多天线tdd系统的干扰检测方法及装置制造方法
【专利摘要】本发明提供一种多天线TDD系统的干扰检测方法，包括以下步骤：将智能天线接收到的射频信号输入到射频拉远模块中的校准通道；通过所述校准通道处理所述射频信号，并获取所述射频信号的处理结果；根据所述处理结果确定所述射频信号的相应参数。本发明还提供一种多天线TDD时分系统的干扰检测装置。本发明提供的一种多天线TDD时分系统的干扰检测方法及装置，能够实现对来自外部的射频干扰的便捷检测，从而有利于实现排除接收端阻塞，有助于通过网络优化方式排除外部干扰，以解决现有技术中的干扰检测手段中浪费人力和效率低的问题，为后续网络优化提供支持。
【专利说明】多天线TDD系统的干扰检测方法及装置
【技术领域】
[0001]本发明涉及无线通信【技术领域】，具体而言，本发明涉及一种多天线TDD系统的干扰检测方法及装置。
【背景技术】
[0002]近年来，由于分布式基站具有低成本、环境适应性强、工程建设方便等优势，无线通信系统的架构正迅速朝着分布式基站方向发展，尤其是在目前正在建设的3G移动网络中，分布式基站已得到非常广泛的应用。
[0003]数据业务是3G网络的核心业务，而且数据业务占用的带宽是话音业务的几十甚至上百倍。3G网络为终端用户提供了许多新的业务，包括视频电话、视频流、游戏、丽S、E-mail、Web等。随着3G网络建设进入高速发展期，运营商对其网络快速、灵活、低成本部署的要求，也使得移动分布式基站作为一种新的基站模式逐渐成为建网的趋势和主流。
[0004]分布式基站把传统的宏基站设备按照功能划分为两个功能模块，其中:把基站的基带、主控、传输、时钟等功能集成在一个称为基带单元BBU(Base Band Unit, BBU)的模块上，基带单元BBU体积小、安装位置非常灵活；把收发信机、功放等中频、射频元器件集成在另外一个称为射频拉远单元RRU (Remote Radio Unit, RRU)的模块上，射频拉远单元RRU安装在天线端。射频单元与基带单元之间通过光纤连接，形成全新的分布式基站解决方案。因此，分布式基站结构的核心思想是将传统宏基站基带处理单元(BBU)和射频处理单元(RRU)分离，二者通过光纤相连。在网络部署时，将基带处理单元与核心网、无线网络控制设备集中在机房内，通过光纤与规划站点上部署的射频拉远单元进行连接，完成网络覆盖，从而降低建设维护成本、提高效率。
[0005]由于基站分布具有相对分散的特点，在外场复杂的环境中，基站系统会接收到来自其他系统的干扰，导致基站无法正常工作。排查干扰来源的时候，由于外场环境复杂，工作人员直接携带扫频仪测试干扰信号来源，需要测试天线、测试辅材、测试电源、测试仪表搭建检测环境。检测环境的搭建浪费了大量的人力、财力，且检测效率低，耗费大量时间。进一步地，由于外场检测环境的复杂和多样性，为检测时的定位带来较大的干扰和操作上的不便。如图1所示，为测量基站外场干扰信号的示意图。通常，从扫频仪上测到的干扰信号会非常杂乱，由于外场环境十分复杂，在这种外场干扰严重的情况下，新建站点和干扰分析都需要搭建测试环境并进行频谱测试，不仅受场地和人力的限制、也受仪表和测试辅材的限制。
[0006]因此，针对现有的多天线TDD时分系统，有必要提出一种高效、自动的干扰检测方法及装置，以解决现有干扰检测手段中浪费人力和效率低的问题。
【发明内容】
[0007]本发明的目的旨在提供一种多天线TDD时分系统的干扰检测装置及方法，以实现对来自外部的射频干扰的便捷检测，从而有利于实现排除接收端阻塞，有助于通过网络优化方式排除外部干扰，以解决现有技术中的干扰检测手段中浪费人力和效率低的问题。
[0008]本发明实施方式一方面提供一种多天线TDD系统的干扰检测方法，包括以下步骤:
[0009]将智能天线接收到的射频信号输入到射频拉远模块(RRU)中的校准通道；
[0010]通过所述校准通道处理所述射频信号，并获取所述射频信号的处理结果；
