专利名称：在位模式中建立参考位的制作方法
技术领域：
本发明涉及用于在位模式(bit pattern)中建立参考位的方法。
背景技术：
表征数字通信系统一般包括以测试信号激励系统，然后测量系统对测试信号的响应。一类测试信号包括具有长串的重复位模式，长串中具有相对较少的逻辑0位或逻辑1位。这类位模式往往会引起数字通信系统中的基线漂移，并且对于测试数字通信系统的AC耦合部分的性能是有用的。其他类型的测试信号具有在逻辑0位和逻辑1位之间有少量转变的位模式。这些测试信号对于测试数字通信系统内的时钟恢复电路的性能是有用的。另一种类型的测试信号包括伪随机位序列(PRBS)。PRBS可以用模式发生器容易地生成，以提供具有存在于某种数据信号中的随机数据的统计属性的重复位模式。以PRBS激励数字通信系统可以模仿数字通信系统在实际操作条件下的性能。
尽管这些测试信号的示例是本领域公知的，但是数字通信系统的设计者经常定义具有不同类型的重复位模式的定制测试信号。数字通信系统对测试信号的响应可以用等效时间示波器或其他类型的测量仪器来测量。然而，典型的测量仪器没有提供用于建立测试信号的重复位模式内的参考位置的方便的装置。在位模式内建立参考位置(由参考位表示)使得数字通信系统的依赖于模式的属性能够在不同的测量系统上被观察到，或者在测试信号被提供给不同被测设备(DUT)或数字通信系统中的不同点时被观察到，或者在测试信号被施加给DUT的不同配置时被观察到。
发明内容
根据本发明的一个方面，提供了一种用于在位模式中建立参考位的方法，包括(a)识别所述位模式中的一系列位序列，其包括所有具有最大数目的具有公共逻辑状态的连续位的位序列；以及(b)当所述一系列位序列包括不多于一个位序列时，基于所述一系列位序列中的一个位序列来指定参考位。
根据本发明的另一个方面，提供了一种用于在位模式中建立参考位的方法，包括(a)识别所述位模式中的一系列位序列，其包括所有具有最大数目的连续逻辑1位的位序列；以及(b)当有不多于一个位序列具有最大数目的连续逻辑1位时，基于所述一系列位序列中的一个位序列来指定参考位。
根据本发明的另一个方面，提供了一种用于在位模式中建立参考位的方法，包括(a)识别所述位模式中的一系列位序列，其包括所有具有最大数目的连续逻辑1位的位序列；以及(b)当有不多于一个位序列具有最大数目的连续逻辑0位时，基于所述一系列位序列中的一个位序列来指定参考位。
图1示出了根据本发明的实施例的适合于实现用于在位模式内建立参考位的方法的测量配置的一个示例。
图2A示出了包括重复位模式的信号的一个示例。
图2B示出了与图2A中所示的位模式相对应的位序列。
图3示出了根据本发明的实施例用于在位模式内建立参考位的方法的流程图的一个示例。
具体实施例方式
图1示出了根据本发明的实施例的适合于实现用于在位模式11内建立参考位R的方法30的测量配置的一个示例。测量配置包括数字通信分析器，诸如安捷伦科技有限公司的86100C型数字通信分析器，或其他类型的信号分析器10。本示例中的信号分析器10包括采样器12和处理器14，处理器14与采样器12和显示器16进行信号通信。采样12获取施加到信号分析器10的信号13的采样。处理器14一般包括适合于根据方法30(在图3中示出)来处理所获取的信号13的采样的软件。
图2A示出了由幅度相对于时间的波形表示的信号13的一个示例。在该示例中，信号13是具有重复位模式(下文中称为“位模式11”)的数字信号。位模式11内的位被示为具有两种交替的逻辑状态。逻辑1状态(指示为“逻辑1”)在信号13中由幅度电平A1表示，逻辑0状态(指示为“逻辑0”)在信号13中由幅度电平A0表示。位模式11的四次重复在图2A中的信号13中的波形中示出。位模式11的每次重复内的位由幅度电平A1、A0表示。位模式11的每次重复中的剩余位(尽管也由幅度电平A1、A0表示)由省略号表示。
位模式11具有如图2B所示的相应位串15，位串15指示位模式11中表示的逻辑状态。例如，位模式11中的每一个中在图2A的波形中所示的部分持续4位都处于幅度电平A1。这在图2B中由具有四个连续1的位序列S1表示。位模式中随后跟有持续3位的处于幅度电平A0的相邻位，在图2B中由具有三个连续0的位序列S2表示。位模式11中随后跟有持续2位的处于幅度电平A1的相邻位，在图2B中由具有两个连续1的位序列S3表示。位模式11中随后跟有持续2位的处于幅度电平A0的相邻位，在图2B中由具有两个连续0的位序列S4表示。位模式11中随后跟有持续4位的处于幅度电平A1的相邻位，在图2B中由具有四个连续1的位序列S5表示。位模式11中随后跟有持续2位的处于幅度电平A0的相邻位，在图2B中由具有两个连续0的位序列S6表示。位模式11中随后跟有持续2位的处于幅度电平A1的相邻位，在图2B中由具有两个连续1的位序列S7表示。位模式11中随后跟有持续1位的幅度电平A0，在图2B中由位序列S8表示，以次类推。
