5的输入端子50的输入电压Vin示于图6的横轴，流过输出端子49的电流I示于图6的纵轴。如果输入端子50的输入电压Vin为图6的Vref-α，则第1和第2晶体管40、41的集电极电流小，第3和第4晶体管42、43的集电极电流大。于是，第6晶体管46的基极电压上升，发射极电压下降，所以第6晶体管46有截止倾向，在其集电极中不流过图6所示的电流。另一方面，第8晶体管48的基极电压下降，发射极电压上升，所以第8晶体管48有导通倾向，在其集电极中流过图6所示的电流。
此时，第6晶体管46和第8晶体管48因基极-发射极间电压从基极、发射极双方变窄或扩宽，所以其导通截止变化的程度比普通的晶体管动作快。即，如果输入端子50的输入电压Vin比基准电压Vref稍高或稍低，则第6晶体管46和第8晶体管48开始反转。通过改变电流源44的电流值并改变第1至第4晶体管40至43的发射极内部电阻Re的值来改变其反转的强度。
如果从该状态将输入端子50的输入电压Vin向图6的Vref+α上升，则第6晶体管46的基极-发射极间电压扩大，其集电极电流增加。相反，第8晶体管48的基极-发射极间电压变窄，其集电极电流下降。
因此，如果按输出端子49中流过的输出电流I来考虑，则可获得图6的U字型的输出电流I。从图6可知，在输入信号的电压Vin比基准电源26的基准电压Vref小的情况下，从作为第1比较单元工作的第8晶体管48产生判别输出信号(电流)。而在输入信号的输入电压Vin比基准电源26的基准电压Vref大的情况下，从作为第2比较单元工作的第6晶体管46产生判别输出信号(电流)。
图7是按色度描绘图6的特性图。从图7可知，图5的电路在基准电压Vref附近的输入电压Vin时其输出电流I急速下降，由此可进行基准电压Vref附近的输入电压Vin检测。
因此，如果将图5的电平检测电路应用于图4的电压检测电路，则可以用一个基准电平正确地进行白色信号的检测。
根据本发明，通过R-Y信号和B-Y信号的电平在规定范围内的情况，可以检测色度信号为白色，所以可简单地进行白色检测。此外，根据本发明，可以用一个基准电平在基准电平的附近范围进行电平判定，所以没有因IC化时的元件偏差等而使上限和下限的判定电平变动。即，在IC化时，即使基准电平的绝对值变化，上限和下限之差也不变动。
此外，根据本发明，用一个基准电平就可以，所以基准电源用一个即可，不增加元件数。
此外，根据本发明，通过仅改变差动放大器的工作电流源的值，可以简单地改变电压检测的判定电平。
权利要求
1.一种全展宽电路，其特征在于，包括电压检测电路，检测第1和第2色差信号的大小在规定范围内的情况；以及放大电路，按照该电压检测电路的输出信号来增大蓝色信号的电平。
2.如权利要求1所述的全展宽电路，其特征在于，所述电压检测电路包括第1电压检测单元，检测第1色差信号的大小在规定范围内的情况；以及第2电压检测单元，检测第2色差信号的大小在规定范围内的情况。
3.一种全展宽电路，其特征在于，包括电压检测电路，检测第1和第2色差信号的大小在规定范围内的情况；全展宽控制电路，按照该电压检测电路的输出信号和亮度信号的电平来产生全展宽控制信号；以及放大电路，按照该全展宽控制电路的输出信号来增大蓝色信号的电平。
4.如权利要求3所述的全展宽电路，其特征在于，所述电压检测电路包括第1电压检测单元，检测第1色差信号的大小在规定范围内的情况；以及第2电压检测单元，检测第2色差信号的大小在规定范围内的情况。
5.一种电平检测电路，使用一个基准电源来判别输入信号的电平在基准电源的基准电平的规定范围内的情况，其特征在于，该电平检测电路包括第1比较单元，在所述输入信号的电平比基准电源的基准电平小时产生判别输出信号；以及第2比较单元，在所述输入信号的电平比基准电源的基准电平大时产生判别输出信号。
6.如权利要求5所述的电平检测电路，其特征在于，所述第1和第2比较单元由发射极共同连接的晶体管组成的差动放大器构成。
7.如权利要求6所述的电平检测电路，其特征在于，所述差动放大器的发射极连接电流源，根据该电流源的电流值来改变所述规定范围。
8.一种电平检测电路，用一个基准电源来判别输入信号的电平在基准电源的基准电平的规定范围内的情况，该电平检测电路包括第1和第2晶体管，将所述输入信号施加在基极上，而发射极被连接在一起；第3和第4晶体管，将所述基准电源的基准电平施加在基极上，而发射极被连接在一起；电流源，使电流流过所述第1至第4晶体管的发射极；二极管连接型的第5晶体管，其集电极连接到所述第1晶体管的集电极；第6晶体管，其基极连接到所述第5晶体管的基极，发射极连接到所述第3晶体管的集电极；二极管连接型的第7晶体管，其集电极连接到所述第4晶体管的集电极；以及第8晶体管，其基极连接到所述第7晶体管的基极，发射极连接到所述第2晶体管的集电极；其特征在于，从所述第6和第8晶体管的集电极获得判别输出信号。
全文摘要
一种全展宽电路，其特征在于，它包括第1电压检测电路(6)，检测第1和第2色差信号的大小在规定范围的情况；第2电压检测电路(7)；全展宽控制电路(8)，按照该电压检测电路的输出信号和亮度信号的电平来产生全展宽控制信号；以及B驱动电路(17)，按照该全展宽控制电路(8)的输出信号来增大蓝色信号的电平。
文档编号H04N9/73GK1450814SQ0310852
公开日2003年10月22日 申请日期2003年3月28日 优先权日2002年4月9日
发明者植木敬次郎 申请人:三洋电机株式会社