专利名称：一种实现stm-1接口的多路e1口的测试方法和系统的制作方法
技术领域：
本发明涉及通道化STM-I中的El 口测试，特别涉及一种实现STM-I接口的多路El 口的测试方法和系统。
背景技术：
通道化STM-I接口在测试时，一般都是通过测试通道化STM-I接口的63路El 口中 的某一路El 口实现接口误码性能测试的，但由于物理走线、时钟分发等不同，通道化STM-I 接口的63路El 口的每路El 口都有各自的特性，只测试其中一路或者几路并不能代表通道 化STM-I接口的63路El 口所有通路的误码性能，不能表示道化STM-I接口的63路El 口 所有通路都可以正常收发包，所以在严格测试要求下应该是通道化STM-I接口的63路El 口都测试，但因为每路测试一般实验室要求24小时不丢包，63路El 口都测试完需要大量的 时间，这就需要大量的人力和物力，并且目前市面上大部分SDH测试仪表一般都不支持这 种功能，而个别支持这种功能的测试仪表非常昂贵。
发明内容
本发明的目的在于提供一种实现STM-I接口的多路El 口的测试方法，用于解决 STM-I接口上多路El 口同时测试的问题。本发明的另一目的在于提供一种实现STM-I接口的多路El 口的测试系统，用于解 决STM-I接口上多路El 口同时测试的问题。根据本发明的一个方面，提供了一种实现STM-I接口的多路El 口的测试方法，包 括以下步骤A、将中间设备线路侧的STM-I接口上的每个El 口与中间设备支路侧的N路El 口
建立一一对应关系；B、将中间设备支路侧的N路E1 口依次串联，形成N路E1 口串联测试通道；C、将N路El 口串联测试通道连接同步数字体系SDH测试仪，并将中间设备线路侧 的STM-I接口对接被测设备的STM-I接口 ；D、SDH测试仪通过N路El 口串联测试通道对被测设备的STM-I接口的所有El 口 同时进行测试；其中，N为大于等于2的整数。优选的，N路El 口串联测试通道中的每个El 口通过中间设备线路侧的STM-I接 口与被测设备的STM-I接口的所有El 口建立一一对应关系。优选的，一一对应关系通过映射实现。优选的，中间设备支路侧的N路El 口串联方式包括SDH测试仪的发送端连接第 1路El 口的接收端，第1路El 口的发送端连接第2路El 口的接收端，直至第N-I路El 口 的发送端连接第N路El 口的接收端，第N路El 口的发送端连接SDH测试仪的接收端。优选的，若SDH测试仪测得El 口的串联测试通道出现误码，则可通过中间设备的网管查看被测设备的STM-I接口上具体出现误码的El 口。根据本发明的另一方面，提供了一种实现STM-I接口的多路El 口的测试系统，包 括中间设备支路侧，用于将N路El 口依次串联，形成N路El 口串联测试通道；中间设备线路侧，用于将STM-I接口上的每个El 口与中间设备支路侧的N路El 口建立一一对应关系，并将STM-I接口对接被测设备STM-I接口 ；同步数字体系测试仪，用于连接N路El 口串联测试通道，通过N路El 口串联测试 通道对被测设备的STM-I接口的所有El 口同时进行测试；其中，N为大于等于2的整数。优选的，N路El 口串联测试通道中的每个El 口通过中间设备线路侧的STM-I接 口与被测设备的STM-I接口的所有El 口建立一一对应关系。优选的，一一对应关系通过映射实现。
优选的，中间设备支路侧的N路El 口串联方式包括SDH测试仪的发送端连接第 1路El 口的接收端，第1路El 口的发送端连接第2路El 口的接收端，直至第N-I路El 口 的发送端连接第N路El 口的接收端，第N路El 口的发送端连接SDH测试仪的接收端。优选的，若SDH测试仪测得El 口的串联测试通道出现误码，则可通过中间设备的 网管查看被测设备的STM-I接口上具体出现误码的El 口。与现有技术相比较，本发明的有益效果在于本发明利用中间设备完成多路El 口 的串接和El 口到STM-I接口的映射，并通过网管完成对STM-I接口上多路El 口的每路El 口的监控，实现了 STM-I接口上的多路El 口的同时测试。
图1是本发明提供的STM-I接口的多路El 口的测试方法的流程示意图；图2是本发明提供的STM-I接口的多路El 口的测试系统的结构示意图；图3是本发明实施例提供的中间设备支路侧El 口串联后与SDH测试仪的对接示 意图；图4是本发明实施例提供的中间设备支路侧El 口到中间设备线路侧STM-I接口 中N路El 口的映射模型示意图；图5是本发明实施例提供的STM-I接口的多路El 口的测试方法的实现流程图。