[0011]根据所述处理结果确定所述射频信号的相应参数。
[0012]本发明实施方式另一方面提供一种多天线TDD系统的干扰检测装置，包括输入端、处理模块和运算模块，
[0013]所述输入端，用于向射频拉远模块(RRU)中的校准通道输入智能天线接收到的射
频信号；
[0014]所述处理模块，用于处理所述射频信号，并获取所述射频信号的处理结果；
[0015]所述运算模块，用于根据所述处理结果确定所述射频信号的相应参数。
[0016]本发明提供的多天线TDD时分系统的干扰检测装置及方法，能够实现对来自外部的射频干扰的便捷检测，从而有利于实现排除接收端阻塞，有助于通过网络优化方式排除外部干扰，以解决现有技术中的干扰检测手段中浪费人力和效率低的问题，为后续网络优化提供支持。此外，本发明提出的上述方案，对现有系统的改动很小，不会影响设备的兼容性，而且实现简单、高效。
[0017]本发明附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出，这些将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。
【专利附图】
【附图说明】
[0018]本发明上述的和/或附加的方面和优点从下面结合附图对实施方式的描述中将变得明显和容易理解，其中:
[0019]图1示出了测量基站外场干扰信号的示意图；
[0020]图2示出了根据本发明一实施方式的多天线TDD时分系统的天线及RRU的结构示意图；
[0021]图3示出了根据本发明一实施方式的多天线TDD时分系统的干扰检测方法的流程图；
[0022]图4示出了根据本发明一实施方式的RRU中配置的校准通道的结构示意图；
[0023]图5示出了根据本发明另一实施方式的RRU中配置的校准通道的结构示意图；
[0024]图6示出了根据本发明一实施方式的经过ADC采样信号输出的中频信号的频谱图；
[0025]图7示出了根据本发明一实施方式的射频信号转中频信号的处理示意图；
[0026]图8示出了根据本发明一实施方式的多天线TDD时分系统的干扰检测装置的结构示意图。
【具体实施方式】
[0027]下面详细描述本发明的实施方式，所述实施方式的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施方式是示例性的，仅用于解释本发明，而不能解释为对本发明的限制。
[0028]本【技术领域】技术人员可以理解，除非特意声明，这里使用的单数形式“一”、“一个”、“所述”和“该”也可包括复数形式。应该进一步理解的是，本发明的说明书中使用的措辞“包括”是指存在所述特征、整数、步骤、操作、元件和/或组件，但是并不排除存在或添加一个或多个其他特征、整数、步骤、操作、元件、组件和/或它们的组。应该理解，当我们称元件被“连接”或“耦接”到另一元件时，它可以直接连接或耦接到其他元件，或者也可以存在中间元件。此外，这里使用的“连接”或“耦接”可以包括无线连接或耦接。这里使用的措辞“和/或”包括一个或更多个相关联的列出项的任一单元和全部组合。
[0029]本【技术领域】技术人员可以理解，除非另外定义，这里使用的所有术语(包括技术术语和科学术语)具有与本发明所属领域中的普通技术人员的一般理解相同的意义。还应该理解的是，诸如通用字典中定义的那些术语应该被理解为具有与现有技术的上下文中的意义一致的意义，并且除非像这里一样定义，不会用理想化或过于正式的含义来解释。
