专利名称：通信设备高密度接口测试器的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种数字通信设备高密度接口测试器，尤其涉及高密度的E1(2Mbit/s)接口测试器。
背景技术：
在较大容量的数字通信设备(SDH)中，一般要求有几百个PDH-E1(2Mbit/s)接口的接入能力，有的设备甚至能达到上千个。高密度的E1接口必须用高密度的连接器，通常一个连接器上有16个E1接口。为了对每一个E1接口的通断情况进行测试，需要制作相应的高密度接口测试器。然而，在现有技术中，在进行接口测试时，大都采用临时手工制作的拼凑连接插接件，连接仪表后测试。这种临时拼凑的连接插接件，不仅接触性能和抗干扰性能差，测试效果不理想，而且测试过程十分麻烦，测试的效率低，至使设备的检测成本提高。
发明内容
本实用新型所要解决的技术问题是针对上述现有技术存在的不足而提供一种数字通信设备高密度接口测试器，它不仅使用测试简便，测试效率高，而且性能稳定，测试效果好。
本实用新型为解决上述提出的问题所采用的技术方案是包括有插接座6，插接座的下端设置插入端口3，插入端口中对应于每个E1接口安设发送端插针Ti和接收端插针Ri(i＝1、2、3…n)，且发送端插针Ti和接收端插针Ri的后端延伸至插接座内腔1，对应于每个E1接口的发送端插针Ti与接收端插针Ri后端相互连接，或者对应于每个E1接口的接收端插针Ri与相邻E1接口的发送端插针Ti+1后端相互连接。
按上述方案，所述的插入端口3为梯形插入端口，插入端口中对应安设16对发送端插针Ti和接收端插针Ri，形成标准78Pin-D型插头(矩形)。
按上述方案，所述的插接座6内腔设置有屏蔽层4。
按上述方案，每对发送端插针Ti与接收端插针Ri后端相互连接，构成使每个对应E1接口收发短接的自环接口测试器。
按上述方案，每个E1接口的接收端插针Ri与相邻E1接口的发送端插针Ti+1后端相互连接，而首端接口的发送端插针T1通过射频同轴电缆引出与同轴插头/座相接，尾端接口的接收端插针Rn通过射频同轴电缆引出与同轴插座/头相接，构成使相邻E1接口收发短接的串接接口测试器。
本实用新型的有益效果在于1、能对数字通信设备高密度E1接口的接收和发送信号串接或短连，使得系统测试时只用比较少的仪表就可以同时测试大量的E1接口。自环测试器直接插入传输设备的E1接口。串接测试器插入传输设备的E1接口后，出端的两个同轴引线，一个连接测试设备的信号发送端，另一个连接测试设备的信号接收端；两个同轴引线还可互插、完成自连接测试。2、测试性能稳定，设置屏蔽层可防止测试过程中的外界干扰及内部辐射，确保测试过程的准确和规范。3、能使具备高密度E1接口设备的测试变得简单易行，并且用一个单独的E1测试仪表可以同时测试大量的E1接口，提高了传输设备的测试效率，并且使用操作简便，插接可靠，测试效率高，互换性、通用性强。
图1为本实用新型一个实施例的结构原理示意图。
图2为本实用新型另一个实施例的结构原理示意图。
图3为本实用新型一个实施例的剖视结构图。
图4为本实用新型另一个实施例的剖视结构图。
具体实施方式
以下结合附图进一步说明本实用新型的实施例。
第一个实施例如图1、3所示，包括有注塑成型的插接座6，插接座的下端设置梯形的插入端口3，插入端口中对应于每个E1接口安设16对发送端插针Ti和接收端插针Ri(i＝1、2、3…16)，构成标准的78Pin-D型插头，且发送端插针Ti和接收端插针Ri的后端延伸至插接座内腔1，对应于每个E1接口的发送端插针Ti与接收端插针Ri后端相互连接导通，每对发送端插针Ti与接收端插针Ri后端的连接处可套上绝缘保护套2，这样与一个16个E1接口插接时，使每个对应E1接口收发短接，构成自环接口测试器；此外，在插接座内腔壁上设置有屏蔽层4，屏蔽层可为薄铜箔屏蔽层，在插接座内腔1还可充填绝缘介质，在插接座的两侧设置锁紧螺钉5，用于插接后的锁定。
