超高频rfid标签协议一致性测试方法

文档序号:7810725阅读:727来源:国知局
超高频rfid标签协议一致性测试方法
【专利摘要】本发明涉及一种超高频RFID标签协议一致性测试方法,所述RFID标签协议一致性测试方法包括如下步骤:a、上位机与频谱分析仪连接,并通过所述频谱分析仪捕获RFID标签阅读器与被测标签之间的通信信号,以获取能反映被测标签全部特征的标签特征信号;b、利用小波变换方法对上述获取的标签特征信号进行处理,得到标签特征变换信号,并对得到的标签特征变换信号进行检测,以提取得到协议参数;c、将上述提取的协议参数与协议规定的标准参数值比较,并输出所述比较结果。本发明能实现对超高频RFID标签协议的一致性进行准确测试,易于实现测试的自动化,安全可靠。
【专利说明】超高频RFID标签协议一致性测试方法

【技术领域】
[0001] 本发明涉及一种测试方法,尤其是一种超高频RFID标签协议一致性测试方法,属 于RFID标签测试的【技术领域】。

【背景技术】
[0002] RFID已成为IT领域的热点技术,很多国家都在不遗余力地推广射频识别技术。 RFID标准在国际上还没有达成完全的一致,多个组织制定了不同频段的不同标准,各标准 之间存在着一定程度的不兼容性。RFID超高频国际标准有:IS0/IEC 18000-6,EPC global ClasslGen和UbiquitousID。不同的行业制定了相应的标准,例如,应用于动物识别的标 准:IS0 TC 23/SC 19/WG3,应用于运输和控制系统的标准:IS0 TC 204,应用于单品管理的 标准:IS0/IEC 18000。
[0003] 目前的RFID测试主要是借助于功能强大的测试仪器设备和采用手工测试的方 法。主要的测试设备有泰克公司、安捷伦公司与罗德斯瓦茨公司生产的(实时)频谱分析 仪和矢量信号发生器。测试的内容包括性能测试与系统测试,具体的分为标签与读写器性 能测试,RFID空中接口协议一致性测试,RFID射频测试,RFID环境影响测试。
[0004] 近几年RFID标签协议一致性测试技术不断的在进步与完善。一些公司开发了基 于软件无线电与LabView的测试系统,一些科研单位也提出了构建基于模块化的RFID自动 测试系统。上述测试系统在一定程度上解决了标签一致性测试中遇到的问题,但是上述方 法也存在着局限性。大多数测试方案的实施过程依赖于功能强大的测试设备,同时要求测 试人员进行手动操作,不但影响测试效率,也影响测试结果的准确性。所以研究RFID标签 协议一致性测试方法对RFID技术的进一步推广有重要意义。


【发明内容】

[0005] 本发明的目的是克服现有技术中存在的不足,提供一种超高频RFID标签协议一 致性测试方法,其能实现对超高频RFID标签协议的一致性进行准确测试,易于实现测试的 自动化,安全可靠。
[0006] 按照本发明提供的技术方案,一种超高频RFID标签协议一致性测试方法,所述 RFID标签协议一致性测试方法包括如下步骤:
[0007] a、上位机与频谱分析仪连接,并通过所述频谱分析仪捕获RFID标签阅读器与被 测标签之间的通信信号,以获取能反映被测标签全部特征的标签特征信号;
[0008] b、利用小波变换方法对上述获取的标签特征信号进行处理,得到标签特征变换信 号,并对得到的标签特征变换信号进行检测,以提取得到协议参数;
[0009] c、将上述提取的协议参数与协议规定的标准参数值比较,并输出所述比较结果。
[0010] 所述标签特征信号反映的标签全部特征包括数据编码、标签信号占空比、标签链 路频率容差、标签链路时间T1、标签链路时间T2、标签频率范围以及标签解调能力。
[0011] 所述步骤b中,包括如下步骤:
[0012] bl、利用小波变换的多孔算法对标签特征信号进行处理,以得到标签特征变换信 号;
[0013] b2、设定第一动态阈值,并利用所述第一动态阈值以及斜率对标签特征变换信号 进行处理,以得到所述序列sigMaxs以及用于记录所述序列sigMaxs内每一个值对应在标 签特征变换信号中对应序号的序列LocMaxs ;
[0014] b3、设定第二动态阈值,并利用所述第二动态阈值剔除序列sigMaxs中RFID标签 阅读器所对应的模极大值,得到只包含标签信号信息的模极大值序列Maxs以及用于记录 所述模极大值序列Maxs内每一个值在标签特征变换信号中对应序号的序号序列Loc ;
[0015] b4、利用上述模极大值序列Maxs以及序号序列Loc,提取并计算后得到协议参数, 所述协议参数包括标签前导码、标签信号占空比、标签链路频率容差、标签链路时间T1、标 签链路时间T2、标签频率范围以及标签解调能力。
[0016] 所述步骤bl中,在利用小波变换的多孔算法对标签特征信号进行处理时,所述多 孔算法中的分解级数为3,4或5。
[0017] 所述步骤b4中,包括如下步骤:
[0018] b4_l、利用上述模极大值序列Maxs以及序号序列Loc,提取参数:Tari、DR、TRcal、 TRext 以及 tari ;
[0019] b4_2、对标签信号占空比的计算为:

【权利要求】
1. 一种超高频RFID标签协议一致性测试方法,其特征是,所述RFID标签协议一致性测 试方法包括如下步骤: (a) 、上位机与频谱分析仪连接,并通过所述频谱分析仪捕获RFID标签阅读器与被测 标签之间的通信信号,以获取能反映被测标签全部特征的标签特征信号; (b) 、利用小波变换方法对上述获取的标签特征信号进行处理,得到标签特征变换信 号,并对得到的标签特征变换信号进行检测,以提取得到协议参数; (c) 、将上述提取的协议参数与协议规定的标准参数值比较,并输出所述比较结果。
2. 根据权利要求1所述的超高频RFID标签协议一致性测试方法,其特征是:所述标签 特征信号反映的标签全部特征包括数据编码、标签信号占空比、标签链路频率容差、标签链 路时间T1、标签链路时间T2、标签频率范围以及标签解调能力。
3. 根据权利要求1所述的超高频RFID标签协议一致性测试方法,其特征是,所述步骤 (b)中,包括如下步骤: (bl)、利用小波变换的多孔算法对标签特征信号进行处理,以得到标签特征变换信 号; (b2)、设定第一动态阈值,并利用所述第一动态阈值以及斜率对标签特征变换信号进 行处理,以得到所述序列sigMaxs以及用于记录所述序列sigMaxs内每一个值对应在标签 特征变换信号中对应序号的序列LocMaxs ; (b3)、设定第二动态阈值,并利用所述第二动态阈值剔除序列sigMaxs中RFID标签阅 读器所对应的模极大值,得到只包含标签信号信息的模极大值序列Maxs以及用于记录所 述模极大值序列Maxs内每一个值在标签特征变换信号中对应序号的序号序列Loc ; (b4)、利用上述模极大值序列Maxs以及序号序列Loc,提取并计算后得到协议参数,所 述协议参数包括标签前导码、标签信号占空比、标签链路频率容差、标签链路时间T1、标签 链路时间T2、标签频率范围以及标签解调能力。
4. 根据权利要求3所述的超高频RFID标签协议一致性测试方法,其特征是:所述步骤 (bl)中,在利用小波变换的多孔算法对标签特征信号进行处理时,所述多孔算法中的分解 级数为3,4或5。
5. 根据权利要求3所述的超高频RFID标签协议一致性测试方法,其特征是,所述步骤 (b4)中,包括如下步骤: (b4-l)、利用上述模极大值序列Maxs以及序号序列Loc,提取参数:Tari、DR、TRcal、 TRext 以及 tari ; (b4-2)、对标签信号占空比的计算为:
对标签链路频率容差的计算
其中,Loc [3]表示模极大值序列Maxs中Maxs [3]在标签特征变换信 号中对应的序号,Loc[2]表示模极大值序列Maxs中Maxs[2]在标签特征变换信号中对应 的序号,Loc[1]表示模极大值序列Maxs中Maxs[1]在标签特征变换信号中对应的序号; (b 4 - 3 )、 对标签链路时间T 1的计算为:
;对于标签链路时间T2的计算为:
其中,Num为数据长度,LengT为 频谱分析仪的数据采集时间,LocMaxs [TagBe]表示序列LocMaxs中与标签起始信号 sigMaxs[TagBe]在标签特征变换信号中的序号,LocMaxs[ReadFin]表示序列LocMaxs中紧 邻标签起始信号sigMax S[TagBe]的RFID标签阅读器信号在标签特征变换信号中的序号; LocMaxs [TagEn]表示序列LocMaxs中标签结束信号sigMaxs[TagEn]在标签特征变换信号 中的序号;LocMaxs [ReadBe]表示序列LocMaxs中紧邻标签结束信号sigMaxs[TagEn]的读 卡器开始信号在标签特征变换信号中的序号。
6. 根据权利要求3所述的超高频RFID标签协议一致性测试方法,其特征是,对于标签 的解调能力,将RFID标签阅读器设置为所需的发射频率,并确定标签特征信号中是否包含 标签返回信号。
7. 根据权利要求6所述的超高频RFID标签协议一致性测试方法,其特征是,所述RFID 标签阅读器的发射频率包括866MHz、900MHz、916MHz、930MHz、944MHz或956MHz ;RFID标签 阅读器的调整方式包括DSB-ASK、SSB-ASK或PR-ASK。
【文档编号】H04B17/00GK104125026SQ201410380850
【公开日】2014年10月29日 申请日期:2014年8月4日 优先权日:2014年8月4日
【发明者】王卫东, 郭兴祖, 陈岚 申请人:江苏物联网研究发展中心
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