[0030]图2示出了根据本发明一实施方式的多天线TDD时分系统的天线及RRU的结构示意图。作为一种实施方式，如图2所示，TDD基站系统采用8通道+1校准通道设计，智能天线系统同样采用8天线+校准通道的设计。为满足智能天线所需要的功率平衡、延迟测量，需要对每个射频通道进行校准。发校准时，工作通道(如图2所示的RF通道1-8)，工作在发射状态，校准通道(如图2所示的RF CAL)工作在接收状态；收校准时，工作通道工作在接收状态，校准通道工作在发射状态。TDD系统在正常工作情况下每小时校准I次，其余状态下校准通道不工作。因此，基于这个特性，本发明提出，可以在系统校准的间隔期(即，RRU中的校准通道RF CAL处于接收状态时)进行外界干扰检测，确认外界干扰来源和干扰信号大小。例如，当基站接收链路阻塞，速率下降的时候，软件命令开启干扰检测，通过干扰检测确认干扰来源，进行网络重新配置优化。在本文中，术语“射频通道”是本领域通用的概念，而术语“工作通道”(如图2所示的RF通道)是指非校准通道的射频通道，术语“校准通道”(如图2所示的RF CAL)是指用于进行射频校准的射频通道，因此，广义上说，校准通道也是射频通道。本发明提供的RRU自行检测干扰的方案，通过TDD智能天线系统中的校准通道来对外界干扰信号进行检测，不仅可以减少外部测试环境的设置，减少人力和财力的浪费，同时可以随时在没有扫频仪的前提下进行系统外部干扰源的检测。
[0031]由上可知，本发明是通过TDD多天线系统的校准通道来进行干扰检测，由于需要确认干扰来源，对于具有射频窄带滤波器的校准通道就需要进行特殊设计。由于RRU校准通道可以有两种设计方式:第一种、接收链路中包含窄带滤波器；第二种、接收链路不包含窄带滤波器。因此，针对上述两种校准通道，本发明提供的干扰检测方案也可以分别设计成如下两种方式:第一种、校准通道中有射频滤波器的设计；第二种、校准通道中没有射频滤波器的设计。针对具有射频滤波器的校准通道，如果要实现干扰检测，可以采用将射频滤波器通过旁路电路绕开的设计方案，使宽频干扰信号能够通过校准通道转换成中频，以便通过本振扫频来实现干扰信号的定位。如果校准通道本来就没有窄带滤波器的设计，可以直接通过软件升级的功能来完成干扰信号的检测。
[0032]为了实现本发明的目的，本发明实施方式提出了一种多天线TDD系统的干扰检测方法，如图3所述，为本发明实施方式多天线TDD系统的干扰检测方法的流程图，包括以下步骤:S110:将智能天线接收到的射频信号输入到射频拉远模块(RRU)中的校准通道；S120:通过校准通道处理射频信号，并获取射频信号的处理结果；S130:根据处理结果确定射频信号的相应参数。
[0033]本发明提出的上述方法，能够通过校验通道直接测量干扰信号。例如，当确定了干扰的射频信号的相应参数之后，网络优化人员可以根据射频信号的相应参数，查找附近的干扰源，确定外部干扰的来源和位置，为后续网络优化提供支持。
[0034]作为本发明的实施方式，上述方法进一步还包括:判断校准通道是否配置有射频滤波器；
[0035]当校准通道配置有射频滤波器时，在射频滤波器两端设置旁路开关电路，通过校准通道处理射频信号时，闭合开关，旁路射频滤波器，使得待处理的射频信号直接通过。
[0036]因此，作为本发明的实施方式，当校准通道不具有射频滤波器或已经将射频滤波器旁路之后，通过校准通道处理射频信号，并获取射频信号的处理结果，包括:
[0037]将接收到的射频信号经由衰减电路进行信号衰减；
[0038]将经过衰减后的射频信号与本振信号混频，进行降频处理以转换为中频信号；
[0039]将中频信号传送至模数转换器(ADC)进行信号采样，根据信号采样获取中频信号的频率和/或中频信号的功率。
[0040]其后，根据处理结果确定射频信号的相应参数，包括:
[0041]确定射频信号的频率，射频信号的频率=中频信号的频率+本振信号的频率；和/或，
[0042]确定射频信号的功率，射频信号的功率=中频信号的功率-射频链路的增益+校准通道与智能天线之间的耦合度。
[0043]下面结合附图，对上述方案作进一步阐述。