本实用新型第二个实施例如图2、4所示，它于上一个实施例的主要不同之处在于对应于每个E1接口的接收端插针Ri与相邻E1接口的发送端插针Ti+1后端相互连接导通，而首端接口的发送端插针T1通过射频同轴电缆9引出插接座6外与同轴插头8相接，尾端接口的接收端插针R16通过射频同轴电缆引出插接座外与同轴插座7相接；这样与一个16个E1接口插接时，使相邻E1接口收发短接，构成串接接口测试器。其它部分的结构与上一个实施例相同。本实施例使用时，直接插入通信设备的E1接口；首、尾端的两个同轴插头、插座，一个连接E1接口测试仪表的输出端，另一个连接E1接口测试仪表的输入端，完成串接测试项目；两个同轴插头、插座还可互插，完成自连接测试。另外，还能使两个相邻的串接接口测试器相互相连，即上一个串接接口测试器的同轴插头/座与下一个串接接口测试器的同轴插座/头直接对接，这样能根据需要，同时测试更多的E1接口，其中，两个串接测试器相连，可以同时测试32个E1接口，N个串接测试器相连，可以同时测试16*N个E1接口。既简便又提高测试效率。
权利要求1.一种通信设备高密度接口测试器，其特征在于包括有插接座(6)，插接座的下端设置插入端口(3)，插入端口中对应于每个E1接口安设发送端插针Ti和接收端插针Ri(i＝1、2、3…n)，且发送端插针Ti和接收端插针Ri的后端延伸至插接座内腔(1)，对应于每个E1接口的发送端插针Ti与接收端插针Ri后端相互连接，或者对应于每个E1接口的接收端插针Ri与相邻E1接口的发送端插针Ti+1后端相互连接。
2.按权利要求1所述的通信设备高密度接口测试器，其特征在于所述的插入端口(3)为梯形插入端口，插入端口中对应安设16对发送端插针Ti和接收端插针Ri，形成标准78Pin-D型插头。
3.按权利要求1或2所述的通信设备高密度接口测试器，其特征在于所述的插接座(6)内腔设置有屏蔽层(4)。
4.按权利要求1或2所述的通信设备高密度接口测试器，其特征在于每对发送端插针Ti与接收端插针Ri后端相互连接，构成使每个对应E1接口收发短接的自环接口测试器。
5.按权利要求1或2所述的通信设备高密度接口测试器，其特征在于每个E1接口的接收端插针Ri与相邻E1接口的发送端插针Ti+1后端相互连接，而首端接口的发送端插针T1通过射频同轴电缆引出与同轴插头/座相接，尾端接口的接收端插针Rn通过射频同轴电缆引出与同轴插座/头相接，构成使相邻E1接口收发短接的串接接口测试器。
6.按权利要求1或2所述的通信设备高密度接口测试器，其特征在于在插接座内腔(1)还充填绝缘介质，在插接座的两侧设置锁紧螺钉(5)。
专利摘要本实用新型涉及一种数字通信设备高密度接口测试器，它包括有插接座，插接座的下端设置插入端口，插入端口中对应于每个E1接口安设发送端插针Ti和接收端插针Ri(i＝1、2、3…n)，且发送端插针Ti和接收端插针Ri的后端延伸至插接座内腔，对应于每个E1接口的发送端插针Ti与接收端插针Ri后端相互连接，或者对应于每个E1接口的接收端插针Ri与相邻E1接口的发送端插针Ti+1后端相互连接。本实用新型能对数字通信设备高密度E1接口的接收和发送信号串接或短连，使得系统测试时只用比较少的仪表就可以同时测试大量的E1接口。这样不仅使用测试简便，测试效率高，而且性能稳定，测试效果好。
文档编号H04L12/26GK2831627SQ20052009784
公开日2006年10月25日 申请日期2005年8月30日 优先权日2005年8月30日
发明者胡国华, 徐向平, 田耕, 徐兴, 游汉涛, 邹崇振, 刘少正, 文卫 申请人:烽火通信科技股份有限公司