给定位模式11的相应位串15可以通过将位模式中每个位的幅度与幅度阈值AT相比较，然后基于比较结果将每个位分类为相应的逻辑状态来建立。位模式11中具有比幅度阈值AT大的幅度的每个位在位串15中被指定为“1”，而位模式11中具有比幅度阈值AT小的幅度的每个位在位串15中被指定为“0”。
图3示出了根据本发明的实施例用于在位模式11内建立参考位R的方法30的流程图的一个示例。方法30的步骤32包括识别位模式11的每次重复中的一系列位序列。所识别的一系列位序列包括具有最大数目的具有公共逻辑状态的连续位(例如最大数目的连续逻辑1或逻辑0)的所有位序列。为了识别这一系列位序列，步骤32一般包括建立位模式11的相应位串15，然后搜索位串15以发现最大数目的连续1或0。然后，将位串15内具有最大数目的连续1(或0)的所有位序列包括在这一系列位序列中。对于信号13的位模式11中在图2A中示出的部分和图2B所示的相应位串15来说，具有公共逻辑状态的连续位的最大数目是4，这是因为有四个连续1，而只有三个连续0。
方法30的步骤33包括确定在步骤32中识别的这一系列位序列是包括一个位序列，还是包括多于一个位序列。该步骤一般包括对具有最大数目的连续位的位序列的数目进行计数。当所识别的一系列位序列只包括一个位序列时，例如当只有一个位序列具有最大数目的连续1(或0)时，方法30则基于所识别的系列中的一个序列来指定参考位R(步骤34)。在步骤34中指定的参考位R可以是如图2A所示的系列中的一个位序列内的指定位。或者，在步骤34中指定的参考位R是相对于系列中一个位序列偏离指定数目的位的指定位。一旦在步骤34中指定了参考位R，就可以通过搜索相应位串15以寻找最大数目的连续1(或0)，来在位模式11的一次或多次后续重复中定位参考位R。例如，定位参考位R可以包括在位串中搜索四个连续1。当位模式11中的位数目已知时，可以通过从指定的参考位R开始对等于位模式11的位长度的一个或多个整数倍的位数目进行计数，来在位模式11的连续重复中定位参考位。然后基于计数得出的位数目在位模式11中定位参考位R。也可以通过使信号分析器10的触发延迟等同于位模式11的持续时间的一个或多个整数倍的时间，来定位所指定的参考位R。
当所识别的一系列位序列包括多于一个位序列时，例如当有多于一个位序列具有最大数目的连续1时，则方法30包括识别位模式11中的另一系列的位序列(步骤36)。在步骤36中识别的这一系列位序列包括所有这样的位序列，其与先前最后识别的一系列位序列中的每个位序列相邻，并且具有最大数目的连续位，其中位的逻辑状态是相对于先前最后识别的一系列位的逻辑状态的备选逻辑状态。例如，当从步骤32得到的先前最后识别的一系列位序列具有逻辑1状态时，备选逻辑状态是逻辑0状态。当先前最后识别的一系列位序列具有逻辑0状态时，备选逻辑状态是逻辑1状态。对于图2A所示的示例性位模式和图2B所示的相应位串来说，步骤34包括搜索位串以确定与步骤32中识别的具有最大数目的连续1的一系列位序列中的每个位序列相邻的最大数目的连续0。
方法30的步骤37包括确定在步骤36中识别的一系列位序列是包括一个位序列，还是包括多于一个位序列。当这一系列位序列只包括一个位序列时，例如当只有一个位序列具有与先前最后识别的一系列位序列中的连续1相邻的最大数目的连续0时，方法30基于识别的一系列位中的一个位序列来指定参考位R(步骤36)。在步骤38中指定的参考位R可以是系列中的一个位序列内的指定位。或者，在步骤38中指定的参考位R是相对于系列中一个位序列偏离指定数目的位的指定位。一旦在步骤38中指定了参考位，就可以通过重复方法30的步骤32-38，来在位模式11的一次或多次后续重复中定位参考位R。当位模式中位的数目已知时，可以通过从指定的参考位R开始对等于位模式11的位长度的一个或多个整数倍的位数目进行计数，来在位模式11的连续重复中定位参考位。也可以通过使信号分析器10的触发延迟等同于位模式11的持续时间的一个或多个整数倍的时间，来定位所指定的参考位R。
当在步骤36中识别的一系列位序列包括多于一个位序列时，例如当有多于一个位序列具有最大数目的连续0时，则方法30重复步骤36-38，直到步骤37确定在步骤36中识别的一系列位序列中只有一个位序列，并且在步骤38中指定了参考位R。
