专利名称：一种用于td-lte终端射频一致性测试系统的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及无线信号测试领域，而且特别涉及一种用于TD-LTE终端射频一致性测试系统。
背景技术：
在移动通信终端的各种检测和验证中，一致性测试是对终端设计方案或产品的全面验证测试，是检验产品是否与技术标准相一致，保证产品质量的重要环节，是推动产品成熟与完善的关键手段。目前，终端的测试包含手动测试自动化测试。手动测试是根据不同的测试项目搭建不同的测试环境，对测试仪表进行手动配置，读取和记录测试结果。手动测试测试周期长，对测试人员的专业技能要求高，不利于产品的生产测试和验证测试，因此手动测试有其局限性。自动化测试是利用测试仪表搭建满足测试要求的测试平台，适用于大部分测试项目。因此自动化测试具有一致性和可重复性，并且能很好的利用测试资源，节省人力资源。
实用新型内容针对上述原因，本实用新型提出一种用于TD-LTE终端射频一致性测试系统包括射频接口箱、综测仪、频谱仪、矢量信号源、微波源和信道模拟器，所述射频接口箱包括射频切换单元和射频滤波单元，其中:所述射频切换单元的M.1n连接到所述射频滤波单元的A.0ut ;所述射频切换单元的M.1n/out (I)连接到所述射频滤波单元的A.1n/out (I);所述射频切换单元的M.1n/out (2)连接到所述射频滤波单元的A.1n/out (2);所述射频切换单元的M.0ut连接到所述射频滤波单元的A.1n ；所述射频切换单元的接口 Pl连接到信道模拟器的RX4端口，P2连接到信道模拟器的TX2端口，P3连接到信道模拟器的TXl端口；所述射频切换单元的接口 SS.TX连接到综测仪的TXl端口 ；SS.RX连接到综测仪的RX端口 ；W.SIG连接到LTE的干扰信号源输出口 ；UE.RX连接到终端的RX射频口 ；UE.TX连接到终端的TX/RX射频口 ；SA连接到矢量信号分析仪的输入口 ；SIG连接到微波源的输出口 ；所述射频切换单元实现上/下行信号的切换；所述射频滤波单元使有用信号通过，滤除无用信号。进一步地，所述射频切换单元包括:分/合路器、可调衰减器、环行器、定向耦合器和射频开关，其中，分/合路器将单路信号分成功率相等的两路信号，或将双路信号合成单路信号；可调衰减器使终端的两个接收端口的接收信号功率一致；环行器加入干扰信号，将上下行信号进行隔离；[0015]定向耦合器将有用信号通过耦合端引入到频谱仪中，以进行发射机相关项目的测试；射频开关切换信号方向。进一步地，所述射频滤波单元包括滤波器和射频开关，其中，滤波器去除干扰信号的杂质分量；射频开关切换信号方向。进一步地，所述滤波器包括高通滤波器、带通滤波器、低通滤波器和带阻滤波器。进一步地，所述射频开关为单刀多掷开关。本实用新型提供的用于TD-LTE终端射频一致性测试系统中，射频接口箱能够将综测仪、频谱仪、矢量信号源、微波源和信道模拟器集成在一起，通过射频接口箱，完成射频一致性测试。射频接口箱可以实现射频一致性测试中发射机测试，接收机测试，性能测试和CQI测试的测试项目的路径切换，完成3GPP和行业标准一致性测试规范要求的测试项目。
图1是本实用新型的测试系统的结构示意图；图2是在发射机最大功率下测试项目/最大输入电平和参考灵敏度测试项目时，本实用新型测试系统的连接图；图3是在邻道选择性/带内阻塞测试项目时，本实用新型测试系统的连接图；图4是在窄带阻塞测试项目时，本实用新型测试系统的连接图；图5是在接收机互调测试项目时，本实用新型测试系统的连接图；图6是在发射互调测试项目时，本实用新型测试系统的连接图；图7是在带外阻塞/杂散响应测试项目时，本实用新型测试系统的连接图；图8是在发射杂散测试项目时，本实用新型测试系统的连接图；图9是在接收杂散测试项目时，本实用新型测试系统的连接图；图10是在性能测试/CQI测试项目时，本实用新型测试系统的连接图。
具体实施方式
为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，