[0044]图4示出了根据本发明一实施方式的RRU中配置的校准通道的结构示意图。作为一种实施方式，如图4所示，当校准通道配置有射频滤波器时，RRU中配置的校准通道可以包括:输入端，用于接收智能天线中的射频通道检测到的作为外部干扰的射频信号；衰减电路，用于接收接收端传递过来的射频信号；旁路开关，其包括第一端、第二端和第三端，用于将转换后的中频信号从射频滤波器旁路至本振混频器；本振混频器，其包括混频单元和振荡器单元，通过混频单元将衰减后的射频信号与振荡器单元提供的本振信号进行混频处理转换为中频信号；模数转换器(ADC)，用于接收经过混频后的中频信号，并进行采样处理，以获取经过混频后的中频信号的频率和功率；其中:校准通道的输入端连接衰减电路的一端，衰减电路的另一端连接旁路开关的第一端，旁路开关的第二端连接射频滤波器的一端，射频滤波器的另一端连接本振混频器中的混频单元的第一输入端，振荡器单元连接本振混频器中的混频单元的第二输入端，旁路开关的第三端连接本振混频器中的混频单元的第一输入端，混频单元的输出端连接ADC的一端。
[0045]图5示出了根据本发明另一实施方式的RRU中配置的校准通道的结构示意图。作为一种实施方式，如图5所示，当校准通道未配置射频滤波器时，RRU中配置的校准通道包括:输入端，用于接收智能天线中的射频通道检测到的作为外部干扰的射频信号；衰减电路，用于接收接收端传递过来的射频信号；本振混频器，其包括混频单元和振荡器单元，通过混频单元将衰减后的射频信号与振荡器单元提供的本振信号进行混频处理转换为中频信号；模数转换器(ADC)，用于接收经过混频后的中频信号，并进行采样处理，以获取经过混频后的中频信号的频率和功率；其中:校准通道的接收端连接衰减电路的一端，衰减电路的另一端连接本振混频器中的混频单元的第一输入端，振荡器单元连接本振混频器中的混频单元的第二输入端，混频单元的输出端连接ADC的一端。
[0046]图6示出了根据本发明一实施方式的经过ADC采样信号输出的中频信号的频谱图，如图6所示，本发明提供的一种多天线TDD系统的干扰检测方法可以测量出中频信号中具有尖峰的干扰信号的频率和功率。图7示出了根据本发明一实施方式的射频信号转中频信号的处理示意图，射频信号经过与本振信号混频，通过数字中频滤波器后输出中频信号。由于混频的原因，中频信号的频率=射频信号频率-本振信号频率，通过调整本振信号的频率，并根据ADC数据得知具体的中频频率，可以推断出射频信号频率，也就是干扰信号的频率。同时也可以根据ADC采样的数据，根据射频链路的增益，反推到RRU射频口的干扰信号功率，再通过校准天线和智能天线之间的稱合度(例如，25dB)反推到智能天线接收到的干扰信号功率。从中频检测到的信号，通过混频的公式:
[0047]Freq (RF) =Freq (IF) +Freq (LO)；
[0048]再反推可以计算得到射频信号的频率，同时也可以根据中频检测到的信号功率，通过增益换算的公式反推到天线口的干扰信号功率电平:
[0049]Power(RF)=Power (IF)-Gain+25dB ；
[0050]其中:RF标记的是射频，IF标记的是中频，LO标记的是本振,25dB是校准天线和正常工作天线之间的耦合值。
[0051]例如，本振信号扫频功能由RRU的软件控制，本振信号的频率的步进200KHz或200KHz的倍数，步进大小由数字中频滤波器决定。例如，由于TD-LTE数字中频带宽40M，本振信号步进就可以按照40M设置，每40M进行功率检测一次并记录检测到的干扰频率和干扰功率，直到天线所支持的全频段扫完。通过后来进行数据收集，并根据干扰数据重新对网络进行频率偏移、天线距离增大等优化配置。
[0052]因此，作为本发明的实施方式，可以调整本振信号的频率，测量智能天线在所支持的全频段的射频信号的频率和/或测量射频信号的功率。
[0053]例如，本振信号设计为宽频本振，支持400-2800M，中频180M，可以检测到最高的射频干扰信号为2980MHz，基本能检测到现有移动通信的频率。同时，干扰检测也受宽频天线能支持的频段限制，考虑到干扰信号正是由于天线接收下来引起接收机阻塞，通过校准通道检测的方式完全可以确认干扰来源，其后可以通过网络优化的方式来解决。