具体实施例方式以下结合附图对本发明的优选实施例进行详细说明，应当理解，以下所说明的优 选实施例仅用于说明和解释本发明，并不用于限定本发明。图1显示了本发明提供的STM-I接口的多路El 口的测试方法的流程示意，如图1 所示步骤S101，将中间设备线路侧的STM-I接口上的每个El 口与中间设备支路侧的N 路El 口建立一一对应关系，N路El 口串联测试通道中的每个El 口通过中间设备线路侧的 STM-I接口与被测设备的STM-I接口的所有El 口建立了一一对应关系，该一一对应关系通 过映射实现，由于中间设备支路侧的N路El 口的串联，使得映射构成了被测设备的N个El口的串联。其中，N为大于等于2的整数。步骤S102，将中间设备支路侧的N路El 口依次串联，形成N路El 口串联测试通 道，串联方式为SDH测试仪的发送端连接第1路El 口的接收端，第1路El 口的发送端连 接第2路El 口的接收端，直至第N-I路El 口的发送端连接第N路El 口的接收端，第N路 El 口的发送端连接SDH测试仪的接收端。步骤S103，将N路El 口串联测试通道连接SDH测试仪，并将中间设备线路侧的 STM-I接口对接被测设备的STM-I接口。步骤S104，SDH测试仪通过N路El 口串联测试通道对被测设备的STM-I接口的所 有El 口同时进行测试。若被测设备通道化STM-I接口中有任意一路El 口出现问题，则SDH 测试仪上会出现相应的告警，但仅通过查看SDH测试仪无法判断是哪一路El 口出现问题， 可通过中间设备的网管查看被测设备的STM-I接口上进行告警的El 口，同时可以查看告警 类型等。图2显示了本发明提供的STM-I接口的多路El 口的测试系统的结构示意，如图2 所示，该系统包括SDH测试仪、中间设备和被测设备，其中中间设备分为中间设备支路侧和 中间设备线路侧。在中间设备支路侧将N路El 口依次串联，形成N路El 口串联测试通道，串联方式 为SDH测试仪的发送端连接第1路El 口的接收端，第1路El 口的发送端连接第2路El 口 的接收端，直至第N-I路El 口的发送端连接第N路El 口的接收端，第N路El 口的发送端 连接SDH测试仪的接收端。中间设备线路侧将STM-I接口上的每个El 口与中间设备支路侧的N路El 口建立 一一对应关系，并将STM-I接口对接被测设备STM-I接口。N路El 口串联测试通道中的每 个El 口通过中间设备线路侧的STM-I接口与被测设备的STM-I接口的所有El 口建立了 一一对应关系，该一一对应关系通过映射实现，由于中间设备支路侧的N路El 口的串联，使 得映射构成了被测设备的N个El 口的串联。SDH测试仪连接N路El 口串联测试通道，通过N路El 口串联测试通道对被测设 备的STM-I接口的所有El 口同时进行测试。SDH测试仪测得El 口的串联测试通道出现误 码，则可通过中间设备的网管查看被测设备的STM-I接口上具体出现无码的El 口。图3显示了本发明实施例提供的中间设备支路侧El 口串联后与SDH测试仪的对 接示意，如图3所示，L1、L2和L3分别具有21个El 口，SDH测试仪的发送端连接第1路El 口的接收端，第1路El 口的发送端连接第2路El 口的接收端，直至第N-I路El 口的发送 端连接第N路El 口的接收端，第N路El 口的发送端连接SDH测试仪的接收端。中间设备支路侧接收线路输入的电信号，经过背板送往业务板处理，发送时，接收 经背板送入的业务板信号，输出至中间设备线路侧。中间设备线路侧完成接口转换，完成接收方向数据的解复用以及发送方向数据的 复用功能。完成净荷数据与开销的分离和插入；实现信号的段开销的提前和插入；完成指 针处理、告警处理、误码统计和ECC转发处理；完成系统高阶交叉和低阶交叉已经通道保护 等功能。图4显示了本发明实施例提供的中间设备支路侧El 口到中间设备线路侧STM-I 接口中N路El 口的映射模型示意，如图4所示，横坐标表示中间设备支路侧的El 口，纵坐标表示中间设备线路侧STM-I接口上的El 口。中间设备线路侧的STM-I接口与被测设备 的通道化STM-I接口对接，中间设备把支路侧串接的多路El 口映射到中间设备线路侧的 STM-I接口，从而构成了被测设备的STM-I接口上N个El 口的串联连接。图5显示了本发明实施例提供的STM-I接口的多路El 口的测试方法的实现流程， 如图5所示步骤S501，SDH测试仪的发送端连接中间设备的第1路El 口的接收端。步骤S502，中间设备支路侧的N个El 口串联连接，连接方式为第1路El 口的发 送端连接第2路El 口的接收端，直至第N-I路El 口的发送端连接第N路El 口的接收端， 然后，第N路El 口的发送端连接SDH测试仪的接收端。步骤S503，中间设备线路侧的STM-I接口的N个El 口与中间设备支路侧的N个