方法30的实施例是以示例方式示出的。在该示例中，信号13的位模式11中在图2A中示出的那一部分和相应位串15中在图2B中示出的那一部分包括具有最大数目的具有公共逻辑状态的连续位的位序列。方法30的步骤32识别出包括位序列S1、S5的一系列位序列，这是因为这两个位序列中的每一个都有四个连续1。连续0的最大数目是3，这出现在位序列S2中。然后，方法30的步骤33确定在一系列位序列中有多于一个位序列，这是因为有两个位序列具有最大数目的连续位，即四个连续1。因此，步骤34并不指定参考位R。步骤36识别这样的一系列位序列，其与位序列S1、S5相邻，并且包括具有最大数目的连续0的所有位序列。在该示例中，这一系列位序列包括具有三个连续0的位序列S2。在该示例中，没有其他的位序列具有三个连续0。根据步骤37，方法30确定在这一系列位序列中只有一个位序列，并且根据步骤38指定参考位R。
尽管详细图示了本发明的实施例，但是应当清楚，本领域技术人员可以在不脱离所附权利要求限定的本发明的范围的前提下对这些实施例进行修改和改动。
权利要求
1.一种用于在位模式中建立参考位的方法，包括(a)识别所述位模式中的一系列位序列，其包括所有具有最大数目的具有公共逻辑状态的连续位的位序列；以及(b)当所述一系列位序列包括不多于一个位序列时，基于所述一系列位序列中的一个位序列来指定参考位。
2.如权利要求1所述的方法，还包括(c)识别所述位模式中的一系列位序列，其包括所述位模式中的所有这样的位序列，这种位序列具有最大数目的具有相对于先前最后识别的一系列位序列的逻辑状态的备选逻辑状态的连续位，并且与所述先前最后识别的一系列位序列中的每个位序列相邻。
3.如权利要求2所述的方法，还包括(d)当在(c)中识别的所述一系列位序列包括不多于一个位序列时，基于在(c)中识别的所述一系列位序列中的一个位序列来指定参考位。
4.如权利要求3所述的方法，还包括重复(c)和(d)，直到在(c)中识别的所述一系列位序列包括不多于一个位序列。
5.一种用于在位模式中建立参考位的方法，包括(a)识别所述位模式中的一系列位序列，其包括所有具有最大数目的连续逻辑1位的位序列；以及(b)当有不多于一个位序列具有最大数目的连续逻辑1位时，基于所述一系列位序列中的一个位序列来指定参考位。
6.如权利要求5所述的方法，还包括(c)识别所述位模式中的一系列位序列，其包括所述位模式中的所有这样的位序列，这种位序列具有最大数目的具有相对于先前最后识别的一系列位序列的逻辑状态的备选逻辑状态的连续位，并且与所述先前最后识别的一系列位序列中的每个位序列相邻。
7.如权利要求6所述的方法，还包括(d)当在(c)中识别的所述一系列位序列包括不多于一个位序列时，基于在(c)中识别的所述一系列位序列中的一个位序列来指定参考位。
8.如权利要求7所述的方法，还包括重复(c)和(d)，直到在(c)中识别的所述一系列位序列包括不多于一个位序列。
9.一种用于在位模式中建立参考位的方法，包括(a)识别所述位模式中的一系列位序列，其包括所有具有最大数目的连续逻辑1位的位序列；以及(b)当有不多于一个位序列具有最大数目的连续逻辑0位时，基于所述一系列位序列中的一个位序列来指定参考位。
10.如权利要求9所述的方法，还包括(c)识别所述位模式中的一系列位序列，其包括所述位模式中的所有这样的位序列，这种位序列具有最大数目的具有相对于先前最后识别的一系列位序列的逻辑状态的备选逻辑状态的连续位，并且与所述先前最后识别的一系列位序列中的每个位序列相邻。
11.如权利要求10所述的方法，还包括(d)当在(c)中识别的所述一系列位序列包括不多于一个位序列时，基于在(c)中识别的所述一系列位序列中的一个位序列来指定参考位。
12.如权利要求11所述的方法，还包括重复(c)和(d)，直到在(c)中识别的所述一系列位序列包括不多于一个位序列。
全文摘要
本发明公开了一种在位模式中建立参考位的方法。该方法包括(a)识别位模式中的一系列位序列，其包括所有具有最大数目的具有公共逻辑状态的连续位的位序列；以及(b)当所述系列只包括一个位序列时，基于所述系列中的一个位序列来指定参考位。该方法包括(c)识别所述位模式中的一系列位序列，其包括所有这样的位序列，这种位序列具有最大数目的具有相对于先前最后识别的一系列位序列的逻辑状态的备选逻辑状态的连续位，并且与先前最后识别的一系列位序列中的每个位序列相邻。当在(c)中识别的系列只包括一个位序列时，该方法基于在(c)中识别的系列中的一个位序列来指定参考位。
文档编号H04L12/26GK1822551SQ20061000324
公开日2006年8月23日 申请日期2006年2月6日 优先权日2005年2月18日
发明者马林·维丝, 威廉·格伦·洛克奈尔二世 申请人:安捷伦科技有限公司