专利名称：一种无线链路环回测试的方法及其装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种移动通信技术中的测试方法和装置，更具体的说，是 一种用环回测试方法来测试接收通道功能和性能的方法及其装置。背.景技术随着无线技术的高速发展，无线通讯产品逐渐成为人们日常工作和生 活中必不可少的工具，为了快速推出产品，必须快速测试与调试无线产品。目前无线产品接收链路有两种方法 一种是BS (Base Station,基站) 与终端设备联合测试，通过终端设备来测试产品的性能，如图1所示，终 端发射接收信号到待测设备的接收端口 ，接收信号经过射频接收通道，ADC (模数转换器)，FPGA (现场可编程逻辑芯片)，Baseband(基带)，在基带 中统计性能；该装置和方法的缺点是必须等终端设备和基带都完成后才能 开.始测试，不能定量分析接收链路性能，在并行开发中不能保证开发进度， 不能定量的分析链路性能。另一种方法见图2所示，是信号源发射接收信号到待测设备的接收端 口，接收信号经过射频接收通道，ADC, FPGA， Baseband设备，在基带中 统计灵敏度。该装置和方法的缺点是必须等基带调试完成后才能测试灵敏 度等性能，不能快速定位链路的问题。因此，现有技术存在缺陷，而有待于改进和发展。发明内容本发明的目的在于提供一种无线链路环回测试的方法及其装置，可快速测试无线设备，快速判断射频、中频、ADC等通道性能。 本发明采用以下技术方案一种无线链路环回测试的方法，其包括如下步骤A、 信号源输出的信号输入到待测设备的接收通道，进行下变频处理， 通过一模数转换器采样，以及环回处理单元用于抽取、滤波，并将数据环 回到发射通道；B、 对从所述环回处理单元环回的数据进行内插、滤波，发送到数模转 换器，上变频到射频信号，通过所述发射通道送到矢量信号分析仪进行解 调后分析。所述的方法，其中，所述环回处理单元为现场可编程逻辑芯片。所述的方法，其中，所述环回处理单元为DSP才莫块。所述的方法，其中，所迷矢量信号分析仪用于分析;f皮测信号的射频性能，所述射频性能包括链路增益、EVM、平坦度。所述的方法，其中，所述信号源输入灵敏度信号时，所述矢量信号分析仪用于分析得到待测设备的灵敏度。所述的方法，其中，所述信号源发射802.16E调制信号时，所述模数转换器对中频信号进行采样，其中中频频率力卩与采样频率A的关系为<formula>formula see original document page 5</formula>n为计数自然数。一种无线链路环回测试的装置，其中，包括依次连接的接收通道、模数 转换器、环回处理单元、数模转换器、发射通道；所述接收通道用于连接 一外部的信号源；所述发射通道连接一外部的矢量信号分析仪；以及一 CPU,与所述环回处理单元相连接；所述环回处理单元用于对所述接收通 道的射频信号进行抽取、滤波，并将数据环回到发射通道；所述CPU用于 对接收通道和发射通道以及模数转换器、数模转换器的配数；所述发射通 道发射信号给所述矢量信号分析仪以得到射频通道的性能。所述的装置，其中，所述模数转换器用于对所述接收通道的射频信号进行下变频处理；所述数模转换器用于对所述环回处理单元输出的环回信号 上变频到射频信号。所述的装置，其中，所述环回处理单元为现场可编程逻辑芯片。 所述的装置，其中，所述环回处理单元为DSP^f莫块。 与现有技术相比，本发明所提供的 一种无线链路环回测试的方法及其 装置，由于采用从FPGA/DSP模块处环回的方式，用仪器直接测试链路性 能，避免了通过复杂的基带处理来实现链路的检测，提高了测试效率，大 大缩短了开发周期，降低了系统开发的难度，并提高了系统的可靠性。
图1是现有技术直接采用实际的通信系统测试链路性能的结构示意图； 图2是现有技术采用基带处理来计算链路性能的结构示意图； 图3是本发明采用的从FPGA环回来测试链路的示意图。
具体实施方式
下面结合附图，将对本发明的各较佳实施例进行更为详细的说明。 本发明无线链路环回测试的方法及其装置中，如图3所示的，其装置 中包括依次连接的接收通道、ADC、环回处理单元(为FPGA或DSP模 块)、DAC、发射通道；所述接收通道连接了一外部的信号源，用于接收外 部信号源的射频信号，所述发射通道连接了一外部的矢量信号分析仪，用 于在将射频信号发射给该矢量信号分析仪，所述信号源和所述矢量信号分 析仪为现有^J支术所常见，并且是本发明线链路环回测试装置的外部设备， 因此不再赘述。本发明的线链i 各环回测试装置中，其主要的改进点在于设置所述环回 处理单元以及与之连接的CPU，由所述CPU控制给所述接收通道和所述发射通道配数，以及给所述模数转换器和所述数模转换器进行配数，并通过 所述环回处理单元进^f亍信号的环回处理，而不经过外部的带宽处理。其中所述模数转换器实现对所述接收通道接收到的信号的下变频处理，所述环回处理单元可以采用所述现场可编程逻辑芯片FPGA,或者DSP 模块，实现对下变频后信号的抽取和过滤处理，并环回给所述数模转换器； 所述数模转换器用来对环回输出的信号进行上变频处理形成射频信号发送 给所述发射通道，由所述发射通道发送给所述矢量信号分析仪。所述矢量信号分析仪实现对所述发射通道的发射出的射频信号进行解 调并计算，以获得射频通道的性能判断。本发明线链路环回测试的方法在FPGA中实现收发信号的环回，CPU 给接收和发射通道进行配数，并给ADC (模数转换器)、DAC (数模转换 器)配数，所述矢量信号分析仪对信号进行解调计算，得到射频通道的性 能。