以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处描述的实施例仅用于解释本实用新型，而不是用于限制本实用新型。如图1所示，本实用新型提出的用于TD-LTE终端射频一致性测试系统包括射频接口箱、综测仪、频谱仪、矢量信号源、微波源和信道模拟器，所述射频接口箱包括射频切换单元和射频滤波单元，其中:所述射频切换单元的M.1n连接到所述射频滤波单元的A.0ut ;所述射频切换单元的M.1n/out (I)连接到所述射频滤波单元的A.1n/out (I);所述射频切换单元的M.1n/out (2)连接到所述射频滤波单元的A.1n/out (2);所述射频切换单元的M.0ut连接到所述射频滤波单元的A.1n ；所述射频切换单元的接口 Pl连接到信道模拟器的RX4端口，P2连接到信道模拟器的TX2端口，P3连接到信道模拟器的TXl端口；所述射频切换单元的接口 SS.TX连接到综测仪的TXl端口 ；SS.RX连接到综测仪的RX端口 ；W.SIG输出LTE的干扰信号源输出口 ；UE.RX连接到终端的RX射频口 ；UE.TX连接到终端的TX/RX射频口 ；SA连接到矢量信号分析仪的输入口 ；SIG连接到微波源的输出Π ；所述射频切换单元实现上/下行信号的切换；所述射频滤波单元使有用信号通过，滤除无用信号。所述射频切换单元包括:分/合路器、可调衰减器、环行器、定向耦合器和射频开关，其中，分/合路器将单路信号分成功率相等的两路信号，或将双路信号合成单路信号；可调衰减器使终端的两个接收端口的接收信号功率一致；环行器加入干扰信号，将上下行信号进行隔离；定向耦合器将有用信号通过耦合端引入到频谱仪中，以进行发射机相关项目的测试；射频开关切换信号方向。所述射频滤波单元包括滤波器和射频开关，其中，滤波器去除干扰信号的杂质分量；射频开关切换信号方向。优选地，所述滤波器包括高通滤波器、带通滤波器、低通滤波器和带阻滤波器。优选地，所述射频开关为单刀多掷开关。实施例1如图2所示，在最大功率/最大输入电平/参考灵敏度测试项目下，本实用新型提出的测试系统中，终端的发射信号经过射频开关K13，环形器，耦合器Cl，射频开关K6连接到频谱仪。实施例2图3示出了在邻道选择性/带内阻塞测试项目下，根据本实用新型的测试系统。如图3所示，下行信号经过射频开关Kl的c 口连接到合路器的Dl的一个端口，LTE (长期演进技术)的干扰信号连接到合路器Dl的另一个端口，Dl的输出口连接到合路器的D2 口，经过射频开关K10，可调衰减器连接到终端的RX端口。另外一路下行信号经过合路器的D2的输出口连接到射频开关K3，环行器，射频开关K13，连接到终端的RX/TX 口。上行信号经过射频开关K13，环行器，耦合器Cl，射频开关K2，带通滤波器连接到综测仪的RX 口。其中，合路器Dl的另一个端口连接到信号源或者50欧姆的负载。耦合器Cl的一个端口接50欧姆的负载。实施例3图4示出了在窄带阻塞测试项目时，根据本实用新型的测试系统。该实施例与实施例2连接方式基本相同。然而，区别在于，在实施例2中，干扰信号是LTE信号，而在该实施例中，干扰信号是CW (单频矩形脉冲)信号。实施例4图5示出了在接收机互调测试项目时，根据本实用新型的测试系统。该实施例与实施例2连接方式基本相同。然而，区别在于，在实施例2中，干扰信号是LTE信号，而在该实施例中，干扰信号是CW信号和LTE信号。实施例5图6示出了在发射互调测试项目时，根据本实用新型的测试系统。CW信号源经过合路器D3，射频开关K9，合路器D6，射频开关K13到终端的RX/TX 口。发射机的互调产物经过射频开关K13，合路器D6，射频开关K8，K4, K14, K15, K5, K6连接到频谱仪。实施例6图7示出了在带外阻塞/杂散响应测试项目时，根据本实用新型的测试系统。通信的下行信号通过射频切换箱的射频开关Kl的d 口连接到合路器D4的一个输入端。CW干扰信号经过射频开关K7，K5，K15，K14，K4连接到D4的另一个端口。D4的输出端连接到D5的一个输入端。再经过开关Kll连接到可调衰减器输出到终端的RX的射频口。另一路信号经过D5的一个输出端连接到合路器D6的一个输入端，D6的输出端经过K13连接到终端的 RX/TX 口。