El 口进行一一映射。步骤S504，若经过长时间的测试，SDH测试仪出现告警，则中间设备的网管查看是 哪一路El 口出现问题，并查看告警类型。此外，若经过长时间的测试，SDH测试仪未出现告警，则测试结束。综上所述，本发明具有以下技术效果本发明将El 口映射到相应的容器中和从相 应的映射中取出El 口完成，实现了 STM-I接口的多路El 口的同时测试，简化了测试流程， 节省了大量的人力和物力。尽管上文对本发明进行了详细说明，但是本发明不限于此，本领域技术人员可以 根据本发明的原理进行各种修改。因此，凡按照本发明原理所作的修改，都应当理解为落入 本发明的保护范围。
权利要求
一种实现STM 1接口的多路E1口的测试方法，其特征在于，包括以下步骤A、将中间设备线路侧的STM 1接口上的每个E1口与中间设备支路侧的N路E1口建立一一对应关系；B、将中间设备支路侧的N路E1口依次串联，形成N路E1口串联测试通道；C、将所述N路E1口串联测试通道连接同步数字体系SDH测试仪，并将中间设备线路侧的STM 1接口对接被测设备的STM 1接口；以及D、所述SDH测试仪通过N路E1口串联测试通道对被测设备的STM 1接口的所有E1口同时进行测试；其中，N为大于等于2的整数。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述N路El口串联测试通道中的每个El 口通过中间设备线路侧的STM-I接口与被测设备的STM-I接口的所有El 口建立一一对应关系。
3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述一一对应关系通过映射实现。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述中间设备支路侧的N路El口串联方 式包括SDH测试仪的发送端连接第1路El 口的接收端，第1路El 口的发送端连接第2路 El 口的接收端，直至第N-I路El 口的发送端连接第N路El 口的接收端，第N路El 口的发 送端连接SDH测试仪的接收端。
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，若所述SDH测试仪测得所述El口的串联 测试通道出现误码，则可通过中间设备的网管查看被测设备的STM-I接口上具体出现误码 的 El 口。
6.一种实现STM-I接口的多路El 口的测试系统，其特征在于，包括中间设备支路侧，用于将N路El 口依次串联，形成N路El 口串联测试通道； 中间设备线路侧，用于将STM-I接口上的每个El 口与中间设备支路侧的N路El 口建 立一一对应关系，并将STM-I接口对接被测设备STM-I接口 ；以及同步数字体系测试仪，用于连接所述N路El 口串联测试通道，通过N路El 口串联测试 通道对被测设备的STM-I接口的所有El 口同时进行测试； 其中，N为大于等于2的整数。
7.根据权利要求6所述的系统，其特征在于，所述N路El口串联测试通道中的每个El 口通过中间设备线路侧的STM-I接口与被测设备的STM-I接口的所有El 口建立一一对应关系。
8.根据权利要求6或7所述的系统，其特征在于，所述一一对应关系通过映射实现。
9.根据权利要求8所述的系统，其特征在于，所述中间设备支路侧的N路El口串联方 式包括SDH测试仪的发送端连接第1路El 口的接收端，第1路El 口的发送端连接第2路 El 口的接收端，直至第N-I路El 口的发送端连接第N路El 口的接收端，第N路El 口的发 送端连接SDH测试仪的接收端。
10.根据权利要求9所述的系统，其特征在于，若所述SDH测试仪测得所述El口的串联 测试通道出现误码，则可通过中间设备的网管查看被测设备的STM-I接口上具体出现误码 的 El 口。
全文摘要
本发明公开了一种实现STM-1接口的多路E1口的测试方法和系统，该方法包括将中间设备线路侧的STM-1接口上的每个E1口与中间设备支路侧的N路E1口建立一一对应关系；将中间设备支路侧的N路E1口依次串联，形成N路E1口串联测试通道并连接SDH测试仪，中间设备线路侧的STM-1接口对接被测设备的STM-1接口；SDH测试仪通过N路E1口串联测试通道对被测设备的STM-1接口的所有E1口同时进行测试；其中，N为大于等于2的整数。本发明利用中间设备完成多路E1口串接及其到STM-1接口的映射，通过网管完成对STM-1接口上多路E1口的每路E1口的监控，实现了STM-1接口上多路E1口的同时测试。
文档编号H04L12/26GK101997738SQ201010567208
公开日2011年3月30日 申请日期2010年11月30日 优先权日2010年11月30日
发明者申雅玲 申请人:中兴通讯股份有限公司