[0054]因此，作为本发明的实施方式，可以将通信系统的数字中频滤波器的带宽作为调整本振信号频率的步径大小，测量智能天线在所支持的全频段的射频信号的频率和/或测量射频信号的功率。
[0055]此外，作为本发明的实施方式，在校准通道处于校准间隔期时，校验通道利用本发明公开的上述方法，可以检测作为外部干扰的射频信号。
[0056]进一步地，本发明提及的多天线TDD时分系统包括但不限于如下系统:采用TD-SCDMA、TD-LTE或TD-LTE-A标准的带有校准通道的TDD系统。也就是，本发明提出的上述方法，可以直接用于采用TD-SCDMA、TD-LTE或TD-LTE-A标准的带有校准通道的TDD系统。
[0057]由上可知，本发明提供的多天线TDD系统的干扰检测方法，可以实现便捷检测外部射频干扰来源，为后续网络优化提供支持。本发明提供的方法可以在RRU中实现自行检测干扰的方案，通过TDD智能天线系统中的校准通道来对外界干扰信号进行检测，不仅可以减少外部测试环境的搭建，减少人力和财力的浪费，同时可以随时在没有扫频仪的前提下进行系统外部干扰源的检测。
[0058]相应地，如图8所示，本发明实施方式还提出了一种多天线TDD系统的干扰检测装置800，干扰检测装置800包括输入端810、处理模块820和运算模块830。
[0059]具体而言，输入端810用于向射频拉远模块(RRU)中的校准通道输入智能天线接收到的射频信号；
[0060]处理模块820用于处理射频信号，并获取射频信号的处理结果；
[0061]运算模块830用于根据处理结果确定射频信号的相应参数。
[0062]作为干扰检测装置800的实施方式，处理模块820还包括:判断模块，
[0063]判断模块，用于判断校准通道是否配置有射频滤波器；当校准通道配置有射频滤波器时，在射频滤波器两端设置旁路开关电路，通过校准通道处理射频信号时，判断模块用于闭合开关，旁路射频滤波器，使得待处理的射频信号直接通过。
[0064]进一步而言，处理模块820还包括:衰减电路、本振混频器、模数转换器(ADC)，
[0065]衰减电路，用于将接收到的射频信号经由衰减电路进行信号衰减；
[0066]本振混频器，用于将经过衰减后的射频信号与本振信号混频，进行降频处理以转换为中频信号；
[0067]模数转换器(ADC)，用于将中频信号传送至模数转换器(ADC)进行信号采样，根据信号采样获取中频信号的频率和/或中频信号的功率。
[0068]具体而言，处理模块820中各个器件的连接关系可以参考图4和图5以及前文对图4和图5的文字说明。
[0069]其中，运算模块830用于根据处理结果确定射频信号的相应参数，包括:
[0070]运算模块830用于确定射频信号的频率，射频信号的频率=中频信号的频率+本振信号的频率；和/或，
[0071]运算模块830用于确定射频信号的功率，射频信号的功率=中频信号的功率-射频链路的增益+校准通道与智能天线之间的耦合度。
[0072]具体而言，确定射频信号的相应参数的原理，可以参考图7以及前文对图7的文字说明。
[0073]作为干扰检测装置800的实施方式，处理模块820进一步用于调整本振信号的频率，测量智能天线在所支持的全频段的射频信号的频率和/或测量射频信号的功率。
[0074]进一步而言，处理模块820进一步用于以通信系统的数字中频滤波器的带宽为步径调整本振信号的频率，测量智能天线在所支持的全频段的射频信号的频率和/或测量射频信号的功率。
[0075]在实际的应用中，在校准通道处于校准间隔期时，干扰检测装置800用于检测作为外部干扰的射频信号。
[0076]作为干扰检测装置800的实施方式，干扰检测装置800应用于如下系统之一:
[0077]采用TD-SCDMA、TD-LTE或TD-LTE-A标准的带有校准通道的TDD系统。