本发明方法是直接把从接收通道输入的射频信号进行下变频处理，经 过ADC采样，在FPGA中进行抽取，滤波，将IQ数据环回到发射通道， 经过内插，滤波，送到DAC,再经过下4于发射通道送到矢量信号分析仪进 行解调。以802.16E设备链路测试为例对本发明无线链路环回测试方法进行举 例说明。如图3所示，本发明的测试方法包括信号源发射802.16E调制信号到待测设备测试端口 ，该待测设备的接收 通道对输入的信号进行下变频，然后放大、中频滤波处理；ADC(模数转 换器)对中频信号进行采样，其中IF频率与采样频率的关系为<formula>formula see original document page 7</formula>, n为计数自然数，可以预先设置几组值，即Fs可以根据实 际需要进行调整。在FPGA中对采样的数据进行抽取，滤波得到IQ信号。在FPGA模块 中将接收来的IQ数据直接环回到发射通道的IQ数据输入端口 ，在FPGA 中对送过来的数据进行内插滤波，送到DAC (数模转换器)。下行射频通道 对DAC出来的信号进行放大、滤波、上变频到射频信号，送到矢量信号分 析仪进行解调。所述矢量信号分析仪的单板上电，给单板加载测试程序，就可以通过 所述矢量信号分析仪得到被测信号的链路增益、EVM、平坦度等射频性能， 当输入信号为灵敏度信号时就可以得到待测设备的灵l丈度。 .本发明上述FPGA可以由DSP模块来替代。本发明无线链路环回测试的方法由于采用了从FPGA/DSP模块处环回 的方式，用仪器直接测试链路性能，避免了通过复杂的基带处理来实现链 路的检测，提高了测试效率，大大缩短了开发周期，降低了系统开发的难 度，并提高了系统的可靠性。应当理解的是，上述针对本发明较佳实施例的描述较为具体，并不能 因此而理解为对本发明专利保护范围的限制，本发明的专利保护范围应以 所附权利要求为准。
权利要求
1、一种无线链路环回测试的方法，其包括如下步骤A、信号源输出的信号输入到待测设备的接收通道，进行下变频处理，通过一模数转换器采样，以及环回处理单元用于抽取、滤波，并将数据环回到发射通道；B、对从所述环回处理单元环回的数据进行内插、滤波，发送到数模转换器，上变频到射频信号，通过所述发射通道送到矢量信号分析仪进行解调后分析。
2、 根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述环回处理单元为 现场可编程逻辑芯片。
3、 根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述环回处理单元为 DSP模块。
4、 根据权利要求l所述的方法，其特征在于，所述矢量信号分析仪 用于分析被测信号的射频性能，所述射频性能包括链路增益、EVM、平坦 度。
5、 根据权利要求l所述的方法，其特征在于，所述信号源输入灵敏 度信号时，所述矢量信号分析仪用于分析得到待测设备的灵敏度。
6、 根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述信号源发射 802.16E调制信号时，所述模数转换器对中频信号进行采样，其中中频频率/w与采样频率力的关系为/^-^^/s, n为计数自然数。
7、 一种无线链路环回测试的装置，其特征在于，包括依次连接的接收通道、模数转换器、环回处理单元、数模转换器、发射通道；所述接收 通道用于连接一外部的信号源；所述发射通道连接一外部的矢量信号分析 仪；以及一 CPU，与所述环回处理单元相连接；所述环回处理单元用于对 所述接收通道的射频信号进行抽取、滤波，并将数据环回到发射通道；所 述CPU用于对接收通道和发射通道以及才莫数转换器、数模转换器的配数； 所述发射通道发射信号给所述矢量信号分析仪以得到射频通道的性能。
8、 根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述模数转换器用于 对所述接收通道的射频信号进行下变频处理；所述数^t转换器用于对所述 环回处理单元输出的环回信号上变频到射频信号。
9、 根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述环回处理单元为 现场可编程逻辑芯片。
10、 根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述环回处理单元为 DSP模块。
全文摘要
本发明公开了一种无线链路环回测试的方法及其装置，其包括如下步骤信号源输出的信号输入到待测设备的接收通道，进行下变频处理，通过一模数转换器采样，以及环回处理单元用于抽取、滤波，并将数据环回到发射通道；对从所述环回处理单元环回的数据进行内插、滤波，发送到数模转换器，上变频到射频信号，通过所述发射通道送到矢量信号分析仪进行解调后分析。本发明无线链路环回测试的方法及装置由于采用从FPGA/DSP模块处环回的方式，用仪器直接测试链路性能，避免了通过复杂的基带处理来实现链路的检测，提高了测试效率，大大缩短了开发周期，降低了系统开发的难度，并提高了系统的可靠性。
文档编号H04Q7/34GK101227693SQ20081006595
公开日2008年7月23日 申请日期2008年1月17日 优先权日2008年1月17日
发明者瞿兆斌 申请人:中兴通讯股份有限公司