实施例7图8示出了在发射杂散测试项目时，根据本实用新型的测试系统。该实施例与实施例5连接方式基本相同。然而，区别在于，在实施例5中有CW信号源。而发射杂散测试时，没有CW信号源。实施例8图9示出了在接收杂散测试项目时，根据本实用新型的测试系统。上行信号通过可调衰减器，射频开关KlI，合路器D7，射频开关K4，K14，射频开关K3，K16连接到频谱仪。实施例9图10示出了在性能测试/CQI测试项目时，根据本实用新型的测试系统。综测仪的下行信号通过信号模拟器的两个端口(4X2MM0)分别连接到终端的两个RX 口。上行信号通过射频开关K13、环行器、耦合器Cl，射频开关K2连接到综测仪的RX 口。上述仅为本实用新型的较佳实施例，当然，根据实际需要和进一步的探索还可以有其它实施方式。但是，应该明确的是，基于类似上述的或者其它没有表述出的具有相同构思的实施方式的变换，均应涵盖在本实用新型权利要求的保护范围之内。
权利要求1.一种用于TD-LTE终端射频一致性测试系统，其特征在于，包括射频接口箱、综测仪、频谱仪、矢量信号源、微波源和信道模拟器，所述射频接口箱包括射频切换单元和射频滤波单元，其中: 所述射频切换单元的M.1n连接到所述射频滤波单元的A.0ut ;所述射频切换单元的M.1n/out (I)连接到所述射频滤波单元的A.1n/out (I);所述射频切换单元的M.1n/out(2)连接到所述射频滤波单元的A.1n/out (2);所述射频切换单元的M.0ut连接到所述射频滤波单元的A.1n ； 所述射频切换单元的接口 Pl连接到信道模拟器的RX4端口，P2连接到信道模拟器的TX2端口，P3连接到信道模拟器的TXl端口； 所述射频切换单元的接口 SS.TX连接到综测仪的TXl端口 ；SS.RX连接到综测仪的RX端口 ；W.SIG连接到LTE的干扰信号源的输出口 ；UE.RX连接到终端的RX射频口 ；UE.TX连接到终端的TX/RX射频口 ；SA连接到矢量信号分析仪的输入口 ；SIG连接到微波源的输出Π ； 所述射频切换单元实现上/下行信号的切换； 所述射频滤波单元使有用信号通过，滤除无用信号。
2.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述射频切换单元包括:分/合路器、可调衰减器、环行器、定向耦合器和射频开关，其中， 分/合路器将单路信号分成功率相等的两路信号，或将双路信号合成单路信号； 可调衰减器使终端的两个接收端口的接收信号功率一致； 环行器加入干扰信号，将上下行信号进行隔离； 定向耦合器将有用信号通过耦合端引入到频谱仪中，以进行发射机相关项目的测试； 射频开关切换信号方向。
3.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述射频滤波单元包括滤波器和射频开关，其中， 滤波器去除干扰信号的杂质分量； 射频开关切换信号方向。
4.根据权利要求3所述的测试系统，其特征在于，所述滤波器包括高通滤波器、低通滤波器、带通滤波器和带阻滤波器。
5.根据权利要求3所述的测试系统，其特征在于，所述射频开关为单刀多掷开关。
专利摘要本实用新型提出一种用于TD-LTE终端射频一致性测试系统的射频接口箱，包括射频切换单元和射频滤波单元，其中所述射频切换单元的M.in连接到所述射频滤波单元的A.out；所述射频切换单元的M.in/out(1)连接到所述射频滤波单元的A.in/out(1)；所述射频切换单元的M.in/out(2)连接到所述射频滤波单元的A.in/out(2)；所述射频切换单元的M.out连接到所述射频滤波单元的A.in。该射频接口箱可以实现射频一致性测试中发射机测试，接收机测试，性能测试和CQI测试的测试项目的路径切换，完成3GPP和行业标准一致性测试规范要求的测试项目。
文档编号H04W24/08GK202979294SQ20122041620
公开日2013年6月5日 申请日期2012年8月21日 优先权日2012年8月21日
发明者魏然, 马鑫, 张翔, 石美宪, 来志京, 孙元宇, 于剑飞, 王海燕, 聂蔚青, 李军辉, 魏阳, 王建, 赵阳, 步晓龙 申请人:工业和信息化部电信研究院