[0078]在具体的应用中，干扰检测装置800通常集成于RRU或主要由校准通道搭建而成。[0079]由上可知，本发明提供的多天线TDD系统的干扰检测装置，可以实现便捷检测外部射频干扰来源，为后续网络优化提供支持。本发明提供的装置可以在RRU中实现自行检测干扰的方案，通过TDD智能天线系统中的校准通道来对外界干扰信号进行检测，不仅可以减少外部测试环境的搭建，减少人力和财力的浪费，同时可以随时在没有扫频仪的前提下进行系统外部干扰源的检测。
[0080]本【技术领域】技术人员可以理解，本发明可以涉及用于执行本申请中所述操作中的一项或多项操作的设备。所述设备可以为所需的目的而专门设计和制造，或者也可以包括通用计算机中的已知设备，所述通用计算机有存储在其内的程序选择性地激活或重构。这样的计算机程序可以被存储在设备(例如，计算机)可读介质中或者存储在适于存储电子指令并分别耦联到总线的任何类型的介质中，所述计算机可读介质包括但不限于任何类型的盘(包括软盘、硬盘、光盘、CD-ROM、和磁光盘)、随即存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、电可编程ROM、电可擦ROM (EPROM)、电可擦除可编程ROM (EEPR0M)、闪存、磁性卡片或光线卡片。可读介质包括用于以由设备(例如，计算机)可读的形式存储或传输信息的任何机构。例如，可读介质包括随即存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、磁盘存储介质、光学存储介质、闪存装置、以电的、光的、声的或其他的形式传播的信号(例如载波、红外信号、数字信号)等。
[0081]本【技术领域】技术人员可以理解，可以用计算机程序指令来实现这些结构图和/或框图和/或流图中的每个框以及这些结构图和/或框图和/或流图中的框的组合。可以将这些计算机程序指令提供给通用计算机、专业计算机或其他可编程数据处理方法的处理器来生成机器，从而通过计算机或其他可编程数据处理方法的处理器来执行的指令创建了用于实现结构图和/或框图和/或流图的框或多个框中指定的方法。
[0082]本【技术领域】技术人员可以理解，本发明中已经讨论过的各种操作、方法、流程中的步骤、措施、方案可以被交替、更改、组合或删除。进一步地，具有本发明中已经讨论过的各种操作、方法、流程中的其他步骤、措施、方案也可以被交替、更改、重排、分解、组合或删除。进一步地，现有技术中的具有与本发明中公开的各种操作、方法、流程中的步骤、措施、方案也可以被交替、更改、重排、分解、组合或删除。
[0083]以上所述仅是本发明的部分实施方式，应当指出，对于本【技术领域】的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。
【权利要求】
1.一种多天线TDD系统的干扰检测方法，其特征在于，包括以下步骤: 将智能天线接收到的射频信号输入到射频拉远模块(RRU)中的校准通道； 通过所述校准通道处理所述射频信号，并获取所述射频信号的处理结果； 根据所述处理结果确定所述射频信号的相应参数。
2.如权利要求1所述的干扰检测方法，其特征在于，还包括:判断所述校准通道是否配置有射频滤波器； 当所述校准通道配置有射频滤波器时，在所述射频滤波器两端设置旁路开关电路，通过所述校准通道处理所述射频信号时，闭合所述开关，旁路所述射频滤波器，使得待处理的所述射频信号直接通过。
3.如权利要求2或I所述的干扰检测方法，其特征在于，通过所述校准通道处理所述射频信号，并获取所述射频信号的处理结果，包括: 将接收到的所述射频信号经由衰减电路进行信号衰减； 将经过衰减后的所述射频信号与本振信号混频，进行降频处理以转换为中频信号；将所述 中频信号传送至模数转换器(ADC)进行信号采样，根据所述信号采样获取所述中频信号的频率和/或所述中频信号的功率。
4.如权利要求3所述的干扰检测方法，其特征在于，根据所述处理结果确定所述射频信号的相应参数，包括: 确定所述射频信号的频率，所述射频信号的频率=所述中频信号的频率+本振信号的频率；和/或， 确定所述射频信号的功率，所述射频信号的功率=所述中频信号的功率-射频链路的增益+校准通道与智能天线之间的耦合度。
5.如权利要求3所述的干扰检测方法，其特征在于，调整所述本振信号的频率，测量智能天线在所支持的全频段的所述射频信号的频率和/或测量所述射频信号的功率。
6.如权利要求5所述的干扰检测方法，其特征在于，以通信系统的数字中频滤波器的带宽为步径调整所述本振信号的频率，测量智能天线在所支持的全频段的所述射频信号的频率和/或测量所述射频信号的功率。
7.如权利要求1所述的干扰检测方法，其特征在于，在所述校准通道处于校准间隔期时，检测作为外部干扰的所述射频信号。
8.如权利要求1所述的干扰检测方法，其特征在于，所述多天线TDD时分系统是如下系统之一: 采用TD-SCDMA、TD-LTE或TD-LTE-A标准的带有校准通道的TDD系统。
9.一种多天线TDD系统的干扰检测装置，其特征在于，包括输入端、处理模块和运算模块， 所述输入端，用于向射频拉远模块(RRU)中的校准通道输入智能天线接收到的射频信号； 所述处理模块，用于处理所述射频信号，并获取所述射频信号的处理结果； 所述运算模块，用于根据所述处理结果确定所述射频信号的相应参数。
10.如权利要求9所述的干扰检测装置，其特征在于，所述处理模块还包括:判断模块， 所述判断模块，用于判断所述校准通道是否配置有射频滤波器；当所述校准通道配置有射频滤波器时，在所述射频滤波器两端设置旁路开关电路，通过所述校准通道处理所述射频信号时，所述判断模块用于闭合所述开关，旁路所述射频滤波器，使得待处理的所述射频信号直接通过。
11.如权利要求10或9所述的干扰检测装置，其特征在于，所述处理模块还包括:衰减电路、本振混频器、模数转换器(ADC)， 所述衰减电路，用于将接收到的所述射频信号经由衰减电路进行信号衰减； 所述本振混频器，用于将经过衰减后的所述射频信号与本振信号混频，进行降频处理以转换为中频信号； 所述模数转换器(ADC)，用于将所述中频信号传送至模数转换器(ADC)进行信号采样，根据所述信号采样获取所述中频信号的频率和/或所述中频信号的功率。
12.如权利要求11所述的干扰检测装置，其特征在于，所述运算模块用于根据所述处理结果确定所述射频信号的相应参数，包括: 所述运算模块用于确定所述射频信号的频率，所述射频信号的频率=所述中频信号的频率+本振信号的频率；和/或， 所述运算模块用于确定所述射频信号的功率，所述射频信号的功率=所述中频信号的功率-射频链路的增益+校准通道与智能天线之间的耦合度。
13.如权利要求11所述的干扰检测装置，其特征在于，所述处理模块进一步用于调整所述本振信号的频率，测量智能天线在所支持的全频段的所述射频信号的频率和/或测量所述射频信号的功率。
14.如权利要求13所述的干扰检测装置，其特征在于，所述处理模块进一步用于以通信系统的数字中频滤波器的带宽为步径调整所述本振信号的频率，测量智能天线在所支持的全频段的所述射频信号的频率和/或测量所述射频信号的功率。
15.如权利要求9所述的干扰检测装置，其特征在于，在校准通道处于校准间隔期时，所述干扰检测装置用于检测作为外部干扰的所述射频信号。
16.如权利要求9所述的干扰检测装置，其特征在于，所述干扰检测装置应用于如下系统之一: 采用TD-SCDMA、TD-LTE或TD-LTE-A标准的带有校准通道的TDD系统。
【文档编号】H04B7/04GK103532601SQ201310498651
【公开日】2014年1月22日 申请日期:2013年10月22日 优先权日:2013年10月22日
【发明者】倪慧娟, 段滔 申请人:大唐移动通信设备有限公司